JPH0378733A - 測光装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、銀塩フィルムを使用した通常のカメラや電子
スチルカメラ等に使用される測光装置に関する。

〔従来の技術〕

従・来、この種の測光装置の一つとしてＴＴＬ測光方式
を採用したものがある。この装置は、例えば第５図に示
す如く撮影用レンズ系１を透過した光をハーフミラ−２
等により分割して測光センサ３に導き、その受光出力か
ら測光値を求めるようにしたものである。尚、４は上記
撮影用レンズ１に組み込まれた絞り機構であり、測光時
には一般に絞りが開放となるように設定される。つまり
、開放測光が行われる。また５はフィルムまたはＣＣＤ
センサ等の撮像面である。この種の測光装置は、例えば
レンズ交換により撮影範囲が変化しても、測光範囲がそ
れに応じて変化するため、常に撮影条件に応じた最適な
測光を行なえる利点がある。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、この様な従来の装置には次のような問題点が
あった。すなわち、上記のように開放測光を行なう場合
、測光センサ３の受光面における受光量は、撮影用レン
ズ系１が有する光通過特性により中央部分に比べて周辺
部分て低下する。つまり、周辺光量落ちと呼ばれる現象
が生じ、測光センサ３における測光分布はより中央重点
的な傾向が強くなる。したがって、従来の装置のように
、周辺光量落ちの影響を受けた測光値をそのまま使用し
て絞り値やシャッタ速度の設定を行なうと、実際の撮影
状態で設定される絞り値による被写体の明るさの分布に
よっては、適切な露出補正等を行なうことができないた
め、最適な撮影を行なえなくなることがあった。

そこで本発明は上記事情に着目し、レンズ系による周辺
光量落ちの影響を低減して高精度の測光値が得られるよ
うにし、これにより常に最適な撮影を行ない得る測光装
置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、上記目的を達成するために次のような手段を
講じた。すなわち、少なくとも撮像面の比較的周辺部に
対応して設定された第１の測光領域と上記撮像面の比較
的中心部に対応して設定された第２の測光領域とを含む
固定的に設定された複数の測光領域を有してなる測光用
トランスデユーサ手段と、第１の手段と、第２の手段と
を備え、上記第１の手段により、上記撮像面に係わる光
学系の絞りを開放乃至比較的開放に近い第１の絞り値に
設定した状態において、上記測光用トランスデユーサ手
段の上記複数の測光領域による各別の測光出力を読み出
し、かつ上記第２の手段により、上記撮像面に係わる光
学系の絞りを現実の撮影を行なうべく設定された第２の
絞り値状態に適合すべく、上記第１の手段から読み出さ
れた各別の測光出力のうち、少なくとも上記第１の測光
領域および第２の測光領域からの測光出力の少なくとも
一方に対して、上記第２の絞り値に対応して予め定めら
れた所定の係数を乗じて上記第２の絞り値に対応すべき
測光値を算出するようにした。

〔作　　用〕

この様な手段を講じたことにより次のような作用を呈す
る。すなわち、第１の手段によりレンズ系による周辺光
量落ちの影響を受けた測光出力が得られることになるが
、この周辺光量落ちの影響を受けた測光出力は、第２の
手段により、実際の撮鼾で設定される絞りに応じて予め
定められた所定の係数が乗算されることにより補正され
ることになる。このため、上記レンズ系による周辺光量
落ちの影響は低減され、この結果常に実際に即した適正
な絞り値およびシャッタ速度を設定することが可能とな
る。

〔実施例〕

第１図は、本発明の一実施例における測光装置の機能構
成図である。尚、本実施例では電子スチルカメラに適用
した場合を例にとって説明する。

同図において、ハーフミラ−２で分割された被写体の光
学像は測光センサ３０に導かれる。この測光センサ３０
は、第２図（ａ）に示すごとく撮像面に対応する測光面
を中央部３１とその周辺部３２とに二分割したもので、
既述の開放測光時における通常の測光分布と同様に、光
学系の特質から必然的に第２図（ｂ）に示すような中央
重点型の測光分布となる傾向を呈する。これら中央部３
１および周辺部３２の受光出力ＳＰ、ＡＶは、切換スイ
ッチ３３で択一的に選択されたのち対数増幅回路４０に
導入される。この対数増幅回路４０は、増幅器本体４１
とダイオード４２とからなり、上記各受光出力ＳＰ、Ａ
Ｖを所定の対数関数に従ワて増幅したのち補正増幅回路
５０に供給する。この補正増幅回路５０は、測光センサ
３０の中央部３１と周辺部３２との面積の相違によって
生じる各受光出力ＳＰ、ＡＶのレベル差を適正な範囲に
補正するためのもので、増幅器本体５１、帰還抵抗５２
および利得切換回路５３とから構成される。この利得切
換回路５３のスイッチ５４は、前記測光センサ３０の切
換スイッチ３３とともに、後述する制御回路７０から出
力される切換制御信号により切換わる。そして、上記補
正増幅回路５０によりレベル補正された受光出力ＳＰ、
ＡＶは、アナログ・ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器６０で
ディジタル信号に変換されたのち制御回路７０に導入さ
れる。

ところで制御回路７０は、例えばマイクロコンピュータ
を主制御部として有したもので、図示しない映像回路系
や映像記録再生系等のシステム全体を制御するシステム
コントローラとしての各種機能に加えて、測光に係わる
次のような各制御手段を備えている。すなわちその制御
手段とは、測光制御手段７１と、絞り値設定手段７２と
、測光値補正手段７３と、シャッタ速度設定手段７４と
である。

測光制御手段７１は、測光時に切換制御信号ＳＳを出力
することにより、前記測光センサ３０の切換スイッチ３
３および補正増幅回路５０のスイッチ５４を所定のタイ
ミングで切換え、これにより測光センサ３０の中央部３
１および周辺部３２の受光出力ＳＰ、ＡＶをそれぞれ入
力するものである。

絞り値設定手段は、上記測光制御手段７１により検出さ
れた受光出力ＳＰ、ＡＶのレベルを相互に加算して、つ
まり ＢＶ＝ＡＶ＋ＳＰ なる演算を行って概略的な測光値ＢＶを算出し、この測
光値に対応する絞り値を所定のプログラム線図に基づい
て求めるものである。

測光値補正手段７３は、上記絞り値設定手段７２で求め
られた絞り値に対応する補正係数Ｋｎを求め、この補正
係数Ｋｎを上記周辺部３２の受光出力ＡＶの値に乗じて
、つまり ＢＶ’　＝Ｋｎ　ＡＶ＋ＳＰ なる演算を行なって、レンズ系による周辺光量落ちの影
響が補正された測光値ＢＶ’を求めるものである。尚、
上記補正係数Ｋｎは、各絞り値（例えばＦ２．８　、　
　Ｆ５．８　、　　Ｆｉｌ）毎に理論計算や実験などに
より最適な値が求められ、制御回路７０内のＲＯＭに予
め記憶されている。

シャッタ速度設定手段７４は、上記測光値補正手段７３
により補正された測光値ＢＶ’に対応する最適なシャッ
タ速度をアペックス演算により算出するものである。

次に、以上のように構成された装置の動作を制御回路７
０の制御手順にしたがって説明する。定常状態において
、制御回路７０は第３図に示すごとくステップ３ａでシ
ャッタボタン（図示せず）の操作を監視している。この
状態でシャッタボタンが一定量押されると、制御回路７
０はステップ３ｂで先ず絞り機構４に対し絞り制御信号
を出力して絞りを開放に設定したのち、ステップ３ｃ。

３ｄにおいて所定のタイミングで切換制御信号ＳＳを出
力する。そうすると、先ず測光センサ３０の周辺部３２
で受光された受光信号ＡＶが、対数増幅回路４０および
補正増幅回路５０をそれぞれ経たのちＡ／Ｄ変換器６０
でディジタル化されて制御回路７０に入力され、制御回
路７０内のＲＡＭに記憶される。この受光信号ＡＶの入
力が終了すると、次に測光センサ３０の中央部３２によ
り受光された受光信号ＳＰが、上記対数増幅回路４０お
よび補正増幅回路５０をそれぞれ経たのちＡ／Ｄ変換器
６０でディジタル化されて制御回路７０に入力され、内
部ＲＡＭに記憶される。

そうして各受光信号ＡＶ、ＳＰが得られると、続いて制
御回路７０はステップ３ｅに移行してここで ＢＶ＝ＡＶ十ＳＰ なる演算を行ない、これにより概略の測光値ＢＶを算出
する。そして、ステップ３ｆで例えば制御回路７０内の
ＲＯＭに記憶されているプログラム線図に基づいて上記
測光値ＢＶに対応する絞り値を選択し、この絞り値を内
部ＲＡＭに一時記憶する。

さて、上記絞り値の選択が終了すると制御回路７０は、
ステップ３ｇで内部ＲＯＭに予め記憶されている絞り値
に対する補正係数のデータから上記設定した絞り値に対
応する補正係数Ｋｎを選択する。例えば、いま絞り値が
Ｆ５．６に設定された０ とすると、このときの撮像出力波形は例えば第４図（ｂ
）に示すごとく撮像面の周辺部に対応するレベルが中央
部に対し多少低下したものとなる。

したがって、この場合には上記レベルの低下量に応じた
補正係数Ｋｌが選択される。これに対し、いま仮に絞り
値がＦ２．８に設定されたとする。そうすると、この絞
り値Ｆ２．８は開放に近いためレンズ系１による周辺光
量落ちの影響が大きく、その撮像出力波形は例えば第４
図（ａ）に示すように撮像面の周辺部に対応するレベル
低下が大きなものになる。したがって、この場合には上
記Ｆ５．６の場合に比べて大きな補正係数ＫＯが選択さ
れる。また絞り値がＦｉｌに設定された場合には、レン
ズ系１による周辺光量落ちの影響は比較的少なく、撮像
出力波形は第４図（Ｃ）に示すごとくレベルが略平坦な
ものとなる。したがって、この場合には上記絞り値Ｆ　
５．８の場合よりも小さい補正係数に２が選択される。

そうして絞り値に対応する補正係数Ｋｎが選択されると
、制御回路７０はステップ３ｈにてこの１ 補正係数Ｋｎを基に ＢＶ’　＝Ｋｎ　ＡＶ＋ＳＰ なる測光値の補正演算を行なう。そして、ステップ３１
によりアペックス演算が行なわれ、これにより上記周辺
光量落ちが補正された測光値に対応する最適なシャッタ
速度が算出される。かくして、測光に関わる一連の制御
が終了される。

尚、以上の一連の制御が終了すると制御回路７０は、ス
テップ３ｊに移行してここでシャッタボタンがさらに押
されて例えば半押し状態になったか否かを監視する。そ
して、半押しの状態が検出されるとステップ３ｋに移行
してここで前記ステップ３ｆで選択された絞り値に従っ
て絞り機構４を駆動制御し、これにより露出の設定を行
なう。

この様に本実施例であれば、測光センサ３０の周辺部３
２により得られた受光出力ＡＶに対して、各絞り値に応
じて予め定めた補正係数Ｋｎを乗算することにより測光
値を補正するようにしたので、レンズ系１による周辺光
量落ちが各絞り値ごとにそれぞれ適正に補正されること
になる。したがつ２ て、この様な測光値に基づいてシャッタ速度を設定し撮
影を行なうと、上記周辺光量落ちの影響が除去された高
品質の撮像信号を得ることができる。

例えば、絞り値がＦ２．８に設定された場合には、撮像
出力波形は第４図（ａ）の■に示すごとく周辺部に対応
する信号レベルが十分に持ち上げられた略平坦なものに
なる。同様に絞り値がＦ５，６およびＦｉｌに設定され
た場合にも、撮像出力波形は第４図（ｂ）の＠および第
４図（ｃ）のＯにそれぞれ示すごとく、補正を行なって
いない従来の場合（実線図示）に比べてより平坦な波形
（鎖線図示）となる。尚、本実施例のような補正を行な
うと、理論上では撮像面の周辺部に対応するレベルと同
量だけ中央部のレベルも増加することになる。

しかし、固体撮像素子を用いた電子スチルカメラでは、
固体撮像素子のラチチュードにより撮像面の中央部に対
応するレベルは飽和して一定レベル以上に増加しない。

このため、撮像面の中央部に対応するレベルが高くなり
過ぎて、反って撮像信号の品質が劣化するといった不具
合は生じない。

３ また、本実施例あれば次のような効果も得られる。すな
わち、撮像信号における周辺光量落ちは、撮影用レンズ
系１によるものばかりでなく、ノ＼−フミラー２から測
光センサ３０に至る測光光学系の開口径が十分ではない
場合にも生じる。ところが、本実施例の構成であれば、
この測光光学系による影響分を考慮して補正係数を予め
設定しておくことにより、上記測光光学系による周辺光
量落ちの影響についても有効的に補正することが可能で
ある。

尚、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば、上記実施例では測光センサ３０の周辺部３２の受
光出力ＡＶに対し補正係数を乗算してレンズ系１による
周辺光量落ちを補正するようにしたが、場合によっては
測光センサ３０の中央部３１の受光出力ＳＰに対し負の
補正係数を乗することにより補正するようにしてもよく
、また周辺部３２の受光出力ＡＶに正の補正係数を乗算
すると共に中央部の受光出力ＳＰに負の補正係数を乗算
して補正するようにしてもよい。この様な　４ 構成であっても、測光面における中央重点的な傾向性が
強くなり過ぎることを防止することができる。その他、
測光センサの測光領域の分割構成や測光分布、測光光学
系の構成、測光信号を得るための回路構成、制御回路の
制御手順および制御内容、カメラの種類等についても、
本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施でき
る。

〔発明の効果〕

以上詳述したように本発明によれば、少なくとも撮像面
の比較的周辺部に対応して設定された第１の測光領域と
上記撮像面の比較的中心部に対応して設定された第２の
測光領域とを含む固定的に設定された複数の測光領域を
有してなる測光用トランスデユーサ手段と、第１の手段
と、第２の手段とを備え、上記第１の手段により、上記
撮像面に係わる光学系の絞りを開放乃至比較的開放に近
い第１の絞り値に設定した状態において、上記測光用ト
ランスデユーサ手段の上記複数の測光領域による各別の
測光出力を読み出し、かつ上記第２の手段により、上記
撮像面に係わる光学系の絞り５ を現実の撮影を行なうべく設定された第２の絞り値状態
に適合すべく、上記第１の手段から読み出された各別の
測光出力のうち、少なくとも上記第１の測光領域および
第２の測光領域からの測光出力の少なくとも一方に対し
て、上記第２の絞り値に対応して予め定められた所定の
係数を乗じて上記第２の絞り値に対応すべき測光値を算
出するようにしたことによって、レンズ系による周辺光
量落ちの影響を低減して高精度の測光値を得ることがで
き、これにより常に最適な撮影を行ない得る測光装置を
提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第４図は本発明の一実施例を説明するための
もので、第１図は測光装置の機能構成図、第２図は測光
センサの分割構成および測光分布を示す図、第３図は制
御回路の制御手順および制御内容を示すフローチャート
、第４図は異なる複数２の絞り値に対応する撮像出力波
形の一例を示す信号波形図、第５図は従来の測光装置の
一例を示す概略構成図である。 　６ １・・・撮影用レンズ系、２・・・ハーフミラ−４・・
・絞り機構、５・・・撮像面、３０・・・測光センサ、
３１・・・中央部、３２・・・周辺部、３３・・・切換
スイッチ、４０・・・対数増幅回路、５０・・・補正増
幅回路、６０・・・Ａ／Ｄ変換器、７０・・・制御回路
、７１・・・測光制御手段、７２・・・絞り値設定制御
手段、７３・・・測光値補正手段、７４・・・シャッタ
速度設定手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 少なくとも撮像面の比較的周辺部に対応して設定された
   第１の測光領域と前記撮像面の比較的中心部に対応して
   設定された第２の測光領域とを含む固定的に設定された
   複数の測光領域を有してなる測光用トランスデューサ手
   段と、 前記撮像面に係わる光学系の絞りを開放乃至比較的開放
   に近い第１の絞り値に設定した状態において前記測光用
   トランスデューサ手段の前記複数の測光領域による各別
   の測光出力を読み出す第１の手段と、 前記撮像面に係わる光学系の絞りを現実の撮影を行なう
   べく設定された第２の絞り値状態に適合すべく前記第１
   の手段から読み出された各別の測光出力のうち少なくと
   も前記第１の測光領域および第２の測光領域からの測光
   出力の少なくとも一方に対して前記第２の絞り値に対応
   して予め定められた所定の係数を乗じて前記第２の絞り
   値に対応すべき測光値を算出する第２の手段とを具備し
   たことを特徴とする測光装置。