JPH0388154A - 偏光特性補償素子付き光ピックアップ - Google Patents
偏光特性補償素子付き光ピックアップInfo
- Publication number
- JPH0388154A JPH0388154A JP22489389A JP22489389A JPH0388154A JP H0388154 A JPH0388154 A JP H0388154A JP 22489389 A JP22489389 A JP 22489389A JP 22489389 A JP22489389 A JP 22489389A JP H0388154 A JPH0388154 A JP H0388154A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- rectifier
- light
- beam splitter
- optical
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く産業上の利用分野〉
本発明は、光磁気ディスク検査装置の光ビックアップの
検出特性の改善に関する。
検出特性の改善に関する。
く従来の技術〉
第３図は従来のこの種の光ピックアップの構成図である
。レーザダイオード１から出射されたレーザビームはコ
リメータレンズ２を通って平行光となり、ビーム整形プ
リズム３により楕円形断面のビームが円形断面のビーム
に整形されビームスブリツタ４に入る。このビームは更
に対物レンズ５で絞られ光磁気ディスク６に照射される
。光磁気ディスク６より反射したビームは対物レンズ５
を通過し、ビームスブリツタ４で方向転換され、偏光ビ
ームスプリッタ７に入り、一部はそのまま通過して光検
出器８に入り、一部は偏光ビームスブリツタ７で方向変
換して（０］光面が９００ずれる）光検出器９に入る。
。レーザダイオード１から出射されたレーザビームはコ
リメータレンズ２を通って平行光となり、ビーム整形プ
リズム３により楕円形断面のビームが円形断面のビーム
に整形されビームスブリツタ４に入る。このビームは更
に対物レンズ５で絞られ光磁気ディスク６に照射される
。光磁気ディスク６より反射したビームは対物レンズ５
を通過し、ビームスブリツタ４で方向転換され、偏光ビ
ームスプリッタ７に入り、一部はそのまま通過して光検
出器８に入り、一部は偏光ビームスブリツタ７で方向変
換して（０］光面が９００ずれる）光検出器９に入る。
光磁気ディスクの記録膜面には情報が磁気記録されてい
て、力ー効果によりディスクの反射光はその磁化に応じ
てカー回転する。力ー回転角は２つの光検出器８．９で
検出された信号に基づいて求められるので、光検出器８
．９の出力信号により磁気記録情報を知ることができる
。
て、力ー効果によりディスクの反射光はその磁化に応じ
てカー回転する。力ー回転角は２つの光検出器８．９で
検出された信号に基づいて求められるので、光検出器８
．９の出力信号により磁気記録情報を知ることができる
。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところでこの場合、対物レンズ５の出射光は、理想的に
は直線偏光となるが、実際には対物レンズに残る歪や、
レンズ表面の反射防止膜の偏光特性、レンズ曲率による
入射角変化等により、出射光は直線偏光とはならず、第
４図に示すように若干の楕円偏光成分を持つ。
は直線偏光となるが、実際には対物レンズに残る歪や、
レンズ表面の反射防止膜の偏光特性、レンズ曲率による
入射角変化等により、出射光は直線偏光とはならず、第
４図に示すように若干の楕円偏光成分を持つ。
この楕円性は、光検出器８，９に達し、背景光となる。
比較的小さなカー回転角（θｋ）の信号を検出するとき
にはこの背景光は直流オフセットとなり、検出分解能を
低下させる原因となり、通常の光磁気ディスク再生装置
よりも高い性能を要求される光磁気ディスク検査装置の
光ピックアップにおいては問題となる。
にはこの背景光は直流オフセットとなり、検出分解能を
低下させる原因となり、通常の光磁気ディスク再生装置
よりも高い性能を要求される光磁気ディスク検査装置の
光ピックアップにおいては問題となる。
本発明は、このような点に鑑みてなされたもので、その
目的は、上記のような問題を角ダ決し、検出分解能の向
上を図った偏光特性補償素子付き光ピックアップを提供
することにある。
目的は、上記のような問題を角ダ決し、検出分解能の向
上を図った偏光特性補償素子付き光ピックアップを提供
することにある。
く課題を解決するための手段〉
このような目的を達成するための本発明は、レーザダイ
オードより発生するレーザ光を直線偏光にした後ビーム
スプリッタを通して対物レンズでレーザ光を絞って光磁
気ディスクに照射し、光磁気ディスク記録膜面で反射し
た光を再び対物レンズを通し、前記ビームスプリッタで
方向転換し偏光ビームスプリッタによりそのまま通過す
る偏光ビームと偏光面を９０°回転させた偏光ビームと
に分け、各偏光ビームの強度を２つの光検出器で検出す
る光ピックアップにおいて、前記対物レンズとビームス
プリッタとの光路中に、２分の１波長板と、光学系とほ
ぼ同じ偏光特性を持つ屈折率が零のレンズとからなるレ
クティファイアを挿入したことを特徴とする。
オードより発生するレーザ光を直線偏光にした後ビーム
スプリッタを通して対物レンズでレーザ光を絞って光磁
気ディスクに照射し、光磁気ディスク記録膜面で反射し
た光を再び対物レンズを通し、前記ビームスプリッタで
方向転換し偏光ビームスプリッタによりそのまま通過す
る偏光ビームと偏光面を９０°回転させた偏光ビームと
に分け、各偏光ビームの強度を２つの光検出器で検出す
る光ピックアップにおいて、前記対物レンズとビームス
プリッタとの光路中に、２分の１波長板と、光学系とほ
ぼ同じ偏光特性を持つ屈折率が零のレンズとからなるレ
クティファイアを挿入したことを特徴とする。
く作用〉
レクティファイアを通った対物レンズからの光は方位の
揃った直線偏光となる。これにより、対物レンズによっ
て発生する偏波面の擾乱が補償される。
揃った直線偏光となる。これにより、対物レンズによっ
て発生する偏波面の擾乱が補償される。
〈実施例〉
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は本発明に係る偏光特性補償素子付き光ピックア
ップの一実施例を示す構成図である。第１図において、
第３図の従来例と異なるところは、ビームスプリッタ４
と対物レンズ５の間の光路中に周知のレクティファイア
１０を挿入した点である。
ップの一実施例を示す構成図である。第１図において、
第３図の従来例と異なるところは、ビームスプリッタ４
と対物レンズ５の間の光路中に周知のレクティファイア
１０を挿入した点である。
レクティファイア１０は、第２図に示すような構成で、
２分の１波長板１１と、光学系とほぼ同じ偏光特性を持
つ簡単な光学素子（屈折率が零のレンズ）１２とからな
り、対物レンズを通った光の振動面を反転させてからそ
れを屈折率が零のレンズによって打ち消すようにしたも
のである。
２分の１波長板１１と、光学系とほぼ同じ偏光特性を持
つ簡単な光学素子（屈折率が零のレンズ）１２とからな
り、対物レンズを通った光の振動面を反転させてからそ
れを屈折率が零のレンズによって打ち消すようにしたも
のである。
２分の１波長板１１は、その主軸が直線偏光の振動面に
合わせて配置され、対物レンズ５を射出した光の振動面
の回転を反転する。
合わせて配置され、対物レンズ５を射出した光の振動面
の回転を反転する。
光学素子１２は、その後に置かれ、光学系による光の振
動面の回転角を丁度補償できるような１対の強い屈折面
を持つ屈折力のないレンズである。
動面の回転角を丁度補償できるような１対の強い屈折面
を持つ屈折力のないレンズである。
通常このレンズは、同じ曲率半径の球面を向い合わせた
ものである。
ものである。
このような構成において、２分の１波長板１１に対物レ
ンズ５から楕円偏光が入射すると、その主軸の方位が反
転し、楕円率は変わらず回転方向のみが右回りから左回
りという風に逆になる。したがって、対物レンズ５に反
射防止膜が付いている場合、補償する対象が楕円偏光で
あっても、レクティファイア１０はこれを逆回りの楕円
偏光によって補償できる。このため、レクティファイア
１０を通った光は方位の揃った直線偏光となり、対物レ
ンズ５によって発生する偏波面の擾乱は補償されること
になる。
ンズ５から楕円偏光が入射すると、その主軸の方位が反
転し、楕円率は変わらず回転方向のみが右回りから左回
りという風に逆になる。したがって、対物レンズ５に反
射防止膜が付いている場合、補償する対象が楕円偏光で
あっても、レクティファイア１０はこれを逆回りの楕円
偏光によって補償できる。このため、レクティファイア
１０を通った光は方位の揃った直線偏光となり、対物レ
ンズ５によって発生する偏波面の擾乱は補償されること
になる。
〈発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明によれば、次のよう
な効果がある。すなわち、対物レンズによって生じる偏
波面の擾乱が、レクティファイアによって補償されるた
め、偏光ビームスプリッタ（検光子）に入射する光にお
ける上記擾乱によってもたらされる楕円偏光成分が除去
され、光検出器に達する直流オフセットが除去される。
な効果がある。すなわち、対物レンズによって生じる偏
波面の擾乱が、レクティファイアによって補償されるた
め、偏光ビームスプリッタ（検光子）に入射する光にお
ける上記擾乱によってもたらされる楕円偏光成分が除去
され、光検出器に達する直流オフセットが除去される。
このため、光磁気ディスクの記録膜によって生じるカー
回転角の検出分解能が向上し、光磁気ディスク検査装置
の性能が向上する。
回転角の検出分解能が向上し、光磁気ディスク検査装置
の性能が向上する。
第１図は本発明に係る偏光特性補償素子付き光ピックア
ップの一実施例を示す構成図、第２図はレクティファイ
アの構成を示す図、第３図は従来の光ピックアップの構
成図、第４図は対物レンズによる振動面の回転の様子を
示す説明図である。 １・・・レーザダイオード ２・・・コリメータレン
ズ３・・・ビーム整形プリズム ４・・・ビームスプリ
ッタ５・・・対物レンズ ６・・・光磁気ディ
スク７・・・偏光ビームスプリッタ ８．９・・・光検出器 １０・・・レクティファイ
ア１１・・・２分の１波長板 １２・・・光学素子筒３ 図 繭 図
ップの一実施例を示す構成図、第２図はレクティファイ
アの構成を示す図、第３図は従来の光ピックアップの構
成図、第４図は対物レンズによる振動面の回転の様子を
示す説明図である。 １・・・レーザダイオード ２・・・コリメータレン
ズ３・・・ビーム整形プリズム ４・・・ビームスプリ
ッタ５・・・対物レンズ ６・・・光磁気ディ
スク７・・・偏光ビームスプリッタ ８．９・・・光検出器 １０・・・レクティファイ
ア１１・・・２分の１波長板 １２・・・光学素子筒３ 図 繭 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザダイオードより発生するレーザ光を直線偏光にし
た後ビームスプリッタを通して対物レンズでレーザ光を
絞って光磁気ディスクに照射し、光磁気ディスク記録膜
面で反射した光を再び対物レンズを通し、前記ビームス
プリッタで方向転換し偏光ビームスプリッタによりその
まま通過する偏光ビームと偏光面を９００回転させた偏
光ビームとに分け、各偏光ビームの強度を２つの光検出
器で検出する光ピックアップにおいて、 前記対物レンズとビームスプリッタとの光路中に、２分
の１波長板と、光学系とほぼ同じ偏光特性を持つ屈折率
が零のレンズとからなるレクティファイアを挿入したこ
とを特徴とする偏光特性補償素子付き光ピックアップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22489389A JPH0388154A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 偏光特性補償素子付き光ピックアップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22489389A JPH0388154A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 偏光特性補償素子付き光ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0388154A true JPH0388154A (ja) | 1991-04-12 |
Family
ID=16820809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22489389A Pending JPH0388154A (ja) | 1989-08-31 | 1989-08-31 | 偏光特性補償素子付き光ピックアップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0388154A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214433A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ装置 |
-
1989
- 1989-08-31 JP JP22489389A patent/JPH0388154A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60214433A (ja) * | 1984-04-10 | 1985-10-26 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ装置 |
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