JPH0390841A - 元素分析計 - Google Patents
元素分析計Info
- Publication number
- JPH0390841A JPH0390841A JP22734989A JP22734989A JPH0390841A JP H0390841 A JPH0390841 A JP H0390841A JP 22734989 A JP22734989 A JP 22734989A JP 22734989 A JP22734989 A JP 22734989A JP H0390841 A JPH0390841 A JP H0390841A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- plasma
- atomized
- nebulizer
- elemental analyzer
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔Ｎξ業上の利用分野〕
本発り」は大略大気圧中で維持されたプラズマ中に霧化
された試料を４人しで消離し、原子やイオン状態にして
冗素分析を打つ装「ｔに関する０例えばこのような装ｆ
ｙ（としては＾′６周波誘導プラズマ（１，ＣＰ、２’
／ＭＨｚ）やマイクロ波プラズマなどを用いる元素分析
計がある。
された試料を４人しで消離し、原子やイオン状態にして
冗素分析を打つ装「ｔに関する０例えばこのような装ｆ
ｙ（としては＾′６周波誘導プラズマ（１，ＣＰ、２’
／ＭＨｚ）やマイクロ波プラズマなどを用いる元素分析
計がある。
従来の元素分析計におけるプラズマへの試料導入は実公
昭６３−１７００１や特開昭６２−１９５５４３に記載
のように、ネプライザ（１？化器）にて霧化された後、
スプレーチェンバを通って直接プラズマに導入されてい
た。
昭６３−１７００１や特開昭６２−１９５５４３に記載
のように、ネプライザ（１？化器）にて霧化された後、
スプレーチェンバを通って直接プラズマに導入されてい
た。
上記従来技術は、霧化された試料を全量プラズマに導入
するためプラズマの温度が低ドして、感度がドがるとい
う問題があった。特にプラズマの体積が小さく、プラズ
マガス流量の少ないマイクロ波プラズマの場合には、プ
ラズマ温度の仰トが激しく試料流量を微小量とすること
が必要であった。溶液試料をキャリヤガスの負圧により
霧化するネプライザを用いる場合、ある−窓以上のキャ
リヤガス流量で霧化せねばならない、それ以トの場合は
霧化の割合が変動したり、全く試料を吸い上げないとい
ったことが生しるため、微小社の一部は難しいという問
題があった。
するためプラズマの温度が低ドして、感度がドがるとい
う問題があった。特にプラズマの体積が小さく、プラズ
マガス流量の少ないマイクロ波プラズマの場合には、プ
ラズマ温度の仰トが激しく試料流量を微小量とすること
が必要であった。溶液試料をキャリヤガスの負圧により
霧化するネプライザを用いる場合、ある−窓以上のキャ
リヤガス流量で霧化せねばならない、それ以トの場合は
霧化の割合が変動したり、全く試料を吸い上げないとい
ったことが生しるため、微小社の一部は難しいという問
題があった。
本発明の目的は、従来のネプライザを用いても微小量の
霧化された試料を安定してプラズマに導入することがで
きるようなＶｉ置を提供することにある。
霧化された試料を安定してプラズマに導入することがで
きるようなＶｉ置を提供することにある。
上記目的を達成するために１本発明はネプライザからプ
ラズマに達する間に、−化された試料の一部を逃がし、
試料の一部がプラズマに導入されるようにしたものであ
る。
ラズマに達する間に、−化された試料の一部を逃がし、
試料の一部がプラズマに導入されるようにしたものであ
る。
また、上記問題はマイクロ波プラズマでより顕著に生じ
ており、マイクロ波で放電維持される装置において、上
記構成の効果が最も良く発揮される。
ており、マイクロ波で放電維持される装置において、上
記構成の効果が最も良く発揮される。
ネプライザにて資化された試料の一部を大気中に逃がす
ことによって、プラズマに送られる試料量は微小となり
、プラズマを＾温度に保つことができる。このため試料
量が減少したにもかかわらず晶感度の元素分析計が実現
できる。
ことによって、プラズマに送られる試料量は微小となり
、プラズマを＾温度に保つことができる。このため試料
量が減少したにもかかわらず晶感度の元素分析計が実現
できる。
以ト１本発明の一実施例を第１図により説明する。
第１図は元素分析計の構成要素のうち試料の導入部を説
明するものである。１は試料、２は同軸型ネプライザ、
；３はスプレーチェンバ、４は霧化された試料の分岐部
、５はコックである。ネプライザ２の外側用筒部にキャ
リヤガスを流すことによって試料１が吸い一部げられ、
スプレーチェンバ３の内側に向って霧化された試料が飛
び出す。スプレーチェンバ３で粒径の大きい鱒（試料）
は分離されて頌に付着し、ドレインに流れていく。粒径
の小さい鱒（試料）はキャリヤガスによってプラズマの
方向に運ばれるが、分岐部４から試料およびキャリヤガ
スの一部分がコック５を通って大気中に放出される。放
出される量の割合はコックの開き具合を変えることによ
り調節される。プラズマに送られる試料の割合をモニタ
ーするため分岐部４以降に流量計を設けたり１分岐部４
に大気との圧力差を測定できるようにするのも良い。
明するものである。１は試料、２は同軸型ネプライザ、
；３はスプレーチェンバ、４は霧化された試料の分岐部
、５はコックである。ネプライザ２の外側用筒部にキャ
リヤガスを流すことによって試料１が吸い一部げられ、
スプレーチェンバ３の内側に向って霧化された試料が飛
び出す。スプレーチェンバ３で粒径の大きい鱒（試料）
は分離されて頌に付着し、ドレインに流れていく。粒径
の小さい鱒（試料）はキャリヤガスによってプラズマの
方向に運ばれるが、分岐部４から試料およびキャリヤガ
スの一部分がコック５を通って大気中に放出される。放
出される量の割合はコックの開き具合を変えることによ
り調節される。プラズマに送られる試料の割合をモニタ
ーするため分岐部４以降に流量計を設けたり１分岐部４
に大気との圧力差を測定できるようにするのも良い。
第２Ｈに本実施例の効果を示した。内径２．３１のね英
管内にアルゴンガス流ｊＩｔ１．５Ｑ／ｌ１ｉｎで流し
て、マイクロ波電力１ｋＷで放電維持されているマイク
ロ波プラズマ中に、第１１１！ｆｆの実施例を用いて霧
化した試料を送り込んだ結果である。Ｔ＄：。
管内にアルゴンガス流ｊＩｔ１．５Ｑ／ｌ１ｉｎで流し
て、マイクロ波電力１ｋＷで放電維持されているマイク
ロ波プラズマ中に、第１１１！ｆｆの実施例を用いて霧
化した試料を送り込んだ結果である。Ｔ＄：。
料はカルシウム５ＰＰ−とジルコニウム１．０Ｏｐｐ鳳
の欄ぺ一！試料である。
の欄ぺ一！試料である。
ネプライザに流すアルゴンガス流量は０．４ａ／ｗｉｎ
であり、これより少ないと安定に試料を霧化するのが困
難になってくる。プラズマからの信号強度はイオン線（
Ｃａ ＩＪ：１９３．３６”／ｎ ｍ、 Ｚ ｒ ｕ３
４３．８２３ ｎ ｍ ）の発光弾度を測定した。
であり、これより少ないと安定に試料を霧化するのが困
難になってくる。プラズマからの信号強度はイオン線（
Ｃａ ＩＪ：１９３．３６”／ｎ ｍ、 Ｚ ｒ ｕ３
４３．８２３ ｎ ｍ ）の発光弾度を測定した。
鍮２図で、プラズマに送られる試料の割合が１．０
とは、コック５を閉めた場合を意味し、霧化された試料
はすべてプラズマに送られる。第２図に示したように、
試料の一部を大気中に放出した場合の方が、プラズマに
送られる試料量が少ないにもかかわらず、プラズマの温
度が高くなって信号強度は増加する。
とは、コック５を閉めた場合を意味し、霧化された試料
はすべてプラズマに送られる。第２図に示したように、
試料の一部を大気中に放出した場合の方が、プラズマに
送られる試料量が少ないにもかかわらず、プラズマの温
度が高くなって信号強度は増加する。
本発明によれば、プラズマの温度を＾くすることができ
るので＾感度の元素分析計が実現できる。
るので＾感度の元素分析計が実現できる。
また、本発明はプラズマの体積の小さいマイクロ波プラ
ズマにおいて、より顕暑な効果を５Ｉ！揮することがで
きる。
ズマにおいて、より顕暑な効果を５Ｉ！揮することがで
きる。
第１図は本発明の一実施例の元素分析計の試料−化部の
側断面図、第２図は本発明の実施例の元素分析計の検出
感度の測定図である。 ２・・・同軸型ネプライザ、３・・・スプレーチェンバ
、５・・・コック。
側断面図、第２図は本発明の実施例の元素分析計の検出
感度の測定図である。 ２・・・同軸型ネプライザ、３・・・スプレーチェンバ
、５・・・コック。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、大略大気圧で維持されたプラズマ中に霧化された試
料を導入して元素分析を行う装置において、霧化器から
上記プラズマに達するまでの間に、霧化された試料の一
部を大気圧中へ逃がす機構を有することを特徴とする元
素分析計。 ２、上記プラズマがマイクロ波電力により維持されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の元素分
析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22734989A JPH0390841A (ja) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | 元素分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22734989A JPH0390841A (ja) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | 元素分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0390841A true JPH0390841A (ja) | 1991-04-16 |
Family
ID=16859412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22734989A Pending JPH0390841A (ja) | 1989-09-04 | 1989-09-04 | 元素分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0390841A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03113165U (ja) * | 1990-03-06 | 1991-11-19 |
-
1989
- 1989-09-04 JP JP22734989A patent/JPH0390841A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03113165U (ja) * | 1990-03-06 | 1991-11-19 |
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