JPH0391111A

JPH0391111A - 薄膜ヘッドの書込み後のノイズ検査方式および検査装置

Info

Publication number: JPH0391111A
Application number: JP22442989A
Authority: JP
Inventors: Yoshiaki Karakama; 唐鎌　義彬; Fukashi Oi; 大井　深
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1989-09-01
Filing date: 1989-09-01
Publication date: 1991-04-16

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は磁気ディスクに対して記＠／再生する薄膜ヘッ
ドに関し、特に記録後の再生時に薄膜ヘッドより発生す
るノイズに対する検査方式および検査装置に関する。

〔従来の技術〕

ノイズは書込み動作を行わなければ発生しない。

書込み無しでのノイズは、磁気ヘッドの抵抗による熱雑
音で値は非常に小さく、問題とはならない。

書込み時に薄膜ヘッドの磁性体が一定方向に飽和磁化さ
れ、読出し時に磁性体の磁区が戻ろうとする時、トラッ
プレベルをこえた時点でノイズが発生すると考えられる
。書込み、読出し時の磁性体の磁化状態に大きく依存す
るので、測定においては、積極的に磁化状態を変化させ
ることが効果的である。

薄膜ヘッドの書込み後の読出しノイズの検査方法は、ア
イ・イー・イー・イー・、トランザクション　オン　マ
グネチックス、（１９８９年）（ＩＥＥＥ、　Ｔｒａｎ
ｓ、　　Ｍａｇｎｅｔｉｃｓ、　　（１９８９）　）に
おいて論じられている。その方法を第２図（α）に示す
。

磁気ヘッドに所定の電流を書込みＷ１１時間時間経過後
に検出幅αにスライスレベル７０以上のノイズｂをカウ
ントする。この動作をｎ回くり返し、カウント数の多水
でヘッドの良否判定を行っている。

又、他の方法として第２図（ｂ）に示すようにオシロス
コープにより該ノイズを直接ｆＲ測し、ノイズｂの大き
さの大、小によりヘッドの良否を判定することが提示さ
れている。

〔発明が解決しようとする課題〕

前述の公知例では、短時間にかつ正しく磁気ヘッドの良
否を判断するには不十分である。すなわち、オシロスコ
ープにより目視する場合、ノイズはランダムに発生し、
ときには突発的に、又発生する時間も一定でないため、
長時間目視する必要があり作業効率が極めて悪いという
問題がある。

第２図（α）に提示された方法によると、ノイズの大小
を数値化出来るため測定者等のバラツキは低減される。

しかし、後述のごとく、書込み電流一定で試験した場合
、再現性良く判定するためには長時間の測定、すなわち
、書込み、読出しの回数を増す必要がある。

本発明の目的は、書込み後のノイズがヘッドの磁化状態
に大きく依存するため、使用範囲内で磁化状態を変化さ
せ、各々の状態でのノイズの内、最大値でヘッドの良否
を判断する検査方式および検査装置を提供することを目
的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的を達成するために、磁化状態を変化させ、ノイ
ズ測定の信頼性を高めるため、磁化状態変化、書込み、
読出し、ノイズ検出、ノイズ数カウントをコンピュータ
で制御したものである。

本発明による検査方式は、磁気ディスクに対し薄膜ヘッ
ドにより一定周波数で一定時間書込みを行い、一定時間
をおいて読出しを行う。読出し信号はノイズ信号のみで
あるから、レベルスライスによりスライスをこえたノイ
ズによりディジタル信号のカウントパルスを発生させる
。前述のカウントパルスを一定時間書込数をカウントす
る。

磁化状態を変化させる方法として、書込時の通電電流を
利用する。すなわち、通電電流の大きさを変化させるこ
とで、ヘッド内磁化の強さを変化させ、又極性反転も行
い、そのつど書込み、読出し、ノイズ計数のカウントを
行い、一定の許容値と比較して、薄膜ヘッドの良否を判
定する。また、検査装置は、書込み読出しを行う磁気ヘ
ッドと。

書込み読み出しを行うＲ／Ｗ部、ノイズ検出部、ノイズ
カウント部、および通電電流可変部より構成され、検査
においては、コンピュータの制御により上記検査方式に
従い、一定の通電電流により書込み後、読出しを行う、
さらに次の通電電流により書込み後、読出しを行う、こ
の時発生するノイズをスライス検出によりパルス化し、
計数を力、ラントする１通電電流の大きさを変えながら
上記書込み読出し、ノイズ計数のカウントをくりかえし
、一定の許容値と比較して、薄膜ヘッドの良否の判定を
するものである。

〔作用〕

以上の構成によるこの発明の薄膜ヘッドの書込み後にお
けるノイズ検査方式及びその検査装置にあっては、コン
ピュータの制御により、書込み。

読出し１通電電流変化、ノイズの計数カウントをくり返
し行う。

一定時間内のノイズの発生率は、通電電流の大きさに影
響する２通電電流は適当に変えて行うことができる。又
、書込み時のテスト信号の周波数は、ノイズ発生率に関
係するので、種々の周波数を選定して測定を行うことが
できる。

以上により選定した条件のもとてノイズの計数値の比較
により薄膜ヘッドの良否が判定されるものである。尚磁
化状態による影響を大きくするため通電電流を使用範囲
以上でのみ試験すると、ヘッドの良／否判定に誤りを生
じる。磁性体内の磁化状態は５磁化過程により異なるた
め、一定磁化の場合より、大きさの異なる磁化状態で、
書込み後のノイズレベルを検出する必要がある。したが
って通電電流は使用範囲を考慮し、大きさを少しづつ変
化させた状態でのノイズの大小により良否の判定を行う
。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を図面を用いて詳細に説明する
。

第１図は１本発明における検査方式および検査装置を示
すブロック図である。

第１図において、コンピュータ（ＣＰＵ）１゜テスト信
号発生器２９通電回路３．薄膜ヘッド４゜再生図５１５
．スライス回路６．エラーパルス発生器７．パルスカウ
ント部８．メモリ９より構成される検査設備において、
ＣＰＵ１．はテスト信号発生制御と、カウント数をメモ
リ９より出し、大小比較を行う、テスト信号発生器２は
、薄膜ヘッド４に通電する時間および、再生時のノイズ
をエラーパルスとして検出する時間幅等の制御、タイミ
ング発生を行う１通電回路３は、テスト信号発生器２よ
り、書込命令により薄膜ヘッド４に書込み電流を通電す
る。また、通電回路３は、書込周波数設定および書込電
流可変機能を有する。再生回路５は薄膜ヘッド４から発
生するノイズを増幅する回路である。ノイズは０．０３
〜０．１３ｙｉＶｏ−ｐと小さくかつ、レンジが１０倍
ありかつパルス状波形をしているため、低雑音、高帯域
増幅器が必要条件となる。スライス回路６は、パルス状
ノイズを、一定レベルでスライスし、パルスを発生させ
る回路で、ノイズの極性に関係なくスライスレベルを可
変出来る機能を有する。エラーパルス発生器７は、スラ
イス回路６により発生したパルスをエラーとして検出す
る回路である。パルスカウント部８はパルス数を累積計
数する回路でメモリ９は累積計数値を記録しておく回路
である。

第３図（α）は書込み、読出しのタイミングを示す図で
ある。

第３図において、書込は工□〜Ｉｎであり、読出しはＲ
２−Ｒｎである。書込型ｍ（通電電流）工、で書込、後
ノイズをＲ１で検出する。以後書込電流を１．、Ｉ、、
１１・・Ｉｎと変化させ、その都度読出Ｒ，，Ｒ，、Ｒ
１・・Ｒｎを行う、１つの磁気ヘッドについて例えばＩ
、＝２０ｓｅＡｏ−ｐで１ｍＡｏ−ｐピッチで可変し、
１６回測定（Ｉｎ＝３５ｍＡｏ−ｐ）Ｌ／。

その内で最大のノイズ数により良否の判定を行う。

書込み（通電）、読出しは、書込みＴＶ後、時間ＴＤを
おいて読出しＴｍを行い、サイクルＴ６が定まる。ＴＶ
は例えば１０〜２０＆ｌ５ＴＤ、Ｔ真は被測定ヘッドに
より設定され重要な時間である。すなわちＴｏが小さい
と、ノイズレベルが大きく、Ｔ１が短かいと、ノイズを
正しく測定しない、これは。

ノイズがランダムに発生し、磁化状態の影響に大きく依
存しているためである０本実施例では、Ｔｎ＝５〜１０
０１ＪＳ、Ｔｘ＝５〜５０Ｑｐｓより選ばれ、ＴＤ　＝
　１０ｕｓ％Ｔｍ＝６０ｕｓ、Ｔ、＝　１００ｕｓに設
定し、ヘッドの良否を比較する。

第３図（ｂ）はノイズによるエラーパルス発生の状況を
説明した図である−　Ｔｖ＝　Ｔｏ−Ｔ□Ｔ０は第３図
（α）で説明した通りである。書込後の続出時に発生す
るノイズｊは、スライスレベル−Ｖ、〜＋Ｖ、以上のノ
イズ６ｐ　ｆｐ　ｇと区別され、ノイズＢｅ　ｆｅ　ｇ
によりエラーパルスとして発生し、パルスカウント部に
送られる。スライスレベルは本実施例では正負同じレベ
ルで変化させているが正、負単独で変化させても良い、
尚書込電流（通電電流）は、本実施例のごとく、小さい
ステップで変化させるのが良く、大きくすると、判定を
誤るおそれがある。微少な磁化変化により、ノイズの発
生率、ノイズの大小が変化するからである。又、前述の
ように、書込電流（通電電流）が大きい程、ノイズ発生
は小さい、磁気ヘッドによりノイズ発生レベル（しきい
値）が異なるため、ノイズ発生器の磁化レベル、すなわ
ち書込電流が異なる。したがって多くの磁気ヘッドのノ
イズ選別を行うためには、書込電流（通電電流）を小さ
いス、チップで可変し、その時のノイズエラー数の最大
値で良否判定をするのが最良である。

尚本実施例では、書込電流１６ステツプを、５秒間試験
する。したがって、・各電流値における測定回数は、約
３，０００回であり、エラー数を数個〜数十個にするよ
うスライスレベルを決めると、１．０−０．３％のエラ
ー発生率で検出出来る。

すなわち、ある程度突発的な、ノイズ発生にも対応可能
である。

〔発明の効果〕

以上の説明により明らかなように１本発明による薄膜ヘ
ッドの書込み後におけるノイズの検査方式および検査装
置は、書込電流を変化させ、エラーパルスの計数をカウ
ントするため、磁気ヘッドの種々異なる性質のノイズ発
生に対処でき、測定は多数（ｎ）回行われるので、ある
程度突発的なノイズにも対応でき、信頼性が高い。さら
に本発明による検査方式および装置はコンピュータの支
援により、多数のサンプルに対して、迅速、正確に検査
できるもので、薄膜ヘッドの書込み後におけるノイズの
検査に寄与するところは大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による薄膜ヘッドの書込み後ノイズの
検査方式および検査装置における信号。ノイズ波形処理部のブロック図、第２図（ｃＬ）　。（ｂ）は、従来方式での告知例で、ノイズ波形処理説明
図、第３図（α）、（ｂ）は本発明による、書込み、読
出しの時間関係図およびノイズ波形処理説明図。１・・・コンピュータ（ＣＰＵ）。２・・・テスト信号発生器、３・・・通電回路、４・・・薄膜ヘッド、５・・・再生回路、６・・・スライス回路、７・・・エラーパルス発生器、８・・・パルスカウント部。９・・・メモリ。稟菌察図（α）（ｂ）察図（山）吟用（ｂ）

Claims

【特許請求の範囲】１、書込み読出しを行う薄膜ヘッドにより、書込後のノ
イズの大きさを、スライスレベルを可変して検出し、か
つノイズの検出時間を決め、検出されたノイズの数の大
小により薄膜ヘッドの良否を判定する書込み後のノイズ
検査方式であって、薄膜ヘッドに書込みを行う電流を増
減するたびに前記ノイズ検出を行うことを特徴とする薄
膜ヘッドの書込み後ノイズ検査方式。２、書き込み読み出しを行う薄膜ヘッドにより、書込後
のノイズの大きさを、スライスレベルを可変して検出し
、かつノイズの検出時間を定め、検出されたノイズの数
の大小により薄膜ヘッドの良否を判定する書込み後のノ
イズ検査装置であって薄膜ヘッドに書込みを行う電流を
増減するたびに前記ノイズ検出を行い、かつ前記ノイズ
検出は、コンピュータにて制御されることを特徴とする
、薄膜ヘッドの書込み後ノイズ検査装置。