JPH0397923A - 繊維材料内の障害片を検出する方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は綿花、化学繊維などの織物繊維材料内の障害片
、特にごみ部分、ネップ、シェルネップ、ナップなどを
検出する方法に関し、繊維材料の汚れ度合（ごみの含有
量）の検出は光学電子手段で行われ、繊維材料はセンサ
で検出され、測定値が画像処理装置に供給される。さら
に本発明は上記方法を実施する装置に関する。

［従来の技術］ 繊維塊フリースの形状の繊維材料を除じんし開繊する公
知の方法においては、繊維材料は供給装置を通過し、そ
の後除じんを施される。繊維材料の汚れ度合の検出は、
除じん工程へ供給される間に行われる。公知の方法を実
施するために、供給装置と開繊及び除じん装置との間に
繊維材料を測定する測定装置を設けることが提案されて
いる。

測定系は透明なディスクと移送ベルトからなる通路状の
ガイドであって、前記移送ベルトは通路内の繊維層をデ
ィスクに対して押圧するのに用いられる。ディスクと移
送ベルトとの距離は２〜４ｃｍである。測定系にはカメ
ラが設けられており、カメラの後段にはグレイ値比較器
と、計数装置と、コンピュータが接続されている。透明
なディスクはランプによって照明される。この装置によ
って除しん装置へ供給される繊維材料の除じん工程を改
良しようとしている。除じん装置から出て来る繊維材料
は次にカードへ供給される。この公知の方法の欠点は、
クリアラに供給されるＩ維塊マットは約２〜４ｃｍの厚
さがあるので、！！維塊層の表面の汚れしか検出できず
、内部の汚れは検出できないということである。さらに
、表面において入射光の中で検出される汚れのうち繊維
に比較して所定バーセントしか検出できないという欠点
がある。そして、紡績処理において特に障害となるネッ
プ、シェルネップ及びチップなどその他の小片を検出す
ることができない。

［発明が解決しようとする課題コ それに対して本発明の課題は、上記の欠点を除去し、特
に繊維層内でも障害となる小片を検出することができ、
ごみ部分、ネップ、シェルネップ、ナップなどを検出し
、区別して評価することのできる冒頭で述べた種類の方
法を提供することである。

［課題を解決するための手段コ 上記の課題は、請求項第１項に記載の特徴によって解決
される。

［作用コ 光を透過する薄い繊維ウェブ（例えば５ｇ／ｍ）を使用
することによって、繊維バンドの表面においても内部に
おいても障害片を検出することができる。本発明によれ
ば、各障害片をセンサは歩進検出する（例えばＱ．ｌｍ
ｍまで）。センサとして例えばカメラが繊維ウェブの所
定の測定領域を検出し、画像に対応する電気的パルスを
形成し、そのパルスが電子処理装置に入力される。処理
装置においては、それぞれ個々の小片に固有の特性量を
、例えばグレー値分析に基づいて検出する（障害片とし
て識別する）。この特性量に基づいてそれぞれ個々の小
片が、例えば記憶されている所定の特性データを用いた
比較によって、特にタイプ、形状、大きさについて分類
される。次に個々の小片が計数されるので、例えばタイ
プ分類（タイプ毎の小片の数）あるいは大きさ分類（所
定の大きさの小片の数）が可能である。本発明方法によ
れば、好ましくは障害片は繊維層の内部でも、従って繊
維層全体でも検出することができ、さらにごみ片として
じゃまになるネップ、シェル不ツブ、チップも検出され
、さらにすべての障害片は所定の判断基準、例えばタイ
プ、形状、大きさに従って分類される。

好ましくは薄い繊維ウェブとセンサは互いに相対的に移
動される。好ましくはセンサはプログラム可能な測定領
域を歩進走査する。好ましくはセンサは障害片の一部を
透過光で検出する。好まし《はセンサは障害片の一部を
入射光で検出する。

好ましくはシェルネップは透過光で検出され、その場合
に評価が行われて少なくとも２つの異なるグレー段階が
求められる。好ましくはシェルネγブは透過光内と入射
光内での測定結果の比較によって検出される。

本発明には綿花、化学繊維など繊維材料内の障害片、特
にごみ部分、ネップ、シェルネップ、ナップなどを検出
する前述の方法を実施する好ましい装置も含まれており
、同装置においては、繊維材料の測定系が設けられてお
り、測定系には汚れ度合を検出するセンサが配置されて
おり、カメラ、例えばダイオードラインカメラあるいは
面カメラ、電子処理装置（画像処理装置）、分類装置、
計数装置及びコンピュータが設けられている。好ましく
はセンサと照明装置は繊維ウェブの同一の側に配置され
ている。好ましくはセンサと照明装置は、繊維ウェブの
異なる側に配置されている。好ましくは照明装置間の切
り替えを行う切り替え装置が設けられている。好ましく
は処理装置に、透過光で検出した場合と入射光で検出し
た場合の電気的なパルスの比較を行う比較装置が設けら
れている。

好ましくは処理装置にはアナログ／ディジタル変換器が
設けられている。好ましくは処理装置に、グレー値フィ
ルタが設けられている。好ましくは処理装置は個々の小
片の形状を検出する。好ましくは処理装置は個々の小片
の大きさを検出する。

好ましくは処理装置は個々の小片の輝度を検出する。好
ましくは分類装置にメモリが設けられている。゛好まし
くは装置にモニターが設けられている。

好ましくは繊維ウェブを支持する支持体に２軸制御装置
が設けられている。好ましくは支持体は透明であり、例
えばガラスなどから形成されている。

好ましくは支持体に凸面に湾曲した表面が設けられてい
る。好ましくは支持体は透明あるいは光を透過する外表
面を有するドラムである。好ましくはセンサは照明装置
と共に、繊維ウェブ形成装置、例えばカードの入口及び
／出口に配置されている。

好ましくはセンサは、ドラム上にあるｗ！維ウェブを検
出することができる。好ましくはドラムの幅全体にわた
って多数及び／あるいは多量の障害片を検出することが
できる。それによって障害片を例えば針布の故障部分と
対応づけることができる。

好ましくは多数のセンサが処理装置に接続されている。

好ましくはコンピュータは除じん度合を閉ループ制御す
る制御装置及び制御線を介して操作部材の駆動装置、例
えば針布ドラムに設けられているストリップローラある
いはカードに設けられている案内部材の駆動装置と接続
されている。操作部材はデリバリローラ及び／あるいは
フィードローラ及び／あるいは針布ドラムを駆動する駆
動部材である。好ましくはコンピュータは品質検出装置
、たとえばカード情報システム（ＫＩＴ）と接続されて
いる。好ましくはコンピュータは繊維ウェブを形戊する
装置、例えばカードの制御装置と接続されており、例え
ばメモリに格納されている障害片の所定の限界値を越え
ると、前警告装置及び／あるいは機械の停止装置を作動
させることができる。

なお、チップは約１ｍｍより大きい繊維のからまり、ネ
ップは約ｌｍｍより小さいｔｉａ維のからまりである。

ごみ部分は例えば葉及びシェルの残留物である。シェル
ネップは、まだ洗っていない繊維に含まれる種の殻（シ
ェル）の断片である。特殊分類〈サブクラス）は、幅に
対して長さの割合が大きい、例えば茎など長く延びたご
み部分く樹皮、草〉である。

［実施例コ 以下、図面に示す実施例を用いて本発明を詳細に説明す
る。

第１図によれば位置を変えることのできるテ−ブル１　
（座標Ｘとｙ方尚の位置決め装置）が設けられており、
テーブルの上方のカバー面１ａにはガラスプレート２　
ａ　ｓ下方のカバー面ｌｂ（図示せず）にはガラスプレ
ート２ｂ（図示せず）が試料支持体として設けられてい
る。ガラスプレート２ａの下方には照明装置２４が設け
られている。

繊維ウェブ２５（試料）がガラスプレート２ａ上に載置
されている。符号２６で示すものは障害片である。テー
ブル１の下側には位置を変えることのできる保持プレー
ト３が設けられており、その上面３ａにステッピングモ
ータ４が固定されている。回転可能なモータ軸はねじ釉
５として形成されており、ねじ軸はテーブルｌの側面１
ｄに固定されたボルト６と共働する。ねじ軸５が回転す
ると、テーブル１が矢印Ａ，Ｂ方向に移動される。

テーブル１と保持プレート３の下側には固定配置の保持
プレート７が設けられており、その上にステッピングモ
ータ８が固定されている。回転可能なモータ軸はねじ軸
９として形成され、ねじ軸は保持プレート３の側面３ｂ
に固定されたボルト１０と共働する。ねじ軸９が回転す
ると、保持プレート３が矢印Ｃ’　、Ｄ’方向に移動さ
れ、同時に機械的な結合を介してテーブル１が矢印Ｃ，
　Ｄ方向へ移動される。テーブル１の上方を囲んでＵ字
状の支持体１１が設けられており、支持体の側方の支柱
１１ａ，ｌｌｂはプレート７上に固定され、横はりｉｌ
ｃにはカメラ１２、例えばダイオードラインカメラ及び
照明装置１３が配置されている。

本発明に特に適しているのはディジタルな画像処理を行
うことであって、ディジタルな画像処理を行うことによ
って、画像は個々の点（ビクセルという）に分解される
。ステッピングモータ４、８の外に（不図示の）＃端ス
イッチが設けられているので、ゼロ位置に達することが
できる。

本装置にはさらに画像処理装置１４が設けられており、
画像処理装置１４には例えばマイクロプロセッサのよう
な中央処理装置（ＣＰＵ）１５、画像処理系１６、付加
メモリ１７及びインターフェイスユニット１８が設けら
れており、これらは互いに電気的に接続されている。イ
ンターフェイスユニット１８には、ステッピングモータ
４及び８と接続された２軸制御装置１９が接続されてい
る。さらに画像処理系１６はカメラ１２と接続されてい
る。インターフエイスユニット１８はプリンタ２０、端
末２ｌ及び操作キーボード２２と接続されている。符号
２３で示すものはデータパスである。

第１図に示す装置は例えば実験装置として使用すること
ができ、付加メモリ１７及びインターフェイスユニッ｝
１８を有する画像処理装置１４と、透過光の光源２４と
、端末２１と入射光照明装置１３を備えている。検査す
べき繊維ウェブ２５は薄い透明なプレート２ａ，２ｂの
間に配置することができる。横はりＩＩＣに固定された
カメラ１２が、プログラム可能な測定領域を歩進走査す
る。

その際に検出されたごみ小片２６とネップは分類される
。接続されている端末２ｌとプリンタ２０上に測定結果
と大きさの分布（ヒストログラム）を出力することがで
きる。透過光内ですべての光を通さない対象が捕捉され
、大きさに従って、例えばごみ小片２６とシェルネップ
に分類される。

入射光内で測定する場合には、照明及び画像撮影光学装
置によってネップとチップが場所を特定された明るい領
域として強調される。画像処理装置１４によってこの領
域がネップであると識別される。識別されたネップとナ
ップは同様に大きさに従って分類される。ごみ小片２６
とシェルネップを検出する試験期間は例えば３〜２０分
である。

透過光の中では可視部分は最小で約０．１ｍｍ（直径）
まで検出することができる。最大の大きさは５Ｑｍｍま
でである。入射光内で処理する場合には、最小直径約Ｑ
，ｌｒｎｍからのネップを検出することができる。ナッ
プの最大の大きさは約２ｍｍである。

第２図にはカード３０が示されており、カードにはフィ
ードローラ３１、フィードテーブル３２、テーカインロ
ーラ３３、ドラム３４、ドッファ３５、ストリップロー
ラ３６、絞リローラ３７、３８、移送ローラ３９、４０
、フリース案内部材４ｌ１　トランペット４２、デリバ
リローラ４３、４４、ケンス台４５及び回転式フラット
４６が設けられている。カード３０の前段には繊維塊供
給装置４７が設けられている。薄い繊維ウェブ５８を排
出する絞リローラ３７、３８と繊維ウェブ５８を受け取
って次へ移送する移送ローラ３９、４０の間には、固定
配置の２つの透明なプレート４８、４９が測定系５０と
して通路状に設けられており、プレートの間隔は約２〜
ｌＱｃｍであって、その間に繊維ウェブ５８を通過させ
る。同時にプレート４８、４９は障害となる空気流を防
ぐ。この空気流は特に走行速度が速い場合に薄い繊維ウ
ェブ５８をさらっていってしまう。第２図において参照
番号６４はカードスライバである。

測定系５０を通過する繊維ウェブ５８内の障害となる小
片を検出する装置には、カメラ１２と画像処理装置１４
　（第１図を参照）が設けられており、画像処理装置に
は特にグレー値比較器と、計数装置とプロセッサが設け
られている。画像処理装置１４の後段には制御装置５１
、例えばカード３０の機械制御装置が接続されており、
制御装置は閉ループ制御可能な駆動モータ５２と接続さ
れており、駆動モータはギヤ装置５３を介して切断カッ
ターとテーカインローラ３３との距離を変化させる。

このようにして障害片のオンライン検出とそれに伴う閉
ループ制御の障害片分離が実施される。

メモリ１７に格納されている所定の限界値を越えると、
前警告及び／あるいはカード３０の停止が行われる。さ
らにプレート４８のカメラ側には入射光用のランプ１３
が配置され、カメラと反対側には透過光用のランプ２４
が配置されており、これらは撮影すべき画像を明るくす
るのに用いられる。

カード３０の繊維ウェブを測定する測定箇所としては、
特に次のような箇所が考えられる。すなわち、ドラム３
４上の繊維ウェブすなわち繊維シート（矢印Ｅ）、ドッ
ファ−３５上の繊維ウェブすなわち繊維シート　（矢印
Ｆ）、ストリップローラ３６上の繊維ウェブすなわち繊
維シート〈矢印Ｇ）、ストリップローラ３６と絞りロー
ラ３７、３８の間の繊維ウェブ（矢印Ｈ）、及び絞りロ
ーラ３７、３８と移送ローラ３９、４０の間の繊維ウェ
ブ（矢印■）である。障害となる小片、例えば化学繊維
のネップはドラム３４上、ドッファ−３５上、ストリッ
プローラ３６上の繊維ウェブ内では入射光内でのみ検出
可能であって、ストリップローラ３６と絞りローラ３７
、３８の間、及び絞りローラ３７、３８と移送ローラ３
９、４０の間では透過光内と入射光内の両方で検出する
ことができる。

第３図によれば、カメラ１２の後段にグレー値比較器６
１、計数装置６２及びコンビュータ１５が接続されてお
り、これらは制御装置５１と接続されている。分類と計
数は、しかるべきコンピュータプログラム（ソフトウエ
ア）によって行われる。

ｌ）タイプ イ）ネップ グレー値フィルタリングにより入射光内で検ロ）ごみ片 グレー値フィルタリングにより透過光内で検出 ハ）長く延びたごみ片（樹皮、草） この分類はごみ片の特殊クラスである 二）シェルネップ 透過光（核が見える）と入射光（ネップの繊維が見える
）で比較するか あるいは入射光のみ 暗い核（グレー値が高い）、ネップ同様、明るい繊維周
辺（グレー値が低い〉 上述の検出方法イ）〜二）の他に、特に小部分を区別し
やすくするために、グレー値操作、ＩＩ検出などを使用
することができる。

２）大きさ 小片の面積を平方ミリメートルで検出（最小の大きさは
直径０．１ｍｍ） 第４図に示すものは、ガラスプレート４９であって、ガ
ラスプレートは絞リローラ３７、３８と移送ローラ３９
、４０の間に配置され、このガラスプレート上を繊維ウ
ェブ５８が走行する。ガラスプレート４９の上方にはカ
メラ１２が、下方には透過光で撮影を行うためのランブ
２４が配置されている。絞りローラ３７、３８と移送ロ
ーラ３９、４０の回転方向は湾曲した矢印で示されてい
る。

第５図によれば、絞リローラ３７、４８と移送ローラ３
９、４０の間にはガラスのような外表面を有するドラム
５９　（回転方向は矢印Ｋ）が軸平行に配置されており
、ドラム上を繊維ウェブ５８が走行する。ドラム５９の
周速度は好ましくは繊維ウェブ５８の走行速度と同一な
ので、摩擦を生じる相対移動は生じない。ランブ２４は
ドラム５９の内部に配置されている。

第６図には第５図と同様の実施例が示されており、本実
施例においては、支持体として凸面に湾曲されたガラス
プレート６０が設けられており、その上を繊維ウェブ５
８が走行し、滑り接触によって滑らかにガイドが行われ
る。繊維ウェブ５８の一部のみがガラスプレート６０と
接触する。ドラム５９とガラスプレート６０の頂点は、
好ましくはそれぞれ絞リローラ３７、３８と移送ローラ
３９、４０のローラ間隙を結ぶ直線上に位置する。

矢印ＬとＭはカメラ１２が機械の幅方向に移動すること
ができるその方向を示している。

第７図には主な分類がグラフで示されている。

小片のタイプに対する小片の割合が％で示されている。

第８図にはウェブ画像のグレー値領域が表で示されてお
り、所定のウェブ要素（陣害片と良質繊維）にそれぞれ
グレー値が対応づけられている。

第９図に示すものは、試料全体より小さい個々の撮影の
画像部分であるので、全体の結果は多数の試料を重ね合
わせて得られる。

第１１図によれば、カメラｌ２の後段にアナログ／ディ
ジタル変換器６３とコンピュータ１５が接続されている
。計数はコンピュータ１５のソフトウエアに従って行わ
れる。

アナログ／ディジタル変換器６３はセンサ信号を多数の
グレー段階、例えば２００〜３００のグレー段階に変換
する。好ましくは第２図に示す装置にはカメラ１２とし
てＣＣＤ面カメラが設けられている。好ましくは面カメ
ラ１２には短時間露光を行う装置が設けられている。カ
ード（第２図）において、短時間露光によって動きに不
鮮明さが生じるのを防止している。記録された画像は、
短時間露光によってほぼ「凍結」される。

［発明の効果コ 以上の説明かる明らかなように、本発明によれば繊維材
料内の障害片をそのタイプ別およびサイズ別に区別して
評価することができ、本発明の方法および装置を利用す
れば、カードの如き繊維処理装置のクリーリニング性能
を自動的にコントロールすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は位置を変えることのできる試料支持体を有する
本発明方法を実施する装置の構戊図、第２図はクリアラ
を有するカードに設けられた本発明装置の構或図、 第３図はグレー値比較器と計数装置とコンピュータを有
するブロック、 第４図は透明な試料支持体としての平坦なプレートとカ
メラ及び光源を示す概略側面図、第５図は試料支持体と
して透明な外表面を有する回転可能なドラムの側面図、 第６図は透明な試料支持体としての湾曲したプレートの
側面図、 第７図は障害片のタイプ分類を示す線図、第８図はウェ
ブ画像のグレー値領域を示す表図、第９図は歩進的に記
録された画像全体を概略図示する説明図、 第１０図はごみ部分、ネップ、シェルネップ、ナップな
と障害片を示す説明図、 第１１図はカメラの後段にアナログ／ディジタル変換器
などが設けられている実施例を示すブロック図である。 １２・・・カメラ、　　　　１４・・・画像゜処理装置
、１５・・・マイクロプロセッサ、 １６・・・画像処理系、 １８・・・インターフエイ １９・・・２軸制御装置、 ２６・・・ごみ小片、

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、繊維材料のごみの含有量の如き汚れ度合の検出を光
   学電子手段で行うために繊維材料がセンサで検出され、
   測定値が画像処理装置に供給される、綿花、化学繊維な
   ど織物繊維材料内ごみ部分、ネップ、シェルネップ、ナ
   ップなどの如き障害片を検出する方法において、 イ）薄い繊維ウェブを形成し、 ロ）センサが各障害となる小片を歩進走査し、ハ）処理
   装置によってそれぞれ個々の小片の特徴を示す例えばグ
   レー値等の特性値、が検出され、ニ）特性値に基づき、
   比較により個々の小片を、例えばタイプ、形状、大きさ
   に従って分類し、ホ）個々の小片を計数することを特徴
   とする織物繊維材料内の障害片を検出する方法。 ２、薄い繊維ウェブとセンサが互いに相対移動されるこ
   とを特徴とする請求項第１項に記載の方法。 ３、センサがプログラム可能な測定領域を歩進走査する
   ことを特徴とする請求項第１項あるいは第２項に記載の
   方法。 ４、センサがごみ部分、シェルネップなどの如き障害片
   を透過光で検出することを特徴とする請求項第１項から
   第３項のいずれか１項に記載の方法。 ５、センサがネップの如き障害片を入射光で検出するこ
   とを特徴とする請求項第１項から第４項のいずれか１項
   に記載の方法。 ６、シェルネップが透過光で検出され且つ評価されて少
   なくとも２つの異なるグレー段階が求められることを特
   徴とする請求項第１項から第５項のいずれか１項に記載
   の方法。 ７、シェルネップが、透過光と入射光の測定結果を比較
   することによって求められることを特徴とする請求項第
   １項から第６項のいずれか１項に記載の方法。 ８、綿花、化学繊維などの繊維材料内のごみ部分、ネッ
   プ、シェルネップ、ナップなどの如き障害片を検出する
   請求項第１項から第７項のいずれか１項に記載の方法を
   実施する装置であって、繊維材料用の透明な部材を有す
   る測定系が設けられ、測定系に汚れ度合を検出するセン
   サが設けられている装置において、 装置にダイオードラインカメラあるいは面カメラの如き
   カメラ（１２）、電子処理装置（画像処理装置１４）、
   分類装置、計数装置及びコンピュータ（１５）が設けら
   れていることを特徴とする装置。 ９、センサ（１２）と照明装置（１３）が繊維ウェブ（
   ２５、５８）に対して同一の側に配置されていることを
   特徴とする請求項第１項から第８項のいずれか１項に記
   載の装置。 １０、センサ（１２）と照明装置（１３）が繊維ウェブ
   （２５、５８）に対して異なる側に配置されていること
   を特徴とする請求項第８項又は第９項に記載の装置。 １１、照明装置（１３、２４）を切り替える切り替え装
   置が設けられていることを特徴とする請求項第８項から
   第１０項のいずれか１項に記載の装置。 １２、処理装置（１４）に透過光で検出したときと入射
   光で検出したときの電気的なパルスを比較する比較装置
   が設けられていることを特徴とする請求項第８項から第
   １１項のいずれか１項に記載の装置。 １３、処理装置（１４）にアナログ／ディジタル変換器
   （６３）が設けられていることを特徴とする請求項第８
   項から第１２項のいずれか１項に記載の装置。 １４、処理装置（１４）にグレー値フィルタが設けられ
   ていることを特徴とする請求項第８項から第１３項のい
   ずれか１項に記載の装置。 １５、処理装置（１４）が個々の小片の形状を検出する
   ことを特徴とする請求項第８項から第１４項のいずれか
   １項に記載の装置。 １６、処理装置が個々の小片の大きさを検出することを
   特徴とする請求項第８項から第１５項のいずれか１項に
   記載の装置。 １７、処理装置（１４）が個々の小片の輝度を検出する
   ことを特徴とする請求項第８項から第１６項のいずれか
   １項に記載の装置。 １８、分類装置にメモリ（１７）が設けられていること
   を特徴とする請求項第８項から第１７項のいずれか１項
   に記載の装置。 １９、装置にモニター（２１）が設けられていることを
   特徴とする請求項第８項から第１８項のいずれか１項に
   記載の装置。 ２０、繊維ウェブ（２５）を支持する支持体（２ａ）を
   有するテーブル（１）に、２軸制御装置（４、５、６、
   ８、９、１０、１９）が設けられていることを特徴とす
   る請求項第８項から第１９項のいずれか１項に記載の装
   置。 ２１、繊維ウェブ（２５、５８）を支持する支持体（２
   ａ、２ｂ、４８、４９、５９、６０）が例えばガラス等
   の透明な材料で作られていることを特徴とする請求項第
   ８項から第２０項のいずれか１項に記載の装置。 ２２、支持体（５９、６０）が凸面に湾曲した表面を有
   することを特徴とする請求項第８項から第２１項のいず
   れか１項に記載の装置。 ２３、支持体が透明あるいは光を通す外表面を有するド
   ラム（５９）であることを特徴とする請求項第８項から
   第２２項のいずれか１項に記載の装置。 ２４、センサ（１２）が照明装置（１３、２４）と共に
   、カード（３０）の如き繊維ウェブを形成する装置の入
   り口及び／あるいは出口に配置されていることを特徴と
   する請求項第８項から第２３項のいずれか１項に記載の
   装置。 ２５、センサ（１２）が針布ドラム（３４、３５、３６
   ）上にある繊維ウェブ（５８）を検出することができる
   ことを特徴とする請求項第８項から第２４項のいずれか
   １項に記載の装置。 ２６、ドラム（３４、３５、３６）の幅全体にわたって
   障害片（２６）の数及び／あるいは量を検出可能である
   ことを特徴とする請求項第８項から第２５項のいずれか
   １項に記載の装置。 ２７、多数のセンサ（１２）が処理装置（１４）に接続
   されていることを特徴とする請求項第８項から第２６項
   のいずれか１項に記載の装置。 ２８、コンピュータ（１４）が除じん度を閉ループ制御
   する制御装置（５１）と制御線（６３）を介して、針布
   ドラム（３３）に設けられたストリップローラ（５６）
   あるいはカード（３０）に設けられた案内部材（５４）
   などの操作部材の駆動装置と接続されていることを特徴
   とする請求項第８項から第２７項のいずれか１項に記載
   の装置。 ２９、コンピュータが品質検出装置、例えばカード情報
   システムと接続されていることを特徴とする請求項第８
   項から第２８項のいずれか１項に記載の装置。 ３０、コンピュータ（１５）がカード（３０）の如き繊
   維ウェブ形成機械の制御装置と接続されており、障害片
   （２６）に関する所定の限界値を越えた場合には、警告
   装置及び／あるいは機械の停止装置を作動させることが
   できることを特徴とする請求項第８項から第２９項のい
   ずれか１項に記載の装置。 ３１、装置に、カメラ（１２）としてＣＣＤ面カメラが
   設けられていることを特徴とする請求項第８項から第３
   ０項のいずれか１項に記載の装置。 ３２、面カメラに短時間露光を行う装置が設けられてい
   ることを特徴とする請求項第８項から第３１項のいずれ
   か１項に記載の装置。