JPH0399376A - 画質検査装置 - Google Patents
画質検査装置Info
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- JPH0399376A JPH0399376A JP1237647A JP23764789A JPH0399376A JP H0399376 A JPH0399376 A JP H0399376A JP 1237647 A JP1237647 A JP 1237647A JP 23764789 A JP23764789 A JP 23764789A JP H0399376 A JPH0399376 A JP H0399376A
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- test pattern
- image data
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- display device
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
被試験用表示装置をカメラによって撮影し、撮影した画
像データによって該被試験用表示装置に於ける画質のチ
ェックを行う画質検査装置に関し、撮影した画像データ
を識別することで良否の判定を行うことで試験の信鯨性
の向上および試験工数の削減を図ることを目的とし、 第１の画像データにより枠の識別を行った第１の識別デ
ータと第２の画像データによりテストパターンの識別を
行った第２の識別データとを作成する識別データ作成部
と、該第１の識別データを基準に該第２の識別データを
比較し、該被試験用表示装置に於ける表示画面の位置ず
れおよび傾きを算出するよう制御し、良否の判定を行う
ＣＰＵと、該良否の判定により信号を出力するインタフ
ェース部とによって画像処理装置を形成するように構成
する。
像データによって該被試験用表示装置に於ける画質のチ
ェックを行う画質検査装置に関し、撮影した画像データ
を識別することで良否の判定を行うことで試験の信鯨性
の向上および試験工数の削減を図ることを目的とし、 第１の画像データにより枠の識別を行った第１の識別デ
ータと第２の画像データによりテストパターンの識別を
行った第２の識別データとを作成する識別データ作成部
と、該第１の識別データを基準に該第２の識別データを
比較し、該被試験用表示装置に於ける表示画面の位置ず
れおよび傾きを算出するよう制御し、良否の判定を行う
ＣＰＵと、該良否の判定により信号を出力するインタフ
ェース部とによって画像処理装置を形成するように構成
する。
〔産業上の利用分野］
本発明は被試験用表示装置をカメラによって撮影し、撮
影した画像データによって該被試験用表示装置に於ける
画質のチェックを行う画質検査装置に関する。
影した画像データによって該被試験用表示装置に於ける
画質のチェックを行う画質検査装置に関する。
近年、情報化の発展に伴い、コンピュータの普及は目覚
ましく、一般の家庭内に於いてもパソコンなどが備えら
れるようになり、これらのパソコンなどに用いられる陰
極線管デイスプレィ（ＣＲＴ）。
ましく、一般の家庭内に於いてもパソコンなどが備えら
れるようになり、これらのパソコンなどに用いられる陰
極線管デイスプレィ（ＣＲＴ）。
液晶デイスプレィ（ＬＣＤ） 、プラズマデイスプレィ
（ＰＤＰ）等による表示装置の生産量が拡大される傾向
にある。
（ＰＤＰ）等による表示装置の生産量が拡大される傾向
にある。
また、これらの表示装置を製造するメーカでは、その製
造工程に於いて、完成されたそれぞれの表示装置の画質
を検査する試験が行われている。
造工程に於いて、完成されたそれぞれの表示装置の画質
を検査する試験が行われている。
したがって、このような画質を検査する試験は、生産量
が拡大されることで膨大な試験工数を要することになる
ため、試験の合理化が図られることが望まれている。
が拡大されることで膨大な試験工数を要することになる
ため、試験の合理化が図られることが望まれている。
（従来の技術〕
従来は第８図の従来の説明図に示すように行われていた
。第８図の（ａ）は斜視図、 （ｂ１）は表示画面の正
面図、 （ｂ２）はテストパターンの検出説明図である
。
。第８図の（ａ）は斜視図、 （ｂ１）は表示画面の正
面図、 （ｂ２）はテストパターンの検出説明図である
。
第８図の（ａ）に示すように、試験すべき被試験用表示
装置１を台板１１に積載し、駆動されるコンベア１０に
よって移送され、所定個所に位置させることで、被試験
用表示装置１の表示画面１Ａに例えば、（ｂ１）に示す
十字のテストパターンＰＡを出力させ、テストパターン
ＰＡを矢印への方向から目視によってチェックを行う。
装置１を台板１１に積載し、駆動されるコンベア１０に
よって移送され、所定個所に位置させることで、被試験
用表示装置１の表示画面１Ａに例えば、（ｂ１）に示す
十字のテストパターンＰＡを出力させ、テストパターン
ＰＡを矢印への方向から目視によってチェックを行う。
この場合、十字のテストパターンＰＡは枠４の内側に形
成された表示画面１Ａに於ける点線で示す最大表示エリ
ヤＩＢ内に形成さる。
成された表示画面１Ａに於ける点線で示す最大表示エリ
ヤＩＢ内に形成さる。
そこで、（ｂ２）に示すように、被試験用表示装置１に
内設されているシャーシ（図示されていない）などによ
る基準水平レベルを基準位置ＢとしてテストパターンＰ
Ａの水平度または垂直度によって良否の判定が行われて
いた。
内設されているシャーシ（図示されていない）などによ
る基準水平レベルを基準位置ＢとしてテストパターンＰ
Ａの水平度または垂直度によって良否の判定が行われて
いた。
通常、このような良否の判定はテストパターンＰＡの所
定の長さ！（約２２５ ｍｏｂ）に於ける水平方向の左
右の高さ旧とＨ２とを基準位置Ｂから測定し、その差が
３ｍｍを越えた時、または、傾きθ、が約０．８°を越
えた時は、不良と判定が行われていた。
定の長さ！（約２２５ ｍｏｂ）に於ける水平方向の左
右の高さ旧とＨ２とを基準位置Ｂから測定し、その差が
３ｍｍを越えた時、または、傾きθ、が約０．８°を越
えた時は、不良と判定が行われていた。
したがって、テストパターンＰＡの水平度または垂直度
を目視によってチェックし、所定の許容値以下であれば
、良品とし、許容値をオーバした場合は不良品とするこ
とで判別が行われていた。
を目視によってチェックし、所定の許容値以下であれば
、良品とし、許容値をオーバした場合は不良品とするこ
とで判別が行われていた。
しかし、このような目視によってチェックすることでは
、目の疲労により検査規格が変動し、実際の傾きθを正
確に測定することは困難であり、更に、チェックする検
査要員によって判定に差が生じることになる。
、目の疲労により検査規格が変動し、実際の傾きθを正
確に測定することは困難であり、更に、チェックする検
査要員によって判定に差が生じることになる。
また、このような検査スピードには限界があるため、膨
大な工数を要し、多（の検査要員が必要となる。
大な工数を要し、多（の検査要員が必要となる。
したがって、品質にバラツキが生じ、かつ、多くの検査
要員が必要となる問題を有していた。
要員が必要となる問題を有していた。
そこで、本発明では、撮影した画像データを識別するこ
とで良否の判定を行うことで試験の信顛性の向上および
試験工数の削減を図ることを目的とする。
とで良否の判定を行うことで試験の信顛性の向上および
試験工数の削減を図ることを目的とする。
第１図は本発明の原理説明図である。
第１図に示すように、第１の画像データＤ１により枠４
の識別を行った第１の識別データＤ１１ と第２の画像
データＤ２によりテストパターンＰの識別を行った第２
の識別データ０１２とを作成する識別データ作成部５と
、該第１の識別データＤ１１を基準に該第２の識別デー
タ０１２を比較し、該被試験用表示装置１に於ける表示
画面１Ａの位置ずれσおよび傾きΦを算出するよう制御
し、良否の判定を行うＣＰＵ６と、該良否の判定により
信号Ｓを出力するインタフェース部７とによって画像処
理装置３を形成するように構成する。
の識別を行った第１の識別データＤ１１ と第２の画像
データＤ２によりテストパターンＰの識別を行った第２
の識別データ０１２とを作成する識別データ作成部５と
、該第１の識別データＤ１１を基準に該第２の識別デー
タ０１２を比較し、該被試験用表示装置１に於ける表示
画面１Ａの位置ずれσおよび傾きΦを算出するよう制御
し、良否の判定を行うＣＰＵ６と、該良否の判定により
信号Ｓを出力するインタフェース部７とによって画像処
理装置３を形成するように構成する。
即ち、テストパターンＰが表示された被試験用表示装置
１の枠４を撮影した第１の画像データＤ１によって枠４
を識別した第１の識別データＤ１１ とテストパターン
Ｐを撮影した第２の画像データＤ２によってテストパタ
ーンＰを識別した第２の識別データ０１２とを識別デー
タ作成部５により作成し、第１の識別データＤ１１を基
準に第２の識別データ０１２を比較し、被試験用表示装
置１に於ける表示画面１Ａの位置ずれσおよび傾きΦを
ＣＰＵの制御により算出し、良否の判定を行い、その良
否の判定がインタフェース部７からの出力信号Ｓによっ
て通知されるようにしたものである。
１の枠４を撮影した第１の画像データＤ１によって枠４
を識別した第１の識別データＤ１１ とテストパターン
Ｐを撮影した第２の画像データＤ２によってテストパタ
ーンＰを識別した第２の識別データ０１２とを識別デー
タ作成部５により作成し、第１の識別データＤ１１を基
準に第２の識別データ０１２を比較し、被試験用表示装
置１に於ける表示画面１Ａの位置ずれσおよび傾きΦを
ＣＰＵの制御により算出し、良否の判定を行い、その良
否の判定がインタフェース部７からの出力信号Ｓによっ
て通知されるようにしたものである。
したがって、従来の目視によるチェックに比較して正確
な判定が行え、しかも、チェック作業は人手を要するこ
とな（行えるため、試験工数の削減が図れることになる
。
な判定が行え、しかも、チェック作業は人手を要するこ
とな（行えるため、試験工数の削減が図れることになる
。
以下本発明を第２図〜第７図を参考に詳細に説明する。
第２図は本発明による一実施例の構成図。
第３図は本発明の表示画面の説明図で、（ａ）は正面図
、（ｂ）は側面図、第４図は本発明のフローチャート図
、第５図は濃度ヒストグラム図、第６図の（ａ） （ｂ
）は枠の識別説明図、第７図の（ａ１） （ａ２） （
ｂ）（ｃ）はテストパターンの識別説明図を示す。全図
を通じて、同一符号は同一対象物を示す。
、（ｂ）は側面図、第４図は本発明のフローチャート図
、第５図は濃度ヒストグラム図、第６図の（ａ） （ｂ
）は枠の識別説明図、第７図の（ａ１） （ａ２） （
ｂ）（ｃ）はテストパターンの識別説明図を示す。全図
を通じて、同一符号は同一対象物を示す。
第２図に示すように、被試験用表示装置１の表示画面１
Ａを撮影するカメラ２を配設し、カメラ２よって撮影さ
れた第１と第２の画像データＤＩ、Ｄ２が画像処理装置
３に送出されるように構成したものである。
Ａを撮影するカメラ２を配設し、カメラ２よって撮影さ
れた第１と第２の画像データＤＩ、Ｄ２が画像処理装置
３に送出されるように構成したものである。
また、被試験用表示装置１とカメラ２との間には外光を
遮蔽するようフード９が設けられており、一方、画像処
理装置３はカメラ２の光学系２Ａに設けられた照明８を
点滅させるコントローラ３Ａと、第１と第２の画像デー
タＤＩ、Ｄ２を識別する識別データ作成部５と、良否の
判定を通知する信号Ｓを出力するインタフェース部７と
がＣＰＵ６のバス６＾に接続されることで構成されてい
る。
遮蔽するようフード９が設けられており、一方、画像処
理装置３はカメラ２の光学系２Ａに設けられた照明８を
点滅させるコントローラ３Ａと、第１と第２の画像デー
タＤＩ、Ｄ２を識別する識別データ作成部５と、良否の
判定を通知する信号Ｓを出力するインタフェース部７と
がＣＰＵ６のバス６＾に接続されることで構成されてい
る。
更に、表示画面１Ａは第３図の（ａ） （ｂ）に示すよ
、うに、斜線で示した外枠４Ａのテーパ部の枠４の内側
に形成され、表示画面１Ａには検査に際して矩形状のテ
ストパターンＰが出力される。
、うに、斜線で示した外枠４Ａのテーパ部の枠４の内側
に形成され、表示画面１Ａには検査に際して矩形状のテ
ストパターンＰが出力される。
この場合のテストパターンＰの大きさは点線で示す高さ
ＣＬ幅Ｃ２の最大表示エリヤＩＢより多少小さく形成さ
れている。
ＣＬ幅Ｃ２の最大表示エリヤＩＢより多少小さく形成さ
れている。
そこで、枠４の撮影は照明８を点灯するのみで行い、テ
ストパターンＰの撮影は照明８を消灯させ、更に、テス
トパターンＰを表示画面１Ａに出力することで行うよう
コントローラ３Ａによって制御され、枠４とテストパタ
ーンＰとの第１と第２の画像データＤＩ、Ｄ２の取り込
みが行われる。
ストパターンＰの撮影は照明８を消灯させ、更に、テス
トパターンＰを表示画面１Ａに出力することで行うよう
コントローラ３Ａによって制御され、枠４とテストパタ
ーンＰとの第１と第２の画像データＤＩ、Ｄ２の取り込
みが行われる。
また、第１と第２の画像データ０１．０２の入力が行わ
れる識別データ作成部５は、第１と第２の画像データＤ
ｉ、Ｄ２をＡ／Ｄ変換するカメラインタフェース５Ａと
、デジタル化された第１と第２の画像データ０．１．Ｄ
２を格納するフレームメモリ５Ｂと、識別プログラムを
格納したＲＯＭ５Ｃと、デジタル化された画像データＤ
を識別プログラムの指令によって、枠４の第１の画像デ
ータＤ１およびテストパターンＰの第２の画像データＤ
２を識別し、演算するハードプロセッサ５Ｅと、第１と
第２の画像データ０１．０２によって作成された第１と
第２の識別データＤ１１．０１２を格納するＲＡＭ５Ｄ
とによって構成されている。
れる識別データ作成部５は、第１と第２の画像データＤ
ｉ、Ｄ２をＡ／Ｄ変換するカメラインタフェース５Ａと
、デジタル化された第１と第２の画像データ０．１．Ｄ
２を格納するフレームメモリ５Ｂと、識別プログラムを
格納したＲＯＭ５Ｃと、デジタル化された画像データＤ
を識別プログラムの指令によって、枠４の第１の画像デ
ータＤ１およびテストパターンＰの第２の画像データＤ
２を識別し、演算するハードプロセッサ５Ｅと、第１と
第２の画像データ０１．０２によって作成された第１と
第２の識別データＤ１１．０１２を格納するＲＡＭ５Ｄ
とによって構成されている。
したがって、表示画面１Ａの画像品質は第４図に示す順
序によってチェックを行う。
序によってチェックを行う。
先づ、コントローラ３Ａの制御によって照明８を点灯し
、カメラ２によって枠４を撮影した第１の画像データＤ
１を取り込む、この場合、照明８による照射光は平坦な
外枠４への個所では小さく、枠４のテーパの個所では大
きくなるように照明８が配設されている。
、カメラ２によって枠４を撮影した第１の画像データＤ
１を取り込む、この場合、照明８による照射光は平坦な
外枠４への個所では小さく、枠４のテーパの個所では大
きくなるように照明８が配設されている。
そこで、カメラインタフェース５Ａでは第５図に示すよ
うに、第１の画像データＤＩに於けるＯ〜２５５階調の
各濃度に対応した画素数をカウントし、濃度ヒストグラ
ムを作成する。
うに、第１の画像データＤＩに於けるＯ〜２５５階調の
各濃度に対応した画素数をカウントし、濃度ヒストグラ
ムを作成する。
この場合、枠４の総画素数は、予め、既知であるため、
枠４の総画素数に等しくなる面積を濃度ヒストグラムの
明るい方から積算することで斜線のＥ部で示す面積を求
め、この時の濃度ｔをスライスレベルとして決定し、濃
度ｔを基準に二値化することで、第１の画像データＤ１
をデジタル信号に変換し、変換後、フレームメモリ５Ｂ
に格納を行う。
枠４の総画素数に等しくなる面積を濃度ヒストグラムの
明るい方から積算することで斜線のＥ部で示す面積を求
め、この時の濃度ｔをスライスレベルとして決定し、濃
度ｔを基準に二値化することで、第１の画像データＤ１
をデジタル信号に変換し、変換後、フレームメモリ５Ｂ
に格納を行う。
次に、第６図の（ａ）に示すように、フレームメモリ５
Ｂの中心線Ｆｌ、Ｆ２を基準に等ピッチ間隔で各辺を１
０〜２０個所のスキャンを行い、フレームメモリ５Ｂに
格納されたデジタル信号化された第１の画像データＤ１
の０′から１′に変化する座標Ｘｉ。
Ｂの中心線Ｆｌ、Ｆ２を基準に等ピッチ間隔で各辺を１
０〜２０個所のスキャンを行い、フレームメモリ５Ｂに
格納されたデジタル信号化された第１の画像データＤ１
の０′から１′に変化する座標Ｘｉ。
Ｙｉを検出し、位置座標を求める。
このように検出した座標Ｘｉ、Ｙｉによる識別データＤ
１１をＲＡＭ５Ｄに格納し、それぞれの座標Ｘｉ、Ｙｉ
に最もフィツトする直線を以下に示す（１）、 （２）
式の最小二乗法によって算出し、第１の識別データＤ１
１を（ｂ）に示すように形成することを行う。
１１をＲＡＭ５Ｄに格納し、それぞれの座標Ｘｉ、Ｙｉ
に最もフィツトする直線を以下に示す（１）、 （２）
式の最小二乗法によって算出し、第１の識別データＤ１
１を（ｂ）に示すように形成することを行う。
但し、求める直線がＹ ＝ＡＸ＋８で示されるものとす
ると、 このように算出された各辺の直線に対する傾き０１〜θ
４を第６図の（ｂ）に示すように算出し、更に、（３）
式によって各辺に於ける平均の傾きθを算出することが
できる。
ると、 このように算出された各辺の直線に対する傾き０１〜θ
４を第６図の（ｂ）に示すように算出し、更に、（３）
式によって各辺に於ける平均の傾きθを算出することが
できる。
θ＝１／４（θ１＋θ２＋θ３＋θ４）・・・（３）ま
た、各辺によって形成されたコーナを対角線で結ぶこと
で交点によって中心Ｇを求めることができる。
た、各辺によって形成されたコーナを対角線で結ぶこと
で交点によって中心Ｇを求めることができる。
このような演算は全てＣＰＵ６の制御下に於いて、ＲＯ
Ｍ５Ｇに格納された演算プログラムの指令によりハード
演算プロセッサ５Ｅを実行させることで行われる。
Ｍ５Ｇに格納された演算プログラムの指令によりハード
演算プロセッサ５Ｅを実行させることで行われる。
更に、次には、コントローラ３Ａの制御によって照明８
を消灯し、表示画面１ＡにテストパターンＰを出力させ
、カメラ２によってテストパターンＰを撮影した第２の
画像データＤ２を取り込むことを行う。
を消灯し、表示画面１ＡにテストパターンＰを出力させ
、カメラ２によってテストパターンＰを撮影した第２の
画像データＤ２を取り込むことを行う。
第２の画像データＤ２が取り込まれたカメラインタフェ
ース５Ａでは、前述の第１の画像データ０１の場合と同
様にＡ／Ｄ変換を行い、フレームメモリ５Ｂに格納する
。
ース５Ａでは、前述の第１の画像データ０１の場合と同
様にＡ／Ｄ変換を行い、フレームメモリ５Ｂに格納する
。
次に、デジタル信号化されることでフレームメモリ５Ｂ
に格納された第２の画像データＤ２をフレームメモリ５
Ｂの中心点Ｇを中心に前述の検出した傾きθによって回
転させ、第７図の（ａ１）に示す状態から（ａ２）に示
す状態にする。
に格納された第２の画像データＤ２をフレームメモリ５
Ｂの中心点Ｇを中心に前述の検出した傾きθによって回
転させ、第７図の（ａ１）に示す状態から（ａ２）に示
す状態にする。
この回転によって撮影時の被試験用表示装置１の傾き、
または、カメラ２自身の傾きを補正し、フレームメモリ
５Ｂに於ける中心線Ｆｌ、Ｆ２に枠４の姿勢を合致せる
。
または、カメラ２自身の傾きを補正し、フレームメモリ
５Ｂに於ける中心線Ｆｌ、Ｆ２に枠４の姿勢を合致せる
。
そこで、第７図の（ｂ）に示すように、フレームメモリ
５Ｂのメモリ領域の４辺を基準として前述の第１の画像
データＤ１を検出識別した場合と同様に所定のピッチの
スキャンによってテストパターンＰによる第２の画像デ
ータＤ２の座標を検出する。
５Ｂのメモリ領域の４辺を基準として前述の第１の画像
データＤ１を検出識別した場合と同様に所定のピッチの
スキャンによってテストパターンＰによる第２の画像デ
ータＤ２の座標を検出する。
このようにして検出された座標Ｘｉｉ、Ｙｉｉに最もフ
ィツトする直線を前述の（１）、 （２）式を用いた最
小二乗法によって算出し、（ｃ）に示す第２の識別デー
タ０１２を形成し、各辺に於ける傾きΦ１．Φ２．Φ３
、Φ４を求める。
ィツトする直線を前述の（１）、 （２）式を用いた最
小二乗法によって算出し、（ｃ）に示す第２の識別デー
タ０１２を形成し、各辺に於ける傾きΦ１．Φ２．Φ３
、Φ４を求める。
最後に、各４辺のコーナを算出し、そのコーナを対角線
で結び、対角線の交点によって中心Ｇ１の算出を行う。
で結び、対角線の交点によって中心Ｇ１の算出を行う。
したがって、フレームメモリ５Ｂの中心Ｇと第２の画像
データＤ２の識別によって算出された中心Ｇ１との位置
ずれ量σが所定の規格内であるかどうかによって位置ず
れの判定を行い、また、各辺の傾きΦ１〜Φ４の平均値
の傾きΦを前述の（３）式と同様に行うことで算出し、
傾きΦが所定の規格内であるかどうかによって傾きの判
定を行う。
データＤ２の識別によって算出された中心Ｇ１との位置
ずれ量σが所定の規格内であるかどうかによって位置ず
れの判定を行い、また、各辺の傾きΦ１〜Φ４の平均値
の傾きΦを前述の（３）式と同様に行うことで算出し、
傾きΦが所定の規格内であるかどうかによって傾きの判
定を行う。
そこで、位置ずれ量σ、または、傾きΦのいづれかが所
定の規格よりオーバすることで不良と判定された場合は
インタフェース部７より信号Ｓが出力される。
定の規格よりオーバすることで不良と判定された場合は
インタフェース部７より信号Ｓが出力される。
また、位置ずれ量σ、または、傾きΦのいづれも所定の
規格内であれば良品と判定され、次の被試験用表示装置
１に対するチェックが繰り返すことで行われる。
規格内であれば良品と判定され、次の被試験用表示装置
１に対するチェックが繰り返すことで行われる。
以上説明したように、本発明によれば、被試験用表示装
置にテストパターンを出力させることでカメラによって
盪影した第１と第２の画像を識別することで被試験用表
示装置の表示画面に於ける位置ずれ、および、傾きを検
出し、該表示画面の品質のチェックを行うことができる
。
置にテストパターンを出力させることでカメラによって
盪影した第１と第２の画像を識別することで被試験用表
示装置の表示画面に於ける位置ずれ、および、傾きを検
出し、該表示画面の品質のチェックを行うことができる
。
したがって、従来の目視によるチェックに比較して、信
頼性の高い検査が行えることで品質の向上が図れると共
に、チェック作業の工数の削減を図ることができ、実用
的効果は大である。
頼性の高い検査が行えることで品質の向上が図れると共
に、チェック作業の工数の削減を図ることができ、実用
的効果は大である。
第１図は本発明の原理説明図。
第２図は本発明による一実施例の構成図。
第３図は本発明の表示画面の説明図で、（ａ）は正面図
、（ｂ）は側面図。 第４図は本発明のフローチャート図。 第５図は濃度ヒストグラム図。 第６図の（ａ）（ｂ）は枠の識別説明図。 第７図の（ａ１） （ａ２） （ｂ） （ｃ）はテスト
ハターンノ識別説明図 第８図は従来の説明図で、（ａ）は斜視図、 （ｂ１）
は表示画面の正面図、 （ｂ２）はテストパターンの検
出説明図を示す。 図において、 １は被試験用表示装置、 ２はカメラ。 ３は画像処理装置、 ４は枠。 ５は識別データ作成部、 ６はｃｐｕ。 ７はインターフェース部、ＬＡは表示画面。 本発明の原理説明図 第１図 Ｐテストパターン 第 図 １△表示画面 （ｂ） 本発明の１！水表面の説明図 本発明のフローチマー ト図 濃度ヒストグラＡ図 第５図 粋 の箪 別 貌 明 図 第 図 テストパターンの識別況明図 那 図
、（ｂ）は側面図。 第４図は本発明のフローチャート図。 第５図は濃度ヒストグラム図。 第６図の（ａ）（ｂ）は枠の識別説明図。 第７図の（ａ１） （ａ２） （ｂ） （ｃ）はテスト
ハターンノ識別説明図 第８図は従来の説明図で、（ａ）は斜視図、 （ｂ１）
は表示画面の正面図、 （ｂ２）はテストパターンの検
出説明図を示す。 図において、 １は被試験用表示装置、 ２はカメラ。 ３は画像処理装置、 ４は枠。 ５は識別データ作成部、 ６はｃｐｕ。 ７はインターフェース部、ＬＡは表示画面。 本発明の原理説明図 第１図 Ｐテストパターン 第 図 １△表示画面 （ｂ） 本発明の１！水表面の説明図 本発明のフローチマー ト図 濃度ヒストグラＡ図 第５図 粋 の箪 別 貌 明 図 第 図 テストパターンの識別況明図 那 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 テストパターン（Ｐ）を表示する被試験用表示装置（１
）と、 該テストパターン（Ｐ）および該被試験用表示装置（１
）の枠（４）を撮影するカメラ（２）と、該枠（４）を
撮影した第１の画像データ（Ｄ１）と該テストパターン
（Ｐ）を撮影した第２の画像データ（Ｄ２）とを識別す
る画像処理装置（３）とを備え、該被試験用表示装置（
１）に於ける画質をチェックする画質検査装置であって
、 前記第１の画像データ（Ｄ１）により前記枠（４）の識
別を行った第１の識別データ（Ｄ１１）と前記第２の画
像データ（Ｄ２）により前記テストパターン（Ｐ）の識
別を行った第２の識別データ（Ｄ１２）とを作成する識
別データ作成部（５）と、 該第１の識別データ（Ｄ１１）を基準に該第２の識別デ
ータ（Ｄ１２）を比較し、該被試験用表示装置（１）に
於ける表示画面（１Ａ）の位置ずれ（σ）および傾き（
Φ）を算出するよう制御し、良否の判定を行うＣＰＵ（
６）と、 該良否の判定により信号（Ｓ）を出力するインタフェー
ス部（７）とによって前記画像処理装置（３）を形成す
ることを特徴とする画質検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1237647A JP2900425B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 画質検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1237647A JP2900425B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 画質検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0399376A true JPH0399376A (ja) | 1991-04-24 |
| JP2900425B2 JP2900425B2 (ja) | 1999-06-02 |
Family
ID=17018422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1237647A Expired - Lifetime JP2900425B2 (ja) | 1989-09-13 | 1989-09-13 | 画質検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2900425B2 (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5825414A (en) * | 1994-06-13 | 1998-10-20 | Display Laboratories, Inc. | Method and apparatus for making corrections in a video monitor during horizontal scan |
| US6052146A (en) * | 1994-06-13 | 2000-04-18 | Display Laboratories, Inc. | Alignment of a video monitor using an on-screen display chip and a gain matrix table |
| US7155119B2 (en) | 2004-08-17 | 2006-12-26 | Dialog Imaging Systems Gmbh | Multi-processing of a picture to speed up mathematics and calculation for one picture |
| US7248347B2 (en) | 2004-08-17 | 2007-07-24 | Dialog Imaging Systems Gmbh | Focus processing with the distance of different target wheels |
| JP2007185876A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 冊子送付物 |
| CN100344164C (zh) * | 2004-11-03 | 2007-10-17 | 南京Lg同创彩色显示系统有限责任公司 | 等离子显示器画质测试器 |
| US7403229B2 (en) | 2004-08-17 | 2008-07-22 | Digital Imaging Systems Gmbh | Testing of miniaturized digital camera modules with electrical and/or optical zoom functions |
| US7486309B2 (en) | 2004-08-17 | 2009-02-03 | Digital Imaging Systems Gmbh | Digital camera module test system |
| US7505064B2 (en) | 2004-08-17 | 2009-03-17 | Digital Imaging Systems Gmbh | Camera handling system |
| US7567273B2 (en) | 2004-10-12 | 2009-07-28 | Digital Imaging Systems Gmbh | Multiple frame grabber |
| US7697031B2 (en) | 2004-08-17 | 2010-04-13 | Digital Imaging Systems Gmbh | Intelligent light source with synchronization with a digital camera |
| JP2011123106A (ja) * | 2009-12-08 | 2011-06-23 | Canon Inc | 検品装置、検品装置の制御方法およびプログラム |
-
1989
- 1989-09-13 JP JP1237647A patent/JP2900425B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5825414A (en) * | 1994-06-13 | 1998-10-20 | Display Laboratories, Inc. | Method and apparatus for making corrections in a video monitor during horizontal scan |
| US6052146A (en) * | 1994-06-13 | 2000-04-18 | Display Laboratories, Inc. | Alignment of a video monitor using an on-screen display chip and a gain matrix table |
| US7403229B2 (en) | 2004-08-17 | 2008-07-22 | Digital Imaging Systems Gmbh | Testing of miniaturized digital camera modules with electrical and/or optical zoom functions |
| US7248347B2 (en) | 2004-08-17 | 2007-07-24 | Dialog Imaging Systems Gmbh | Focus processing with the distance of different target wheels |
| US7155119B2 (en) | 2004-08-17 | 2006-12-26 | Dialog Imaging Systems Gmbh | Multi-processing of a picture to speed up mathematics and calculation for one picture |
| US7486309B2 (en) | 2004-08-17 | 2009-02-03 | Digital Imaging Systems Gmbh | Digital camera module test system |
| US7505064B2 (en) | 2004-08-17 | 2009-03-17 | Digital Imaging Systems Gmbh | Camera handling system |
| US7697031B2 (en) | 2004-08-17 | 2010-04-13 | Digital Imaging Systems Gmbh | Intelligent light source with synchronization with a digital camera |
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| US7965316B2 (en) | 2004-08-17 | 2011-06-21 | Digital Imaging Systems Gmbh | Intelligent light source with synchronization with a digital camera |
| US7567273B2 (en) | 2004-10-12 | 2009-07-28 | Digital Imaging Systems Gmbh | Multiple frame grabber |
| CN100344164C (zh) * | 2004-11-03 | 2007-10-17 | 南京Lg同创彩色显示系统有限责任公司 | 等离子显示器画质测试器 |
| JP2007185876A (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 冊子送付物 |
| JP2011123106A (ja) * | 2009-12-08 | 2011-06-23 | Canon Inc | 検品装置、検品装置の制御方法およびプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2900425B2 (ja) | 1999-06-02 |
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