JPH04101340A - イオン源装置 - Google Patents
イオン源装置Info
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- JPH04101340A JPH04101340A JP2216682A JP21668290A JPH04101340A JP H04101340 A JPH04101340 A JP H04101340A JP 2216682 A JP2216682 A JP 2216682A JP 21668290 A JP21668290 A JP 21668290A JP H04101340 A JPH04101340 A JP H04101340A
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- Japan
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- plasma chamber
- ion
- ion source
- housing
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- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はイオン源装置に関し、特にイオンビームスパッ
タ、イオンビームによる酸化等の表面改質、微細パター
ン形成のためのエツチング、表面クリーニング等の表面
処理に適したイオン源装置に関するものである。
タ、イオンビームによる酸化等の表面改質、微細パター
ン形成のためのエツチング、表面クリーニング等の表面
処理に適したイオン源装置に関するものである。
従来のイオン源装置では、例えば同軸導波路を経由して
プラズマ室にマイクロ波電力が供給され、これによって
プラズマを発生させ、プラズマ室の開口部に設けられた
イオン引出しグリッドによりシャワー状のイオンビーム
を引出すように構成されていた。かかるイオン源装置は
試料の表面における薄膜堆積や表面改質等に用いられて
いる。
プラズマ室にマイクロ波電力が供給され、これによって
プラズマを発生させ、プラズマ室の開口部に設けられた
イオン引出しグリッドによりシャワー状のイオンビーム
を引出すように構成されていた。かかるイオン源装置は
試料の表面における薄膜堆積や表面改質等に用いられて
いる。
第5図に基づき従来のイオン源装置の構成例を一説明す
る。このイオン源装置ではマイクロ波と磁界を用いてプ
ラズマを発生させる。第5図において1は内部が真空状
態に保持されるプラズマ室、2はマイクロ波電力導入フ
ィードスルー、3はプラズマ室の真空状態を保持する真
空シール用絶縁材、4はマイクロ波を放射するためのア
ンテナ、5は前記フィードスルーの水冷式冷却構造部、
6はプラズマ室の周囲に配設されプラズマ室1内に磁界
を発生させる磁界発生用コイル、7,8はイオン引出し
グリッド、9及び1oは絶縁体、11はイオン輸送管、
12〜14は直流電源、15はガス供給管、16はプラ
ズマ室1の水冷式冷却構造部である。
る。このイオン源装置ではマイクロ波と磁界を用いてプ
ラズマを発生させる。第5図において1は内部が真空状
態に保持されるプラズマ室、2はマイクロ波電力導入フ
ィードスルー、3はプラズマ室の真空状態を保持する真
空シール用絶縁材、4はマイクロ波を放射するためのア
ンテナ、5は前記フィードスルーの水冷式冷却構造部、
6はプラズマ室の周囲に配設されプラズマ室1内に磁界
を発生させる磁界発生用コイル、7,8はイオン引出し
グリッド、9及び1oは絶縁体、11はイオン輸送管、
12〜14は直流電源、15はガス供給管、16はプラ
ズマ室1の水冷式冷却構造部である。
上記構成においてイオン源装置が動作するときには、プ
ラズマ室1に対しガスがガス供給管15より導入される
と共にマイクロ波がフィードスルー2を介して供給され
る。同時にプラズマ室1の内部にコイル6によって電子
サイクロトロン共鳴条件を満足する磁界を発生させる。
ラズマ室1に対しガスがガス供給管15より導入される
と共にマイクロ波がフィードスルー2を介して供給され
る。同時にプラズマ室1の内部にコイル6によって電子
サイクロトロン共鳴条件を満足する磁界を発生させる。
この結果、プラズマ室1の少なくとも一部でプラズマが
発生する。次いで、プラズマ室1からイオンを引き出す
ために、直流電源12によってプラズマ室1に正の電圧
を印加し、グリッド8に直流電源13によって負の電圧
を印加し、輸送管11に直流電源14によって負の電圧
を印加する。この場合において、グリッド8は浮遊電位
になっている。
発生する。次いで、プラズマ室1からイオンを引き出す
ために、直流電源12によってプラズマ室1に正の電圧
を印加し、グリッド8に直流電源13によって負の電圧
を印加し、輸送管11に直流電源14によって負の電圧
を印加する。この場合において、グリッド8は浮遊電位
になっている。
次に従来のイオン源装置の取付は構造について説明する
。イオン源装置は、内部に試料室が形成された真空容器
に取付けられる。第5図中17は真空容器の壁部の一部
を示し、部位17の内部か真空になった容器となってい
る。第5図に示されるように、従来のイオン源装置では
、プラズマ室1とその周辺に配置される磁界発生用コイ
ル6等を真空容器17の外部に配設するように構成して
いたので、真空容器17内の所定位置に配置される試料
(図示せず)の所までイオンビームを効率良く案内する
ために相当に長い形状の輸送管11を用いていた。従っ
て、取付は構造としては、プラズマ室1を形成し且つグ
リッド7.8及び輸送管11の先部を収容する第1のハ
ウジング18と、真空容器17に固定される取付はフラ
ンジ19aを有した第2のハウジング19を備え、第1
及び第2のハウジング18.19を絶縁体9を介設して
組付け、第2のハウジンク19の取付はフランジ19a
を、真空容器17における輸送管挿通用の孔17aの周
囲のフランジ17bに固定している。
。イオン源装置は、内部に試料室が形成された真空容器
に取付けられる。第5図中17は真空容器の壁部の一部
を示し、部位17の内部か真空になった容器となってい
る。第5図に示されるように、従来のイオン源装置では
、プラズマ室1とその周辺に配置される磁界発生用コイ
ル6等を真空容器17の外部に配設するように構成して
いたので、真空容器17内の所定位置に配置される試料
(図示せず)の所までイオンビームを効率良く案内する
ために相当に長い形状の輸送管11を用いていた。従っ
て、取付は構造としては、プラズマ室1を形成し且つグ
リッド7.8及び輸送管11の先部を収容する第1のハ
ウジング18と、真空容器17に固定される取付はフラ
ンジ19aを有した第2のハウジング19を備え、第1
及び第2のハウジング18.19を絶縁体9を介設して
組付け、第2のハウジンク19の取付はフランジ19a
を、真空容器17における輸送管挿通用の孔17aの周
囲のフランジ17bに固定している。
第5図において、図では厳密に示されていないが、マイ
クロ波電力導入フィードスルー2と第1のハウジング1
8と第2のハウジング19と真空容器17とは、内部が
真空状態に保たれるように真空シール状態にて結合され
ている。また20は絶縁体10を固定するための固定部
材である。
クロ波電力導入フィードスルー2と第1のハウジング1
8と第2のハウジング19と真空容器17とは、内部が
真空状態に保たれるように真空シール状態にて結合され
ている。また20は絶縁体10を固定するための固定部
材である。
なおイオン源装置については、金等による“デベロップ
メント・オン・ア・コンパクト・イー・シー・アール・
イオン・ソース” プロシーディング・オン・ザートウ
エルフス・シンポジューム・オン・イオン・ソーシズ働
アンドφイオン・アシステツド・テクノロジー・ピー・
ピー 8994.1989 (“ DEVE
LOPMENT OF ACOMPACT ECRIO
N 5OURCE ?oceeding of
the Twel+jh Symposium on
IOn 5ources and fanAssirt
ed Technolog7 、 PP89−94.1
989)に詳しく記載されている。
メント・オン・ア・コンパクト・イー・シー・アール・
イオン・ソース” プロシーディング・オン・ザートウ
エルフス・シンポジューム・オン・イオン・ソーシズ働
アンドφイオン・アシステツド・テクノロジー・ピー・
ピー 8994.1989 (“ DEVE
LOPMENT OF ACOMPACT ECRIO
N 5OURCE ?oceeding of
the Twel+jh Symposium on
IOn 5ources and fanAssirt
ed Technolog7 、 PP89−94.1
989)に詳しく記載されている。
上記の如〈従来のイオン源装置の構造によれば、プラズ
マ室1及びその周辺部の装置構成を真空容器17の外部
に配設するようにしたため、プラズマ室1から引出し用
グリッド7.8を用いて引き出されたイオンビームを真
空容器17の内部の試料まで誘導するためには、長形の
輸送管11が必要とされた。このように、輸送管11は
、イオン同士の相互反発に起因する発散作用の結果中し
るイオン電流密度の低減を防止し、所要量のイオン電流
密度を得るために設けられたものである。しかしながら
、反面において、従来のイオン源装置ではかかる輸送管
11が存在するため、プラズマ室1から引き出されたイ
オンのうち相当量のイオンが輸送管11の管壁に吸収さ
れ、その結果イオン引出しの効率が低下するという不具
合が生じていた。すなわち、輸送管11の存在そのもの
がイオンの引出し効率を悪化させる要因にもなっていた
。
マ室1及びその周辺部の装置構成を真空容器17の外部
に配設するようにしたため、プラズマ室1から引出し用
グリッド7.8を用いて引き出されたイオンビームを真
空容器17の内部の試料まで誘導するためには、長形の
輸送管11が必要とされた。このように、輸送管11は
、イオン同士の相互反発に起因する発散作用の結果中し
るイオン電流密度の低減を防止し、所要量のイオン電流
密度を得るために設けられたものである。しかしながら
、反面において、従来のイオン源装置ではかかる輸送管
11が存在するため、プラズマ室1から引き出されたイ
オンのうち相当量のイオンが輸送管11の管壁に吸収さ
れ、その結果イオン引出しの効率が低下するという不具
合が生じていた。すなわち、輸送管11の存在そのもの
がイオンの引出し効率を悪化させる要因にもなっていた
。
以上の如〈従来のイオン源装置では輸送管11の印加状
態が接地電位近傍又は負電位に設定されているため、引
出し電流のうち相当な部分が輸送管11に流入している
。これでは、引き出されたイオン電流を本来の目的のた
め十分に活用することができない。更に、引き出された
イオンが輸送管11の内面に衝突し、輸送管の内部にお
いて好ましくない管壁のスパッタリングが発生するとい
う問題も提起される。
態が接地電位近傍又は負電位に設定されているため、引
出し電流のうち相当な部分が輸送管11に流入している
。これでは、引き出されたイオン電流を本来の目的のた
め十分に活用することができない。更に、引き出された
イオンが輸送管11の内面に衝突し、輸送管の内部にお
いて好ましくない管壁のスパッタリングが発生するとい
う問題も提起される。
本発明の目的は、上記問題に鑑み、取り出すことのでき
るイオン電流を増加させ、引出し電流を有効に活用する
ことのできる構造を有したイオン源装置を提供すること
にある。
るイオン電流を増加させ、引出し電流を有効に活用する
ことのできる構造を有したイオン源装置を提供すること
にある。
本発明に係るイオン源装置は、プラズマを発生しイオン
を生成するためのプラズマ室と、プラズマ室に磁界を発
生させる磁界発生手段と、プラズマ室に導波路を用いて
マイクロ波を供給するマイクロ波導入手段と、プラズマ
室に生成されたイオンを引出しシャワー状のイオンビー
ムを形成するイオン引出しグリッドを備え、真空容器内
に配置された試料に対してイオンビームを照射するイオ
ン源装置において、突出した形状を有するハウジングを
備え、ハウジングの内部スペースにプラズマ室が形成さ
れると共に磁界発生手段が収容され、プラズマ室のイオ
ン引出し開口部にイオン引出しグリッドか配設されるよ
うに構成される。
を生成するためのプラズマ室と、プラズマ室に磁界を発
生させる磁界発生手段と、プラズマ室に導波路を用いて
マイクロ波を供給するマイクロ波導入手段と、プラズマ
室に生成されたイオンを引出しシャワー状のイオンビー
ムを形成するイオン引出しグリッドを備え、真空容器内
に配置された試料に対してイオンビームを照射するイオ
ン源装置において、突出した形状を有するハウジングを
備え、ハウジングの内部スペースにプラズマ室が形成さ
れると共に磁界発生手段が収容され、プラズマ室のイオ
ン引出し開口部にイオン引出しグリッドか配設されるよ
うに構成される。
本発明によるイオン源装置では、プラズマ室及びその周
辺構成物が、真空容器内の試料に接近して配置されるよ
うに構成したため、イオン源装置のイオン引出し部と試
料との距離が小さくなり、輸送管を実質的に不要とする
ことが可能となった。
辺構成物が、真空容器内の試料に接近して配置されるよ
うに構成したため、イオン源装置のイオン引出し部と試
料との距離が小さくなり、輸送管を実質的に不要とする
ことが可能となった。
また所定の形状に形成されたハウジングを用いることに
より、その内部スペースにコンパクトにプラズマ室を形
成することができ、且つこのハウジングを、真空容器の
内部に対して突出する如く配置するように取付け、これ
によりプラズマ室等を試料へ接近させて配置することを
可能にしている。
より、その内部スペースにコンパクトにプラズマ室を形
成することができ、且つこのハウジングを、真空容器の
内部に対して突出する如く配置するように取付け、これ
によりプラズマ室等を試料へ接近させて配置することを
可能にしている。
以下に、本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する
。
。
第1図は本発明に係るイオン源装置の第1実施例の縦断
面図であり、第2図はこのイオン源装置を動作させるた
めのマイクロ波電力系統を示す線図である。第1図にお
いて前述の第5図で示した同一要素には同一符号を付し
ている。第1図において17は前述の真空容器の一部を
示し、17aは真空容器17の壁部に形成された孔であ
る。真空容器]7の壁部に関して図中左側のAが大気側
となり、右側のBが真空側となっている。試料はBの側
に配置される。31は本実施例によるイオン源装置の外
観部分を形成するハウジングで、このハウジング31は
第1図中左側から見て例えば円形をした凹部を形成する
突出部31aと取付はフランジ31bとから形成される
。突出部31aの図中右端部には、引出しイオンを取出
すための開口部31cが形成される。ハウジング31は
、その突出部31aが真空容器17の壁部の孔17aか
ら真空側Bへ突き出た状態で真空容器17に配置され、
取付はフランジ31bが真空容器の孔17aの周辺のフ
ランジ17bに真空シール状態を保って固定される。図
中取付はフランジ31bを固定するための結合手段の図
示は省略されているが、−船釣にアルミナのロウ付は等
が使用される。ハウジング31は接地された状態にあり
、ゼロ電位に保持される。
面図であり、第2図はこのイオン源装置を動作させるた
めのマイクロ波電力系統を示す線図である。第1図にお
いて前述の第5図で示した同一要素には同一符号を付し
ている。第1図において17は前述の真空容器の一部を
示し、17aは真空容器17の壁部に形成された孔であ
る。真空容器]7の壁部に関して図中左側のAが大気側
となり、右側のBが真空側となっている。試料はBの側
に配置される。31は本実施例によるイオン源装置の外
観部分を形成するハウジングで、このハウジング31は
第1図中左側から見て例えば円形をした凹部を形成する
突出部31aと取付はフランジ31bとから形成される
。突出部31aの図中右端部には、引出しイオンを取出
すための開口部31cが形成される。ハウジング31は
、その突出部31aが真空容器17の壁部の孔17aか
ら真空側Bへ突き出た状態で真空容器17に配置され、
取付はフランジ31bが真空容器の孔17aの周辺のフ
ランジ17bに真空シール状態を保って固定される。図
中取付はフランジ31bを固定するための結合手段の図
示は省略されているが、−船釣にアルミナのロウ付は等
が使用される。ハウジング31は接地された状態にあり
、ゼロ電位に保持される。
ハウジング31の突出部31aの内部には、プラズマ室
1を形成する導電性筒部材32が同軸的に配設される。
1を形成する導電性筒部材32が同軸的に配設される。
筒部材32の図中右側の開口部は、ハウジング31の開
口部31cとほぼ同径の大きさで、当該開口部31cに
臨む。筒部材32の左側端部の開口部は小径化され、フ
ィードスルー2の右端部に結合されている。筒部材32
のプラズマ室1を形成する周囲の壁部には水冷式の冷却
構造90が形成される。15はガスをプラズマ室1に供
給するためのガス供給管である。筒部材32の右端部と
ハウジング31の開口部31cの周辺部位との間にはリ
ング状の絶縁部材33が配設され、この絶縁部材33に
よって筒部材32とハウジング31との間を絶縁すると
共に真空シールを行っている。また筒部材32の周囲の
スペースには磁界発生用コイル6が配設されている。ま
たハウジング31aの開口部31cの外側の位置に、イ
オン引出し用グリッド7.8と、これらのグリッドの間
に配置された絶縁板34とが配設される。
口部31cとほぼ同径の大きさで、当該開口部31cに
臨む。筒部材32の左側端部の開口部は小径化され、フ
ィードスルー2の右端部に結合されている。筒部材32
のプラズマ室1を形成する周囲の壁部には水冷式の冷却
構造90が形成される。15はガスをプラズマ室1に供
給するためのガス供給管である。筒部材32の右端部と
ハウジング31の開口部31cの周辺部位との間にはリ
ング状の絶縁部材33が配設され、この絶縁部材33に
よって筒部材32とハウジング31との間を絶縁すると
共に真空シールを行っている。また筒部材32の周囲の
スペースには磁界発生用コイル6が配設されている。ま
たハウジング31aの開口部31cの外側の位置に、イ
オン引出し用グリッド7.8と、これらのグリッドの間
に配置された絶縁板34とが配設される。
また軸方向の寸法が比較的に短いリング状の輸送管35
が配設されている。
が配設されている。
上記の構成において、筒部材32には可変直流電源36
によって正の電圧が印加され、グリッド8には可変直流
電源37によって負の電圧が印加され、輸送管35には
可変直流電源38によって負の電圧が印加されている。
によって正の電圧が印加され、グリッド8には可変直流
電源37によって負の電圧が印加され、輸送管35には
可変直流電源38によって負の電圧が印加されている。
その他の構成については第5図に説明した構成と同じで
ある。
ある。
上記の構成を有するイオン源装置によれば、所定の真空
容器17の孔17aとフランジ17bの箇所にハウジン
グ31の突出部31aを挿入して取付け、孔17aの周
辺のフランジ17bに取付はフランジ31bを真空シー
ル状態で固着する。
容器17の孔17aとフランジ17bの箇所にハウジン
グ31の突出部31aを挿入して取付け、孔17aの周
辺のフランジ17bに取付はフランジ31bを真空シー
ル状態で固着する。
かかるイオン源装置の構造及び真空容器17への取付は
構造により、イオン源装置のプラズマ室1は真空容器1
7の内部に位置し、真空容器内に配置される試料に接近
させることができる。従ってイオン源装置のプラズマ室
1において生成されるイオンをイオン引出しグリッド7
.8で引出し、試料に与える場合において、特に長形の
輸送管は必要とせず、短形の輸送管35とグリッド8に
よる電界とによりイオンの収束をコントロールできるた
め十分に効率良くイオン電流を試料に供給することがで
きる。また輸送管35は必ず必要というものではなく、
全く使用しなくてもかまわない。
構造により、イオン源装置のプラズマ室1は真空容器1
7の内部に位置し、真空容器内に配置される試料に接近
させることができる。従ってイオン源装置のプラズマ室
1において生成されるイオンをイオン引出しグリッド7
.8で引出し、試料に与える場合において、特に長形の
輸送管は必要とせず、短形の輸送管35とグリッド8に
よる電界とによりイオンの収束をコントロールできるた
め十分に効率良くイオン電流を試料に供給することがで
きる。また輸送管35は必ず必要というものではなく、
全く使用しなくてもかまわない。
イオン源装置では、ガス供給管15から所要のガスをプ
ラズマ室に導入し、その圧力は10〜6〜102 Ta
ct程度とする。また図示しない直流電源から磁界発生
用コイル6に励磁電流を流してプラズマ室1に約875
Gの磁界を発生させる。この磁界とフィードスルー2か
ら供給されるマイクロ波電力と前記ガスによってプラズ
マ室1にプラズマが発生する。
ラズマ室に導入し、その圧力は10〜6〜102 Ta
ct程度とする。また図示しない直流電源から磁界発生
用コイル6に励磁電流を流してプラズマ室1に約875
Gの磁界を発生させる。この磁界とフィードスルー2か
ら供給されるマイクロ波電力と前記ガスによってプラズ
マ室1にプラズマが発生する。
第2図に示されるように、41が第1図で説明したイオ
ン源装置であり、このイオン源装置41のアンテナ4に
対してマイクロ波が供給される。
ン源装置であり、このイオン源装置41のアンテナ4に
対してマイクロ波が供給される。
マイクロ波供給系として、42はマイクロ波発振器、4
3はアイソレータ、44は反射・入射センサ、45は同
軸ケーブル、46はスタブチューナ、47はマイクロ波
電力を通過させ且つ直流を除去するDCブレイクである
。かかる系統によって2゜45GHzのマイクロ波を発
生させ、同軸ケーブル、アンテナ4を経由してイオン源
装置のプラズマ室1に導入する。この場合において、前
記スタブチューナ46によって反射電力が最低になるよ
うに調整されている。また48は磁界発生用コイルの直
流電源である プラズマが発生した後、直流電源36によりプラズマ室
に所定の加速電圧を印加し、且つグリッド8と輸送管3
5にそれぞれ直流電源37.38によって所定の電圧を
印加する。この場合グリッド8の印加電圧は輸送管35
の印加電圧と異なってもよい。この結果、プラズマ室1
においてプラズマによって発生した所定のガスのイオン
がプラズマ室1とグリッド8との間で電圧により加速さ
れ、開口部31cより真空側へ放出される。前述した如
く輸送管35は軸方向の長さが短く形成されているので
、輸送管壁に入射されるイオンの量は低減される。
3はアイソレータ、44は反射・入射センサ、45は同
軸ケーブル、46はスタブチューナ、47はマイクロ波
電力を通過させ且つ直流を除去するDCブレイクである
。かかる系統によって2゜45GHzのマイクロ波を発
生させ、同軸ケーブル、アンテナ4を経由してイオン源
装置のプラズマ室1に導入する。この場合において、前
記スタブチューナ46によって反射電力が最低になるよ
うに調整されている。また48は磁界発生用コイルの直
流電源である プラズマが発生した後、直流電源36によりプラズマ室
に所定の加速電圧を印加し、且つグリッド8と輸送管3
5にそれぞれ直流電源37.38によって所定の電圧を
印加する。この場合グリッド8の印加電圧は輸送管35
の印加電圧と異なってもよい。この結果、プラズマ室1
においてプラズマによって発生した所定のガスのイオン
がプラズマ室1とグリッド8との間で電圧により加速さ
れ、開口部31cより真空側へ放出される。前述した如
く輸送管35は軸方向の長さが短く形成されているので
、輸送管壁に入射されるイオンの量は低減される。
以上の如く、本実施例による構造を有するイオン源装置
では、真空容器内の試料とプラズマ室のイオンを引き出
す出口部に配設されるグリッドとの距離が短くなり、そ
のため、輸送管を短くするか又は全くゼロにすることが
できるので、試料に照射されるイオン量を増加すること
ができる。すなわち、プラズマ室1から引き出されるイ
オン電流の利用効率を一層高くすることかできる。イオ
ン電流の最大照射量は、プラズマ室に発生させる磁界及
び印加される電圧、グリッド及び輸送管のそれぞれに印
加される電圧を調整することによって最適化することが
できる。
では、真空容器内の試料とプラズマ室のイオンを引き出
す出口部に配設されるグリッドとの距離が短くなり、そ
のため、輸送管を短くするか又は全くゼロにすることが
できるので、試料に照射されるイオン量を増加すること
ができる。すなわち、プラズマ室1から引き出されるイ
オン電流の利用効率を一層高くすることかできる。イオ
ン電流の最大照射量は、プラズマ室に発生させる磁界及
び印加される電圧、グリッド及び輸送管のそれぞれに印
加される電圧を調整することによって最適化することが
できる。
第3図は本発明の第2実施例を示す。本実施例では、前
記の第1実施例において輸送管35と可変直流電源38
を除去した構成を有し、更にこの構成に対しイオン引出
しグリッド8の外側位置にてフィラメント51と、この
フィラメント51に正電圧を与える直流電源52とを設
けるようにしている。フィラメント51は、過剰の熱電
子放出を行うことにより、空間電荷効果によるイオンの
発散を軽減するものである。またフィラメント51は正
電位に保持することにより、イオンの発散防止に併せて
プラズマ室から電子か真空容器側へ流入するのを防止す
ることもてきる。
記の第1実施例において輸送管35と可変直流電源38
を除去した構成を有し、更にこの構成に対しイオン引出
しグリッド8の外側位置にてフィラメント51と、この
フィラメント51に正電圧を与える直流電源52とを設
けるようにしている。フィラメント51は、過剰の熱電
子放出を行うことにより、空間電荷効果によるイオンの
発散を軽減するものである。またフィラメント51は正
電位に保持することにより、イオンの発散防止に併せて
プラズマ室から電子か真空容器側へ流入するのを防止す
ることもてきる。
第4図は本発明の第3実施例を示し、この実施例では前
記の第2の実施例の構成において、フィラメント51及
び直流電源52の代わりにリング状の強磁性体61を設
けるようにしている。強磁性体61は、磁界発生用コイ
ル6のグリッド7側の隣接位置に配設する。この強磁性
体61によれば、コイル6によって形成される磁束を強
磁性体61で吸収することができ、これによって電子の
磁界による発散を軽減できるためイオンの空間電荷効果
によるイオンの発散を軽減することができる。
記の第2の実施例の構成において、フィラメント51及
び直流電源52の代わりにリング状の強磁性体61を設
けるようにしている。強磁性体61は、磁界発生用コイ
ル6のグリッド7側の隣接位置に配設する。この強磁性
体61によれば、コイル6によって形成される磁束を強
磁性体61で吸収することができ、これによって電子の
磁界による発散を軽減できるためイオンの空間電荷効果
によるイオンの発散を軽減することができる。
前記の各実施例では、プラズマ室1にて磁界を発生する
手段としてコイル6を用いるようにしたが、磁石を用い
ることもできる。更にアンテナの形状、グリッド形状及
びグリッドの構成についても任意なものを用いることが
できる。
手段としてコイル6を用いるようにしたが、磁石を用い
ることもできる。更にアンテナの形状、グリッド形状及
びグリッドの構成についても任意なものを用いることが
できる。
以上の説明で明らかなように本発明によれば、イオン源
装置においてその自体の構造及び真空容器への取付は構
造を変更することにより、引出したイオン電流を案内す
る輸送管を実質的になくすことができるようにしたため
、引出しイオン電流の輸送管への流入を軽減もしくはな
くすことができ、イオン電流の利用効率を高めることが
できると共に、真空容器内の試料とイオン源装置のプラ
ズマ室及び引出しグリッド等が接近するため、弓出しイ
オン電流を有効に試料に照射することができる。
装置においてその自体の構造及び真空容器への取付は構
造を変更することにより、引出したイオン電流を案内す
る輸送管を実質的になくすことができるようにしたため
、引出しイオン電流の輸送管への流入を軽減もしくはな
くすことができ、イオン電流の利用効率を高めることが
できると共に、真空容器内の試料とイオン源装置のプラ
ズマ室及び引出しグリッド等が接近するため、弓出しイ
オン電流を有効に試料に照射することができる。
第1図は本発明に係るイオン源装置の第1実施例を示す
縦断面図、第2図はイオン源装置のマイクロ波電力系統
を示す線図、第3図はイオン源装置の第2実施例を示す
縦断面図、第4図は第3実施例を示す縦断面図、第5図
は従来のイオン源装置の構成を示す縦断面図である。 〔符号の説明〕 1・・・・・ 2 ・ ・ ・ ・ ・ 3 ・ ・ ・ ・ ・ 4 ・ ・ ・ φ ・ 6 ・ ・ ・ ・ ・ 7、8 ・ ・ ・ 11 @ ・ ・ 番 17 ・ ・ ・ ・ 31 ・ ・ ・ ・ 31a ・ ・ ・ 31b ・ ・ ・ 32 ・ ・ ・ ・ 33 ・ ・ ・ ・ 35 ・ ・ ・ ・ 36、 37゜ 41 ・ ・ ・ ・ ・プラズマ室″ ・マイクロ波電力導入フィ スルー ・真空シール用絶縁材 ・アンテナ ・磁界発生用コイル ・イオン引出しグリッド ・輸送管 ・真空容器 ・ハウジング ・突出部 ・取付はフランジ ・プラズマ室形成用筒部材 ・リング状絶縁部材 ・輸送管 ・可変直流電源 ・イオン源装置 一ド 第1図 第2図 第 図 第 図 手続補正書 明細書の第5頁第6行の 「絶縁体10を」 を 「輸送管1 1の一部で、 輸送管1 1を絶縁体1 平成 3年10月24日 0を介してハウジング19に」 と訂正する。 1゜ 事件の表示 平成 2年特許願第216682号 2゜ 発明の名称 イオン源装置 名 称 日型アネルバ 株式会社 5゜ 補正命令の日付 自発 6゜ 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄
縦断面図、第2図はイオン源装置のマイクロ波電力系統
を示す線図、第3図はイオン源装置の第2実施例を示す
縦断面図、第4図は第3実施例を示す縦断面図、第5図
は従来のイオン源装置の構成を示す縦断面図である。 〔符号の説明〕 1・・・・・ 2 ・ ・ ・ ・ ・ 3 ・ ・ ・ ・ ・ 4 ・ ・ ・ φ ・ 6 ・ ・ ・ ・ ・ 7、8 ・ ・ ・ 11 @ ・ ・ 番 17 ・ ・ ・ ・ 31 ・ ・ ・ ・ 31a ・ ・ ・ 31b ・ ・ ・ 32 ・ ・ ・ ・ 33 ・ ・ ・ ・ 35 ・ ・ ・ ・ 36、 37゜ 41 ・ ・ ・ ・ ・プラズマ室″ ・マイクロ波電力導入フィ スルー ・真空シール用絶縁材 ・アンテナ ・磁界発生用コイル ・イオン引出しグリッド ・輸送管 ・真空容器 ・ハウジング ・突出部 ・取付はフランジ ・プラズマ室形成用筒部材 ・リング状絶縁部材 ・輸送管 ・可変直流電源 ・イオン源装置 一ド 第1図 第2図 第 図 第 図 手続補正書 明細書の第5頁第6行の 「絶縁体10を」 を 「輸送管1 1の一部で、 輸送管1 1を絶縁体1 平成 3年10月24日 0を介してハウジング19に」 と訂正する。 1゜ 事件の表示 平成 2年特許願第216682号 2゜ 発明の名称 イオン源装置 名 称 日型アネルバ 株式会社 5゜ 補正命令の日付 自発 6゜ 補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄
Claims (1)
- (1)プラズマを発生しイオンを生成するためのプラズ
マ室と、前記プラズマ室に磁界を発生させる磁界発生手
段と、前記プラズマ室に導波路を用いてマイクロ波を供
給するマイクロ波導入手段と、前記プラズマ室に生成さ
れた前記イオンを引出しシャワー状のイオンビームを形
成するイオン引出しグリッドを備えたイオン源装置にお
いて、突出した形状を有するハウジングを備え、前記ハ
ウジングの内部スペースに前記プラズマ室が形成される
と共に前記磁界発生手段が収容され、前記プラズマ室の
イオン引出し開口部に前記イオン引出しグリッドが配設
されたことを特徴とするイオン源装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216682A JPH04101340A (ja) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | イオン源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2216682A JPH04101340A (ja) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | イオン源装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04101340A true JPH04101340A (ja) | 1992-04-02 |
Family
ID=16692276
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2216682A Pending JPH04101340A (ja) | 1990-08-17 | 1990-08-17 | イオン源装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04101340A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020092482A (ko) * | 2001-06-04 | 2002-12-12 | 염근영 | 이온 플럭스가 향상된 이온빔 소오스 |
-
1990
- 1990-08-17 JP JP2216682A patent/JPH04101340A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020092482A (ko) * | 2001-06-04 | 2002-12-12 | 염근영 | 이온 플럭스가 향상된 이온빔 소오스 |
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