JPH04102933A - 情報処理装置の試験方式 - Google Patents

情報処理装置の試験方式

Info

Publication number
JPH04102933A
JPH04102933A JP2220244A JP22024490A JPH04102933A JP H04102933 A JPH04102933 A JP H04102933A JP 2220244 A JP2220244 A JP 2220244A JP 22024490 A JP22024490 A JP 22024490A JP H04102933 A JPH04102933 A JP H04102933A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
instruction
test
executed
information processing
sequence
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2220244A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirotaka Sano
佐野 宏隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP2220244A priority Critical patent/JPH04102933A/ja
Publication of JPH04102933A publication Critical patent/JPH04102933A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置の試験方式に関し、特に情報処理
装置の誤り箇所を特定する情報処理装置の試験方式に関
する。
〔従来の技術〕
従来の情報処理装置の試験方式としては、命令数iから
なる試験命令列を試験対象の装置と命令レベルシュミレ
ータとで実行した結果が不一致となったとき、試験終了
命令位置jを1から】迄変化させて同一試験命令列を第
1命令から第j命令迄実行し、比較結果か不一致となる
最小の4jを検出している。
〔発明か解決しようとする課題〕
最近の情報処理装置では、速度向上のために命令先取り
などの先行制御を行っており、誤り箇所の場所によって
はある命令Aかそれ以降のある命令Bの結果に影響を与
え命令Bが正しく実行されないような動作不良を起こす
ことがある。このような場合に上述した従来の情報処理
装置の試験方式では、命令Bに相当する不良を起した命
令が第j命令であることは容易に推測できるか、命令A
に相当し動作不良を起させる影響を与えた命令が分から
ないので、誤り箇所を見付けるために広範囲にわたる解
析を必要とし多くの工数を要しな。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の情報処理装置の試験方式は、乱数を利用してラ
ンダムに作成した第1命令から第j命令までの試験命令
列を生成する手段と、命令数1からなる前記試験命令列
か試験対象の情報処理装置と命令レベルシュミレータと
で実行された結果を比較する手段と、前記実行された比
較結果か不一致となる最小の命令列を検出する手段とを
有する。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。第1図
は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は本実施
例の誤り箇所の特定を行うときに使用される試験初期テ
ーク及び命令列を示す図、第3図は本実施例の誤り箇所
特定の方法を示す流れ図である。
本実施例は第1図において、乱数を利用してランダムに
作成した第1命令から第j命令までの試験命令列を生成
する初期データ及び試験命令列生成部1と、命令数iか
らなる試験命令列か試験対象の情報処理装置2と命令レ
ベルシュミレータ3とで実行された結果を比較する実行
結果比較部4とを有して構成される。
次に動作について説明すると、初期データ及び試験命令
列生成部1が乱数に基づいて生成した試験初期データ1
01及び試験命令列10を試験対象の情報処理装置2て
実行した結果を求め、次に試験初期データ101及び試
験命令列10を用いて命令レベルシミュレータ3で実行
し、この結果と試験対象の情報処理装置2で実行した結
果とを比較する。比較結果が不一致の場合には試験対象
の情報処理装置2に誤りがあることが判明する。
そこで、これ以降は試験初期テーク101及び試験命令
列10を生成するために用いたものと同一の乱数を使用
して試験初期テークと試験命令列とを生成し、誤り箇所
の特定を行う。
まず、試験初期データ101及び試験命令列11を初期
データ及び試験命令列生成部1で生成する。試験命令列
1.1−は試験命令列10の第1の部分だけの命令から
成る(ステップ201)。
次に、試験初期データ101及び試験命令列11を用い
て試験対象の情報処理装置2で実行した結果を求める(
ステップ202)。次に、試験初期データ101及び試
験命令列11を用いて命令レベルシミュレータ3で実行
した結果を求める(ステップ203)。ステップ202
及びステップ203の結・果を実行結果比較部4により
比較しくステップ204)、結果が一致していた場合に
は再度ステップ20]から実行する。ステップ201で
は試験初期データ101及び試験命令列21を生成する
。試験命令列21は試験命令列10の第1命令から第2
命令の部分だけの命令から成る。この様にステップ20
1で生成する命令数を1ずつ増加させて試験対象の情報
処理装置2及び命令レベルシミュレータ3で実行し、結
果を実行結果比較部4で比較する。ステップ204での
比較結果が一致している間はステップ201からステッ
プ204を繰り返す。
試験命令列10の第1命令から第j−1命令の部分だけ
の命令から成る試験命令列81を試験対象の情報処理装
置2及び命令レヘルシミュレータ3で実行した結果がス
テップ204で一致と判定され、次の第1命令から第j
命令の部分だけの命令から成る試験命令列91を試験対
象情報処理装置2及び命令レベルシミュレータ3で実行
した結果がステップ204で不一致と判定された場合に
は、第j命令で誤動作したことが判明するのて、次から
は試験命令列の開始命令を変化させる。まず、再度試験
初期データ101及び試験命令列]1を初期データ及び
試験命令列生成部1て生成する(ステップ205)。次
に試験初期データ10]及び試験命令列11を用いて命
令レベルシミュレータ3て実行し、その結果を試験初期
データ102とする(ステップ206)。その後に試験
命令列92を初期データ及び試験命令列生成部]−で生
成する。試験命令列92は試験命令列10の第2命令か
ら第J命令の部分だけの命令から成る(ステップ207
)。次に、ステップ206て求めた試験初期データ]0
2及びステップ207で生成した試験命令列92を用い
て試験対象の情報処理装置2で実行した結果を求めるく
ステップ208)。その後に同一の試験初期データ]0
2及び試験命令列92を用いて命令レベルシミュレータ
3で実行した結果を求める(ステップ209)。ステッ
プ208及びステップ209の結果を実行結果比較部4
により比較しくステップ2]O)、結果が不一致の場合
、再度ステップ205から実行する。
ステップ205では試験初期データ10]及び試験命令
列2]を生成する。その後にステップ206で試験初期
データ103を求め、ステップ207で試験命令列93
を生成する。試験命令列93は試験命令列10の第3命
令から第j命令の部分だけの命令かな成る。この様に試
験初期データを求めるなめにステップ205で生成する
命令数を]ずつ増加させ、ステップ207て生成する命
令数を1ずつ減少させて試験対象の情報処理装置2及び
命令レベルシミュレータ3て実行し、結果を実行結果比
較部4て比較する。ステップ210での比較結果か不一
致の間はステップ205からステップ210を繰り返す
試験命令列10の第に命令から第j命令の部分たけの命
令から成る試験命令列97を試験対象の情報処理装置2
及び命令レベルシミュレータ3て実行した結果がステッ
プ210て不一致と判定され、次の第1(+1命令から
第、j命令の部分だけの命令から成る試験命令列98を
試験対象情報処理装置2及び命令レベルシミュレータ3
て実行した結果がステップ210て一致と判定された場
合には、試験命令列97が試験対象情報処理装置2て誤
った動作をする最小の命令列であると特定できる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、試験対象装置と命令レベ
ルシミュレータとで実行した結果が不一致となる最小の
命令列を検出することにより、動作不良をさせた命令に
影響を与えた命令を容易に推測することができ、解析に
要する工数を減少させることができるという効果がある
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
本実施例の誤り箇所の特定を行うときに使用される試験
初期データ及び命令列を示す図、第3図は本実施例の誤
り箇所の特定方法を示す流れ図である。 1・・・初期データ及び試験命令列生成部、2・・・試
験対象の情報処理装置、3・・・命令レベルシミュレー
タ、4・・・実行結果比較部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、乱数を利用してランダムに作成した第l命令から第
    j命令までの試験命令列を生成する手段と、命令数iか
    らなる前記試験命令列が試験対象の情報処理装置と命令
    レベルシュミレータとで実行された結果を比較する手段
    と、前記実行された比較結果が不一致となる最小の命令
    列を検出する手段とを有することを特徴とする情報処理
    装置の試験方式。 2、前記命令数iからなる前記試験命令列を前記試験対
    称情報処理装置と前記命令レベルシミュレータとで実行
    した比較結果が不一致となったとき試験終了命令位置j
    をlからi迄変化させて前記試験命令列を第l命令から
    第j命令迄実行し比較結果が不一致となる最小のjを見
    付けたのち試験開始命令位置kをlからj迄変化させて
    前記試験命令列を第k命令から第j命令迄実行し、比較
    結果が不一致となる最大のkを見付けることを特徴とす
    る請求項1記載の情報処理装置の試験方式。
JP2220244A 1990-08-22 1990-08-22 情報処理装置の試験方式 Pending JPH04102933A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2220244A JPH04102933A (ja) 1990-08-22 1990-08-22 情報処理装置の試験方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2220244A JPH04102933A (ja) 1990-08-22 1990-08-22 情報処理装置の試験方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04102933A true JPH04102933A (ja) 1992-04-03

Family

ID=16748152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2220244A Pending JPH04102933A (ja) 1990-08-22 1990-08-22 情報処理装置の試験方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04102933A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7055065B2 (en) Method, system, and computer program product for automated test generation for non-deterministic software using state transition rules
KR102025556B1 (ko) 처리 장치, 추적 유닛 및 진단 장치
WO2020151301A1 (zh) 一种基于强化学习的测试脚本生成方法和装置
US20050203717A1 (en) Automated testing system, method and program product using testing map
CN116155965B (zh) 一种全方向amr的多级控制方法
KR100402651B1 (ko) 크리티컬 패스 탐색방법 및 탐색 시스템
JPH04102933A (ja) 情報処理装置の試験方式
CN112685328A (zh) 一种图形界面测试方法、装置及存储介质
JPH04102931A (ja) 情報処理装置の試験方式
JPH10177590A (ja) 論理回路モデルのデバッグ装置およびデバッグ方法
JPH06324904A (ja) 試験命令の補正方法
CN1227940A (zh) 用于确认应用程序图形显示输出的方法和系统
JP2001051864A (ja) データ処理装置の試験実行方式
JPH09330242A (ja) 情報処理装置のテスト命令列生成方式
JPH0561734A (ja) 並列プログラムの非決定的動作テスト方法
CN116050323A (zh) 验证方法、装置及电子设备
KR20230060406A (ko) 소프트웨어의 오동작 패치정보 생성시스템 및 소프트웨어의 오동작 패치정보 생성방법
JPH1125132A (ja) シミュレーション装置及び方法及びシミュレーションプログラムを記録した記録媒体
CN121116815A (zh) 一种界面测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN120256297A (zh) 弹窗处理方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
JPH01155438A (ja) コンパイラ試験方式
CN120416094A (zh) 数据刷写的测试方法及装置、车辆、系统、电子设备
JPH05143515A (ja) 転送装置の試験システム
Vedeshenkov A route-oriented self-diagnosis method for digital systems
JPS61290543A (ja) エラ−発生装置