JPH04103171A - Resonant tunneling bipolar transistor - Google Patents
Resonant tunneling bipolar transistorInfo
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- JPH04103171A JPH04103171A JP2222073A JP22207390A JPH04103171A JP H04103171 A JPH04103171 A JP H04103171A JP 2222073 A JP2222073 A JP 2222073A JP 22207390 A JP22207390 A JP 22207390A JP H04103171 A JPH04103171 A JP H04103171A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は微分負性抵抗特性を有する半導体デバイスに関
し、特に、共鳴トンネリングバイボーラトランジスタに
関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor device having differential negative resistance characteristics, and in particular to a resonant tunneling bibolar transistor.
[従来の技術]
第5A図を参照して、従来の共鳴トンネリングバイボー
ラトランジスタ(RTBT)が断面図で示されている。BACKGROUND OF THE INVENTION Referring to FIG. 5A, a conventional resonant tunneling bibolar transistor (RTBT) is shown in cross-section.
このRTBTは、p型のエミッタ層1.p型のベース層
3.およびp型のコレクタ層7を備えている。ベース層
3は2枚の障壁層5に挾まれた量子井戸層6を含んでい
る。エミッタ層1.ベース層3 およびコレクタ層7は
、それぞれエミッタ電極8a ベース電極8b、および
コレクタ電極8Cに接続されている。This RTBT has a p-type emitter layer 1. p-type base layer 3. and a p-type collector layer 7. The base layer 3 includes a quantum well layer 6 sandwiched between two barrier layers 5. Emitter layer 1. The base layer 3 and the collector layer 7 are connected to the emitter electrode 8a, the base electrode 8b, and the collector electrode 8C, respectively.
第5B図を参照して、第5A図のRTBTにおけるエネ
ルギバンド構造が示されている。このエネルギバンド構
造において、ベース3に含まれる量子井戸6内には、電
子の共鳴エネルギ準位9が存在しているが、正孔の共鳴
エネルギ準位は存在していない。Referring to FIG. 5B, the energy band structure in the RTBT of FIG. 5A is shown. In this energy band structure, an electron resonance energy level 9 exists in the quantum well 6 included in the base 3, but a hole resonance energy level does not exist.
第5A図のRTBTは、通常のバイポーラトランジスタ
と同様にエミッタ接地で動作させることができる。今、
コレクタ・エミッタ電圧VCEを一定にしてベース・エ
ミッタ電圧■8εを増加させていく場合を考えれば、ま
ず通常のバイポーラトランジスタと同様にエミッタ1か
らベース3に注入された電子は、ベース3内で散乱され
て正孔と再結合することによってベース電流工aとなる
。The RTBT shown in FIG. 5A can be operated with a common emitter like a normal bipolar transistor. now,
If we consider the case where we keep the collector-emitter voltage VCE constant and increase the base-emitter voltage By recombining with holes, the base current becomes a base current a.
しかし、ベース3内で正孔と再結合しなかった電子は、
ベース・エミッタ電圧V[IEが上昇するにつれて共鳴
準位9に近付いて、熱エネルギの助けによって障壁層5
および量子井戸層6を通過してコレクタ7に到達する。However, the electrons that did not recombine with the holes in base 3 are
As the base-emitter voltage V[IE increases, it approaches the resonance level 9 and, with the help of thermal energy, the barrier layer 5
Then, it passes through the quantum well layer 6 and reaches the collector 7 .
この電子の流れが第5B図中の矢印10で示されている
。ベース3に注入される電子の数はベース・エミッタ電
圧VBE とともに増加するので、ベース電流I、とコ
レクタ電流Icはベース・エミッタ電圧VEIEととも
に増大する。This flow of electrons is indicated by arrow 10 in FIG. 5B. Since the number of electrons injected into the base 3 increases with the base-emitter voltage VBE, the base current I and the collector current Ic increase with the base-emitter voltage VEIE.
しかし、第5C図に示されているように、さらにベース
・エミッタ電圧vIIVEを増加させれば、ベース・エ
ミッタ接合における導電帯のエネルギレベルがフラット
になり、共鳴準位9より高くなる。したがって、ベース
・エミッタ電圧V[IEが増加するにつれて、エミッタ
1からベース3に注入される電子のエネルギレベルと共
鳴準位9とのずれが大きくなって、共鳴状態からのずれ
が太きくなる。その結果、コレクタ電流l。が減少して
、RTBTの微分負性抵抗か表われる。しかし、ベース
電流IBはベース3からエミッタ1に注入される正孔の
数によって決まるので、ヘース電流I已は依然としてベ
ース・エミッタ電圧V[IEの増加とともに増大する。However, as shown in FIG. 5C, if the base-emitter voltage vIIVE is further increased, the energy level of the conductive band at the base-emitter junction becomes flat and higher than the resonance level 9. Therefore, as the base-emitter voltage V[IE increases, the deviation between the energy level of electrons injected from the emitter 1 to the base 3 and the resonance level 9 increases, and the deviation from the resonance state becomes larger. As a result, the collector current l. decreases, and the differential negative resistance of RTBT appears. However, since the base current IB is determined by the number of holes injected from the base 3 to the emitter 1, the Hass current I still increases with increasing base-emitter voltage V[IE.
第5D図、第5E図および第5F図は、以上のようなR
TBTの特性を示すグラフである。第5D図は、ベース
・エミッタ電圧vaEとベース電流IIIの関係を表わ
している。第5E図はベース・エミッタ電圧VBEとコ
レクタ電流Icの関係を表わしており、(dlo/dV
巳E)く0である微分負性抵抗の領域が存在している。Figures 5D, 5E, and 5F show the R
It is a graph showing the characteristics of TBT. FIG. 5D shows the relationship between base-emitter voltage vaE and base current III. Figure 5E shows the relationship between base-emitter voltage VBE and collector current Ic, which is (dlo/dV
There is a region of negative differential resistance where E) is zero.
第5D図と第5E図との関係から、第5F図に示したベ
ース電流(入力)Iaとコレクタ電流(出力) Ic
の関係が得られる。この第5F図においても、入力1.
の増大に反して出力1゜が減少する領域が存在している
。From the relationship between Figures 5D and 5E, the base current (input) Ia and collector current (output) Ic shown in Figure 5F are
The following relationship is obtained. Also in this FIG. 5F, input 1.
There is a region where the output decreases by 1°, contrary to the increase in .
以上のような特性を有するRTBTは、メモリセルに応
用することが可能である。メモリセルは、少なくとも異
なる2つの安定な状態をとり得ることが必要である。第
5E図において、破線の曲線は負荷直線を表わしている
。すなわち、適切な負荷を選択すれば、負荷直線はコレ
クタ電流の曲線と3つの点H,X、およびして交差し、
これらの交点H,X、およびLがRTBTの動作点とな
る。RTBTs having the above characteristics can be applied to memory cells. A memory cell is required to be capable of assuming at least two different stable states. In FIG. 5E, the dashed curve represents the load straight line. That is, if an appropriate load is selected, the load line intersects the collector current curve at three points H, X, and
These intersection points H, X, and L are the operating points of RTBT.
したがって、コレクタ電流工、は3つの値をとることが
できるが、中間点Xのコレクタ電流値は不安定であり、
安定な動作点はHとLの2点となる。Therefore, the collector current value can take three values, but the collector current value at the intermediate point X is unstable,
There are two stable operating points: H and L.
すなわち、第5A図のRTBTは、適当な負荷抵抗を与
えることによって、異なる2つの安定なコレクタ電流状
態である双安定状態をとることができ、メモリセルとし
て用い得ることがわかる。That is, it can be seen that the RTBT shown in FIG. 5A can take a bistable state, which is two different stable collector current states, by applying an appropriate load resistance, and can be used as a memory cell.
C発明が解決しようとする課題]
従来のRTBTは、出力であるコレクタ電流I。が微分
負性抵抗を有しているので、メモリセルに利用するため
に異なる2つの安定動作状態を得るためには外部負荷抵
抗を必要としている。このような外部負荷抵抗はメモリ
セルの高集積化のためには好ましくなく、また、その負
荷抵抗によってメモリセルの特性が影響されるという課
題がある。C Problems to be Solved by the Invention] The conventional RTBT has a collector current I as an output. has a differential negative resistance, so an external load resistor is required to obtain two different stable operating states for use in memory cells. Such an external load resistance is not preferable for achieving high integration of memory cells, and there is also a problem that the characteristics of the memory cell are affected by the load resistance.
このような先行技術の:A題に鑑み、本発明の目的は、
外部負荷抵抗なしにメモリセルに応用し得るRTBTを
提供することである。In view of the problem of the prior art, the object of the present invention is to
An object of the present invention is to provide an RTBT that can be applied to a memory cell without an external load resistance.
[課題を解決するための手段]
本発明による共鳴トンネリングバイポーラトランジスタ
は、第1導電型のエミッタ層と、第2導電型のベース層
と、第1導電型のコレクタ層を備え、ベース層とエミッ
タ層のうちいずれか1つの層は2つの障壁層に挾まれた
量子井戸層を含み、量子井戸層内には第2導電型の多数
キャリアの共鳴準位は形成されるが、少数キャリアの共
鳴準位は形成されないことを特徴としている。[Means for Solving the Problems] A resonant tunneling bipolar transistor according to the present invention includes an emitter layer of a first conductivity type, a base layer of a second conductivity type, and a collector layer of a first conductivity type. One of the layers includes a quantum well layer sandwiched between two barrier layers, and a resonance level of majority carriers of the second conductivity type is formed in the quantum well layer, but a resonance level of minority carriers is formed in the quantum well layer. It is characterized by the fact that no levels are formed.
[作用]
本発明によるRTBTにおいては、量子井戸内において
ベースの多数キャリアの共鳴準位は形成されるがベース
の少数キャリアの共鳴準位は形成されないので、入力で
あるベース電流1.に微分負性抵抗特性を持たせること
ができる。したがって、本発明によるRTBTは、外部
負荷抵抗を用いることなく双安定状態を得ることができ
、メモリセルの高集積化を可能にする。[Operation] In the RTBT according to the present invention, a resonance level of majority carriers in the base is formed in the quantum well, but a resonance level of minority carriers in the base is not formed, so that the input base current 1. can have differential negative resistance characteristics. Therefore, the RTBT according to the present invention can obtain a bistable state without using an external load resistor, and enables high integration of memory cells.
[実施例]
第1A図を参照して、本発明の一実施例によるpnp型
のRTBTが断面図で示されている。第1A図のRTB
Tは第5A図のものに類似しているが、障壁層5aと量
子井戸層6aのエネルギ構造が異なっている。[Embodiment] Referring to FIG. 1A, a cross-sectional view of a pnp type RTBT according to an embodiment of the present invention is shown. RTB in Figure 1A
T is similar to that of FIG. 5A, but the energy structure of the barrier layer 5a and quantum well layer 6a is different.
第1B図を参照して、第1A図のRTBTにおけるエネ
ルギバンド構造が示されている。量子井戸層6aにおい
て、価電子帯中には共鳴準位9aが形成されているか、
導電帯中には共鳴準位が存在していない。このような量
子井戸は、!nGaAlAsの障壁層5aとInPの井
戸層6aとの組合わせ、またはZnSSeの障壁層5a
とGaAsの井戸層6aとの組合わせによって実現する
ことができる。Referring to FIG. 1B, the energy band structure in the RTBT of FIG. 1A is shown. Is a resonance level 9a formed in the valence band in the quantum well layer 6a?
There are no resonance levels in the conduction band. Such a quantum well! A combination of an nGaAlAs barrier layer 5a and an InP well layer 6a, or a ZnSSe barrier layer 5a
This can be realized by a combination of and the GaAs well layer 6a.
mlA図のRTBTにおいて、エミッタ争ベース接合と
ベース・コレクタ接合は、ホモ接合とへテロ接合のいず
れで構成してもよいが、エミッタ・ベース接合は正孔の
流れをよくするためにホモ接合で構成する方が好ましい
。ベース電極8bは、正孔が障壁層5aと井戸層6aを
トンネリングするようにさせるために、コレクタに近い
方のベース層3の部分にオーミックコンタクトするよう
に形成される。In the RTBT shown in the mlA diagram, the emitter-base junction and the base-collector junction may be configured as either a homojunction or a heterojunction, but the emitter-base junction is a homojunction to improve hole flow. It is preferable to configure The base electrode 8b is formed in ohmic contact with the portion of the base layer 3 closer to the collector in order to allow holes to tunnel through the barrier layer 5a and the well layer 6a.
第1A図のRTBTにおいて、ベース・エミッタ電圧V
aEが0から増加されれば、ベース・エミッタ接合の順
バイアスが増大する。第1B図から理解されるように、
エミッタ1からベース3に注入された電子10は一部か
散乱されてベース電流raとなるが、はとんどがコレク
タ電流■。となる。したがって、ベース・エミッタ電圧
VaEの増加とともにコレクタ電流!。が増加する。他
方、コレクタに近い方のベース層3の部分から注入され
た正孔は、ベース・エミッタ電圧VEIEが増加するに
つれて共鳴準位9aに近付いて、熱エネルギの助けによ
って障壁層5aおよび量子井戸層6aを通過してエミッ
タ1に到達する。この正孔の流れが破線の矢印11で示
されている。したがって、ベース・エミッタ電圧VBE
の増加にともなってベース電流IBが増加する。In the RTBT of FIG. 1A, the base-emitter voltage V
If aE is increased from 0, the forward bias of the base-emitter junction increases. As understood from Figure 1B,
Some of the electrons 10 injected from the emitter 1 to the base 3 are scattered and become the base current ra, but most of them are the collector current (2). becomes. Therefore, as the base-emitter voltage VaE increases, the collector current! . increases. On the other hand, holes injected from the portion of the base layer 3 closer to the collector approach the resonance level 9a as the base-emitter voltage VEIE increases, and with the help of thermal energy, the holes inject into the barrier layer 5a and the quantum well layer 6a. and reaches emitter 1. This flow of holes is indicated by a dashed arrow 11. Therefore, the base-emitter voltage VBE
As the base current IB increases, the base current IB increases.
しかし、第1C図に示されているように、さらにベース
・エミッタ電圧VBEが増加されれば、正孔は共鳴準位
9aから離れて共鳴状態からのずれが大きくなる。その
結果、ベース3からエミッタ1へ注入される正孔が減少
し、ベース電流1Bに微分負性抵抗が表われる。しかし
、導電帯には共鳴準位が存在しないので、コレクタ電流
l。はベース・エミッタ電圧VEIEの増加にともにな
って単調に増加し続ける。However, as shown in FIG. 1C, if the base-emitter voltage VBE is further increased, the holes move away from the resonance level 9a and the deviation from the resonance state increases. As a result, the number of holes injected from the base 3 to the emitter 1 decreases, and a differential negative resistance appears in the base current 1B. However, since there is no resonance level in the conduction band, the collector current l. continues to increase monotonically as the base-emitter voltage VEIE increases.
第1D図、第1E図および第1F図は、以上のような第
1A図のRTBTの特性を示すグラフである。第1D図
はベース・エミッタ電圧VBEとベース電流IBの関係
を表わしており、(dII11/dVB E )<Oで
ある微分負性抵抗の領域が存在している。第1E図は、
ベース・エミッタ電圧V[IEとコレクタ電流ICの関
係を表わしている。FIGS. 1D, 1E, and 1F are graphs showing the characteristics of the RTBT shown in FIG. 1A as described above. FIG. 1D shows the relationship between the base-emitter voltage VBE and the base current IB, and there exists a differential negative resistance region where (dII11/dVBE)<O. Figure 1E shows
It represents the relationship between base-emitter voltage V[IE and collector current IC.
第1D図と第1E図との関係から、第1F図に示したベ
ース電流(入力)Iaとコレクタ電流(出力)Icの関
係が得られる。From the relationship between FIG. 1D and FIG. 1E, the relationship between the base current (input) Ia and collector current (output) Ic shown in FIG. 1F can be obtained.
第1F図かられかるように、適当なベース電流I、を選
択してやれば、コレクタ電流ICは安定な異なる2つの
値HとLをとる双安定状態になり得る。しかし、コレク
タ電流I。がこれらの安定な異なる2つの値HとLをと
るに際して、負荷抵抗は必要とされない。また、第1A
図のRTBTは、通常のバイポーラトランジスタと同様
の基本構造を有しているので、増幅作用を発揮し得る。As can be seen from FIG. 1F, if an appropriate base current I is selected, the collector current IC can be in a bistable state taking two different stable values H and L. However, the collector current I. When taking these two stable different values H and L, no load resistance is required. Also, 1st A
The RTBT shown in the figure has the same basic structure as a normal bipolar transistor, so it can exhibit an amplification effect.
なお、第1A図の実施例において、エミッタ層1と障壁
層5aの間のベース層3の部分は省略してもよいことが
理解されよう。It will be understood that in the embodiment of FIG. 1A, the portion of the base layer 3 between the emitter layer 1 and the barrier layer 5a may be omitted.
また、第1A図に実施例ではベース3中に量子井戸6a
を設けた場合について説明したが、第2A図に示されて
いるようにエミッタ1内に量子井戸6aを形成してもよ
い。第2B図は、第2A図のRTBTにおけるエネルギ
バンド構造を示している。In addition, in the embodiment shown in FIG. 1A, a quantum well 6a is provided in the base 3.
Although the case where a quantum well 6a is provided in the emitter 1 has been described, a quantum well 6a may be formed in the emitter 1 as shown in FIG. 2A. FIG. 2B shows the energy band structure in the RTBT of FIG. 2A.
さらに、以上の実施例ではnpn型のRTBTが述べら
れたが、本発明はpnp型のRT B T I:も適用
し得ることが理解されよう。本発明をpnp型のRTB
Tに適用した例として、第2C図は、第2A図と類似の
構造を有しているかpnp型であるRTBTにおけるエ
ネルギバンド構造を示している。この場合、共鳴準位9
aは導電帯中に形成される。Furthermore, although npn type RTBTs have been described in the above embodiments, it will be understood that the present invention can also be applied to pnp type RTBTs. The present invention can be applied to a pnp type RTB.
As an example applied to T, FIG. 2C shows the energy band structure in an RTBT that has a similar structure to FIG. 2A or is of the pnp type. In this case, resonance level 9
a is formed in a conductive band.
さらにまた、以上の実施例ではベース3の入力信号とし
て電気信号を用いる場合について説明したが、ベース3
の人力信号として光信号を用いることもできる。第3A
図はエミッタ層1を介してベース3へ光信号コ2を入力
するRTBTを示しており、第3B図は直接ベース3に
光信号12を入力するRTBTを示している。これらの
RTBTは、光信号と電気信号間の変換を伴なう光−電
気メモリセルに応用することができる。また、これらの
RTBTと発光ダイオードまたは半導体レーダとをモノ
リシックに集積化することによって、光−光メモリセル
を形成することが可能となる。Furthermore, in the above embodiment, an electric signal is used as an input signal to the base 3, but the base 3
Optical signals can also be used as human input signals. 3rd A
The figure shows an RTBT that inputs an optical signal 2 to the base 3 via the emitter layer 1, and FIG. 3B shows an RTBT that inputs the optical signal 12 directly to the base 3. These RTBTs can be applied in opto-electrical memory cells involving conversion between optical and electrical signals. Moreover, by monolithically integrating these RTBTs and light emitting diodes or semiconductor radars, it becomes possible to form optical-optical memory cells.
さらにまた、以上の実施例では量子井戸中に第1共鳴準
位のみが形成されている場合について述べたか、さらに
高次の共鳴準位をも利用することによって、多重安定状
態や複数の双安定状態を得ることもできる。第4A図と
第4B図は、多重安定状態を生じ得るRTBTの特性を
示している。Furthermore, in the above embodiments, we have described the case where only the first resonance level is formed in the quantum well, but by also utilizing higher-order resonance levels, it is possible to create multiple stable states and multiple bistable states. You can also get the status. Figures 4A and 4B illustrate the characteristics of an RTBT that can give rise to multiple stable states.
第4A図はベース争エミッタ電圧VaE とベース電流
16の関係を表わし、第4B図はベース電流I、とコレ
クタ電流工、の関係を表わしている。FIG. 4A shows the relationship between the base-to-emitter voltage VaE and the base current 16, and FIG. 4B shows the relationship between the base current I and the collector current.
第4B図かられかるように、適当なベース電流を選択し
てやれば、3つの安定状態H,M、およびLが得られる
ことがわかる。同様に、第4C図と第4D図は、複数の
双安定状態を生じ得るRTBTの特性を示している。第
4C図はベース・エミッタ電圧VINEとベース電流I
Bの関係を表わし、第4D図はベース電流I、とコレク
タ電流ICの関係を表わしている。第4D図かられかる
ように、このようなRTBTは複数の双安定状態をとる
ことができる。As can be seen from FIG. 4B, three stable states H, M, and L can be obtained by selecting an appropriate base current. Similarly, Figures 4C and 4D illustrate the characteristics of an RTBT that can produce multiple bistable states. Figure 4C shows the base-emitter voltage VINE and the base current I.
FIG. 4D shows the relationship between base current I and collector current IC. As can be seen from FIG. 4D, such an RTBT can assume multiple bistable states.
ナオ、RTBTが多重安定状態となり得るかまたは複数
の双安定状態となり得るかは、共鳴準位を通過するベー
ス電流に対するそれ以外のベース電流の割合の大小に依
存して決定される。すなわち、共鳴準位を通過する電流
がベース電流工6の大部分をなすときはRTBTが多重
安定状態となり得て、ベース電流1巳のうち共鳴準位を
通過する以外の電流が多いときにはRTBTは複数の双
安定状態となり得る。Whether an RTBT can have multiple stable states or multiple bistable states is determined depending on the ratio of the other base currents to the base currents passing through the resonance level. That is, when the current passing through the resonance level forms the majority of the base current flow 6, the RTBT can be in a multi-stable state, and when there is a large amount of current other than the resonance level passing through the base current, the RTBT Multiple bistable states are possible.
[発明の効果]
以上のように、本発明によれば、量子井戸内においてベ
ースの多数のキャリアの共鳴準位が形成されるがベース
の少数キャリアの共鳴準位は形成されないので、外部負
荷抵抗を用いることなく双安定状態を得ることができる
RTBTを提供することができる。したがって、本発明
によるRTBTをメモリセルに応用した場合、従来のR
TBTに比べてさらに高集積化を可能にすることができ
る。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the resonance level of the majority carriers in the base is formed in the quantum well, but the resonance level of the minority carriers in the base is not formed, so that the external load resistance It is possible to provide an RTBT that can obtain a bistable state without using. Therefore, when the RTBT according to the present invention is applied to a memory cell, the conventional R
It is possible to achieve higher integration than TBT.
第1A図は、本発明の一実施例によるRTBTを示す断
面図である。
第1B図と第1C図は、第1A図のRTBTにおけるエ
ネルギバンド構造を示す図である。
第1D図、第1E図、および第1F図は、第1A図のR
TBTの特性を示す図である。
第2A図は、本発明のもう1つの実施例によるRTBT
を示す断面図である。
第2B図は第2A図のRTBTにおけるエネルギバンド
構造を示す図である。
第2C図は、本発明のさらにもう1つの実施例によるp
np型のRTBTにおけるエネルギバンド構造を示す図
である。
第3A図と第3B図は、本発明のさらに他の実施例によ
るRTBTを示す断面図である。
第4Aと第4B図は、多重安定状態をとり得るRTBT
の特性を示す図である。
第4C図と第4D図は、複数の双安定状態をとり得るR
TBTの特性を示す図である。
図において、1はエミッタ、3はベース、5aは障壁層
、5aは量子井戸層、7はコレクタ、8aはエミッタ電
極、8bはベース電極、8cはコレクタ電極、9aは共
鳴準位、10は電子の流れ、11は正孔の流れ、そして
12は光信号を表わす。
なお各図において、同一符号は同一内容または相当部分
を示す。FIG. 1A is a cross-sectional view of an RTBT according to an embodiment of the present invention. FIG. 1B and FIG. 1C are diagrams showing the energy band structure in the RTBT of FIG. 1A. Figures 1D, 1E, and 1F represent R of Figure 1A.
It is a figure showing the characteristic of TBT. FIG. 2A shows an RTBT according to another embodiment of the invention.
FIG. FIG. 2B is a diagram showing the energy band structure in the RTBT of FIG. 2A. FIG. 2C shows p
FIG. 3 is a diagram showing an energy band structure in an np type RTBT. FIGS. 3A and 3B are cross-sectional views showing RTBTs according to still other embodiments of the present invention. Figures 4A and 4B show an RTBT that can have multiple stable states.
FIG. Figures 4C and 4D show that R can have multiple bistable states.
It is a figure showing the characteristic of TBT. In the figure, 1 is an emitter, 3 is a base, 5a is a barrier layer, 5a is a quantum well layer, 7 is a collector, 8a is an emitter electrode, 8b is a base electrode, 8c is a collector electrode, 9a is a resonance level, and 10 is an electron , 11 is a hole flow, and 12 is an optical signal. In each figure, the same reference numerals indicate the same contents or corresponding parts.
Claims (1)
第1導電型のコレクタ層を備えたバイポーラトランジス
タにおいて、 前記ベース層と前記エミッタ層のうちのいずれか1つの
層は2つの障壁層に挾まれた量子井戸層を含み、前記量
子井戸層内には第2導電型の多数キャリアの共鳴準位は
形成されるが少数キャリアの共鳴準位は生成されないこ
とを特徴とする共鳴トンネリングバイポーラトランジス
タ。[Claims] An emitter layer of a first conductivity type, a base layer of a second conductivity type,
In a bipolar transistor including a collector layer of a first conductivity type, one of the base layer and the emitter layer includes a quantum well layer sandwiched between two barrier layers, and the quantum well layer includes a quantum well layer sandwiched between two barrier layers. A resonant tunneling bipolar transistor characterized in that a resonance level of majority carriers of a second conductivity type is formed but a resonance level of minority carriers is not generated.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2222073A JPH04103171A (en) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | Resonant tunneling bipolar transistor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2222073A JPH04103171A (en) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | Resonant tunneling bipolar transistor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04103171A true JPH04103171A (en) | 1992-04-06 |
Family
ID=16776697
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2222073A Pending JPH04103171A (en) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | Resonant tunneling bipolar transistor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04103171A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0697741A1 (en) * | 1994-08-15 | 1996-02-21 | Texas Instruments Incorporated | Resonant tunneling devices |
-
1990
- 1990-08-22 JP JP2222073A patent/JPH04103171A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0697741A1 (en) * | 1994-08-15 | 1996-02-21 | Texas Instruments Incorporated | Resonant tunneling devices |
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