JPH04104029A - 圧力検出器 - Google Patents

圧力検出器

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JPH04104029A
JPH04104029A JP22137090A JP22137090A JPH04104029A JP H04104029 A JPH04104029 A JP H04104029A JP 22137090 A JP22137090 A JP 22137090A JP 22137090 A JP22137090 A JP 22137090A JP H04104029 A JPH04104029 A JP H04104029A
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Katsuyoshi Mizumoto
克芳 水元
Kanehisa Kitsukawa
橘川 兼久
Toshikatsu Yasuda
安田 年克
Takao Kojima
孝夫 小島
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、セラミックス製圧力検出器に関するもの−で
ある。
[従来の技術] この種の圧力検出器としては静電容量型のものや抵抗変
化型のものが知られており、前者は、ダイヤフラム及び
基板上にそれぞれ電極を形成し、圧力によりダイヤフラ
ムを変形させることによって電極間に生じた静電容量に
変化を生じさせ、圧力と静電容量とか相関することを利
用して圧力を検出するよう1こされている。
その具体例としては例えば特開昭59−214727号
公報または特開昭59−148843号公報に記載のも
のを挙げることができ、それにおいては添付図面の第1
O図に示すようにセラミックス製ダイヤフラムAとセラ
ミックス製基板Bとの対向する面上にそれぞれ薄膜電極
C,Dが形成され、セラミックス製ダイヤフラムAの周
縁部をセラミックス製基板BにガラスEにより所定の間
隔を隔てて接着している。
このような構造の圧力検出器の動作においては、セラミ
ックス製ダイヤフラムAの外表面側に被測定圧力が作用
するように設定され、被測定圧力の作用でセラミックス
製ダイヤフラムAは変形し、それによりダイヤフラムA
の内側表面に形成された電極Cがセラミックス製基板B
に形成された電極りに対して変位することによってこれ
ら電極間の容量が変化し、この容量の変化から圧力を検
出している。
同様な構造の静電容量型圧力検出器の従来例としては他
に実開昭58−80540号公報、実開昭594293
11号公報及び実開昭60−51444号公報等に記載
のものを挙げることができる。
一方、抵抗変化型圧力検出器は、ダイヤフラム上に抵抗
体を形成し、圧力によるダイヤフラムの変形に応じて変
化する抵抗体の抵抗値に基いて圧力を検出するようにさ
れている。
ところで、このような従来のセラミックス製圧力検出器
においては、個別に成形、焼成したダイヤフラムを基板
にガラス等で接合する構造であるため、ガラス等の接合
材とダイヤフラムまたは基板との間の熱膨脹係数の違い
により、圧力測定を繰返していくうちにガラス等の接合
材の強度が低下して圧力検出器の耐圧性が低下するとい
う欠点があった。
また圧力検出器が比較的高温雰囲気で使用される場合に
は、ガラス等の接合材とダイヤフラムまたは基板との間
の熱膨脹係数が違うことにより、実際には圧力が作用し
ていなくてもダイヤフラムが変形する恐れがあり、その
ため誤検出や検出誤差が生じるという欠点があった。
このような欠点を解消するため、特開昭63−2920
32号公報や特公昭83−9174号公報に開示されて
いるようにダイヤフラムと基板との間に所定の空間を形
成するため焼成の加熱により昇華する物質から成る介装
体を挟み込んで一体焼成することが提案されている。
[発明が解決しようとする課題] ところで、このような一体焼成体から成る圧力検出器で
は、その製造時にダイヤフラムと基板との間に所定の空
間を形成するために挿入される介装体として用いられる
材料は比較的高価であり、しかも形成すべき空間の寸法
に合わせて予め所定の形状に成形しておく必要があり、
またダイヤフラムと基板との一体焼成時にこのような介
装体を完全に昇華、消失させるために比較的長−い加熱
時間が必要であり、そのため製造工程が繁雑化し、コス
トが高くつく等の問題がある。
そこで、本発明は、このような従来技術のもつ問題点を
解決して、製造工程を簡略化てきしかも製造コストを大
幅に低減できる圧力検出器を提供することを目的として
いる。
[課題を解決するための手段] 上記の目的を達成するために、本発明の圧力検出器は、
未焼成セラミック材料から成るダイヤフラムと、このダ
イヤフラムに比べて焼成収縮率の大きい未焼成セラミッ
ク材料から成る基板とをそれらの周辺部分において接着
し、一体焼成してダイヤフラムと基板との間に空洞を形
成したことを特徴としている。
圧力検出素子は少なくともダイヤフラムに設けることに
より圧力測定をすることができる静電容量型の圧力検出
器として実施する場合には、ダイヤフラムと基板との間
の空洞を挾んでダイヤフラム及び基板に設けられた一対
の電極から成ることができ、また抵抗変化型圧力検出器
として実施する場合にはダイヤフラムの外面に形成した
抵抗体から成ることができる。いずれの場合も未焼成セ
ラミック材料に圧力検出素子を設け、一体焼成により形
成することにより、セラミックスと圧力検出素子との密
着を強固にすることができる。たたし、圧力検出素子が
抵抗体である場合には、抵抗体の焼成時における酸化等
の問題を避けるために一体焼成後に抵抗体のみを設ける
のが好ましい。
[作  用] このように構成した本発明の圧力検出器においては、未
焼成セラミック材料から成るダイヤフラムと、未焼成セ
ラミック材料から成る基板とは、同時焼成によりそれら
の周辺部分において比較的短時間で一体化される。その
際、焼成する前に未焼成セラミックペーストを周辺部分
に介在させたり、熱圧着して周辺部分を仮接着しておく
ことにより密着性が向上し、焼成後にダイヤフラムと基
板とは完全に同化して強固となり、熱膨張により接合部
の接合強度は変化せず、それにより耐圧性の低下や高温
下での無圧力時の変形は避けられ、検出誤差をなくすこ
とができる。
また、ダイヤフラムに収縮率の小さい未焼成セラミック
材料を、基板に収縮率の大きい未焼成セラミック材料を
用いたことにより、一体焼成後の冷却過程で基板の収縮
に伴う応力を受けてダイヤフラムの中央部分は膨らみ、
基板との間に所要の空洞が形成される。この場合、収縮
率はて表せるので、ダイヤフラム及び基板の寸法を適宜
選択することにより収縮率すなわち形成すべき空洞の大
きさを調整することができる。
また、この収縮率の制御は、セラミック粉末の粒度やセ
ラミック粉末の含有量を調整することによって簡単に行
うことができ、セラミック粉末の粒度か小さい程またセ
ラミック粉末の含有量か少ない程、収縮率を大きくする
ことかできる。
従って、従来の一体焼成によるもものように高価で予め
予定の寸法に成形する必要のある介装体を用いずにダイ
ヤフラムと基板との間に所定の空洞を形成することがで
きる。
更に、ダイヤフラム上に設けられる保護層は、圧力検出
素子を汚染物質による汚染や劣化から保護する働きをし
、長期間安定した動作を保障する。
[実施例] 以下、添付図面の第1図〜第9図を参照して本発明の実
施例について説明する。
第1図及び第2図には本発明の一実施例が示され、1は
焼成収縮率16.7%の組成をもつ純度92%ノA Q
203材料から成る厚さ0.801mm01mmノブリ
ーンシート2は基板1と同じセラミック材料であるか焼
成収縮率か基板より小さい15.3%の組成をもつ厚さ
0.1hiのグリーンシートがら成るダイアフラムであ
る。基板1の上面及びダイヤフラム2の下面にはそれぞ
れ圧力検出素子を成すpt製の円形状の電極3.4がそ
れぞれスクリーン印刷法により形成されている。これら
の円形状の電極3.4から図示されたように一辺部に向
がって端子3a、4aがのびており、また基板1上には
、基板1上にダイヤフラム2を積層した際にダイヤフラ
ム2の電極4の端子4aに結合される端子4bが形成さ
れている。
その後、それの円形状の電極部分4を除いた面部分、好
ましくは電極の周りの周辺部分に相当する基板1上に基
板1と同質の材料から成り有機系バインダを添加した未
焼成セラミックペーストがスクリーン印刷法により厚さ
20umに印刷される。
そして、印刷されたセラミックペーストが乾かない内に
基板1上に電極3.4とを対向させてダイヤフラム2を
積層し、こうして得られた積層体は250℃で樹脂抜き
しだ後1550”Cの温度で大気圧雰囲気中で焼成され
る。その結果第2図に断面図で示されるように電極3.
4間に基板1とダイヤフラム2の収縮率の差により空間
5が形成され、そして基板1とダイヤフラム2はそれら
の周辺部において堅固に接合される。
第3図及び第4図は本発明の別の実施例を示し、第1図
及び第2図と対応した部分は同じ符号で示す。この実施
例では、ダイヤフラム2に形成される電極4が基板1の
電極3に対向した面上ではなく外面に形成されている。
その他の構成及び製造工程は第1図及び第2図の実施例
と実質的に同じである。
第5図及び第6図には本発明の更に別の実施例が示され
、第3図及び第4図の実施例の場合と同様に前記各実施
例の装置と対応した部分は同じ符号で示す。
この実施例においては、ダイヤフラム2は厚さ50μm
に形成され、そして第3図及び第4図の場合と同様に電
極4は、ダイヤフラム2が基板1上に積層された際に外
面上で基板1における電極3に対応して位置するように
形成されている。またダイヤフラム2の上にはダイヤフ
ラム2上の電極4の汚染物質による汚染や電極の劣化を
防ぐため厚さ50μmの同じ材質から成る保護層6が設
けられている。この場合保護層6は強度を保つため基板
1及びダイヤフラム2と共に一体成形体として一体焼成
される。
上記の各実施例において焼成により内部に形成される空
洞の大きさは、上述のように基板1及びダイヤフラム2
に使用する未焼成セラミック材料の組成すなわち含有量
や粒度を適当に選択することにより所望のように設定す
ることができる。
このように構成した圧力検出器を第1O図に示すような
従来構造のものと構造上の強度を比較するため、電気炉
で800℃に10分、室温で10分の冷熱サイクルテス
トを1000回繰返し行った結果、第10図に示す構造
のものは200サイクルで接合部のガラスEに亀裂が生
じたが、本発明によるものでは何の変化も認められなか
った。
ところで、図示実施例では、圧力検出素子として基板及
びダイヤフラムにそれぞれ電極を設け、これらの電極間
の容量の変化として圧力を検出する容量変化型圧力検出
器について説明してきたが、各実施例において基板及び
ダイヤフラムに電極を設ける代わりに、ダイヤフラム上
に圧力検出素子として抵抗体を形成し、その抵抗の変化
として圧力を検出するように構成することもできる。そ
の−例を第7図〜第9図に示す。これらの図面において
第3図及び第4図の実施例と同様に前記各実施例の装置
と対応した部分は同じ符号で示す。
ダイヤフラム2上には第7図に示すように基板1と同じ
セラミック材料を10重量%含んだ貴金属(Pt)粉末
に有機系バインダを添加して得たペーストをスクリーン
印刷し、導体端子層7が形成される。その後1100℃
にて仮焼し、周辺部を有機バインダを添加した未焼成セ
ラミックペースト付けした基板1に積層し、樹脂抜き後
焼成が行なわれる。こうして得られた焼成体すなわち導
体端子層7の所望の位置に第9図に示すように主に酸化
ルテニウムから成る抵抗体8が転写により5μの厚さに
形成され、そして850℃にて焼付けられる。
また基板及びダイヤフラムの構成材料として図示実施例
ではAQ□0.を用いているが、当然能の適当な未焼成
セラミック材料例えばジルコニアやシリマナイトを用い
ることもてきる。
更に、図示実例において、各部の寸法、形状は実際の適
用に合わせて任意に設定することができる。
更にまた、本発明の圧力検出器は外圧力を受けてダイヤ
フラムが変形し、その変形に応じて圧力を検出するもの
について対象として例示してきたが、振動や加速度の応
力によりダイヤフラムを変形してこれらの振動や加速度
の大きさを検出するものとしても利用され得る。
[発明の効果] 以上説明してきたように、本発明の圧力検出器において
は、未焼成セラミック材料から成るダイヤフラムと、こ
のダイヤフラムに比べて焼成収縮率の大きい未焼成セラ
ミック材料から成る基板とをそれらの周辺部分において
接着し、一体焼成しているので、従来のようにダイヤフ
ラムと基板との間に所定の空間を形成するための高価な
介装体を使用することなく所望の空洞を形成することが
でき、製造工程を大幅に簡単化できるだけでなく製造コ
ストも大幅に低減することができる。
またダイヤフラムと基板と間の積層された部分は同化し
て強固となり、熱膨張による接合強度の低下は防止でき
、例えば自動車のエンジン周辺等のような過酷な条件下
で使用される場合でも高温下において接合部分の熱膨張
が除去されるため無圧力状態で変形が生しることはなく
誤差なく安定して圧力検出を行うことかできる。
更に、ダイヤフラム上に保護層を設けた場合には、汚染
物質よる圧力検出素子の汚染や劣化を防ぐことかでき、
長期間安定して使用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す分解斜視図、第2図は
第1図の装置を組立てた状態で示す第1図のI−I線に
沿った拡大線断面図、第3図は本発明の別の実施例を示
す分解斜視図、第4図は第3図の装置を組立てた状態で
示す第1図の■−■線に沿った拡大線断面図、第5図は
本発明のさらに別の実施例を示す分解斜視図、第6図は
第5図の装置を組立てた状態て示す第1図の■−■線に
沿った拡大線断面図、第7図は検出素子として抵抗体を
利用した本発明の実施例を示す分解斜視図、第8図は第
7図の装置を組立てた状態で示す第7図のrV−rV線
に沿った拡大線断面図、第9図は抵抗体を形成して完成
させた装置の概略斜視図、第10図は従来の静電容量変
化型圧力検出器の一例を示す概略断面図である。 図   中 基板 ダイヤフラム 電極 電極 空洞 保護層 導体端子層 抵抗体 第1図 第3図 d 第2図 第4図 第5図 第6図 第9図 第10図 第7図 第8図 手続補正書 (自発) 平成 2年 9月19日

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.圧力により変形し得るセラミック製ダイヤフラムと
    、該ダイヤフラムの周縁部を固定するセラミック製基板
    とを有する圧力検出器において、未焼成セラミック材料
    から成るダイヤフラムと、このダイヤフラムに比べて焼
    成収縮率の大きい未焼成セラミック材料から成る基板と
    をそれらの周辺部分において接着し、一体焼成してダイ
    ヤフラムと基板との間に空洞を形成したことを特徴とす
    る圧力検出器。
  2. 2.ダイヤフラムが少なくとも圧力検出素子を備えてい
    る請求項1に記載の圧力検出器。
  3. 3.圧力検出素子がダイヤフラムと基板との間の空洞を
    挟んてダイヤフラム及び基板に設けられた一対の電極か
    ら成る請求項2に記載の圧力検出器。
  4. 4.圧力検出素子が未焼成セラミック材料から成るダイ
    ヤフラムに形成されている請求項2または3に記載の圧
    力検出器。
  5. 5.圧力検出素子が、ダイヤフラムの外面に形成され、
    歪みにより抵抗値の変化する抵抗体である請求項2に記
    載の圧力検出器。
  6. 6.圧力検出素子を覆う保護層を備えている請求項2ま
    たは5に記載の圧力検出器。
  7. 7.圧力により変形し得るセラミック製ダイヤフラムと
    、該ダイヤフラムの周縁部を固定するセラミック製基板
    とを有する圧力検出器において、未焼成セラミック材料
    から成るダイヤフラムと、このダイヤフラムに比べて焼
    成収縮率の大きい未焼成セラミック材料から成る基板と
    、ダイヤフラムの外面に設けられた圧力検出素子と、ダ
    イヤフラム上の圧力検出素子を覆う保護膜とを有し、ダ
    イヤフラムと基板とをそれらの周辺部分において未焼成
    セラミックベーストを介して互いに接着し、保護膜と共
    に一体焼成してダイヤフラムと基板との間に空洞を形成
    したことを特徴とする圧力検出器。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241300A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Kyocera Corp 圧力検出装置用パッケージ
JP2013113639A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Kyocera Corp 圧力検出装置用基体および圧力検出装置

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JP2005241300A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Kyocera Corp 圧力検出装置用パッケージ
JP2013113639A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Kyocera Corp 圧力検出装置用基体および圧力検出装置

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