JPH04104449A - 高周波誘導プラズマ質量分析計 - Google Patents
高周波誘導プラズマ質量分析計Info
- Publication number
- JPH04104449A JPH04104449A JP2222101A JP22210190A JPH04104449A JP H04104449 A JPH04104449 A JP H04104449A JP 2222101 A JP2222101 A JP 2222101A JP 22210190 A JP22210190 A JP 22210190A JP H04104449 A JPH04104449 A JP H04104449A
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- JP
- Japan
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- sample
- carrier gas
- laser light
- leading
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、高周波誘導コイルに高周波エネルギを供給し
高周波磁界を形成して高周波誘導結合プラズマを生じさ
せ該プラズマを利用して前記試料中の被測定元素を分析
する高周波誘導結合プラズマ質量分析計(以干、r I
CP −M S Jという)に関する。
高周波磁界を形成して高周波誘導結合プラズマを生じさ
せ該プラズマを利用して前記試料中の被測定元素を分析
する高周波誘導結合プラズマ質量分析計(以干、r I
CP −M S Jという)に関する。
〈従来の技術〉
近時−ICI”−MSは高性能分析計として多くの分野
で使用されている。
で使用されている。
第2図は、このようなICP−MSの一般的な構成説明
図である。このし1において、プラズマトーチ1の外室
1bと最外室1Cにはカス調節器2を介してアルゴンカ
ス供給源3からアルゴンカスが供給され、内室1aには
試′f4導入装置4内の固体試料がレーザ光源5から照
射されたレーザ光によって気化されてのちキャリアガス
であるアルゴンカスによって搬入されるようになってい
る。
図である。このし1において、プラズマトーチ1の外室
1bと最外室1Cにはカス調節器2を介してアルゴンカ
ス供給源3からアルゴンカスが供給され、内室1aには
試′f4導入装置4内の固体試料がレーザ光源5から照
射されたレーザ光によって気化されてのちキャリアガス
であるアルゴンカスによって搬入されるようになってい
る。
一方、プラズマトーチ1に巻回された高周波誘導コイル
6には高周波電源10によって高周波電流が流され、該
コイル6の周囲に高周波磁界(図示せず)か形成されて
いる。この状態で上記高周波磁界の近傍でアルゴンカス
中に電子かイオンが植え(tt l−)られると、該高
周波磁界の作用によって瞬時に高周波誘導結合プラズマ
7が生ずる。
6には高周波電源10によって高周波電流が流され、該
コイル6の周囲に高周波磁界(図示せず)か形成されて
いる。この状態で上記高周波磁界の近傍でアルゴンカス
中に電子かイオンが植え(tt l−)られると、該高
周波磁界の作用によって瞬時に高周波誘導結合プラズマ
7が生ずる。
また、ノズル8とスキマー9に挟まれたフォアヂャンバ
ー本体11内は、真空ポンプ12によって例えばl T
o r r 、に吸引されている。更に、センターチ
ャンバー13内にはイオンレンズ14a、14bか設け
られると共に、該センターチャンバー13の内部は第1
油拡散ポンプ15によって例えは1.0− ’ T o
r r 、に吸引され、マスフィルタ(例えば四重極
マスフィルタ)16を収容しているリアチャンバー17
内は第2油拡散ボング18によって例えば10 ’T
orr、に吸引されている。
ー本体11内は、真空ポンプ12によって例えばl T
o r r 、に吸引されている。更に、センターチ
ャンバー13内にはイオンレンズ14a、14bか設け
られると共に、該センターチャンバー13の内部は第1
油拡散ポンプ15によって例えは1.0− ’ T o
r r 、に吸引され、マスフィルタ(例えば四重極
マスフィルタ)16を収容しているリアチャンバー17
内は第2油拡散ボング18によって例えば10 ’T
orr、に吸引されている。
この状態で高周波誘導結合プラズマ中に上述のようにし
て気化された試料が導入され、イオン化や発光が行われ
る。該プラズマ7内のイオンは、ノズル8やスAマー9
を経由してのちイオンレンズ14a、、14b(タブレ
ット四重極レンズ)の間を通って収束され、四重極質星
分析計16に導入される。四重掻質量分析計16に入っ
たイオンのうち目的の質Ji、電荷比のイオンなりが、
四重極質星分析計を通過し二次電子増倍管19に導かれ
て検出される。この検出色−りか信り゛処理部20に送
出されて演算・処理されることによって、前記試料中の
被測定元素分析値か求められるようになっている。
て気化された試料が導入され、イオン化や発光が行われ
る。該プラズマ7内のイオンは、ノズル8やスAマー9
を経由してのちイオンレンズ14a、、14b(タブレ
ット四重極レンズ)の間を通って収束され、四重極質星
分析計16に導入される。四重掻質量分析計16に入っ
たイオンのうち目的の質Ji、電荷比のイオンなりが、
四重極質星分析計を通過し二次電子増倍管19に導かれ
て検出される。この検出色−りか信り゛処理部20に送
出されて演算・処理されることによって、前記試料中の
被測定元素分析値か求められるようになっている。
第1図は上述のようなICP−MSを用いて試料を分析
した結果を示す時間分析であり、図中、縦軸は出力信号
Sの大きさを示し横軸は時間tを示している。即ち、1
. OOm JのYAG (イッl−リウム・カリウム
・カーネッ1へ、即ち、Y 3A 15Q12にHd+
3をドープした固体結晶を共振用ロッドに用いたもので
、波−長1.06μmの近赤外光)レーザを第3図レー
ザ光源5から試料槽4へ時間軸で5〜20秒の間に約1
0回出射し、試料槽4内の例えば5US316ザンプル
に照射して、Cr 52の時間分析信号を見たもので
ある。この時間分析図から明らかなように、20秒以降
の時間においてはレーザが照射されていないにも拘らず
出力信号S低下しない。このことから応答性が悪く、所
謂サンプルのスループッ1〜(即ち、分析能力)か低い
ことか分かる。
した結果を示す時間分析であり、図中、縦軸は出力信号
Sの大きさを示し横軸は時間tを示している。即ち、1
. OOm JのYAG (イッl−リウム・カリウム
・カーネッ1へ、即ち、Y 3A 15Q12にHd+
3をドープした固体結晶を共振用ロッドに用いたもので
、波−長1.06μmの近赤外光)レーザを第3図レー
ザ光源5から試料槽4へ時間軸で5〜20秒の間に約1
0回出射し、試料槽4内の例えば5US316ザンプル
に照射して、Cr 52の時間分析信号を見たもので
ある。この時間分析図から明らかなように、20秒以降
の時間においてはレーザが照射されていないにも拘らず
出力信号S低下しない。このことから応答性が悪く、所
謂サンプルのスループッ1〜(即ち、分析能力)か低い
ことか分かる。
〈発明が解決しようとする問題点〉
然しなから、上記従来例においては、スループッ1へを
上げるなめデータ採取時間を短ぐすると無駄になるイオ
ンが多くなり、検出感度の低下や繰返し再現性の低下を
招くという欠点かあった。また、このようにカスの置換
か遅いことは、サンプルを交換したときに空気を追い出
すためのパージ時間も長くなるという欠点があった。
上げるなめデータ採取時間を短ぐすると無駄になるイオ
ンが多くなり、検出感度の低下や繰返し再現性の低下を
招くという欠点かあった。また、このようにカスの置換
か遅いことは、サンプルを交換したときに空気を追い出
すためのパージ時間も長くなるという欠点があった。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされものであり、その
課題は、サンプルのスループット、検出感度、及び繰返
再現性を全て向上させると共に、パージ時間も短縮させ
た高周波誘導プラズマ質量分析計を提供することにある
。
課題は、サンプルのスループット、検出感度、及び繰返
再現性を全て向上させると共に、パージ時間も短縮させ
た高周波誘導プラズマ質量分析計を提供することにある
。
く問題点を解決するための手段〉
本発明は、レーザ光源から照射されたレーザ光がサンプ
ルセル内のサンプルを気化してプラズマトーチの内管に
供給される高周波誘導結合プラズマ質量分析計において
、若と、ガラスプレートと、内部にサンプルを収容する
サンプルセル本体と、キャリアガス導入管と、該キャリ
アガス導入管と直角をなす方向に配設されたAヤリアカ
ス導出管と、パージガス導入管と、該パージガス導入管
と直角をなす方向に配設されたパージ気体導出管とを具
備し、レーザ光源から照射されたレーザ光が前記ガラス
プレートを透過して前記サンプルに作用し該サンプルの
一部を蒸散させるとともに、該蒸散されたサンプルが、
前記キャリアガス導入管から導入されたキャリアガスに
よって微粒子となって前記キャリアガス導出口から前記
プラズマトーチ内管に導かれるようにしたことにある。
ルセル内のサンプルを気化してプラズマトーチの内管に
供給される高周波誘導結合プラズマ質量分析計において
、若と、ガラスプレートと、内部にサンプルを収容する
サンプルセル本体と、キャリアガス導入管と、該キャリ
アガス導入管と直角をなす方向に配設されたAヤリアカ
ス導出管と、パージガス導入管と、該パージガス導入管
と直角をなす方向に配設されたパージ気体導出管とを具
備し、レーザ光源から照射されたレーザ光が前記ガラス
プレートを透過して前記サンプルに作用し該サンプルの
一部を蒸散させるとともに、該蒸散されたサンプルが、
前記キャリアガス導入管から導入されたキャリアガスに
よって微粒子となって前記キャリアガス導出口から前記
プラズマトーチ内管に導かれるようにしたことにある。
〈実施例〉
以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第1
図は本発明実施例の要部構成平面図であリ、第2図は第
1図のA−A″断面図である。第1図及び第2図におい
て、21は蓋、22はカラスプレー1〜.23a〜23
dはカラスプレー 1〜22を蓋21に固定するための
ネジ、24はサンプルセル本体、25a〜25dは蓋2
1をサンプルセル本体24に固定し気密にするためのネ
ジ、26は例えば5US316でなるサンプル、27a
はキャリアガス導入管、27bはAヤリアカス導出管、
28aはパージガス導入管、28bはパシカス導出管で
ある。
図は本発明実施例の要部構成平面図であリ、第2図は第
1図のA−A″断面図である。第1図及び第2図におい
て、21は蓋、22はカラスプレー1〜.23a〜23
dはカラスプレー 1〜22を蓋21に固定するための
ネジ、24はサンプルセル本体、25a〜25dは蓋2
1をサンプルセル本体24に固定し気密にするためのネ
ジ、26は例えば5US316でなるサンプル、27a
はキャリアガス導入管、27bはAヤリアカス導出管、
28aはパージガス導入管、28bはパシカス導出管で
ある。
この上うな構成からなる本発明の実施例において、第4
図のレーザ光源5から照射されたレーザ光は、第2図の
カラスプレー1〜22を透過しサンプル26に作用して
該サンプルの一部を蒸散させる。また、このようにして
蒸散されたサンプルは、キャリアガス導入管27aから
導入さり、なキャリアガスによって微粒子となってキャ
リアガス導出[−、’、、、I 271)から第4図の
プラズマ1〜 ヂ内管1aに導かれる、ここて、AA・
リアカス導入償・27 aとAヤリアカス導出r−’+
27 bが対向方向(即ち、180°方向)に配設さ
れていると、前述のように第5図のスペクI〜ルを与え
る。しかし、第1図及び第2図に示したようにキャリア
ガス導入管27aとキャリアガス導出口271つか直角
方向(即ち、90°方向)に配設されているため、第5
図を作成した試料と同一の試料を用いても第3図のスペ
ク1〜ルをり−るようになる9即ち、キャリアガス導入
管27aとAヤリアカス導出ロ27bか直角方向(即ち
、90°方向)に配設されている場合には、カスか→ノ
ーンプルセル内を十分に回ることができカス置換かスム
ーズなり、良好な分析結果をり。
図のレーザ光源5から照射されたレーザ光は、第2図の
カラスプレー1〜22を透過しサンプル26に作用して
該サンプルの一部を蒸散させる。また、このようにして
蒸散されたサンプルは、キャリアガス導入管27aから
導入さり、なキャリアガスによって微粒子となってキャ
リアガス導出[−、’、、、I 271)から第4図の
プラズマ1〜 ヂ内管1aに導かれる、ここて、AA・
リアカス導入償・27 aとAヤリアカス導出r−’+
27 bが対向方向(即ち、180°方向)に配設さ
れていると、前述のように第5図のスペクI〜ルを与え
る。しかし、第1図及び第2図に示したようにキャリア
ガス導入管27aとキャリアガス導出口271つか直角
方向(即ち、90°方向)に配設されているため、第5
図を作成した試料と同一の試料を用いても第3図のスペ
ク1〜ルをり−るようになる9即ち、キャリアガス導入
管27aとAヤリアカス導出ロ27bか直角方向(即ち
、90°方向)に配設されている場合には、カスか→ノ
ーンプルセル内を十分に回ることができカス置換かスム
ーズなり、良好な分析結果をり。
えるようになる。
また、第3図と第5図を比較ずれは明らかなように、キ
ャリアガス導入管27aとキャリアガス導出n 27
bが直角方向く即ち、90°方向)に配設されている場
合には、虞−ヤリアカス導入管27aとキャリアガス導
出口27bが対向方向(即ち、180°方向)に配設さ
れている場合のレザ出射を3回繰返すことがてき、その
結果、サンプルのスループットか3倍以上となっている
。
ャリアガス導入管27aとキャリアガス導出n 27
bが直角方向く即ち、90°方向)に配設されている場
合には、虞−ヤリアカス導入管27aとキャリアガス導
出口27bが対向方向(即ち、180°方向)に配設さ
れている場合のレザ出射を3回繰返すことがてき、その
結果、サンプルのスループットか3倍以上となっている
。
尚、本発明実施例の他の部分の動作は、第2図を用いて
i1述した前記従来例の場合と同一であるなめここでの
重複説明は省略する。また、本発明は十述の実施例に限
定されることなく種々の変形か−ii]能であり、例え
ばキャリアガス導入管27aにネジのようなカス拡散物
を装着してサンプルセル内のカス置換をスムーズにおこ
なわせるようにしても良い。
i1述した前記従来例の場合と同一であるなめここでの
重複説明は省略する。また、本発明は十述の実施例に限
定されることなく種々の変形か−ii]能であり、例え
ばキャリアガス導入管27aにネジのようなカス拡散物
を装着してサンプルセル内のカス置換をスムーズにおこ
なわせるようにしても良い。
〈発明の効果〉
以七訂しく説明したように、本発明は、レーザ光源から
照射されたレーザ光が−リーンプルセル内のサンプルを
気化してプラズマ1〜−チの内管に供給される高周波誘
導結合プラズマ分析計において、苔と、カラスプレー1
−と、内部にサンダルを収容するサンプルセル本体と、
キャリアガス導入管と、該キャリアガス導入管と直角を
なす方向に配設されたキャリアガス導出管と、パージガ
ス導入管と、該パージガス導入管と直角をなす方向に配
設されたパージ気体導出管とを具備し、レーザ光源から
照射されなレーザ光が前記ガラスプレートを透過して前
記サンプルに作用し該サンプルの一部を蒸散させるとと
らに、該蒸散されたサンプルか、前記キャリアガス導入
管から導入されたキャリアガスによって微粒子となって
前記Aヤリアカス導出「1から前記プラズマ1〜−ヂ内
管に導かれるような構成にした。
照射されたレーザ光が−リーンプルセル内のサンプルを
気化してプラズマ1〜−チの内管に供給される高周波誘
導結合プラズマ分析計において、苔と、カラスプレー1
−と、内部にサンダルを収容するサンプルセル本体と、
キャリアガス導入管と、該キャリアガス導入管と直角を
なす方向に配設されたキャリアガス導出管と、パージガ
ス導入管と、該パージガス導入管と直角をなす方向に配
設されたパージ気体導出管とを具備し、レーザ光源から
照射されなレーザ光が前記ガラスプレートを透過して前
記サンプルに作用し該サンプルの一部を蒸散させるとと
らに、該蒸散されたサンプルか、前記キャリアガス導入
管から導入されたキャリアガスによって微粒子となって
前記Aヤリアカス導出「1から前記プラズマ1〜−ヂ内
管に導かれるような構成にした。
このため、■応答性に倒れ多数のサンプルを処理できる
。■短い積分時間で測定でき再現性か向−I−する6■
短い積分時間であるにも拘らず検出感度か不変である。
。■短い積分時間で測定でき再現性か向−I−する6■
短い積分時間であるにも拘らず検出感度か不変である。
■応答か良くパージ時間か短くて済むなどの利点がある
。
。
従って、本発明によれば、→ノンプルのスルーブッ1〜
.検出感度、及び再現性を全て向上させると共に、パー
ジ時間も短縮さぜl二高周波誘導プラズマ質量分析J1
が実現する。
.検出感度、及び再現性を全て向上させると共に、パー
ジ時間も短縮さぜl二高周波誘導プラズマ質量分析J1
が実現する。
第1図は本発明実施例の要部平面図、第2図は第1図の
A、 −A−断面図、第4図は高周波誘導プラズマ質量
分析計の一般的な構成説明図、第3図及び第5図はスペ
ク1〜ルレ1である。 1・・・・・・プラズマ1〜−チ、2・・・・・・流量
制御部、3・・・・・・アルゴンカス供給源、4・・・
・・・試料セル、6・・−・・・高周波誘導コイル〜 7・・・・・・高周波誘導結合プラズマ、8・・・・・
・ノズル、9・・・・・・スキマー 16・・・・・・
マスフィルタ、16 a〜16d・・・四重極マスフィ
ルタのロッド、17・・・・・・リアチャンバー、20
・・・・・・信号処理部、21・・・・・・若、22・
・・・・・ガラスプレー1〜.24・・・・・・サンプ
ルセル本体、26・・・・・・サンプル、27a・・・
・・・キャリアガス導入管、27b・・・・・・キャリ
アガス導出管、28a・・・・・・パージガス導入管、
28b・・・・・・パージガス導出管
A、 −A−断面図、第4図は高周波誘導プラズマ質量
分析計の一般的な構成説明図、第3図及び第5図はスペ
ク1〜ルレ1である。 1・・・・・・プラズマ1〜−チ、2・・・・・・流量
制御部、3・・・・・・アルゴンカス供給源、4・・・
・・・試料セル、6・・−・・・高周波誘導コイル〜 7・・・・・・高周波誘導結合プラズマ、8・・・・・
・ノズル、9・・・・・・スキマー 16・・・・・・
マスフィルタ、16 a〜16d・・・四重極マスフィ
ルタのロッド、17・・・・・・リアチャンバー、20
・・・・・・信号処理部、21・・・・・・若、22・
・・・・・ガラスプレー1〜.24・・・・・・サンプ
ルセル本体、26・・・・・・サンプル、27a・・・
・・・キャリアガス導入管、27b・・・・・・キャリ
アガス導出管、28a・・・・・・パージガス導入管、
28b・・・・・・パージガス導出管
Claims (1)
- レーザ光源から照射されたレーザ光によってサンプル
セル内のサンプルが気化されてプラズマトーチの内管に
供給される高周波誘導結合プラズマ質量分析計において
、蓋と、ガラスプレートと、内部にサンプルを収容する
サンプルセル本体と、キャリアガス導入管と、該キャリ
アガス導入管と直角をなす方向に配設されたキャリアガ
ス導出管と、パージガス導入管と、該パージガス導入管
と直角をなす方向に配設されたパージガス導出管とを具
備し、前記レーザ光源から照射されたレーザ光が前記ガ
ラスプレートを透過して前記サンプルに作用し該サンプ
ルの一部を蒸散させるとともに、該蒸散されたサンプル
が、前記キャリアガス導入管から導入されたキャリアガ
スによって微粒子となって前記キャリアガス導出口から
前記プラズマトーチ内管に導かれるように構成したこと
を特徴とする高周波誘導プラズマ質量分析計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2222101A JPH04104449A (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | 高周波誘導プラズマ質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2222101A JPH04104449A (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | 高周波誘導プラズマ質量分析計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04104449A true JPH04104449A (ja) | 1992-04-06 |
Family
ID=16777156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2222101A Pending JPH04104449A (ja) | 1990-08-23 | 1990-08-23 | 高周波誘導プラズマ質量分析計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04104449A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6241336B1 (en) | 1996-02-26 | 2001-06-05 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Ink-jet printer with printing head cap |
| JP2019023638A (ja) * | 2013-02-09 | 2019-02-14 | エレメンタル サイエンティフィック レーザーズ エルエルシー | チャンバ内流体処理装置 |
| WO2019202690A1 (ja) * | 2018-04-18 | 2019-10-24 | 株式会社エス・ティ・ジャパン | レーザーアブレーション用のセルおよび分析装置 |
| JP2021009039A (ja) * | 2019-06-28 | 2021-01-28 | 株式会社エス・テイ・ジャパン | レーザーアブレーション用のセルおよび分析装置 |
-
1990
- 1990-08-23 JP JP2222101A patent/JPH04104449A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6241336B1 (en) | 1996-02-26 | 2001-06-05 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Ink-jet printer with printing head cap |
| JP2019023638A (ja) * | 2013-02-09 | 2019-02-14 | エレメンタル サイエンティフィック レーザーズ エルエルシー | チャンバ内流体処理装置 |
| WO2019202690A1 (ja) * | 2018-04-18 | 2019-10-24 | 株式会社エス・ティ・ジャパン | レーザーアブレーション用のセルおよび分析装置 |
| JPWO2019202690A1 (ja) * | 2018-04-18 | 2021-05-20 | 株式会社エス・テイ・ジャパン | レーザーアブレーション用のセルおよび分析装置 |
| JP2021009039A (ja) * | 2019-06-28 | 2021-01-28 | 株式会社エス・テイ・ジャパン | レーザーアブレーション用のセルおよび分析装置 |
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