JPH04104992A - 高品質ダイヤモンドの気相合成方法 - Google Patents
高品質ダイヤモンドの気相合成方法Info
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
であり、詳しくは、アモルファスカーボン及びグラファ
イト等の非ダイヤモンド炭素を殆ど含まない高品質なダ
イヤモンドの合成方法に関するものである。
が小さく、絶縁体でありながら熱伝導度が非常に高い。
明であって、耐薬品性などという優れた特性を同時に備
えた物質である。また、音波の伝播速度に優れ、さらに
特定の不純物をドープすることにより半導体特性を与え
ることができる。このため各種分野でダイヤモンドの応
用が考えられており、現代の産業界において必要不可欠
な物質となっている。
トCVD法をはじめとする各種のCVD法により、気相
からのダイヤモンド合成が実現されており、ダイヤモン
ドが有している優れた特性を膜状にして、あるいは他の
材料表面に被覆して利用できるようになり、その応用範
囲が更に拡大されつつある。
にはメタンと水素の混合ガスであるが、炭素源としては
アセチレン、ベンゼン、エタノール、アセトン等含炭素
化合物であればいずれも使用可能である。また、反応ガ
ス中に酸素、−酸化炭素、二酸化炭素等の酸素原子を含
むガスを微量添加することにより、合成されるダイヤモ
ンドの品質の向上が図れることが知られている。
合せによりダイヤモンドの合成が可能であることが知ら
れている。しかしながら、アモルファスカーボン及びグ
ラファイト等の非ダイヤモンド炭素を殆ど含まない高品
質なダイヤモンドを合成するために必要な条件として、
反応ガス中に含まれる元素である水素、炭素、酸素の三
者の定量的な関係については明確な定義がなされていな
い。また、いかにダイヤモンド合成のための反応系を完
全なものに近づけたとしても、空気中に多量に存在する
窒素の混入を避けることは難しい。
素、炭素、酸素の三者に加え、さらにはその系に窒素を
含んだ場合にまで拡張し高品質ダイヤモンド合成に必要
なガス組成の関係を明確にすることを目的とするもので
ある。
結果、高品質ダイヤモンドを合成するために必要なガス
組成として、水素、炭素、酸素及び窒素の四者の間に明
確な関係式が成り立つことを見い出し、この発明に至っ
たものである。
合成するに際し、反応ガス中に含まれる元素のうち、水
素ガスに対する炭素原子の濃度をA(%)、また、該反
応ガス全体に対する窒素ガスの濃度なり (ppm )
とし、さらに含酸素化合物が該反応ガス中に含まれる場
合の水素ガスに対する酸素原子の濃度なC(%)とした
とき、反応ガス組成α=#X (A−1,2xc)
(但し、α≦13、または、B≦20)なる関係を満た
す領域内で合成することを特徴とする高品質ダイヤモン
ドの気相合成方法を提供するものである。
ヤモンド炭素の検出に有効なラマン分光法を用いて評価
した結果、それらを殆ど含まない高品質なものであるこ
とがわかった。
6N)の混合ガスまたはこの混合ガスに窒素ガスを微量
添加したものを使用し、公知のマイクロ波プラズマCV
D法を用いてダイヤモンドの合成を行なった。窒素ガス
は積極的に添加を行なわない場合にも反応室内に導入さ
れる際には僅かではあるが混入していた。ガスクロマト
グラフにより精密に測定したところその濃度は全反応ガ
スに対し最大でも4 ppm以下であった。
対する窒素ガスの濃度を変化させダイヤモンドの合成を
行なった。そのときの条件を第1表に示す。表中のαの
値はB>20のときのみ表示したが、比較のためB=2
0の場合も0内にその値を表示した。また合成条件にお
いて積極的に窒素ガスを添加していない場合には窒素ガ
ス濃度をr<4ppmJとした。合成されたダイヤモン
ドの膜質の評価には非ダイヤモンド炭素の検出に有効な
ラマン分光法を用いた。第1表中の膜質の評価の欄に記
載されている記号rOJ、「○」、「・」の定義は以下
の通りである。
0cm−’に現れる非ダイヤモンド炭素のブロードなピ
ークの最大高さを1333cm−’付近のダイヤモンド
のピーク高さで除したとき、その得られた値によって下
記のように区分した。
、反応ガス中に含まれる窒素ガスの濃度を増加させてい
くと、合成されるダイヤモンドの品質が急激に劣化し、
目視でも明らかに黒色を呈する膜となった(膜質評価「
・」)。逆に反応ガス中の窒素ガス濃度が高い場合には
メタンガスの濃度を下げてダイヤモンドの合成を行なう
ことにより、その品質の劣化を防ぐことができることが
わかった。また、窒素ガスの影響についてはその濃度が
20ppm以下の場合には、試料Nα29に見られるよ
うにαの値が13を越えても膜質の急激な劣化は認めら
れなかった。即ち、反応ガス中の窒素ガスはその濃度が
20ppm以下であれば膜質には影響を及ぼさないこと
がわかった。
の合成を行ない、そのときの品質なラマン分光分析によ
り評価した。生成条件を第2表、第3表に示す。前者は
酸素ガスを水素ガスに対し0.5%添加した場合であり
、後者は2.0%添加したものである。実施例1と同様
に反応ガス中の窒素ガス濃度の増加がダイヤモンドの膜
質に影響を及ぼすことがわかった。しかしながら、酸素
ガスを添加した場合には添加しない場合に比べて膜質の
劣化が起こる炭素ガス濃度が高く、さらにそれは酸素ガ
スの濃度が高いほど大きくなることがわかった。また、
酸素ガス添加の場合も同様に窒素ガス濃度が20ppm
以下の条件下ではラマン分光分析およびSEM観察の結
果において差異は認められなかった。
必要なガス組成αとしては、水素、炭素、酸素及び窒素
の四者の間に次の関係式が成り立つことがわかった。
C)(但し、α≦13、またはB≦20、A:水素ガス
に対する炭素原子の濃度(%)B:反応ガス全体に対す
る窒素ガス(窒素分子)の濃度(ppm) C:水素ガスに対する酸素原子の濃度(%))また、第
1表〜第3表に示した条件下で合成したときの膜質の結
果を横軸を5、縦軸をAとしてプロットしたところ第1
〜3図が得られた。ここで、図中の「0」、rOJ、「
・」の記号は膜質の評価で示したものと同様であり、ま
た図中に実線で示した曲線および直線はそれぞれα=、
/Nx(A−1,2×C) = 13 (C=o、1.
o、4.0)、B=20である。このように高品質ダイ
ヤモンドを合成するためには反応ガスの組成として少な
(とも水素、炭素、酸素及び窒素の囲者の間に上記関係
式が成り立つことが明らかである。
ル、アセトンを、酸素源として酸素、酸化炭素、二酸化
炭素を用い、その組合せおよび濃度(窒素ガスの添加濃
度も含め)を任意に設定し、実施例1.2と同様にダイ
ヤモンドの合成を行ない膜質を評価した。その結果を第
4表に示した。炭素源および酸素源としていずれを用い
た場合にもa=fx (A−1,2×C)≦13、また
はB≦20を満たした領域内では合成されたダイヤモン
ドの品質は良好となった。
成において反応ガス中に含まれる元素として水素、炭素
、酸素に加え、さらにその系に窒素を含んだ場合まで拡
張して高品質ダイヤモンド合成に必要なガス組成比の関
係を初めて明確なものとしたものである。即ち、炭素源
、酸素源としていかなる原料を使用しても、あるいは希
ガス、ハロゲン等、他のガス成分が含まれる場合でもこ
の発明の効果は変わらない。以上の反応ガスの組合わせ
をいかに複雑化した場合でも高品質ダイヤモンドの合成
に必要なガス組成比を決定することができるようになっ
た。また、反応系に窒素を含む場合あるいは反応系内に
どうしても窒素の混入が避けられない場合でも特許請求
の範囲を満足するようにガス組成を決めることにより高
品質ダイヤモンドの合成が可能となる。このような高品
質のダイヤモンド膜は熱伝導性、耐摩耗性、光学的特性
に優れており広くダイヤモンドの応用分野に適用するこ
とができるのである。
ダイヤモンド膜質の評価を水素ガスに対する炭素の濃度
A(%)と全ガス量に対する窒素ガス濃度Bの平方根f
M <gin>どの関係において示した線図である。
Claims (1)
- 気相合成技術を用いてダイヤモンドを合成するに際し
、反応ガス中に含まれる元素のうち、水素ガスに対する
炭素原子の濃度をA(%)、また、該反応ガス全体に対
する窒素ガスの濃度をB(ppm)とし、さらに含酸素
化合物が該反応ガス中に含まれる場合の水素ガスに対す
る酸素原子の濃度をC(%)としたとき、反応ガス組成
α=√B×(A−1.2×C)(但しα≦13、または
、B≦20)の式を満たす領域内で合成することを特徴
とする高品質ダイヤモンドの気相合成方法。
Priority Applications (4)
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| JP22226290A JP2921063B2 (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 高品質ダイヤモンドの気相合成方法 |
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| EP19910113034 EP0469626B1 (en) | 1990-08-03 | 1991-08-02 | Chemical vapor deposition method of high quality diamond |
| US08/115,783 US6162412A (en) | 1990-08-03 | 1993-09-03 | Chemical vapor deposition method of high quality diamond |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04104992A true JPH04104992A (ja) | 1992-04-07 |
| JP2921063B2 JP2921063B2 (ja) | 1999-07-19 |
Family
ID=16779634
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|---|---|---|---|
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Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2921063B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007531680A (ja) * | 2003-07-14 | 2007-11-08 | カーネギー インスチチューション オブ ワシントン | 極度に硬いダイヤモンド及びその製法 |
| JP2012509831A (ja) * | 2008-11-25 | 2012-04-26 | カーネギー インスチチューション オブ ワシントン | 急速成長速度における単結晶cvdダイヤモンドの製造 |
-
1990
- 1990-08-22 JP JP22226290A patent/JP2921063B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007531680A (ja) * | 2003-07-14 | 2007-11-08 | カーネギー インスチチューション オブ ワシントン | 極度に硬いダイヤモンド及びその製法 |
| JP2007531679A (ja) * | 2003-07-14 | 2007-11-08 | カーネギー インスチチューション オブ ワシントン | 強靭なダイヤモンド及びその製法 |
| JP2012509831A (ja) * | 2008-11-25 | 2012-04-26 | カーネギー インスチチューション オブ ワシントン | 急速成長速度における単結晶cvdダイヤモンドの製造 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2921063B2 (ja) | 1999-07-19 |
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