JPH04107992A - 電子部品の観察装置 - Google Patents
電子部品の観察装置Info
- Publication number
- JPH04107992A JPH04107992A JP2227029A JP22702990A JPH04107992A JP H04107992 A JPH04107992 A JP H04107992A JP 2227029 A JP2227029 A JP 2227029A JP 22702990 A JP22702990 A JP 22702990A JP H04107992 A JPH04107992 A JP H04107992A
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- JP
- Japan
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- light
- electronic component
- light source
- diffuser
- irradiation position
- Prior art date
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- Automatic Assembly (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は電子部品の観察装置に関し、詳しくは、移載ヘ
ッドに吸着された寸法が異る大小様々の電子部品のシル
エットを観察して、その位置ずれを検出するための装置
に関する。
ッドに吸着された寸法が異る大小様々の電子部品のシル
エットを観察して、その位置ずれを検出するための装置
に関する。
（従来の技術）
ＩＣ，ＬＳＩ、抵抗チップ。コンデンサチップなどの電
子部品を、移載へ、ドのノズルに吸着して基板に移送搭
載する途中において、電子部品を観察し、その位置ずれ
を検出する装置として、特開昭６０−２８２９８号公報
に記載されたものが知られている。
子部品を、移載へ、ドのノズルに吸着して基板に移送搭
載する途中において、電子部品を観察し、その位置ずれ
を検出する装置として、特開昭６０−２８２９８号公報
に記載されたものが知られている。
このものは、第３図に示すように、移載ヘッド１００の
ノズル１０１の基端部側に設けられた光拡散体１０２へ
向って、光源１０３から光を照射し、その反射光をカメ
ラ１０４に入射させることにより、電子部品ＰＩ、Ｐ２
のシルエットを観察するようになっており、電子部品Ｐ
１、Ｐ２を基板へ移送しながら、その位置ずれを検出で
きる長所を有している。
ノズル１０１の基端部側に設けられた光拡散体１０２へ
向って、光源１０３から光を照射し、その反射光をカメ
ラ１０４に入射させることにより、電子部品ＰＩ、Ｐ２
のシルエットを観察するようになっており、電子部品Ｐ
１、Ｐ２を基板へ移送しながら、その位置ずれを検出で
きる長所を有している。
（発明が解決しようとする課題）
上記手段にあっては、光源１０３から照射された光が、
電子部品の下面に当って、その反射光がカメラ１０４に
入射すると、電子部品が明るく輝き、そのシルエットを
明瞭に観察することはできない。したがって光源１０３
がら照射された光が、電子部品の下面に照射されないよ
うにしなければならない。
電子部品の下面に当って、その反射光がカメラ１０４に
入射すると、電子部品が明るく輝き、そのシルエットを
明瞭に観察することはできない。したがって光源１０３
がら照射された光が、電子部品の下面に照射されないよ
うにしなければならない。
ところが電子部品の寸法は大小様々であり、１辺が１ｍ
以下の小形のものから、数（２）以上の大形のものまで
基板に搭載されることから、光の照射位置を小形の電子
部品ＰＬに合わせると、その光ａは大形の電子部品Ｐ２
の下面に反射されてしまい、大形の電子部品Ｐ２を明瞭
に観察できず、また光の照射位置を大形の電子部品Ｐ２
に合わせると、その光すは小形の電子部品Ｐ１からかな
り離れた部分で反射されることから、電子部品Ｐ１は暗
く観察されて、そのシルエットを明瞭に観察できない問
題があった。
以下の小形のものから、数（２）以上の大形のものまで
基板に搭載されることから、光の照射位置を小形の電子
部品ＰＬに合わせると、その光ａは大形の電子部品Ｐ２
の下面に反射されてしまい、大形の電子部品Ｐ２を明瞭
に観察できず、また光の照射位置を大形の電子部品Ｐ２
に合わせると、その光すは小形の電子部品Ｐ１からかな
り離れた部分で反射されることから、電子部品Ｐ１は暗
く観察されて、そのシルエットを明瞭に観察できない問
題があった。
そこで本発明は、寸法が異る大小様々の電子部品のシル
エットを、明瞭に観察できる手段を提供することを目的
とする。
エットを、明瞭に観察できる手段を提供することを目的
とする。
（課題を解決するための手段）
本発明は、ノズルの基端部側に設けられた光拡散体へ向
って光を照射する光源と、この光拡散体に反射された光
を受光するカメラと、この光源から光拡散体に対する光
の照射位置を変更する照射位置変更手段とから電子部品
の観察装置を構成している。
って光を照射する光源と、この光拡散体に反射された光
を受光するカメラと、この光源から光拡散体に対する光
の照射位置を変更する照射位置変更手段とから電子部品
の観察装置を構成している。
（作用）
上記構成によれば、電子部品の寸法に応して、光拡散体
に対する光の照射位置を変えることにより、寸法が異る
大小様々の電子部品を明瞭に観察することができる。
に対する光の照射位置を変えることにより、寸法が異る
大小様々の電子部品を明瞭に観察することができる。
（実施例１）
次に、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第１図（ａ）、 （ｂ）は、小形の電子部品Ｐ１と大
形の電子部品Ｐ２を観察している様子を示すものである
。１は移載ヘッドＡの本体であり、下方に突出するホル
ダー２に、ノズル部３が装着されている。ノズル部３は
、ホルダー２に着脱自在に装着される装着体４と、ノズ
ル５と、ノズル５の基端部側につば状に外方に突出する
円板状の光拡散体６から構成されており、ノズル５の下
端部に、電子部品ＰＬ、Ｐ２を真空吸着する。
形の電子部品Ｐ２を観察している様子を示すものである
。１は移載ヘッドＡの本体であり、下方に突出するホル
ダー２に、ノズル部３が装着されている。ノズル部３は
、ホルダー２に着脱自在に装着される装着体４と、ノズ
ル５と、ノズル５の基端部側につば状に外方に突出する
円板状の光拡散体６から構成されており、ノズル５の下
端部に、電子部品ＰＬ、Ｐ２を真空吸着する。
Ｂは観察装置であって、リング状の光源１１と、この光
＃１１の下方に設けられたカメラ１２と、この光＃１１
の内方に設けられた円筒状のシャッター１３から構成さ
れている。シャッター１３の側部にはナフト１４が装着
されている。１５はこのナフト１４に螺合する垂直な送
りねし、１６はモータである。したがってモータ１６が
駆動すると、シャッター１３は上下動し、光源１１から
光拡散体６へ向って照射された光を部分的に遮光するこ
とにより、光拡散体６に対する光の照射位置を変更する
。
＃１１の下方に設けられたカメラ１２と、この光＃１１
の内方に設けられた円筒状のシャッター１３から構成さ
れている。シャッター１３の側部にはナフト１４が装着
されている。１５はこのナフト１４に螺合する垂直な送
りねし、１６はモータである。したがってモータ１６が
駆動すると、シャッター１３は上下動し、光源１１から
光拡散体６へ向って照射された光を部分的に遮光するこ
とにより、光拡散体６に対する光の照射位置を変更する
。
第１図（ａ）は、小形の電子部品Ｐ１を観察するために
、シャッター１３を下降させている。
、シャッター１３を下降させている。
この状態で、光源１１から照射された光は、シャッター
１３に遮られることなく、光拡散体６の内方位置イに照
射され、その反射光は、電子部品Ｐ１の側縁部を通って
、カメラ１２に入射し、そのシルエットを明瞭に観察で
きる。
１３に遮られることなく、光拡散体６の内方位置イに照
射され、その反射光は、電子部品Ｐ１の側縁部を通って
、カメラ１２に入射し、そのシルエットを明瞭に観察で
きる。
また第１図（ｂ）は、大形の電子部品Ｐ２を観察するた
めに、シャッター１３を上昇させている。この状態で、
光＃１１から照射された光は、シャッター１３に部分的
に遮られて、光拡散体６の外方位置口に照射され、その
反射光は、電子部品Ｐ２の側縁部を通って、カメラ１２
に入射するので、そのシルエットを明瞭に観察できる。
めに、シャッター１３を上昇させている。この状態で、
光＃１１から照射された光は、シャッター１３に部分的
に遮られて、光拡散体６の外方位置口に照射され、その
反射光は、電子部品Ｐ２の側縁部を通って、カメラ１２
に入射するので、そのシルエットを明瞭に観察できる。
このように、光拡散体６に対する光の照射位置を変更す
る照射位置変更手段であるシャッター１３やその昇降手
段１４，１５．１６を設けることにより、大小様々の電
子部品を明瞭に観察できる。
る照射位置変更手段であるシャッター１３やその昇降手
段１４，１５．１６を設けることにより、大小様々の電
子部品を明瞭に観察できる。
（実施例２）
第２図において、上記ナフト１４は光源１１に装着され
ており、モータ１６が駆動すると、光源１１は上下動す
る。したがって同図（ａ）に示すように、小形の電子部
品Ｐ１を観察する場合は、光源１１を下降させることに
より、光源１１から照射された光を、光拡散体６の内方
位置イに入射させ、また同図（ｂ）に示すように、大形
の電子部品Ｐ２を観察する場合は、光源１１を上昇させ
ることにより、外方位置口に入射させる。
ており、モータ１６が駆動すると、光源１１は上下動す
る。したがって同図（ａ）に示すように、小形の電子部
品Ｐ１を観察する場合は、光源１１を下降させることに
より、光源１１から照射された光を、光拡散体６の内方
位置イに入射させ、また同図（ｂ）に示すように、大形
の電子部品Ｐ２を観察する場合は、光源１１を上昇させ
ることにより、外方位置口に入射させる。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、ノズルの基端部側に設け
られた光拡散体へ向って光を照射する光源と、この光拡
散体で反射された光を受光するカメラと、この光源から
光拡散体に対する光の照射位置を変更する照射位置変更
手段とから電子部品の観察装置を構成しているので、寸
法が異る大小様々の電子部品のシルエットを明瞭に観察
することができる。
られた光拡散体へ向って光を照射する光源と、この光拡
散体で反射された光を受光するカメラと、この光源から
光拡散体に対する光の照射位置を変更する照射位置変更
手段とから電子部品の観察装置を構成しているので、寸
法が異る大小様々の電子部品のシルエットを明瞭に観察
することができる。
１１・・・光源
１２・・・カメラ
１３〜１
照射位置変更手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 移載ヘッドのノズルに吸着された電子部品の観察装置
であって、 上記ノズルの基端部側に設けられた光拡散体へ向って光
を照射する光源と、この光拡散体に反射された光を受光
するカメラと、この光源から光拡散体に対する光の照射
位置を変更する照射位置変更手段とから成ることを特徴
とする電子部品の観察装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2227029A JP2811938B2 (ja) | 1990-08-28 | 1990-08-28 | 電子部品の観察装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2227029A JP2811938B2 (ja) | 1990-08-28 | 1990-08-28 | 電子部品の観察装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04107992A true JPH04107992A (ja) | 1992-04-09 |
| JP2811938B2 JP2811938B2 (ja) | 1998-10-15 |
Family
ID=16854404
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2227029A Expired - Fee Related JP2811938B2 (ja) | 1990-08-28 | 1990-08-28 | 電子部品の観察装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2811938B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06334390A (ja) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 部品認識装置 |
| WO2012073730A1 (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-07 | シーシーエス株式会社 | 輪郭線検出方法及び輪郭線検出装置 |
| JP2013156222A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Waida Seisakusho:Kk | 形状測定装置、及び形状測定方法 |
| US8913773B2 (en) | 2006-01-12 | 2014-12-16 | Sony Corporation | Earphone device |
-
1990
- 1990-08-28 JP JP2227029A patent/JP2811938B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06334390A (ja) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 部品認識装置 |
| US8913773B2 (en) | 2006-01-12 | 2014-12-16 | Sony Corporation | Earphone device |
| US9491533B2 (en) | 2006-01-12 | 2016-11-08 | Sony Corporation | Earphone device |
| US9826300B2 (en) | 2006-01-12 | 2017-11-21 | Sony Corporation | Earphone device |
| US9930437B2 (en) | 2006-01-12 | 2018-03-27 | Sony Corporation | Earphone device |
| US9949007B2 (en) | 2006-01-12 | 2018-04-17 | Sony Corporation | Earphone device |
| US9961428B2 (en) | 2006-01-12 | 2018-05-01 | Sony Corporation | Earphone device |
| WO2012073730A1 (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-07 | シーシーエス株式会社 | 輪郭線検出方法及び輪郭線検出装置 |
| JP2012117943A (ja) * | 2010-12-01 | 2012-06-21 | Ccs Inc | 輪郭線検出方法及び輪郭線検出装置 |
| JP2013156222A (ja) * | 2012-01-31 | 2013-08-15 | Waida Seisakusho:Kk | 形状測定装置、及び形状測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2811938B2 (ja) | 1998-10-15 |
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Legal Events
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