JPH04108611A - 均一性に優れた多結晶体の製造方法及び装置 - Google Patents
均一性に優れた多結晶体の製造方法及び装置Info
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- JPH04108611A JPH04108611A JP22496490A JP22496490A JPH04108611A JP H04108611 A JPH04108611 A JP H04108611A JP 22496490 A JP22496490 A JP 22496490A JP 22496490 A JP22496490 A JP 22496490A JP H04108611 A JPH04108611 A JP H04108611A
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Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、添加元素を含む多結晶体を気相成長法(CV
D法)によって製造するとき、得られた多結晶体中にお
ける添加元素の均一分散性を向上させる方法及び装置に
関する。
D法)によって製造するとき、得られた多結晶体中にお
ける添加元素の均一分散性を向上させる方法及び装置に
関する。
[従来の技術]
気相成長法によって作製されたZnS Zn5e等の
多結晶体は、密度が大きく、不純物含有量が少ない高純
度のものであり、しかも構成元素が均一に分散している
。この特性を活かし、赤外線透過材料、スパッタリング
による薄膜作製用のターゲット材料等として使用されて
いる。
多結晶体は、密度が大きく、不純物含有量が少ない高純
度のものであり、しかも構成元素が均一に分散している
。この特性を活かし、赤外線透過材料、スパッタリング
による薄膜作製用のターゲット材料等として使用されて
いる。
この種の用途の一つとして、たとえばZnSにMn等の
発光センターを添加した交流電源駆動薄膜型ZnS:M
n発光素子の発光層薄膜がある。
発光センターを添加した交流電源駆動薄膜型ZnS:M
n発光素子の発光層薄膜がある。
発光層薄膜は真空蒸着法、ALE法等によっても作製さ
れているが、スパッタリングによって発光層Nuを製造
する場合、Mn又はMnSの粉末をZnS粉末と混合し
、得られた混合粉末を冷間圧縮成形してバルク化するこ
とによりターゲット材料を調製している。或いは、所定
の強度を得るため、必要に応じ圧粉体を焼結することも
ある。
れているが、スパッタリングによって発光層Nuを製造
する場合、Mn又はMnSの粉末をZnS粉末と混合し
、得られた混合粉末を冷間圧縮成形してバルク化するこ
とによりターゲット材料を調製している。或いは、所定
の強度を得るため、必要に応じ圧粉体を焼結することも
ある。
このとき、原料として使用される粉末の表面には、不純
物成分が付着・吸着されている。この不純物は、粉末原
料を十分に洗浄しても完全には除き難く、粉末表面に残
存する。そのため、予備焼成等の多数の工程によって、
残存する不純物を除去することが要求される。
物成分が付着・吸着されている。この不純物は、粉末原
料を十分に洗浄しても完全には除き難く、粉末表面に残
存する。そのため、予備焼成等の多数の工程によって、
残存する不純物を除去することが要求される。
また、これら工程を経た粉末原料から圧粉体を製造した
場合にあっても、圧粉体の密度が低く、組成が不均一に
なることが多い。このような圧粉体をターゲット材料と
して使用すると、作製した薄膜の結晶性が悪く、しかも
組成が不均一になる等の欠陥が発生する。
場合にあっても、圧粉体の密度が低く、組成が不均一に
なることが多い。このような圧粉体をターゲット材料と
して使用すると、作製した薄膜の結晶性が悪く、しかも
組成が不均一になる等の欠陥が発生する。
これらの欠陥を回避するため、熱拡散法によって第3元
素を多結晶体に添加する試みが一部で提案されている
[Jiangbo Ouyang、 Fu−Ren F
、 FanAlien J、 Bard: J、 El
ectrochem、 Sac、 1361989)
1[133]。この方法においては、気相成長法によ
って作製したZnS多結品体1金EZn及び金属Mnを
石英アンプル中に同時に真空封入し、ZnS多結晶体中
にMnを熱拡散させている。
素を多結晶体に添加する試みが一部で提案されている
[Jiangbo Ouyang、 Fu−Ren F
、 FanAlien J、 Bard: J、 El
ectrochem、 Sac、 1361989)
1[133]。この方法においては、気相成長法によ
って作製したZnS多結品体1金EZn及び金属Mnを
石英アンプル中に同時に真空封入し、ZnS多結晶体中
にMnを熱拡散させている。
[発明が解決しようとする課題]
熱拡散によって所望の元素を多結晶体中に添加するとき
、添加元素を多結晶体に均質に拡散させるため、長い熱
処理時間が必要となる。この熱処理時間は、結晶の厚み
が大きくなるに従って、層長期化する。その結果、多結
晶体が脆化する問題が生じる。
、添加元素を多結晶体に均質に拡散させるため、長い熱
処理時間が必要となる。この熱処理時間は、結晶の厚み
が大きくなるに従って、層長期化する。その結果、多結
晶体が脆化する問題が生じる。
また、成長方向である多結晶体の厚み方向に関して高精
度の均一組成分布で添加元素を拡散させることは極めて
困難であり、そのために複雑な熱処理条件の管理が必要
となる。
度の均一組成分布で添加元素を拡散させることは極めて
困難であり、そのために複雑な熱処理条件の管理が必要
となる。
このようなことから、気相成長法により作製したZnS
、Zn5e等の多結晶体において、発光センター等の目
的で添加元素を均一に含んだ結晶は、これまでのところ
工業的に製造することが困難であった。そのため、気相
成長法で作製した多結晶体が種々の有用な特性を備えて
いるにも拘らず、その応用が十分に展開されていないの
が現状である。
、Zn5e等の多結晶体において、発光センター等の目
的で添加元素を均一に含んだ結晶は、これまでのところ
工業的に製造することが困難であった。そのため、気相
成長法で作製した多結晶体が種々の有用な特性を備えて
いるにも拘らず、その応用が十分に展開されていないの
が現状である。
そこで、本発明は、このような問題を解消するために案
出されたものであり、添加元素或いはその化合物を気相
で主原料ガスと共に気相反応系に導入することによって
、結晶体内部に添加元素が均一に分散された多結晶体を
製造することを目的とする。
出されたものであり、添加元素或いはその化合物を気相
で主原料ガスと共に気相反応系に導入することによって
、結晶体内部に添加元素が均一に分散された多結晶体を
製造することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明の多結晶体製造方法は、この目的を達成するため
、多結晶体に添加される元素或いはその元素を含む化合
物を気相として、主原料ガスと同時に気相成長反応域に
導入し、前記多結晶体を構成する成分を生成する主反応
と同時に前記添加元素の析出反応を行うことを特徴とす
る。
、多結晶体に添加される元素或いはその元素を含む化合
物を気相として、主原料ガスと同時に気相成長反応域に
導入し、前記多結晶体を構成する成分を生成する主反応
と同時に前記添加元素の析出反応を行うことを特徴とす
る。
更に、得られた多結晶体を、該多結晶体の主成分及び添
加元素を含んだ雰囲気下で拡散熱処理するとき、多結晶
体中における添加元素の均一分散性が一層向上する。
加元素を含んだ雰囲気下で拡散熱処理するとき、多結晶
体中における添加元素の均一分散性が一層向上する。
また、この方法を実施するための装置は、多結晶体の主
成分となる原料を収容した蒸発容器が配置された第1の
加熱帯と、多結晶体に対する添加元素のソースとなる原
料を収容した蒸発容器が配置された第2の加熱帯と、各
蒸発容器から送られてきた蒸気を気相反応させ、反応生
成物を基板に析出させる第3の加熱帯を備えており、第
1〜第3の加熱帯がそれぞれ独立した加熱手段で加熱さ
れ、加熱によって蒸発した原料ガスを、それぞれ独立し
た経路で第3の加熱帯に吐出するように、各蒸発容器を
経て前記基板の近傍まで延びたガス供給管を設けている
ことを特徴とする。
成分となる原料を収容した蒸発容器が配置された第1の
加熱帯と、多結晶体に対する添加元素のソースとなる原
料を収容した蒸発容器が配置された第2の加熱帯と、各
蒸発容器から送られてきた蒸気を気相反応させ、反応生
成物を基板に析出させる第3の加熱帯を備えており、第
1〜第3の加熱帯がそれぞれ独立した加熱手段で加熱さ
れ、加熱によって蒸発した原料ガスを、それぞれ独立し
た経路で第3の加熱帯に吐出するように、各蒸発容器を
経て前記基板の近傍まで延びたガス供給管を設けている
ことを特徴とする。
[作 用]
気相成長法によってバルク多結晶体を作製するとき、時
間的及び経済的な重点から可能な限りの高速合成が必要
とされる。他方、得られる多結晶体の緻密性等の結晶性
に重点をおくと、可能な限りの緩慢な合成速度が必要と
される。この相反する二つの必要性を満足するように、
拡散律速成いは供給律速反応の中で反応条件等の多結晶
体作製条件が設定される。
間的及び経済的な重点から可能な限りの高速合成が必要
とされる。他方、得られる多結晶体の緻密性等の結晶性
に重点をおくと、可能な限りの緩慢な合成速度が必要と
される。この相反する二つの必要性を満足するように、
拡散律速成いは供給律速反応の中で反応条件等の多結晶
体作製条件が設定される。
ところで、気相成長法において複数の原料ガスを反応域
に導入するとき、結晶析出反応に関与する主な化学反応
が複数存在する。そして、個々の化学反応は、互いに反
応速度を異にする。この反応速度の相違に起因して、原
料ガスの流れ方向に関して添加元素の濃度が不均一にな
り易い。たとえば、反応性が高い原料ガスは、早い段階
で析出反応を生じ、原料ガス流れ方向に沿って濃度を低
下させる。他方、低い反応性をもった原料ガスでは、析
出反応が遅く、原料ガスの流れ方向に沿った濃度低下も
緩慢になる。その結果、複数の主な化学反応が結晶析出
に関与する拡散律速下の気相成長においては、結晶析出
部への原料ガスの導入方法、結晶析出部での原料ガスの
混合状態等が析出した結晶体の特性に大きな影響を与え
る。
に導入するとき、結晶析出反応に関与する主な化学反応
が複数存在する。そして、個々の化学反応は、互いに反
応速度を異にする。この反応速度の相違に起因して、原
料ガスの流れ方向に関して添加元素の濃度が不均一にな
り易い。たとえば、反応性が高い原料ガスは、早い段階
で析出反応を生じ、原料ガス流れ方向に沿って濃度を低
下させる。他方、低い反応性をもった原料ガスでは、析
出反応が遅く、原料ガスの流れ方向に沿った濃度低下も
緩慢になる。その結果、複数の主な化学反応が結晶析出
に関与する拡散律速下の気相成長においては、結晶析出
部への原料ガスの導入方法、結晶析出部での原料ガスの
混合状態等が析出した結晶体の特性に大きな影響を与え
る。
しかし、同じ位置に析出した結晶では、同じ濃度の原料
ガスからの析出反応によって生じたものであるから、結
晶内に取り込まれる添加元素が同一組成となる。したが
って、結晶成長方向に関して添加元素が均一に分布した
多結晶体が製造される。得られた多結晶体は、その使用
サイズによっては、原料ガスの流れ方向に関しても十分
に均一な濃度分布で添加元素が分散したものとして扱う
ことができる。
ガスからの析出反応によって生じたものであるから、結
晶内に取り込まれる添加元素が同一組成となる。したが
って、結晶成長方向に関して添加元素が均一に分布した
多結晶体が製造される。得られた多結晶体は、その使用
サイズによっては、原料ガスの流れ方向に関しても十分
に均一な濃度分布で添加元素が分散したものとして扱う
ことができる。
また、気相成長法によって作製した多結晶体と共に第3
元素を石英アンプル中に真空封入して、熱拡散によって
第3元素を多結晶体に添加する従来の方法では、第3元
素が多結晶体中に十分に拡散するまでに相当の時間が必
要である。これに対し、本発明に従って作製した多結晶
体は、予め第3元素を結晶体内部に含んでいるため、熱
処理時間を大幅に短縮することができる。しかも、添加
元素の拡散が円滑に行われる。
元素を石英アンプル中に真空封入して、熱拡散によって
第3元素を多結晶体に添加する従来の方法では、第3元
素が多結晶体中に十分に拡散するまでに相当の時間が必
要である。これに対し、本発明に従って作製した多結晶
体は、予め第3元素を結晶体内部に含んでいるため、熱
処理時間を大幅に短縮することができる。しかも、添加
元素の拡散が円滑に行われる。
しかも、主原料を蒸発させる加熱帯と添加元素のソース
を蒸発させる加熱帯がそれぞれ独立して加熱制御される
ため、多結晶体及び添加元素の種類に応じた加熱・蒸発
条件の設定を自由に行うことができる。そして、蒸発し
た主原料や添加元素のソース等は、搬送の途中で変質・
消耗されることなく、そのままの成分・組成で析出反応
域まで送られるため、気相成長反応に効率よく消費され
る。
を蒸発させる加熱帯がそれぞれ独立して加熱制御される
ため、多結晶体及び添加元素の種類に応じた加熱・蒸発
条件の設定を自由に行うことができる。そして、蒸発し
た主原料や添加元素のソース等は、搬送の途中で変質・
消耗されることなく、そのままの成分・組成で析出反応
域まで送られるため、気相成長反応に効率よく消費され
る。
この拡散熱処理により、原料ガスの流れ方向においても
、添加元素の濃度の均一化が進行する。
、添加元素の濃度の均一化が進行する。
そのため、目的とする元素が結晶全体にわたり均一に分
布した多結晶体が作製される。
布した多結晶体が作製される。
[実施例]
以下、実施例によって、本発明を具体的に説明する。
裏胤奥ユニ
本実施例においては、第1図に概略を示した設備構成を
もつ反応装置を使用した。
もつ反応装置を使用した。
この反応装置は、外熱式抵抗加熱炉10−12を備えて
いる。これら抵抗加熱炉10〜12は、内部が軸方向に
連通した空間をもっている。そして、この内部空間に、
抵抗加熱炉10〜12を貫通して石英反応管20を配置
した。抵抗加熱炉10〜12により、石英反応管20の
内部に三つの加熱帯13〜15が形成される。
いる。これら抵抗加熱炉10〜12は、内部が軸方向に
連通した空間をもっている。そして、この内部空間に、
抵抗加熱炉10〜12を貫通して石英反応管20を配置
した。抵抗加熱炉10〜12により、石英反応管20の
内部に三つの加熱帯13〜15が形成される。
析出用基板30としては、縦270mm、横30mm、
厚み2mmのガラス状カーボンを4枚組合せた正方形断
面をもった筒状体を使用した。この析出用基板30を、
石英反応管20内で、抵抗加熱炉12により形成される
加熱帯15に配置した。
厚み2mmのガラス状カーボンを4枚組合せた正方形断
面をもった筒状体を使用した。この析出用基板30を、
石英反応管20内で、抵抗加熱炉12により形成される
加熱帯15に配置した。
石英反応管20の内部には、管軸方向にZn供給管40
.MnCl22供給管50及びH,S供給管60を配置
した。
.MnCl22供給管50及びH,S供給管60を配置
した。
抵抗加熱炉10により形成される加熱帯13の位置で、
有底円筒状の原料Zn容器41がZn供給管40の途中
に設けられている。被蒸発材料としての原料Zn42は
、容器41に装入され、抵抗加熱炉10からの輻射熱に
よって加熱される。
有底円筒状の原料Zn容器41がZn供給管40の途中
に設けられている。被蒸発材料としての原料Zn42は
、容器41に装入され、抵抗加熱炉10からの輻射熱に
よって加熱される。
Zn蒸気供給管40の上流側からArがキャリアガスと
して送り込まれる。Arガスは、加熱によって原料Zn
42から蒸発したZn蒸気と混合され、A r + Z
n a合ガスとして析出用基板30に向けて吐出され
る。
して送り込まれる。Arガスは、加熱によって原料Zn
42から蒸発したZn蒸気と混合され、A r + Z
n a合ガスとして析出用基板30に向けて吐出され
る。
MnCβ2供給管50にも、抵抗加熱炉11で形成され
る加熱帯14の位置で、同様に有底円筒状のMnCρ2
容器51が設けられている。容器51には、第3元素と
して多結晶体に添加されるMn源であるMnCρ252
が充填されている。
る加熱帯14の位置で、同様に有底円筒状のMnCρ2
容器51が設けられている。容器51には、第3元素と
して多結晶体に添加されるMn源であるMnCρ252
が充填されている。
MnCl2−52は、抵抗加熱炉11からの輻射熱によ
って加熱・気化し、供給管50の上流側から送られてく
るArガスと混合された後、Ar+MnCρ2混合ガス
として加熱帯15にある析出用基板30に向けて吐出さ
れる。
って加熱・気化し、供給管50の上流側から送られてく
るArガスと混合された後、Ar+MnCρ2混合ガス
として加熱帯15にある析出用基板30に向けて吐出さ
れる。
また、Has供給管60からは、A r + H2S混
合ガスが析出用基板30に向けて吐出される。
合ガスが析出用基板30に向けて吐出される。
この反応装置を使用して、Mnを添加したZnS多結晶
体70を次の条件下で析出用基板3oの内面に析出させ
た。
体70を次の条件下で析出用基板3oの内面に析出させ
た。
石英反応管20の内部を、圧力50トールの減圧雰囲気
に維持した。また、加熱帯13を590℃に、加熱帯1
4を610℃に、加熱帯15を700℃にそれぞれ保持
した。なお、本実施例においては、Zn蒸気の蒸発温度
がM n C20の蒸発温度よりも低いために、加熱帯
13に原料Zn容器41を配置し、加熱帯14にMnC
J2z容器51を配置し、加熱帯13から加熱帯15に
向けて高(なる温度勾配を採用している。しかし、結晶
体の主原料及び添加元素の種類如何によっては、主原料
を蒸発させる温度よりも、添加元素ソースを蒸発させる
温度の方が低い場合もある。このような場合、加熱帯1
3に添加元素容器51を配置し、加熱帯14に主原料容
器41を配置することにより、加熱帯15に向けて高(
なる温度勾配を設定する。
に維持した。また、加熱帯13を590℃に、加熱帯1
4を610℃に、加熱帯15を700℃にそれぞれ保持
した。なお、本実施例においては、Zn蒸気の蒸発温度
がM n C20の蒸発温度よりも低いために、加熱帯
13に原料Zn容器41を配置し、加熱帯14にMnC
J2z容器51を配置し、加熱帯13から加熱帯15に
向けて高(なる温度勾配を採用している。しかし、結晶
体の主原料及び添加元素の種類如何によっては、主原料
を蒸発させる温度よりも、添加元素ソースを蒸発させる
温度の方が低い場合もある。このような場合、加熱帯1
3に添加元素容器51を配置し、加熱帯14に主原料容
器41を配置することにより、加熱帯15に向けて高(
なる温度勾配を設定する。
加熱帯13で加熱された原料Zn42からZn蒸気が発
生する。このZn蒸気は、−船釣に加熱温度が高くなる
ほど盛んに発生する。そこで、原料Zn42の加熱温度
及びZn供給管40の上流側から導入されるArガスの
流量を調節することによって、析出用基板30に吐出さ
れるAr+Zni合ガスのZn蒸気含有量を制御するこ
とができる。
生する。このZn蒸気は、−船釣に加熱温度が高くなる
ほど盛んに発生する。そこで、原料Zn42の加熱温度
及びZn供給管40の上流側から導入されるArガスの
流量を調節することによって、析出用基板30に吐出さ
れるAr+Zni合ガスのZn蒸気含有量を制御するこ
とができる。
このようにしてAr+Znfi合ガスを、Zn蒸気供給
管40から流量0.4NJ/分で加熱帯15に吐出させ
た。また、同様にA r + M n C12z混合ガ
スを、MnCβ2供給管50から流量0゜3Nβ/分で
吐出させた。また、A r + Hx S混合ガスは、
His供給管60から流量0.2Nβ/分で供給した。
管40から流量0.4NJ/分で加熱帯15に吐出させ
た。また、同様にA r + M n C12z混合ガ
スを、MnCβ2供給管50から流量0゜3Nβ/分で
吐出させた。また、A r + Hx S混合ガスは、
His供給管60から流量0.2Nβ/分で供給した。
更に、石英反応管20本体を経由して、流量0.5Nj
2/分でArガスを析出用基板30に向けて加熱帯15
に吐出させた。そして、これらガスの供給を、同一条件
下で12時間継続した。
2/分でArガスを析出用基板30に向けて加熱帯15
に吐出させた。そして、これらガスの供給を、同一条件
下で12時間継続した。
加熱帯15に導入された各混合ガスは、気相反応によっ
てZnS及びMnを生成し、Mnが添加されたZnSを
基板30に析出させた。
てZnS及びMnを生成し、Mnが添加されたZnSを
基板30に析出させた。
得られたZnS多結晶体70は、厚さ約5mmで、基板
30の内面全域にわたり均一に析出していた。
30の内面全域にわたり均一に析出していた。
ガス供給管40,50.60の吐出口から50mm及び
80mm離れた位置に析出した多結晶体を切り取り、多
結晶体の厚み方向、すなわち結晶成長方向に沿ってMn
含有量を測定した。第2図は、その測定結果を示すグラ
フである。
80mm離れた位置に析出した多結晶体を切り取り、多
結晶体の厚み方向、すなわち結晶成長方向に沿ってMn
含有量を測定した。第2図は、その測定結果を示すグラ
フである。
第2図から明らかなように、ガス供給管40゜50.6
0の吐出口から50mm1Iれな位置に析出した多結晶
体には、平均2.0重量%のMnが含まれていた。この
Mn含有量は結晶の成長方向に関して大きくばらつくこ
とがなく、Mnが多結晶体中に均一に分布していること
が判かる。このときの結晶成長方向に関するMn含有量
のバラツキは、±0.1重量%であった。
0の吐出口から50mm1Iれな位置に析出した多結晶
体には、平均2.0重量%のMnが含まれていた。この
Mn含有量は結晶の成長方向に関して大きくばらつくこ
とがなく、Mnが多結晶体中に均一に分布していること
が判かる。このときの結晶成長方向に関するMn含有量
のバラツキは、±0.1重量%であった。
また、ガス吐出口から80mm離れた位置に析出した多
結晶体には、平均1.0重量%のMnが含まれていた。
結晶体には、平均1.0重量%のMnが含まれていた。
この位置においても、結晶成長方向に関するMn含有量
のバラツキが±0.1重量%と小さく、Mnが多結晶体
中に均一に分布している。
のバラツキが±0.1重量%と小さく、Mnが多結晶体
中に均一に分布している。
火急型l:
実施例1で得られたMn添加ZnS多結晶体のうち、ガ
ス吐出口から50mm及び80mmWMれた位置に析出
した多結晶体を切り出し、厚さが5mmで一辺が30m
mの正方形板状の試験片を得た。この試験片の厚さが3
mmになるまで、正方形両面を研磨した。
ス吐出口から50mm及び80mmWMれた位置に析出
した多結晶体を切り出し、厚さが5mmで一辺が30m
mの正方形板状の試験片を得た。この試験片の厚さが3
mmになるまで、正方形両面を研磨した。
研磨された試験片を、金属Zn及び金属Mnと共に内径
40 m m +長さ80mmの石英アンプル内に同時
に真空封入した。このとき、封入された金属Znと金j
): M nとの割合を、重量比でZn:Mn=98.
5 : 1.5に設定した。そして、アンプル内部を、
1000℃に10時間加熱保持した。
40 m m +長さ80mmの石英アンプル内に同時
に真空封入した。このとき、封入された金属Znと金j
): M nとの割合を、重量比でZn:Mn=98.
5 : 1.5に設定した。そして、アンプル内部を、
1000℃に10時間加熱保持した。
なお、比較のため、M n C122原料を使用したM
n添加部を除き、他は実施例1と同一の条件で作製した
ZnS多結晶体についても、同一形状に加工した後、同
じ熱処理を施した。
n添加部を除き、他は実施例1と同一の条件で作製した
ZnS多結晶体についても、同一形状に加工した後、同
じ熱処理を施した。
熱処理後の多結晶体の厚み方向に沿ってMn含有量を測
定した。測定結果を、第3図に示す。
定した。測定結果を、第3図に示す。
第3図から明らかなように、ガス吐出口から50mm1
ifれな位置に析出した多結晶体に含まれていたMnは
、熱処理前に平均2.0重量%の含有量であったものが
、熱処理後に平均1.6重量%に低下している。しかし
、厚み方向に関するMn含有量のバラツキは、熱処理前
の±0.1重量%から熱処理後に±0.05重量%と減
少し、Mn分布の均一化が図られている。
ifれな位置に析出した多結晶体に含まれていたMnは
、熱処理前に平均2.0重量%の含有量であったものが
、熱処理後に平均1.6重量%に低下している。しかし
、厚み方向に関するMn含有量のバラツキは、熱処理前
の±0.1重量%から熱処理後に±0.05重量%と減
少し、Mn分布の均一化が図られている。
ガス吐出口から80mm離れた位置に析出した多結晶体
のMn含有量は、熱処理前に平均1.0重量%の含有量
であったものが、熱処理後に平均1.4重量%に増加し
ている。また、厚み方向に関するMn含有量のバラツキ
も、熱処理前の±0.1重量%から熱処理後に±0.0
5重量%と極めて小さく、実質的に均一な分布でMnが
分布していることが判かる。
のMn含有量は、熱処理前に平均1.0重量%の含有量
であったものが、熱処理後に平均1.4重量%に増加し
ている。また、厚み方向に関するMn含有量のバラツキ
も、熱処理前の±0.1重量%から熱処理後に±0.0
5重量%と極めて小さく、実質的に均一な分布でMnが
分布していることが判かる。
また、ガス吐出口から50mm及び80mm離れた位置
に析出した多結晶体のMn含有量を比較するとき、熱処
理前では約1.0重量%あったMn含有量の差が、熱処
理後に約0.2重量%に低減されている。したがって、
気相成長時に原料ガスの流れ方向に関する析出位置に応
じて生じたMnの濃度差が熱処理によって抑えられ、原
料ガスの流れ方向に関しても添加したMnが多結晶体中
に均一分散していることが判かる。
に析出した多結晶体のMn含有量を比較するとき、熱処
理前では約1.0重量%あったMn含有量の差が、熱処
理後に約0.2重量%に低減されている。したがって、
気相成長時に原料ガスの流れ方向に関する析出位置に応
じて生じたMnの濃度差が熱処理によって抑えられ、原
料ガスの流れ方向に関しても添加したMnが多結晶体中
に均一分散していることが判かる。
これに対して、比較例では、熱拡散によって結晶内部に
Mnが拡散されているものの、表面近傍ではMn含有量
が1.2重量%と高く、厚み方向中央部では0.8重量
%と低いものであった。そして、結晶成長方向に関する
Mn濃度差は、最大0.4重量%であった。このように
、熱拡散によりMnを添加するとき、添加されたMnは
、結晶内部に不均一に分布するものとなる。
Mnが拡散されているものの、表面近傍ではMn含有量
が1.2重量%と高く、厚み方向中央部では0.8重量
%と低いものであった。そして、結晶成長方向に関する
Mn濃度差は、最大0.4重量%であった。このように
、熱拡散によりMnを添加するとき、添加されたMnは
、結晶内部に不均一に分布するものとなる。
この対比から明らかなように、気相成長時にMnを同時
添加し、且つZnS多結晶体と金属Zn及び金属Mnを
同時に真空封入して熱処理する方法を組み合わせること
により、結晶成長方向は勿論のこと、原料ガスの流れ方
向においてもMnを均一に含んだ多結晶体を製造するこ
とができた。
添加し、且つZnS多結晶体と金属Zn及び金属Mnを
同時に真空封入して熱処理する方法を組み合わせること
により、結晶成長方向は勿論のこと、原料ガスの流れ方
向においてもMnを均一に含んだ多結晶体を製造するこ
とができた。
このことは、結晶全体においてMnが均一に分布したZ
nS多結晶体が作製されていることを示すものである。
nS多結晶体が作製されていることを示すものである。
なお、以上の例においては、Mnを添加した2nSを気
相成長により作製することを説明した。
相成長により作製することを説明した。
しかし、本発明は、これに拘束されるものではなく、C
u、Ag、Eu、Tb、Ta等を添加したZnS、Zn
5e、CdSや、Ar1.Ga、In等を添加したZn
S、Zn5e等の他の多結晶体の製造についても同様に
適用できるものである。
u、Ag、Eu、Tb、Ta等を添加したZnS、Zn
5e、CdSや、Ar1.Ga、In等を添加したZn
S、Zn5e等の他の多結晶体の製造についても同様に
適用できるものである。
また、添加される元素は、その種類に応じて元素自体の
蒸気9元素を含む化合物の蒸気、化合物を加熱して生成
した蒸気等として気相成長の反応域に導入される。
蒸気9元素を含む化合物の蒸気、化合物を加熱して生成
した蒸気等として気相成長の反応域に導入される。
[発明の効果]
以上に説明したように、本発明においては、添加しよう
とする元素又はその元素を含む化合物を気相で、主原料
ガスと共に気相成長の反応域に送り込むことにより、結
晶成長方向に関して添加元素が均一に分布した多結晶体
が得られる。更に、得られた多結晶体を、主構成元素と
添加元素を配合した金属と共に真空雰囲気下で熱処理す
ることによって、結晶作製時の原料ガス流れ方向に関し
ても添加元素の分布が均一化される。
とする元素又はその元素を含む化合物を気相で、主原料
ガスと共に気相成長の反応域に送り込むことにより、結
晶成長方向に関して添加元素が均一に分布した多結晶体
が得られる。更に、得られた多結晶体を、主構成元素と
添加元素を配合した金属と共に真空雰囲気下で熱処理す
ることによって、結晶作製時の原料ガス流れ方向に関し
ても添加元素の分布が均一化される。
このようにして、均一な分布で第3元素が添加された多
結晶体は、高品質のターゲット材料として使用される。
結晶体は、高品質のターゲット材料として使用される。
また、信頼性の高い赤外線透過材料、バルク状発光材料
、薄膜形成用析出基板等の機能材料として使用すること
もできる。
、薄膜形成用析出基板等の機能材料として使用すること
もできる。
第1図は本発明実施例で使用した反応装置の梃略を示し
、第2図は実施例1で得られた多結晶体の厚み方向に関
するMn含有量の変化を表わしたグラフ、第3図はその
多結晶体に更に拡散熱処理を施したときの厚み方向に関
するMn含有量の変化を比較例と共に表わしたグラフで
ある。 結晶の曜さ方向位置(mm) 結晶の厚さ方向位置(mm)
、第2図は実施例1で得られた多結晶体の厚み方向に関
するMn含有量の変化を表わしたグラフ、第3図はその
多結晶体に更に拡散熱処理を施したときの厚み方向に関
するMn含有量の変化を比較例と共に表わしたグラフで
ある。 結晶の曜さ方向位置(mm) 結晶の厚さ方向位置(mm)
Claims (3)
- (1)多結晶体に添加される元素或いはその元素を含む
化合物を気相として、主原料ガスと同時に気相成長反応
域に導入し、前記多結晶体を構成する成分を生成する主
反応と同時に前記添加元素の析出反応を行うことを特徴
とする均一性に優れた多結晶体の製造方法。 - (2)請求項1で得られた多結晶体を、該多結晶体の主
成分及び添加元素を含んだ雰囲気下で拡散熱処理するこ
とを特徴とする均一性に優れた多結晶体の製造方法。 - (3)多結晶体の主成分となる原料を収容した蒸発容器
が配置された第1の加熱帯と、前記多結晶体に対する添
加元素のソースとなる原料を収容した蒸発容器が配置さ
れた第2の加熱帯と、前記各蒸発容器から送られてきた
蒸気を気相反応させ、反応生成物を基板に析出させる第
3の加熱帯を備えており、前記第1〜第3の加熱帯がそ
れぞれ独立した加熱手段で加熱され、加熱によって蒸発
した原料ガスを、それぞれ独立した経路で前記第3の加
熱帯に吐出するように、前記各蒸発容器を経て前記基板
の近傍まで延びたガス供給管を設けていることを特徴と
する多結晶体の製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22496490A JPH04108611A (ja) | 1990-08-27 | 1990-08-27 | 均一性に優れた多結晶体の製造方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22496490A JPH04108611A (ja) | 1990-08-27 | 1990-08-27 | 均一性に優れた多結晶体の製造方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04108611A true JPH04108611A (ja) | 1992-04-09 |
Family
ID=16821967
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22496490A Pending JPH04108611A (ja) | 1990-08-27 | 1990-08-27 | 均一性に優れた多結晶体の製造方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04108611A (ja) |
-
1990
- 1990-08-27 JP JP22496490A patent/JPH04108611A/ja active Pending
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