JPH04113684A - 高感度ホール素子 - Google Patents
高感度ホール素子Info
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- JPH04113684A JPH04113684A JP2232337A JP23233790A JPH04113684A JP H04113684 A JPH04113684 A JP H04113684A JP 2232337 A JP2232337 A JP 2232337A JP 23233790 A JP23233790 A JP 23233790A JP H04113684 A JPH04113684 A JP H04113684A
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Abstract
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Description
小型ホール素子に於いて、強磁性材料を用いて磁気増幅
を行うことで高感度化をはかった小型高感度ホール素子
に関するものである。
ようにホール素子を形成する基板の裏面に強磁性材料を
接着する方法、第5図に示すようにホール素子感磁部の
表面に強磁性材料よりなる磁気増幅チップを配置する方
法、第6図に示すようにホール素子感磁部の表面に強磁
性材料の粉体を混入した樹脂をポツティングする方法な
どが行われている。また、より大きな磁気増幅効果を得
るために基板側に強磁性材料を配置する前記第1の方法
とホール素子感磁部の表面に強磁性材料を配置する前記
第2および第3の方法を組み合わせることも良く行われ
ている。
トダウン等のために小さくなると、素子組立上の機械的
精度のため対応できず、特にホール素子ペレットサイズ
が0.50m角以上の場合、ホール素子感磁部の表面に
量産的に磁気増幅チップを配置することは不可能である
。また前記第3の方法では、樹脂の存在によりチップを
配置した場合のような充分な磁気増幅効果を得ることは
不可能である。
場合、ホール素子感磁部の表面に磁気増幅チップを配置
すると電極、ボンディングワイヤ等との電気的絶縁の問
題があり、ホール素子の信較性を低下させる原因となっ
ていた。
効果により高感度特性を持ち、かつ量産性のある信顧性
の高い小型のホール素子を提供することにある。
m角以下の小型ホール素子に於いて、ホール素子感磁部
上に従来組立上精度のために不可能であった磁気増幅チ
ップを量産的に精度良く形成することを可能にしたもの
であり、かつ絶縁不良等に起因するトラブルを防止し、
信転性を大幅に向上させたものである。
ール素子基板と磁気増幅効果を得るために絶縁保護膜を
介して前記感磁部上に接着された金属磁性材料と前記金
属磁性材料上面に形成された絶縁保護膜よりなる。本発
明で用いられる金属磁性材料は残留磁化の小さい、透磁
率の高い材料なら何でも良いが、パーマロイは特に好ま
しい。
属磁性材料とホール素子の間の絶縁保護膜は絶縁がはか
れるものなら何でも良いが、有機物絶縁膜は良く、ポリ
イミド樹脂、シリコン樹脂などは特に好ましい。更に前
記金属磁性材料とホール素子の間の接着剤として有機物
接着剤を用いることにより絶縁保護膜としても良い。
保護膜は前記金属磁性材料とホール素子の接着面にあれ
ば良いが、感光性ポリイミド樹脂、感光性シリコン樹脂
等を用いて予めホール素子パターン表面の電極部以外の
部分に形成しておくことは特に好ましい。
縁がはかれるものなら何でも良いが、有機物絶縁膜が良
く、ポリイミド樹脂、シリコン樹脂などは特に好ましい
。上面だけでなく、側面まで絶縁保護膜で被うことは特
に好ましい。またワイヤポンディング後にホール素子上
面にシリコン樹脂等のポツティングを行い、ホール素子
パターン、金属磁性材料、ボンディングワイヤを被うこ
とで、絶縁をはかっても良い。
形成される金属磁性材料よりなる磁気増幅チップは以下
のような方法で形成される。
れた基板の表面に、第2図(b)に示すごとく予め接着
面に絶縁層としてポリイミド樹脂層が形成された金属磁
性材料よりなる薄板を接着した後、第2図(C)に示す
ごとく前記基板表面のホール素子パターンに合わせて前
記薄板の表面にフォトリソにより磁気増幅チップパター
ンのレジストを形成する0次いでダイシングソーを用い
て前記薄板を第2図(d)のごとく磁気増幅チップ形状
に半切断する。続いて第2図(e)に示すごとく前記レ
ジストをマスクとして前記薄板をエツチングすることに
より磁気増幅チップに分離する。
断し、ダイポンド、ワイヤボンド、モールドをすること
で、第1図に示すごとくホール素子感磁部の表面に磁気
増幅チップを精度良く配置し、かつ磁気増幅チップの上
面及び接着面に絶縁層の形成された小型のホール素子を
作製することができる。
による半切新技術を基本とし、フォトリソエツチング技
術を用いて個別に分離された磁気増幅チップを形成する
もので、従来不可能であった小型のホール素子(ペレッ
トサイズが0.50mn角以下1においても、ウェハー
単位で大面積にわたり、−度に精度良く磁気増幅チップ
を形成することを可能としたものである。
ル素子(ペレットサイズが0.50mm角以下1におい
ても、ホール素子感磁部の表面に量産的に磁気増幅チッ
プを配置することかを可能としたものであり、従来の素
子組立上の機械的精度に比べて磁気増幅チップの形成精
度を飛躍的に向上させることができることから、高感度
でかつ感度ばらつきが少ないという特徴を持ち、かつ高
い信鯨性を有する。
2インチのGaAs基板を12枚セットしたホルダーを
基板導入室より準備室を通して大型の分子線エピタキシ
ー装置の超高真空である成長室ヘセットした。この基板
ホルダーを水平回転させるとともにGaAs基板を基板
加熱ヒーターにより輻射加熱し、基板の鏡面側に対向し
て装着されているIn、 Asの蒸発源より、In、
Asを60分分間光させ、厚さ1.0μmのInAs鏡
面単結晶薄膜をGaAsの基板の鏡面側に成長させた。
面にフォトリソグラフィーの手法によりレジストパター
ンを所要の形状で形成したのち、電極となる金属層を形
成し、しかるのちレジストを除去した。次いで表面に第
2回目のレジストパターンをフォトリソグラフィーの手
法により形成した。このレジストをマスクとして、ウェ
ットエツチングにより、InAs上に形成した電極層の
一部とInAs1膜をメサエッチングした。さらに、全
面に絶縁層として厚さ0.3μm Si3N、をプラズ
マCVD法により基板加熱温度300°Cで形成した。
を形成し、電極部上のSiJ*を反応性イオンエツチン
グにより除去した。これらの工程により、1枚の基板上
に約8,500個の第2図(a)に示したような0.3
6m角のホール素子パターンを作製した。
図℃)に示すごとく予め接着面に絶縁層としてポリイミ
ド樹脂層の形成された厚さ0.2mのパーマロイ(Ni
78%)の薄板をエポキシ樹脂を用いて接着した。次
に第2図(C)のごとく前記基板表面のホール素子パタ
ーンに合わせて前記薄板の表面にフォトリソにより磁気
増幅チップパターンのレジストを形成した。続いて第2
図(d)に示すごとくダイシングソーを用いて深さ18
0 u mまで前記薄板を磁気増幅チップ形状に半切断
した。次に前記レジストをマスクとして塩化第2鉄・塩
酸系エッチャント(超純水ll:塩化第2鉄600g:
塩酸50cc)を用いて前記薄板を20分間エツチング
することにより、第2図(e)に示すごとく個別の磁気
増幅チップに分離した。次いでアッシング装置を用いて
0□ガスプラズマ中で1時間アッシングを行い、電極部
のポリイミド樹脂及びエポキシ樹脂を除去した。続いて
感光性ポリイミド樹脂をウェハー全面に塗布した後、露
光・現像を行うことにより磁気増幅チップ上面の絶縁層
を形成した。
子ペレットに切断し、自動ダイボンダーによりリード上
にこのチップをグイポンドし、次に自動ワイヤーボンダ
ーでリードとホール素子の電極部をAuワイヤーで接続
した。トランスファーモールダーによりエポキシモール
ドしたのち、このモールドされた素子のダイパーカット
、リードカットを行い、個々の樹脂モールドされた第1
図に示すごとくホール素子感磁部の表面に磁気増幅チッ
プを精度良く配置し、かつ磁気増幅チップの上面及び接
着面に絶縁層の形成された小型のホール素子を作製した
。
1表に示す、磁気増幅構造を持たない素子に比べて、磁
気増幅効果により1.6倍の高感度化を実現した。
を比較のため、従来の機械的方法で磁気増幅チップをの
せた0、 8 m角の大きなホール素子の感度ばらつき
の量と比較した。
位置等が従来の機械的精度で決まる素子に比べて厳密に
精度良く決まることから、従来磁気増幅チップを量産的
にのせることが不可能であった0、5閣角以下という小
型のホール素子ペレットサイズでありながら、得られた
素子の感度ばらつきは従来法の173程度となっている
。
にイオン注入装置を用いて、シリコンイオン(Si”)
を加速エネルギー300KeV、ドーズ量2.3×10
”/dで注入した。そして、アルシン(AsHz)雰囲
気中850°Cの温度で10秒間のラピッドアニール処
理を行い、GaAs基板の表面にn型の導電層を形成し
た。次にこのGaAs基板の表面にフォトリソグー7フ
イーの手法によりレジストパターンを所要の形状で形成
したのち、このレジストをマスクとしてウェットエツチ
ングにより、ホール素子感磁部パターンを形成したのち
レジストを除去した。次いで、全面に絶縁層として厚さ
0.3μmのSi3N。
成した。続いて、電極金属とオーム性接触を形成する部
分の5iJaをエツチングするために、表面に第2回目
のレジストパターンをフォトリソグラフィーの手法によ
り形成した。このレジストをマスクとして、ウェットエ
ツチングにより、5iJ4をエツチングした後、AuG
e、 Ni、Auを各々0.25 g 01.0.05
μta 、0.35μmの厚さで蒸着し、ついでリフト
オフ法によりレジスト及びレジスト上の金属を除去した
。更に、オーミック性接触を得るために、赤外線加熱炉
N2ガス雰囲気中で400’C5分間の合金化処理を行
い1枚の基板上に約8.500個の第2図(a)に示す
ごと< 0.36−角のホール素子パターンを作製した
。次にこの基板を裏面より研磨することで基板の厚みを
120μ−とした後、エポキシ樹脂を用いて300ul
Iのフェライトを基板の裏面に接着した。
2図5)に示すように予め接着面に絶縁層としてポリイ
ミド樹脂層の形成された厚さ0.2mのパーマロイ(N
i 78%)の薄板をエポキシ樹脂を用いて接着した0
次に第2図(C)に示すごとく前記基板表面のホール素
子パターンに合わせて前記薄板の表面にフォトリソによ
り磁気増幅チップパターンのレジストを形成した。続い
て、第2図(d)に示すようにグイシングツ−を用いて
深さ180μ難まで前記薄板を磁気増幅チップ形状に半
切断した。
系エッチャント(超純水12:塩化第2鉄600g:塩
酸50cc)を用いて前記薄板を20分間エツチングす
ることで、第2図(e)に示すごとく個別に磁気増幅チ
ップに分離した。次いでアッシング装置を用いて02ガ
スプラズマ中で1時間アッシングを行い、電極部のポリ
イミド樹脂及びエポキシ樹脂を除去した。続いて感光性
ポリイミド樹脂をウェハー全面に塗布した後、露光・現
像を行うことにより磁気増幅チップ上面の絶縁層を形成
した。
素子ペレットに切断し、自動タイボンダーによりリード
上にこのチップをダイボンドし、続いて、自動車ワイヤ
ーボンダーでリードとホール素子の電極部をAuワイヤ
ーで接続した。トランスファーモールダーによりエポキ
シモールドしたのち、このモールドされた素子のダイパ
ーカット、リードカットを行い、個々の樹脂モールドさ
れた第3図に示すごとくホール素子感磁部の表面に磁気
増幅チップを精度良く配置し、基板の裏面に第2の強磁
性材料であるフェライトを配置し、更に磁気増幅チップ
の上面及び接着面に絶縁層を形成した小型ホール素子を
作製した。
3表に示す。磁気増幅構造を持たない素子に比べて、磁
気増幅効果により2.8倍の高感度化を実現した。
能であった小型のホール素子(ペレットサイズが0.5
0m角以下)においても、ホール素子感磁部の表面に量
産的に磁気増幅チップを配置することを可能としたもの
であり、従来の素子組立上の機械的精度に比べて、磁気
増幅チップの形成精度が飛躍的に向上することから、高
感度で、かつ感度ばらつきが少ないという特徴を持つ。
小型化とともに、チップ形成精度の向上による小さな感
度ばらつきにより、大幅な歩留まり向上及びコストダウ
ンを可能としたものであり、更に小型素子を磁気増幅構
造にした場合の絶縁不良等の問題点を解決し、信鎖性を
大きく向上させたものである。
)乃至(e)は本発明のホール素子の作製工程を示す説
明図、第3図は本発明のホール素子の他の構造を示す構
造図、第4図乃至第6図はホール素子の磁気増幅構造を
示す説明図である。図中1・・・基板、2・・・ホール
素子感磁部、3・・・電極、4・・・半導体薄膜、5・
・・強磁性材料、6・・・絶縁層、7・・・レジスト、
8・・・パッシベーション膜、9・・・Auワイヤー、
10・・・リード線、11・・・接着剤、12・・・モ
ールド樹脂。 特許出願人 旭化成工業株式会社 第2図 「 第1図 第3図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ホール素子の大きさが0.5mm角以下の小型ホー
ル素子において、基板表面に感磁部が形成されたホール
素子基板と絶縁保護膜を介して該感磁部上に接着された
金属磁性材料と該金属磁性材料上面に形成された絶縁保
護膜とを有することを特徴とする高感度ホール素子 2、ホール素子基板の裏面に第2の強磁性材料が配置さ
れていることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
高感度ホール素子
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02232337A JP3086476B2 (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 高感度ホール素子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02232337A JP3086476B2 (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 高感度ホール素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04113684A true JPH04113684A (ja) | 1992-04-15 |
| JP3086476B2 JP3086476B2 (ja) | 2000-09-11 |
Family
ID=16937622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02232337A Expired - Lifetime JP3086476B2 (ja) | 1990-09-04 | 1990-09-04 | 高感度ホール素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3086476B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007333721A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-12-27 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁気センサ及びその製造方法 |
| JP2008020308A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁気センサ及びその製造方法 |
| US8169215B2 (en) | 2006-04-13 | 2012-05-01 | Asahi Kasei Emd Corporation | Magnetic sensor and method of manufacturing thereof |
| JP2018128390A (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | Tdk株式会社 | 磁気センサとその製造方法 |
| CN110880927A (zh) * | 2019-11-04 | 2020-03-13 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种集成式接近开关、接近开关系统及接近开关制造方法 |
-
1990
- 1990-09-04 JP JP02232337A patent/JP3086476B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8169215B2 (en) | 2006-04-13 | 2012-05-01 | Asahi Kasei Emd Corporation | Magnetic sensor and method of manufacturing thereof |
| JP2007333721A (ja) * | 2006-05-18 | 2007-12-27 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁気センサ及びその製造方法 |
| JP2008020308A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | 磁気センサ及びその製造方法 |
| JP2018128390A (ja) * | 2017-02-09 | 2018-08-16 | Tdk株式会社 | 磁気センサとその製造方法 |
| CN110880927A (zh) * | 2019-11-04 | 2020-03-13 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种集成式接近开关、接近开关系统及接近开关制造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3086476B2 (ja) | 2000-09-11 |
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