JPH04118567A - Partial discharge testing device - Google Patents
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- JPH04118567A JPH04118567A JP23714990A JP23714990A JPH04118567A JP H04118567 A JPH04118567 A JP H04118567A JP 23714990 A JP23714990 A JP 23714990A JP 23714990 A JP23714990 A JP 23714990A JP H04118567 A JPH04118567 A JP H04118567A
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Abstract
Description
本発明は、電力機器や電カケープル等の部分放電試験装
置、特に部分放電パルスの判別機能を備えた部分放電試
験装置に関するものである。
（従来の技術］
高電圧で使用する電力機器や電カケープルにあっては、
例えば絶縁物ボイド（気体ギャップ）内の気体が電離し
て部分放電が発生する。この放電は、微弱な繰返しパル
ス電流であるが、長期に亘って継続すると、絶縁物を著
しく損傷又は劣化させて重大な絶縁破壊の原因となる。
このため、供試物の高圧導体と接地導体との間に試験電
圧を印加し１発生した部分放電パルスを測定することに
よって絶縁物の状態を診断する方法が広く採用されてい
る。しかし、供試物や試験回路には、様々な原因によっ
て好ましくない雑音パルスが発生するので、部分放電パ
ルスを当該雑音パルスと区別して検出する必要があり、
そのための方法が数多く提案されている（例えば昭和６
１年６月発行「電気学会技術報告（■部）」第２２２号
第１３頁〜第１９頁参照）。
これらの従来技術は、発生する部分放電パルスの振幅、
位相、頻度、極性、立ち上り時間その他の特徴を捕え、
それらの特徴の−又は二以上を組み合せて部分放電パル
スと雑音パルスとを識別する点で共通するが、単発性（
突発性）の部分放電が発生した場合や微小な部分放電が
発生した場合には、部分放電パルスを雑音パルスと区別
して検出することが困難となる。
即ち、広帯域増幅器による雑音除去方法は、パルスの立
ち上がり時間と立ち下がり時間の差又はパルス持続時間
の差を利用するものであるが、立ち上がり時間と立ち下
がり時間とが同程度である部分放電パルスの場合は、そ
の波形を正確に判別することが出来ない。一方、狭帯域
増幅器による雑音除去方法は、狭帯域増幅の結果として
部分放電パルスの波形情報が損なわれるほか、部分放電
パルスの信号対雑音比（Ｓ／Ｎ比）が１以下である場合
は、部分放電パルスと雑音パルスとを明確に区別するこ
とが出来ない。
一方、パルス数制御やノイズウィンドーによる雑音除去
方法は、単発性の部分放電に対応することが出来ず、ま
た、自己位相ゲートや同期ノイズウィンドーによる雑音
除去方法は、広い位相範囲（例えば０〜９０°又は１８
０〜２７０°）に亘って部分放電が発生した場合、部分
放電パルスと雑音パルスとを区別することが難しい。更
に、オシロスコープによる波形観察の方法は１部分放電
電流パルスと雑音パルスとの判別を自動的に行うことが
不可能であるほか、部分放電パルスの判別に熟練を必要
とし、個人差も発生し易いという問題がある。The present invention relates to a partial discharge testing device for power equipment, power cables, etc., and particularly to a partial discharge testing device having a partial discharge pulse discrimination function. (Conventional technology) For power equipment and power cables that use high voltage,
For example, gas in an insulator void (gas gap) is ionized and a partial discharge occurs. Although this discharge is a weak repetitive pulse current, if it continues for a long period of time, it can significantly damage or deteriorate the insulator and cause serious dielectric breakdown. For this reason, a method of diagnosing the state of an insulator by applying a test voltage between a high-voltage conductor and a ground conductor of a specimen and measuring the partial discharge pulses generated has been widely adopted. However, because undesirable noise pulses are generated in the specimen or test circuit due to various causes, it is necessary to detect partial discharge pulses separately from the noise pulses.
Many methods have been proposed for this purpose (for example,
(Refer to "IEEJ Technical Report (Part ■)" No. 222, pages 13 to 19, published June 1999). These conventional techniques are based on the amplitude of the generated partial discharge pulse,
Capture phase, frequency, polarity, rise time and other characteristics,
The common feature is that partial discharge pulses and noise pulses can be distinguished by combining one or more of these characteristics, but single-shot (
When a sudden (sudden) partial discharge or a minute partial discharge occurs, it becomes difficult to distinguish the partial discharge pulse from the noise pulse and detect it. In other words, the noise removal method using a wideband amplifier utilizes the difference between the rise time and fall time of a pulse or the difference in pulse duration, but it In this case, the waveform cannot be accurately determined. On the other hand, with the noise removal method using a narrowband amplifier, the waveform information of the partial discharge pulse is lost as a result of narrowband amplification, and if the signal-to-noise ratio (S/N ratio) of the partial discharge pulse is less than 1, It is not possible to clearly distinguish between partial discharge pulses and noise pulses. On the other hand, noise removal methods using pulse number control and noise windows cannot cope with single partial discharges, and noise removal methods using self-phase gates and synchronous noise windows cannot cope with wide phase ranges (e.g. 0 ~90° or 18
When partial discharge occurs over a range of 0° to 270°, it is difficult to distinguish between partial discharge pulses and noise pulses. Furthermore, with the waveform observation method using an oscilloscope, it is not possible to automatically distinguish between a single partial discharge current pulse and a noise pulse, and skill is required to distinguish between partial discharge pulses, and individual differences are likely to occur. There is a problem.
従って、本発明の目的は、前記した従来技術の諸問題を
解消し、単発性の部分放電が発生した場合やＳ／Ｎ比が
１以下である部分放電が発生した場合であっても、雑音
パルスと明確に区別して部分放電パルスを判別すること
が出来る改良された部分放電試験装置を提案することに
ある。Therefore, an object of the present invention is to solve the problems of the prior art described above, and to eliminate noise even when a single partial discharge occurs or when a partial discharge with an S/N ratio of 1 or less occurs. The object of the present invention is to propose an improved partial discharge testing device that can clearly distinguish partial discharge pulses from pulses.
前記課題は、供試物に試験電圧を印加することによって
得た検出信号の波形を第一の記憶装置に記憶させ、当該
波形を第二の記憶装置に記憶させておいた基準波形と比
較することによって検出信号が部分放電パルスか否かを
判別し、部分放電パルスであると判別した場合に限り、
当該検出信号を測定器に供給するように装置を構成する
ことによって解決することが出来る。
第二の記憶装置に対する基準波形の設定（記憶）は、Ｓ
準的な部分放電パルスの模擬パルスを発生するように構
成したパルス発振器を使用して行なうことが出来る。模
擬パルスは、記憶装置に直接供給しても良いが、供試物
の高圧導体と接地導体との間に注入し、結合コンデンサ
を介して記憶装置に供給する方がより望ましい。何故な
らば、通常の部分放電試験では１部分放電パルスの放電
電荷の計測値を校正するため１部分放電パルスの模擬パ
ルスを供試物の高圧導体と接地導体との間に注入する方
法が採用されており、同じような模擬パルスを利用する
本発明の場合、放電電荷の校正のために設けられたパル
ス発振器を流用した方が有利であるからである。
検出信号が部分放電パルスであるか否かを判別は、例え
ば相互相関係数計算機を用いて行なうことが出来る。同
計算機は、時間軸上での波形の相関関係を判別するよう
に機能する。相互相関係数計算機の代わりに、或は、同
計算機に加えて、例えば高速フーリエ変換（ＦＦＴ）計
算機やヒストグラム（ＨＩＳＴ）計算機を使用すること
も可能である。前者は、周波数軸上での波形の相関関係
を判別するように機能し、後者は、電圧軸上での波形の
相関関係を判別するように機能する。
検出信号の判別には、所定の演算処理時間を必要とする
。このため、検出信号を測定器に供給するための伝送回
路には、適当な遅延回路を包含せしめ、検出信号の判別
動作と伝送動作とが相互に同期するように装置を構成す
ることが望ましい。
検出信号を第一の記憶装置に記憶させるための手段は、
低レベル雑音の影響を排除するため、所定のレベル以上
の信号が到来した場合に限って記憶装置の動作が開始す
るように構成しておくことが望ましい、この種の構成は
、例えば、記憶装置のトリガ回路の動作レベルを予め適
当な値に設定しておくことによって容易に実現すること
が出来る。模擬パルスを供試物に注入して第二の記憶装
置に記憶させる場合も同・様である。The task is to store the waveform of a detection signal obtained by applying a test voltage to the specimen in a first storage device, and compare the waveform with a reference waveform stored in a second storage device. By this, it is determined whether the detection signal is a partial discharge pulse or not, and only when it is determined that it is a partial discharge pulse,
This can be solved by configuring the device to supply the detection signal to the measuring instrument. The setting (storage) of the reference waveform in the second storage device is performed by S
This can be done using a pulse oscillator configured to generate a simulated partial discharge pulse. Although the simulated pulse may be directly supplied to the memory device, it is more preferable to inject it between the high voltage conductor and the ground conductor of the specimen and supply it to the memory device via a coupling capacitor. This is because in normal partial discharge tests, a method is used in which a simulated pulse of one partial discharge pulse is injected between the high-voltage conductor and the ground conductor of the test piece in order to calibrate the measured value of the discharge charge of one partial discharge pulse. This is because, in the case of the present invention which uses similar simulated pulses, it is more advantageous to utilize the pulse oscillator provided for calibrating the discharge charge. Whether or not the detection signal is a partial discharge pulse can be determined using, for example, a cross-correlation coefficient calculator. The calculator functions to determine the correlation of waveforms on the time axis. Instead of or in addition to the cross-correlation coefficient calculator, it is also possible to use, for example, a fast Fourier transform (FFT) calculator or a histogram (HIST) calculator. The former functions to determine the correlation of waveforms on the frequency axis, and the latter functions to determine the correlation of waveforms on the voltage axis. Discrimination of the detection signal requires a predetermined calculation processing time. Therefore, it is desirable to include a suitable delay circuit in the transmission circuit for supplying the detection signal to the measuring instrument, and configure the apparatus so that the detection signal discrimination operation and the transmission operation are synchronized with each other. The means for storing the detection signal in the first storage device includes:
In order to eliminate the effects of low-level noise, it is desirable to configure the storage device to start operating only when a signal of a predetermined level or higher arrives. This can be easily realized by setting the operation level of the trigger circuit to an appropriate value in advance. The same applies when a simulated pulse is injected into the specimen and stored in the second storage device.
本発明の部分放電試験装置にあっては、第一の記憶装置
が検出信号の波形を記憶し、第二の記憶装置が基準波形
を記憶する。そして、検出信号が部分放電パルスである
か否かの判別は、第一の記憶装置に記憶された検出信号
の波形を第二の記憶装置に記憶された基準波形と比較す
ることによって行なう、このため、本発明の部分放電試
験装置は、振幅や立ち上り時間その他の特徴のみを捕え
て部分放電パルスか否かを判別する従来技術に比較して
、判別能力が格段に向上するほか、大きな雑音パルス中
に埋もれた部分放電パルスをも確実に識別して取り出す
ことができ１等価的なＳ／Ｎ比又は感度を格段に向上さ
せることが可能となる。In the partial discharge test device of the present invention, the first storage device stores the waveform of the detection signal, and the second storage device stores the reference waveform. The determination as to whether the detection signal is a partial discharge pulse is made by comparing the waveform of the detection signal stored in the first storage device with the reference waveform stored in the second storage device. Therefore, the partial discharge testing device of the present invention not only has significantly improved discrimination ability compared to the conventional technology that detects only the amplitude, rise time, and other characteristics to determine whether or not it is a partial discharge pulse, but also can detect large noise pulses. Partial discharge pulses buried therein can also be reliably identified and extracted, making it possible to significantly improve the equivalent S/N ratio or sensitivity.
第１図及び第２図は、本発明に係る部分放電パルス試験
装置の一実施例を示す、第１図は、装置全体の概略結線
図であって、１は、例えば電カケープルのような供試物
、２は、当該供試物の一端側の高圧導体及び接地導体間
に接続された試験電圧源、３は、結合コンデンサ３′を
介して供試物に並列に接続された検出用インピーダンス
、４は検出用インピーダンス３に接続された部分放電パ
ルス測定部である。また、５は、試験電圧源２と同様、
供試物１の一端側の高圧導体及び接地導体間に接続され
た模擬パルス発振器であって１本実施例の場合、放電電
荷校正用の模擬パルス発振器を兼ねている。
部分放電試験は、開閉器２Ｓを閉じて供試物１に試験電
圧を印加することによって行なう、供試物１に絶縁物ボ
イド等が存在すると、その部分の気体が電離して部分放
電が発生し、検出用インピーダンス３の両端に急峻なパ
ルス電流がながれ、パルス信号（部分放電パルス）が発
生する。検出された信号は、部分放電パルス測定部４に
取り込まれて必要な測定が行なわれる。
第２図は１部分放電・パルス測定部４の詳細を示す系統
図である。入力端子６には、実質的に同一構造の第−及
び第二の記憶装置７及び８（例えばディジタルメモリ）
のほか、トリガ回路９と遅延回路ｌＯとが図示のように
接続されている。トリガ回路９は、予め設定したレベル
を超える信号が到来した場合にトリガ信号を発生するよ
うに構成されている。記憶装置ｉ７及び８は、トリガ回
路９からのトリガ信号によって制御され、入力端子６に
到来した信号の波形を記憶するように構成されている。
遅延回路１０は、到来信号を一定時間だけ遅延させて再
び出力するように構成されている。
第一の記憶装置７は、検出信号の実際の波形を一時記憶
させるために使用され、第二の記憶装置８は、部分放電
パルスの基準波形を予め記憶させるだめに使用される。
第二の記憶袋Ｗ８とトリガ回路９との間には、同回路に
よる制御作用を選択的にするための開閉器８Ｓが挿入さ
れている。
本実施例の場合、第二の記憶装置８に設定する基準波形
は、模擬パルス発振器５（第１図）の出力波形を利用す
る。即ち、第１図の開閉器２Ｓを開き開閉器５ｓを閉じ
て発振器５から模擬パルスを供試物１に注入すると、当
該模擬パルスは、結合コンデンサ３′及び検出用インピ
ーダンス３を介して測定部４に供給される。このため、
第２図の開閉器８ｓを閉じておくと、トリガ回路９が動
作するに足る大きさの模擬パルスが入力端子６に到来し
た場合、第二の記憶装置８は、トリガ回路９からのトリ
ガ信号によって動作し、模擬パルスの波形を基準波形と
して記憶する。基準波形を設定した後は、開閉器５ｓ及
び開閉器８Ｓを開いておく。
この状態において開閉器２ｓ （第１図）を閉じて供試
物１に試験電圧を印加し、部分放電試験を開始する。第
２図の入力端子６を介して取り込まれた検出信号には、
部分放電に起因するものと雑音に起因するものとが混在
しているが、トリガ回路９は、到来した検出信号が予め
設定したレベルを超えている限り、無差別にトリガ信号
を発生する。
この結果、第一の記憶族！７は１部分放電パルスか否か
に関係無く、当該検出信号の波形を一旦記憶する。
第−及び第二の記憶族＠７，８の後段には、部分放電判
別装置１１が接続されており、同判別装置は、面記憶装
置の記憶波形を相互に比較し、第一の記憶族ｗ７に記憶
されている検出信号が部分放電パルスであるか否かを判
別する。そして、部分放電パルスであると判断した場合
に限り、遅延回路１０の後段に接続されたゲート回路１
２に対して制御信号を出力し、同回路を一定時間だけ導
通させる。遅延回路１０は、ゲート回路１２が導通状態
になる時期、換言すれば、判別装′ａ１１による判別作
業が完了する時期に合わせて検出信号を送出することが
出来るように、その遅延時間を予め設定しておく。この
ようにして、第一の記憶装置７に波形を記憶された検出
信号が部分放電パルスとして測定器１３に供給される。
一連の動作が完了した場合は、判別装ｍ１ｌｌからリセ
ット信号が出力され、第一の記憶装置７を復旧させ１次
の試験段階に移行する。
本実施例の場合、判別装置１１は、相互相関係数計算機
１４、判定器１５及びメモリ１６をもって構成されてい
る。相互相関係数計算機１４は、第一の記憶族ｗ７に検
出信号が記録されると同時に動作を開始し、両記憶装Ｍ
７，８から夫々の記憶波形を呼出して両波形の相互相関
係数を求め、波形の類似度を例えばＯ〜１の範囲の数値
に変換する。得られた数値とメモリ１６に予め設定して
おいた判定値との大小関係を判定器１５によって判定す
る。判定の結果、第一の記憶族Ｍ７に記憶された検出信
号が部分放電パルスに該当する場合は、ゲート回路１２
に対して制御信号が送出される。1 and 2 show an embodiment of the partial discharge pulse testing device according to the present invention. FIG. 1 is a schematic wiring diagram of the entire device, and 1 indicates a power supply such as a power cable, for example. The specimen, 2 is a test voltage source connected between the high voltage conductor and the ground conductor on one end side of the specimen, 3 is a detection impedance connected in parallel to the specimen through a coupling capacitor 3'. , 4 is a partial discharge pulse measuring section connected to the detection impedance 3. Also, 5 is similar to test voltage source 2,
This is a simulated pulse oscillator connected between the high voltage conductor and the ground conductor on one end side of the specimen 1, and in the case of this embodiment, also serves as a simulated pulse oscillator for calibrating the discharge charge. The partial discharge test is performed by closing the switch 2S and applying a test voltage to the specimen 1. If there is an insulator void etc. in the specimen 1, the gas in that area will ionize and a partial discharge will occur. However, a steep pulse current flows across both ends of the detection impedance 3, and a pulse signal (partial discharge pulse) is generated. The detected signal is taken into the partial discharge pulse measuring section 4 and necessary measurements are performed. FIG. 2 is a system diagram showing details of the partial discharge/pulse measuring section 4. As shown in FIG. The input terminal 6 is connected to first and second storage devices 7 and 8 (for example, digital memories) having substantially the same structure.
In addition, a trigger circuit 9 and a delay circuit IO are connected as shown. The trigger circuit 9 is configured to generate a trigger signal when a signal exceeding a preset level arrives. The storage devices i7 and i8 are controlled by a trigger signal from the trigger circuit 9 and are configured to store the waveform of the signal arriving at the input terminal 6. The delay circuit 10 is configured to delay an incoming signal by a certain period of time and output it again. The first storage device 7 is used to temporarily store the actual waveform of the detection signal, and the second storage device 8 is used to previously store the reference waveform of the partial discharge pulse. A switch 8S is inserted between the second storage bag W8 and the trigger circuit 9 to selectively control the control action of the circuit. In the case of this embodiment, the output waveform of the simulated pulse oscillator 5 (FIG. 1) is used as the reference waveform set in the second storage device 8. That is, when the switch 2S shown in FIG. 4. For this reason,
When the switch 8s shown in FIG. The simulated pulse waveform is stored as a reference waveform. After setting the reference waveform, the switches 5s and 8S are left open. In this state, the switch 2s (Fig. 1) is closed, a test voltage is applied to the specimen 1, and a partial discharge test is started. The detection signal taken in through the input terminal 6 in FIG.
The trigger circuit 9 generates a trigger signal indiscriminately as long as the incoming detection signal exceeds a preset level, although some are caused by partial discharge and some are caused by noise. As a result, the first memory tribe! 7 temporarily stores the waveform of the detection signal regardless of whether it is one partial discharge pulse or not. A partial discharge discriminator 11 is connected to the rear stage of the first and second memory groups @7 and 8, and the discriminator compares the stored waveforms of the planar memory devices with each other, and It is determined whether the detection signal stored in w7 is a partial discharge pulse. Then, only when it is determined that it is a partial discharge pulse, the gate circuit 1 connected to the subsequent stage of the delay circuit 10
A control signal is output to 2 to make the circuit conductive for a certain period of time. The delay circuit 10 has a delay time set in advance so that the detection signal can be sent out in accordance with the timing when the gate circuit 12 becomes conductive, in other words, the timing when the discrimination operation by the discrimination device 'a11 is completed. I'll keep it. In this way, the detection signal whose waveform is stored in the first storage device 7 is supplied to the measuring device 13 as a partial discharge pulse. When the series of operations is completed, a reset signal is output from the discriminator m1ll, the first storage device 7 is restored, and the process moves to the first test stage. In the case of this embodiment, the discriminator 11 includes a cross-correlation coefficient calculator 14, a determiner 15, and a memory 16. The cross-correlation coefficient calculator 14 starts operating at the same time as the detection signal is recorded in the first memory group w7, and
The stored waveforms from 7 and 8 are retrieved, the cross-correlation coefficients of both waveforms are determined, and the degree of similarity of the waveforms is converted into a numerical value in the range of O to 1, for example. The determiner 15 determines the magnitude relationship between the obtained numerical value and a determination value preset in the memory 16. As a result of the determination, if the detection signal stored in the first memory group M7 corresponds to a partial discharge pulse, the gate circuit 12
A control signal is sent to.
本発明の部分放電試験装置によれば、単発性の部分放電
が発生した場合やＳ／Ｎ比が１以下である部分放電が発
生した場合であっても、雑音パルスと明確に区別して部
分放電パルスを判別することが出来る。また、部分放電
パルス測定部は、従来の部分放電試験装置に容易に組み
込むことが可能であるため、実際使用上、極めて便利で
ある。According to the partial discharge test device of the present invention, even if a single partial discharge occurs or a partial discharge with an S/N ratio of 1 or less occurs, the partial discharge can be clearly distinguished from a noise pulse. Pulses can be identified. In addition, the partial discharge pulse measuring section can be easily incorporated into a conventional partial discharge testing device, so it is extremely convenient in actual use.
第１図及び第２図は、本発明に係る部分放電パルス試験
装置の一実施例を示し、第１図は、装置全体の概略結線
図、第２図は、部分放電パルス測定部の系統図である。
〈符号の説明〉
１・・・供試物、２・・・試験電圧源、３・・・検出用
インピーダンス、３′・・・結合コンデンサ、４・・・
部分放電パルス測定部、５・・・模擬パルス発振器、６
・・・入力端子、７・・・第一の記憶装置、８・・・第
二の記憶装置、９・・・トリガ回路、１０・・・遅延回
路、１１・・・部分放電判別装置、１２・・・ゲート回
路、１３・・・測定器、１４・・・相互相関係数計算機
、１５・・・判定器、１６・・・メモリ。
代理人弁理士 薄 １）利 幸
手
続
補
正
書
平成
３年
８月
６日
１、事件の表示
平成
２年特許願第２３７１４９号
２、発明の名称
部分放電試験装置
３、補正をする者
事件との関係1 and 2 show an embodiment of the partial discharge pulse testing device according to the present invention, FIG. 1 is a schematic wiring diagram of the entire device, and FIG. 2 is a system diagram of the partial discharge pulse measuring section. It is. <Explanation of symbols> 1... Test object, 2... Test voltage source, 3... Detection impedance, 3'... Coupling capacitor, 4...
Partial discharge pulse measuring section, 5... Simulation pulse oscillator, 6
...Input terminal, 7.First storage device, 8.Second storage device, 9.Trigger circuit, 10.Delay circuit, 11.Partial discharge discrimination device, 12. ...Gate circuit, 13...Measuring device, 14...Cross correlation coefficient calculator, 15...Judgment device, 16...Memory. Attorney Susuki 1) Toshiyuki Procedural amendment August 6, 1991 1. Indication of the case 1990 Patent Application No. 237149 2. Name of the invention Partial discharge test device 3. Person making the amendment relationship
Claims (1)
加するための手段と、供試物に発生する部分放電パルス
を検出するための手段と、検出信号を測定器に伝送する
ための手段と、検出信号の波形を第一の記憶装置に記憶
させるための手段と、基準波形を第二の記憶装置に記憶
させるための手段と、両記憶装置の記憶内容（波形情報
）を相互に比較して検出信号が部分放電パルスか否かを
判別するための手段と、当該手段の判別結果に基づいて
測定器に対する検出信号の伝送を制御するための手段と
を少なくとも備えたことを特徴とする部分放電試験装置
。 ２、基準波形を第二の記憶装置に記憶させるための手段
は、供試物の高圧導体と接地導体との間に注入した模擬
パルスの波形を基準波形として記憶させるものであるこ
とを特徴とする部分放電試験装置。[Claims] 1. Means for applying a test voltage between a high-voltage conductor and a ground conductor of a specimen, a means for detecting a partial discharge pulse generated in a specimen, and a detection signal. means for transmitting the detection signal waveform to the measuring instrument, means for storing the waveform of the detection signal in the first storage device, means for storing the reference waveform in the second storage device, and storage in both storage devices. means for mutually comparing contents (waveform information) to determine whether the detection signal is a partial discharge pulse; and means for controlling transmission of the detection signal to the measuring device based on the determination result of the means. A partial discharge test device comprising at least the following. 2. The means for storing the reference waveform in the second storage device is characterized in that the waveform of the simulated pulse injected between the high voltage conductor and the ground conductor of the specimen is stored as the reference waveform. Partial discharge test equipment.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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1990
- 1990-09-10 JP JP23714990A patent/JP2921068B2/en not_active Expired - Lifetime
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