JPH04122355U

JPH04122355U - ガス分析計

Info

Publication number: JPH04122355U
Application number: JP1991036227U
Authority: JP
Inventors: 忠生中村; 義信高嶋
Original assignee: Horiba Ltd
Current assignee: Horiba Ltd
Priority date: 1991-04-20
Filing date: 1991-04-20
Publication date: 1992-11-02
Anticipated expiration: 2006-04-20
Also published as: JP2601977Y2

Abstract

(57)【要約】【目的】高価な校正ガス導入切換装置を用意する必要が
ないと共に、一度に多数を試験することがあっても、可
及的に少ない係員によって所定の試験を行うことができ
るガス分析計を提供すること。【構成】サンプリング流路を介して分析部に対して供給
されるサンプルガスを制御部からの制御指令に基づいて
分析するようにしたガス分析計において、前記サンプリ
ング流路に、ゼロガス供給路とスパンガス供給路とを互
いに並列に接続し、性能試験時、前記ゼロガス供給路お
よびスパンガス供給路に設けられた開閉弁を前記制御部
からの開閉指令に基づいて開閉制御することにより、校
正ガスを所定の手順で前記分析部に対して供給するよう
にしている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、ガス分析計に関し、特に、サンプリング流路を介して分析部に対して供給されるサンプルガスを制御部からの制御指令に基づいて分析するようにしたガス分析計の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】

一般に、ガス分析計を工場から出荷し、ユーザーに納入する際しては、ガス分析計の分析部にゼロガスやスパンガスなどの校正ガスを供給することにより、ドリフト特性や再現性などの試験を行ってデータを採取し、このデータに基づいてガス分析計の性能の確認が行われるが、従来は図４または図５に示すようにして校正ガスを分析部に供給していた。

【０００３】すなわち、図４に示したものでは、ガス分析計40の内部に設けられたゼロガスやスパンガスなどの校正ガス導入用の電磁弁41, 42の開閉操作を係員が一定時間ごとに行うことによって、ゼロガスＺやスパンガスＳＰを分析部43に供給するのである。

【０００４】また、図５に示したものでは、ガス分析計50の外部に、コントローラ51を内蔵した校正ガス導入切換装置52を設け、前記コントローラ51によって校正ガス導入用の電磁弁53, 54, 55を適宜開閉操作することによって、ゼロガスＺやスパンガスＳＰ_{1 ,}ＳＰ₂を分析部56に自動的に供給するのである。

【０００５】なお、図４において、44はサンプルガスＳを導入するための電磁弁であり、また、図５において、57は校正ガス導入用の電磁弁、58, 59はサンプルガスＳ_{1 ,} Ｓ₂をそれぞれ導入するための電磁弁である。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】しかしながら、上記前者の手段によれば、電磁弁41, 42を開閉操作するための係員が必ず必要であり、一度に試験するガス分析計40の台数の増加に伴って多くの係員が必要となるといった欠点があり、また、上記後者の手段によれば、複数のガス分析計50を試験する場合における係員の数は少なくて済むものの、ガス分析計50とは別体構造の校正ガス導入切換装置52を数多く用意する必要があり、その製作コストが高くつくといった問題点がある。

【０００７】ところで、近時のガス分析計においては、その制御部に測定手順を表すプログラムが格納されており、測定時にはこのプログラムに基づいて各種の制御指令が出力され、これによって所定の分析を行うように構成されていることが多い。

【０００８】本考案は、上述の事柄に留意してなされたもので、その目的とするところは、高価な校正ガス導入切換装置を用意する必要がないと共に、一度に多数を試験することがあっても、可及的に少ない係員によって所定の試験を行うことができるガス分析計を提供することにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、本考案においては、サンプリング流路を介して分析部に対して供給されるサンプルガスを制御部からの制御指令に基づいて分析するようにしたガス分析計において、前記サンプリング流路に、ゼロガス供給路とスパンガス供給路とを互いに並列に接続し、性能試験時、前記ゼロガス供給路およびスパンガス供給路に設けられた開閉弁を前記制御部からの開閉指令に基づいて開閉制御することにより、校正ガスを所定の手順で前記分析部に対して供給するようにしている。

【００１０】

【作用】

本考案に係るガス分析計においては、ゼロガス供給路およびスパンガス供給路に設けられた開閉弁を開閉制御するためのプログラムをガス分析計の制御部に格納しておくことにより、前記開閉弁を所定の手順で開閉操作することができ、これによって、ゼロガスやスパンガスなどの校正ガスを所定の手順で分析部に対して自動的に供給することができる。従って、試験に供されるガス分析計の台数が多くなっても、従来のように、開閉弁を開閉操作するための係員を多く必要とすることがないと共に、高価な校正ガス導入切換装置を用意する必要がない。

【００１１】

【実施例】

以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。なお、以下の図において、図４または図５に示した符号と同一の符号は同一物または相当物を示している。

【００１２】図１は、本考案に係るガス分析計の構成の概略を示す図で、この図において、１はサンプリング装置で、サンプルガスＳや、ゼロガスＺやスパンガスＳＰなどの校正ガスＣを導入するもので、その構成については後述する。

【００１３】２は分析部で、詳細には図示してないが、例えばサンプリング装置１から供給されるサンプルガスＳなどを収容すると共に、赤外光透過性の窓を備えたセルと、このセルの一方からセルに向けて例えば赤外光を照射する赤外光源と、セルの他方に配置され、セルを透過した赤外光を受光する検出器からなる。３は前記分析部２の検出器から出力される信号を適宜増幅するアンプである。

【００１４】４はガス分析計の動作全体を制御するための制御部としてのＣＰＵである。このＣＰＵ４内には、測定手順を表すプログラムや、測定時において前記アンプ３を介して入力される検出器出力を分析処理するプログラムが格納されると共に、出荷前に行われる性能試験時において前記サンプリング装置１に設けられた切換え弁や開閉弁（何れも後述する）の開閉制御を行うためのプログラムや、前記性能試験時において前記アンプ３を介して入力される検出器出力を分析処理するプログラムが格納されている。

【００１５】５はＣＰＵ４からの出力を記録したり、表示する記録・表示部である。そして、ａは前記ＣＰＵからサンプリング装置１に対して出力される開閉指令など各種の制御指令を表し、また、Ｅ_xは前記セルから排出されるガスを表す。

【００１６】図２は、前記サンプリング装置１の一構成例を概略的に示すもので、この図に示す実施例においては、第１測定成分〜第３測定成分の３種類の測定成分を測定できる所謂３成分計用に構成されている。この図において、６は分析部２のセルにサンプルガスＳを供給するためのサンプリング流路で、切換え弁としての三方電磁弁７が設けられている。この三方電磁弁７は、その一つの入口ポート7aが図外のサンプルガス流路に連なるように、そして、出口ポート7bが前記セルに連なるように、また、他の入口ポート7cが後述する校正ガス流路８に連なるように、サンプリング流路６に介装されている。

【００１６】８は前記三方電磁弁７を介してゼロガスＺやスパンガスＳＰなどの校正ガスを分析部２に供給するための校正ガス流路で、この校正ガス流路８は、例えば一つのゼロガス供給路９と、３つのスパンガス供給路10, 11, 12とを互いに並列に接続して構成されている。そして、各ガス供給路９〜12に、開閉弁としての二方電磁弁13, 14, 15, 16を介してゼロガスボンベ17, 第１測定成分に対応する第１スパンガスを収容したボンベ18, 第２測定成分に対応する第２スパンガスを収容したボンベ19, 第３測定成分に対応する第３スパンガスを収容したボンベ20がそれぞれ設けられている。

【００１７】而して、上記構成のガス分析計において、例えば３つの測定成分についての再現性試験を行うには、ＣＰＵ４からサンプリング装置１に対して、次のような開閉指令を出力して、三方電磁弁７、二方電磁弁13, 14, 15, 16を開閉制御することにより、ゼロガスＺやスパンガスＳＰなどの校正ガスＣを所定の手順で分析部２に対して自動的に供給するのである。

【００１８】先ず、三方電磁弁７を、その入口ポート7cと出口ポート7bとが連通するように開にすると共に、二方電磁弁13のみを開き、これらを例えば３分間開状態とする。次いで、三方電磁弁７および二方電磁弁14のみをそれぞれ３分間開く。

【００１９】上記に示した動作を繰り返して３回連続的に行い、そのときの検出器出力をＣＰＵ４内において分析処理することにより、例えば図３に示すように、第１測定成分に関する指示記録を得ることができる。なお、図３において、ｓｐ₁₁，ｓｐ₁₂，ｓｐ₁₃は第１スパンガスＳＰ₁を３回供給したときにおける分析濃度信号を、また、ｚはゼロガスＺを３回供給したときにおける分析濃度信号を、それぞれ示す。

【００２０】そして、三方電磁弁７および二方電磁弁13のみをそれぞれ例えば３分間開き、次いで、三方電磁弁７および二方電磁弁15のみをそれぞれ３分間開く。

【００２１】上記に示した動作を繰り返して３回連続的に行うことにより、第２測定成分に関する指示記録を同様に得ることができる。

【００２２】さらに、三方電磁弁７および二方電磁弁13のみをそれぞれ例えば３分間開き、次いで、三方電磁弁７および二方電磁弁16のみをそれぞれ３分間開く。

【００２３】上記に示した動作を繰り返して３回連続的に行うことにより、第３測定成分に関する指示記録を同様に得ることができる。

【００２４】上述のように、前記〜の動作を連続的に行うことにより、第１測定成分〜第３測定成分の指示記録を得ることができ、３つの測定成分についての再現性試験を自動的に行うことができる。なお、他の性能試験についても同様に行えることは云うまでもない。

【００２５】そして、このガス分析計で例えば煙道排ガスを分析する場合には、三方電磁弁７を、その入口ポート7aと出口ポート7bとが連通するように開にして、サンプルガスＳを分析部２に供給すればよい。

【００２６】本考案は、上述の３成分計に限られるものではないことは云うまでもない。そして、切換え弁として三方電磁弁７以外の部材を用いたり、また、開閉弁として二方電磁弁13〜16以外の部材を用いてもよい。

【００２７】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案によれば、ゼロガス供給路およびスパンガス供給路に設けられた開閉弁は、ガス分析計の通常の測定手順などを格納した制御部に格納されたプログラムに従って自動的に開閉制御され、ゼロガスやスパンガスなどの校正ガスを所定の手順で分析部に対して自動的に供給できるので、性能試験に供されるガス分析計の台数が多くなっても、従来技術と異なり、多数の係員によることなく所定の項目を自動的に試験することができる。

【００２８】そして、従来と異なり、高価な校正ガス導入切換装置を用意する必要がないのでコストダウンが図れ、また、前記開閉弁を開閉制御するためのプログラムは、ガス分析計の制御部に格納しておくだけでよく、新たに部品などを設ける必要がないので、コストアップになることがないといった利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係るガス分析計の一構成例を概略的に
示す図である。

【図２】前記ガス分析計におけるサンプリング装置の一
構成例を示す配管系統図である。

【図３】本考案の動作説明図である。

【図４】従来技術を説明するための図である。

【図５】従来技術を説明するための図である。

【符号の説明】

２…分析部、４…制御部、６…サンプリング流路、９…
ゼロガス供給路、10,11, 12…スパンガス供給路、13, 1
4, 15, 16…開閉弁、Ｓ…サンプルガス、Ｃ…校正ガ
ス、ａ…制御指令。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】サンプリング流路を介して分析部に対し
て供給されるサンプルガスを制御部からの制御指令に基
づいて分析するようにしたガス分析計において、前記サ
ンプリング流路に、ゼロガス供給路とスパンガス供給路
とを互いに並列に接続し、性能試験時、前記ゼロガス供
給路およびスパンガス供給路に設けられた開閉弁を前記
制御部からの開閉指令に基づいて開閉制御することによ
り、校正ガスを所定の手順で前記分析部に対して供給す
るようにしたことを特徴とするガス分析計。