JPH04123017A - 位相シフト素子及びそれを用いたレーザ装置 - Google Patents
位相シフト素子及びそれを用いたレーザ装置Info
- Publication number
- JPH04123017A JPH04123017A JP24469690A JP24469690A JPH04123017A JP H04123017 A JPH04123017 A JP H04123017A JP 24469690 A JP24469690 A JP 24469690A JP 24469690 A JP24469690 A JP 24469690A JP H04123017 A JPH04123017 A JP H04123017A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- phase shift
- shift element
- laser
- transparent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は位相シフト素子及びそれを用いたレーザ光学装
置に関し、特にレーザビームを用いて高密度に画像情報
の記録(形成)や再生等の人出方を行う装置、例えばレ
ーザビームプリンタ、レーザ加工機、レーザ顕微鏡、光
メモリ装置等に好適な位相シフト素子及びそれを用いた
レーザ光学装置に関するものである。
置に関し、特にレーザビームを用いて高密度に画像情報
の記録(形成)や再生等の人出方を行う装置、例えばレ
ーザビームプリンタ、レーザ加工機、レーザ顕微鏡、光
メモリ装置等に好適な位相シフト素子及びそれを用いた
レーザ光学装置に関するものである。
(従来の技術)
近年、レーザ光を用いて画像情報の入出力を行うように
したレーザ光学装置においては高解像力で画像情報の形
成や再生が出来ることが要望されている。
したレーザ光学装置においては高解像力で画像情報の形
成や再生が出来ることが要望されている。
一般に画像情報の形成や再生を高解像力で行う為には、
例えば人出力の際のレーザビームのビームスポット径を
小さくすれば良い。ビームスポット径を小さくするには
NA(開口数)の大きな光学系を用いれば良いことが知
られている。
例えば人出力の際のレーザビームのビームスポット径を
小さくすれば良い。ビームスポット径を小さくするには
NA(開口数)の大きな光学系を用いれば良いことが知
られている。
第8図は従来のレーザプリンタ等に利用されている光走
査装置の要部概略図である。
査装置の要部概略図である。
第8図に於いて11はレーザ等から成る光源部であり、
該光源部11から射出されたレーザど一ムはコリメータ
レンズ12により略平行光とされ回転多面鏡17に入射
する。該回転多面鏡17は矢印の方向に等速で高速回転
しており、回転多面鏡17の反射面17aの点Pに入射
した該レーザビームは反射されて主走査断面において偏
光走査されf−θレンズ系18に入射する。f−θレン
ズ系18を通過したレーザビームは被走査面19上に結
像されてその面上な略等速度直線運動で光走査する。
該光源部11から射出されたレーザど一ムはコリメータ
レンズ12により略平行光とされ回転多面鏡17に入射
する。該回転多面鏡17は矢印の方向に等速で高速回転
しており、回転多面鏡17の反射面17aの点Pに入射
した該レーザビームは反射されて主走査断面において偏
光走査されf−θレンズ系18に入射する。f−θレン
ズ系18を通過したレーザビームは被走査面19上に結
像されてその面上な略等速度直線運動で光走査する。
ここで例えば感光体等の被走査面上に画像形成を行う際
の高解像化を図るにはf−θレンズ系18のNAを大き
くし被走査面19上に結像するビームスポット径を小さ
くすれば良い。
の高解像化を図るにはf−θレンズ系18のNAを大き
くし被走査面19上に結像するビームスポット径を小さ
くすれば良い。
しかしながらNAの大きい光学系を構成するのは非常に
困難であり、理論的に見ても空気中の光学系はNA=
1を越えることができない。又NAが大きくなると焦点
深度か急激に小さくなる為、像面の設定誤差が厳しくな
り装置の製造や調整が困難になる。
困難であり、理論的に見ても空気中の光学系はNA=
1を越えることができない。又NAが大きくなると焦点
深度か急激に小さくなる為、像面の設定誤差が厳しくな
り装置の製造や調整が困難になる。
一般にレーザ光源を用いた光学装置の像面上でのビーム
スポット径と焦点深度は次式により表わされる。
スポット径と焦点深度は次式により表わされる。
スポット直径=にλ/(2・NA)・・・・・(1)焦
点深度=±λ/(2・NA2) ・・・・・(2)こ
こでλは波長、kは結像光学系の瞳周辺部にあけるビー
ム強度の程度を表わす定数(k≧1.64)であり、ス
ポット直径はピーク強度の1/e2値である。
点深度=±λ/(2・NA2) ・・・・・(2)こ
こでλは波長、kは結像光学系の瞳周辺部にあけるビー
ム強度の程度を表わす定数(k≧1.64)であり、ス
ポット直径はピーク強度の1/e2値である。
(1)〜(2)式において、波長λ=0.78μm、定
数に=1.7と仮定して算出した種々のN−Aに対する
被走査面上のビームスポット径と焦点深度との関係を表
−1に示す。
数に=1.7と仮定して算出した種々のN−Aに対する
被走査面上のビームスポット径と焦点深度との関係を表
−1に示す。
表−1
(発明か解決しようとする問題点)
前記表−1から明らかなようにレーザプリンタ等のレー
ザ光学装置に関してはNAを0.02以上、即ちスポッ
ト径か33μm以下になると焦点深度が±1mmを下ま
わる。この為感光体の位置の設定や感光体の平面性等が
問題と成り製造か大変困難となる。従って一般にはNA
を0.02以上大きくすることはできない。
ザ光学装置に関してはNAを0.02以上、即ちスポッ
ト径か33μm以下になると焦点深度が±1mmを下ま
わる。この為感光体の位置の設定や感光体の平面性等が
問題と成り製造か大変困難となる。従って一般にはNA
を0.02以上大きくすることはできない。
又、光デイスク対物レンズや顕微鏡対物レンズ等の関し
ては大体ビームスポット径0.7μmか限界であり、そ
れ以下のスポット径を得ることは理論的に見て困難であ
る。
ては大体ビームスポット径0.7μmか限界であり、そ
れ以下のスポット径を得ることは理論的に見て困難であ
る。
このような問題点を解決する為、本発明はレーザビーム
の通過する領域を複数に分は各々の領域を通過するレー
ザビーム内に所定の位相差を付与するようにした位相シ
フト素子とそれを利用することにより、光学系のNAを
変えずに焦点深度を大きく保ったままより小さなビーム
スポット径を実現することか可能なレーザ光学装置の提
供を目的とする。
の通過する領域を複数に分は各々の領域を通過するレー
ザビーム内に所定の位相差を付与するようにした位相シ
フト素子とそれを利用することにより、光学系のNAを
変えずに焦点深度を大きく保ったままより小さなビーム
スポット径を実現することか可能なレーザ光学装置の提
供を目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明の位相シフト素子は、所定波長の光に対して透明
な第1の透明領域と前記第1の透明領域の周囲に該所定
の波長の光に不透明な第1の遮光領域を該第1の遮光領
域の周囲に該所定の波長の光に対して透明な第2の透明
領域をそして前記第2の透明領域の周囲に該所定の波長
の光に対して不透明な第2の遮光領域とを設け、前記第
1の透明領域と第2の透明領域を通過する光束間に所定
の位相差を付与させるように構成したことを特徴として
いる。
な第1の透明領域と前記第1の透明領域の周囲に該所定
の波長の光に不透明な第1の遮光領域を該第1の遮光領
域の周囲に該所定の波長の光に対して透明な第2の透明
領域をそして前記第2の透明領域の周囲に該所定の波長
の光に対して不透明な第2の遮光領域とを設け、前記第
1の透明領域と第2の透明領域を通過する光束間に所定
の位相差を付与させるように構成したことを特徴として
いる。
又、本発明の位相シフト素子を用いたレーザ光学装置は
レーザ光源から射出した光束の光路中の所定位置に前記
位相シフト素子を配置したことを特徴としている。
レーザ光源から射出した光束の光路中の所定位置に前記
位相シフト素子を配置したことを特徴としている。
(実施例)
第1図は本発明の位相シフト素子の一実施例を示す要部
概略図であり、第1図(A)は斜視図、第1図(B)は
中心軸(光軸)を含む断面図である。
概略図であり、第1図(A)は斜視図、第1図(B)は
中心軸(光軸)を含む断面図である。
第1図において1は位相シフト素子、2は光軸な中心と
する円形状や楕円状の所定の波長の光(レーザ光L)に
対して透明な第1の透明領域、3は第1の透明領域2の
周囲に設けた楕円環状のレーザ光りに対し不透明な第1
の遮光領域、4は第1の遮光領域3の周囲に設けたレー
ザ光りに対して透明な楕円環状の第2の透明領域、5は
該第2の透明領域4の周囲をとりまくレーザ光りに対し
て不透明な第2の遮光領域である。
する円形状や楕円状の所定の波長の光(レーザ光L)に
対して透明な第1の透明領域、3は第1の透明領域2の
周囲に設けた楕円環状のレーザ光りに対し不透明な第1
の遮光領域、4は第1の遮光領域3の周囲に設けたレー
ザ光りに対して透明な楕円環状の第2の透明領域、5は
該第2の透明領域4の周囲をとりまくレーザ光りに対し
て不透明な第2の遮光領域である。
このように位相シフト素子1の光透過部分は第1の遮光
領域3をはさんで2つの透明領域(2,4)に分けられ
る。そして該2つの領域(2,4)を通過する2つの光
束に所定の位相差を付与している。
領域3をはさんで2つの透明領域(2,4)に分けられ
る。そして該2つの領域(2,4)を通過する2つの光
束に所定の位相差を付与している。
本実施例では第1の透明領域2を通過する光に対して第
2の透明領域4を通過した光の方が2分の1波長だけ光
路長が長くなるように設定している。即ち、該位相シフ
ト素子1により通過光束を第1の透明領域を通過した光
束と第2の透明領域を通過した2つの光束に分け、この
ときの2つの光束間に180°の位相差を付与している
。
2の透明領域4を通過した光の方が2分の1波長だけ光
路長が長くなるように設定している。即ち、該位相シフ
ト素子1により通過光束を第1の透明領域を通過した光
束と第2の透明領域を通過した2つの光束に分け、この
ときの2つの光束間に180°の位相差を付与している
。
このような位相シフト素子は比較的容易に製作か可能で
ある。例えば、基板として両面な鯖密に研磨した平行平
板ガラスを用い第2の透明領域のみに、屈折力nの蒸着
物質で厚みd=λ/(2(n−1))の薄膜を真空蒸着
によって形成し、遮光領域には光吸収性の塗料を塗るこ
とにより製作できる。但し人は使用する光束(レーザー
光L)の波長である。
ある。例えば、基板として両面な鯖密に研磨した平行平
板ガラスを用い第2の透明領域のみに、屈折力nの蒸着
物質で厚みd=λ/(2(n−1))の薄膜を真空蒸着
によって形成し、遮光領域には光吸収性の塗料を塗るこ
とにより製作できる。但し人は使用する光束(レーザー
光L)の波長である。
第2図は本実施例の位相シフト素子1に平面波の光束が
入射し通過するときの波面状態を示す説明図である。こ
のような状態は例えばレーザビームのビームウェスト近
傍に位相シフト素子を配置したときに生ずる。
入射し通過するときの波面状態を示す説明図である。こ
のような状態は例えばレーザビームのビームウェスト近
傍に位相シフト素子を配置したときに生ずる。
同図に於いては図面左側より位相シフト素子1に平面波
のレーザビームが入射したときの前記第1.第2の透明
領域(2,4)を通過する位相差を有した光束の波面を
概念的に示している。
のレーザビームが入射したときの前記第1.第2の透明
領域(2,4)を通過する位相差を有した光束の波面を
概念的に示している。
第3図は光束が本実施例の位相シフト素子1を通過する
際の該位相シフト素子1近傍での複素振幅分布の様子と
該位相シフト素子の振幅透過率とを示す説明図である。
際の該位相シフト素子1近傍での複素振幅分布の様子と
該位相シフト素子の振幅透過率とを示す説明図である。
前記位相シフト素子1の振幅透過率T(x、0)は第3
図(B)に示すように成っており、第3図(A)に示す
ような複素振幅分布Iに (x、0)をもつ光束が該
位相シフト素子1を通過すると第3図(C)に示すよう
な複素振幅分布U”、(x、0)となって射出する。尚
同図では簡単の為にX軸上(y=o)での分布を示して
いる。
図(B)に示すように成っており、第3図(A)に示す
ような複素振幅分布Iに (x、0)をもつ光束が該
位相シフト素子1を通過すると第3図(C)に示すよう
な複素振幅分布U”、(x、0)となって射出する。尚
同図では簡単の為にX軸上(y=o)での分布を示して
いる。
第3図(C)に於いて6は前記第1の透明領域2を通過
した光束の複素振幅分布を、7は前記第2の透明領域4
を通過した光束の複素振幅分布を示している。
した光束の複素振幅分布を、7は前記第2の透明領域4
を通過した光束の複素振幅分布を示している。
これらの値は本来複素数であるが位相が0度及び180
度の2値だけの複素振幅分布である為、虚数成分が零と
なり、同図のように実数軸だけで表現できる。又位相シ
フト素子射出直後の複素振幅分布は入射直前の複素振幅
分布に位相シフト素子1の振幅透過率を乗じたものであ
る。即ち、Uo(X、O)−[6(X、0)X T(X
、0)の関係か成り立つ。
度の2値だけの複素振幅分布である為、虚数成分が零と
なり、同図のように実数軸だけで表現できる。又位相シ
フト素子射出直後の複素振幅分布は入射直前の複素振幅
分布に位相シフト素子1の振幅透過率を乗じたものであ
る。即ち、Uo(X、O)−[6(X、0)X T(X
、0)の関係か成り立つ。
第4図は館記位相シフト素子1を物体面とみなして結像
光学系により所定面(像面)上に結像させたときの光学
系の説明図、第5図は第4図の光学系において像面9上
に形成される複素振幅分布と強度分布とを示す説明図で
ある。
光学系により所定面(像面)上に結像させたときの光学
系の説明図、第5図は第4図の光学系において像面9上
に形成される複素振幅分布と強度分布とを示す説明図で
ある。
第4図に於いてレーザ等の光源(不図示)から射出した
光束を平面波の光束となるようにして位相シフト素子1
に入射させている。そして該位相シフト素子1を物体面
とみなした結像光学系8で像面9上に結像させる。この
とき該像面9上の強度分布は結像光学系8の開口数か無
限に大きい場合、物体面の複素振幅分布(第3図(C)
)かそのまま像面の複素振幅分布として再現される。但
し、結像光学系8の倍率分たけ拡大/縮小され、又中心
値で正規化されているものとする。
光束を平面波の光束となるようにして位相シフト素子1
に入射させている。そして該位相シフト素子1を物体面
とみなした結像光学系8で像面9上に結像させる。この
とき該像面9上の強度分布は結像光学系8の開口数か無
限に大きい場合、物体面の複素振幅分布(第3図(C)
)かそのまま像面の複素振幅分布として再現される。但
し、結像光学系8の倍率分たけ拡大/縮小され、又中心
値で正規化されているものとする。
ところが、実際には結像光学系8の開口数は有限な為回
折による拡がりか発生して第5図(A)のような複素振
幅分布U+ (X+ 、Y+ )が像面9上に形成さ
れる。ここで、X+、3/+は像面9上での座標であり
、第5図においてはXIX軸上y+ =O)の分布を示
した。
折による拡がりか発生して第5図(A)のような複素振
幅分布U+ (X+ 、Y+ )が像面9上に形成さ
れる。ここで、X+、3/+は像面9上での座標であり
、第5図においてはXIX軸上y+ =O)の分布を示
した。
第5図(A)における振幅分布6a、7aはそれぞれ第
3図における振幅分布6.7に対応するものである。振
幅分布6a、7aは同一レーザから射出しており、コヒ
ーレントであるから複素振幅分布で見ると加算が行なわ
れる。加算した結果を第5図(B)に示した。加算によ
って2つの振幅分布6a、7aが打ち消しあって振幅分
布の拡がりが小さくなっている。第5図(C)に強度分
布r (x+ 、 yt )のX、軸上での様子を示し
た。これは複素振幅分布IJ+ (x+ 、’Jr
)の絶対値を2乗することによって求められるが、位相
シフト素子1を用いず光源からの光束を同じNAの結像
光学系8で像面9上に結像した場合に比べて強度分布の
拡がりが小さくなっている。
3図における振幅分布6.7に対応するものである。振
幅分布6a、7aは同一レーザから射出しており、コヒ
ーレントであるから複素振幅分布で見ると加算が行なわ
れる。加算した結果を第5図(B)に示した。加算によ
って2つの振幅分布6a、7aが打ち消しあって振幅分
布の拡がりが小さくなっている。第5図(C)に強度分
布r (x+ 、 yt )のX、軸上での様子を示し
た。これは複素振幅分布IJ+ (x+ 、’Jr
)の絶対値を2乗することによって求められるが、位相
シフト素子1を用いず光源からの光束を同じNAの結像
光学系8で像面9上に結像した場合に比べて強度分布の
拡がりが小さくなっている。
以上のことを式を使って記述すると次のようになる。物
体平面1上の座標(x、y)として実際の寸法に結像光
学系8の倍率が掛かったものを用いることにすると、物
体1の振幅分布U。(x。
体平面1上の座標(x、y)として実際の寸法に結像光
学系8の倍率が掛かったものを用いることにすると、物
体1の振幅分布U。(x。
y)と像面9の振幅分布u+(x、y)とは次式%式%
これは、ポルン、ウォルフ著「光学の原理」9゜5節(
2a)式に相当する。
2a)式に相当する。
ここでkは結像光学系8の透過関数(点光源による像面
複素振幅分布)であり、例えば無収差の円形開口光学系
の場合にはベッセル関数を含んだ式で表現できる。
複素振幅分布)であり、例えば無収差の円形開口光学系
の場合にはベッセル関数を含んだ式で表現できる。
又、強度分布は前述したように、
r (x+ 、 y+ )=lU+ (x+ 、 y
+ )I2で与えられる。
+ )I2で与えられる。
本実施例は第1.第2透明領域の通過光束に所定の光路
長差を例えば2分の1波長差とし、即ち180°の位相
差を付与するようにしたが、これに限らず必要な位相差
に広じて光路長差を変化させてもよい。
長差を例えば2分の1波長差とし、即ち180°の位相
差を付与するようにしたが、これに限らず必要な位相差
に広じて光路長差を変化させてもよい。
第6図は本発明の位相シフト素子を用いたレーザ光学装
置の第1実施例の要部概略図である。
置の第1実施例の要部概略図である。
同図において11はレーザ等から成る光源部であり、該
光源部11から射出した光束はコリメータレンズ12に
より略平行光とされ、集光レンズ13により集光される
。このとき集光位置近傍にビームウェストが形成される
。そして該ビームウェスト近傍に位相シフト素子14を
配置し、該位相シフト素子14を通過した光はコリメー
タレンズ15により平行光となってシリンドリカルレン
ズ16に入射する。該シリンドリカルレンズ16により
光束は副走査方向に線状に結像されて回転多面鏡17へ
人射し反射される。回転多面鏡17で反射偏光された該
光束はf−θレンズ系18を介して被走査面19上にス
ポット20を形成する。
光源部11から射出した光束はコリメータレンズ12に
より略平行光とされ、集光レンズ13により集光される
。このとき集光位置近傍にビームウェストが形成される
。そして該ビームウェスト近傍に位相シフト素子14を
配置し、該位相シフト素子14を通過した光はコリメー
タレンズ15により平行光となってシリンドリカルレン
ズ16に入射する。該シリンドリカルレンズ16により
光束は副走査方向に線状に結像されて回転多面鏡17へ
人射し反射される。回転多面鏡17で反射偏光された該
光束はf−θレンズ系18を介して被走査面19上にス
ポット20を形成する。
尚、回転多面鏡17は矢印方向に等速回転している為回
転にともなってスポット20は被走査面19上を走査す
る。
転にともなってスポット20は被走査面19上を走査す
る。
以上のような構成により従来のように位相シフト素子1
4を用いない場合と比べ焦点深度を浅くせす小さなスポ
ットで被走査面を走査することができる。
4を用いない場合と比べ焦点深度を浅くせす小さなスポ
ットで被走査面を走査することができる。
第7図は本発明の位相シフト素子を用いたレーザ光学装
置の第2実施例の要部概略図である。
置の第2実施例の要部概略図である。
同図において21はレーザ等から成る光源部であり、該
光源部21から射出した光束は集光レンズ22により集
光され集光位置近傍にど−ムウエストを形成する。該ビ
ームウェスト位置近傍に位相シフト素子23を配置し、
該位相シフト素子23を射出した光束は対物レンズ25
によりて集光され光メモリ媒体26上に位相シフト素子
23を用いない場合よりも小さなスポットを形成する。
光源部21から射出した光束は集光レンズ22により集
光され集光位置近傍にど−ムウエストを形成する。該ビ
ームウェスト位置近傍に位相シフト素子23を配置し、
該位相シフト素子23を射出した光束は対物レンズ25
によりて集光され光メモリ媒体26上に位相シフト素子
23を用いない場合よりも小さなスポットを形成する。
モして該光メモリ媒体26からの反射光は対物レンズ2
5を通過しど一ムスプリッタ24によって反射されて光
検出器27に入射する。
5を通過しど一ムスプリッタ24によって反射されて光
検出器27に入射する。
本実施例では位相シフト素子23.1枚をビームウェス
ト位置に配置し構成したがビームウェスト以外に配置し
ても良く位相シフト素子を1枚以上何枚配置して構成し
ても良い。
ト位置に配置し構成したがビームウェスト以外に配置し
ても良く位相シフト素子を1枚以上何枚配置して構成し
ても良い。
(発明の効果)
本発明によれば前述のような位相シフト素子を用いるこ
とにより、光学系のNAから決まるスポット径よりも小
さいスポットを所定面上に形成することかでき、例えば
該位相シフト素子なレーザ光学装置に用いることによっ
て従来と同じNAと焦点深度を維持しつつ高解像化が得
られるレーザ光学装置を達成することができる。
とにより、光学系のNAから決まるスポット径よりも小
さいスポットを所定面上に形成することかでき、例えば
該位相シフト素子なレーザ光学装置に用いることによっ
て従来と同じNAと焦点深度を維持しつつ高解像化が得
られるレーザ光学装置を達成することができる。
第1図は本発明の位相シフト素子の要部概略図、第2図
は本発明の位相シフト素子近傍の波面状態を示す説明図
、第3図は本発明の位相シフト素子近傍の複素振幅分布
と位相シフト素子の透過率を示す説明図、第4図は本発
明の位相シフト素子を用いた光学系の配置関係を示す説
明図、第5図は第4図の像面上の複素振幅分布と強度分
布を示す概略図、第6図は本発明の位相シフト素子を走
査光学系に適用した第1実施例の要部概略図、第7図は
本発明の位相シフト素子を光メモリ光学系に適用した第
2実施例の要部概略図、第8図は従来の光走査装置の要
部概略図である。 図中1.14.23は位相シフト素子、2は第1の透明
領域、3は第1の遮光領域、4は第2の透明領域、5は
第2の遮光領域、8は結像光学系、9は像面、11.2
1は光源部、12.15はコリメータレンズ、13は集
光レンズ、16はシリンドリカルレンズ、17は回転多
面鏡、18はf−θレンズ系、19は被走査面、22は
集光レンズ、24はビームスプリッタ、25は対物レン
ズ、26は光メモリ媒体、27は光検出器である。
は本発明の位相シフト素子近傍の波面状態を示す説明図
、第3図は本発明の位相シフト素子近傍の複素振幅分布
と位相シフト素子の透過率を示す説明図、第4図は本発
明の位相シフト素子を用いた光学系の配置関係を示す説
明図、第5図は第4図の像面上の複素振幅分布と強度分
布を示す概略図、第6図は本発明の位相シフト素子を走
査光学系に適用した第1実施例の要部概略図、第7図は
本発明の位相シフト素子を光メモリ光学系に適用した第
2実施例の要部概略図、第8図は従来の光走査装置の要
部概略図である。 図中1.14.23は位相シフト素子、2は第1の透明
領域、3は第1の遮光領域、4は第2の透明領域、5は
第2の遮光領域、8は結像光学系、9は像面、11.2
1は光源部、12.15はコリメータレンズ、13は集
光レンズ、16はシリンドリカルレンズ、17は回転多
面鏡、18はf−θレンズ系、19は被走査面、22は
集光レンズ、24はビームスプリッタ、25は対物レン
ズ、26は光メモリ媒体、27は光検出器である。
Claims (6)
- (1)所定波長の光に対して透明な第1の透明領域と前
記第1の透明領域の周囲に該所定の波長の光に不透明な
第1の遮光領域を該第1の遮光領域の周囲に該所定の波
長の光に対して透明な第2の透明領域をそして前記第2
の透明領域の周囲に該所定の波長の光に対して不透明な
第2の遮光領域とを設け、前記第1の透明領域と第2の
透明領域を通過する光束間に所定の位相差を付与させる
ように構成したことを特徴とする位相シフト素子。 - (2)前記第1の透明領域を通過する光束と前記第2の
透明領域を通過する光束との間に、2分の1波長の光路
差を付与したことを特徴とする請求項1記載の位相シフ
ト素子。 - (3)レーザ光源から射出した光束の光路中の所定位置
に請求項1記載の位相シフト素子を配置したことを特徴
とする位相シフト素子を用いたレーザ光学装置。 - (4)前記位相シフト素子を通過した光束を結像レンズ
系によって所定面上に集光させるように構成したことを
特徴とする請求項3記載の位相シフト素子を用いたレー
ザ光学装置。 - (5)レーザ光源から射出した光束のビームウェスト位
置近傍に請求項1記載の位相シフト素子を配置したこと
を特徴とする請求項3記載の位相シフト素子を用いたレ
ーザ光学装置。 - (6)前記ビームウェストを、レーザ光源より射出した
光束を集光レンズで集光することにより形成したことを
特徴とする請求項5記載の位相シフト素子を用いたレー
ザ光学装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24469690A JPH04123017A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 位相シフト素子及びそれを用いたレーザ装置 |
| DE69116485T DE69116485T2 (de) | 1990-09-14 | 1991-09-12 | Phasenverschiebungsvorrichtung und Lasergerät unter Verwendung desselben |
| EP91308341A EP0476931B1 (en) | 1990-09-14 | 1991-09-12 | Phase shift device and laser apparatus utilizing the same |
| US08/392,689 US5477554A (en) | 1990-09-14 | 1995-02-23 | Phase shift device and laser apparatus utilizing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24469690A JPH04123017A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 位相シフト素子及びそれを用いたレーザ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04123017A true JPH04123017A (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=17122576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24469690A Pending JPH04123017A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 位相シフト素子及びそれを用いたレーザ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04123017A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008026661A (ja) * | 2006-07-21 | 2008-02-07 | Ricoh Co Ltd | ビームスポット整形方法、光走査装置、及び画像形成装置 |
| WO2008105312A1 (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | 光源装置、観察装置および加工装置 |
| JP2008243834A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-09 | Hamamatsu Photonics Kk | 光源装置 |
| JP2008268586A (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
| JP2009069508A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Ricoh Co Ltd | 光源モジュールおよび光走査装置および画像形成装置 |
-
1990
- 1990-09-14 JP JP24469690A patent/JPH04123017A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008026661A (ja) * | 2006-07-21 | 2008-02-07 | Ricoh Co Ltd | ビームスポット整形方法、光走査装置、及び画像形成装置 |
| WO2008105312A1 (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | 光源装置、観察装置および加工装置 |
| US8553733B2 (en) | 2007-02-26 | 2013-10-08 | Hamamatsu Photonics K.K. | Light source device, observation device, and processing device |
| JP2008243834A (ja) * | 2007-03-23 | 2008-10-09 | Hamamatsu Photonics Kk | 光源装置 |
| JP2008268586A (ja) * | 2007-04-20 | 2008-11-06 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
| JP2009069508A (ja) * | 2007-09-13 | 2009-04-02 | Ricoh Co Ltd | 光源モジュールおよび光走査装置および画像形成装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5477554A (en) | Phase shift device and laser apparatus utilizing the same | |
| JP6234105B2 (ja) | 超解像顕微鏡 | |
| JPH0552487B2 (ja) | ||
| US6204955B1 (en) | Apparatus for dynamic control of light direction in a broad field of view | |
| JPH04350818A (ja) | 共焦点光学系 | |
| JPH02115814A (ja) | 光ビーム走査装置 | |
| KR102655817B1 (ko) | 공간 변조 스캔을 이용한 플라잉 오버 빔 패턴 스캐닝 홀로그램 현미경 장치 | |
| JPS6218896B2 (ja) | ||
| KR20210048426A (ko) | 인라인 플라잉 오버 빔 패턴 스캐닝 홀로그램 현미경 장치 | |
| CN109343320A (zh) | 一种光控制装置 | |
| JPH10227992A (ja) | ベッセルビーム発生方法及びそれを用いた光走査装置 | |
| JP3553986B2 (ja) | 2重ベッセルビーム発生方法及び装置 | |
| JP2931268B2 (ja) | レーザスキャン光学装置 | |
| JPS63249125A (ja) | 可変焦点光学系 | |
| JP2924142B2 (ja) | レーザ装置 | |
| WO2019082850A1 (ja) | パターン描画装置 | |
| JPH04123017A (ja) | 位相シフト素子及びそれを用いたレーザ装置 | |
| JPH0784221A (ja) | 集光用光学装置とこれに付加される光学的付加装置及びこれらを用いた測定機器 | |
| JP2884075B2 (ja) | レーザー光集光照射装置 | |
| JPH05307151A (ja) | 偏向走査方法およびその装置 | |
| JP6666792B2 (ja) | 光画像計測装置、光画像計測方法 | |
| JPS62231924A (ja) | 投影露光方法及びその装置 | |
| JP3391948B2 (ja) | レーザ装置及びそれを用いたレーザ画像記録装置 | |
| JPS63136873A (ja) | 画像読取装置 | |
| JP2000121945A (ja) | 集光装置 |