JPH0412497A - X線発生装置 - Google Patents
X線発生装置Info
- Publication number
- JPH0412497A JPH0412497A JP11345190A JP11345190A JPH0412497A JP H0412497 A JPH0412497 A JP H0412497A JP 11345190 A JP11345190 A JP 11345190A JP 11345190 A JP11345190 A JP 11345190A JP H0412497 A JPH0412497 A JP H0412497A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron
- photoelectrons
- rays
- photoelectric film
- generated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明はX線発生装置に関し、超高速X線CT装置、X
線診断装置、X線回折装置、X線分析装置あるいはX線
計測装置等に利用することができる。
線診断装置、X線回折装置、X線分析装置あるいはX線
計測装置等に利用することができる。
〈従来の技術〉
この種のX線発生装置としては、従来、熱陰極等から発
生した熱電子を高電圧で加速し、タングステン等の金属
ターゲットに衝突させることによって、X線を発生させ
るX線管等がある。
生した熱電子を高電圧で加速し、タングステン等の金属
ターゲットに衝突させることによって、X線を発生させ
るX線管等がある。
〈発明が解決しようとする課題〉
ところで、上述の従来のX線発生装置によれば、熱電子
発生の応答が悪く、このため、例えば超短パルスX線や
高周波X線パルスを必要とする装置あるいは高速X線撮
影装置等に適用する場合、これらの装置の要求を満たす
ために、その周辺回路等が非常に複雑になるといった問
題があった。
発生の応答が悪く、このため、例えば超短パルスX線や
高周波X線パルスを必要とする装置あるいは高速X線撮
影装置等に適用する場合、これらの装置の要求を満たす
ために、その周辺回路等が非常に複雑になるといった問
題があった。
く課題を解決するための手段〉
本発明は上記の従来の問題を解決すべくなされたもので
、その構成を実施例に対応する第1図を参照しつつ説明
すると、本発明は、紫外線源2とその紫外線源2からの
光照射により光電子を発生する手段(例えば光電膜3お
よび電子増倍素子4等)を備え、真空雰囲気中でターゲ
ットTに加速された光電子を集束照射することによって
X線を発生するよう構成したことによって特徴づけられ
る。
、その構成を実施例に対応する第1図を参照しつつ説明
すると、本発明は、紫外線源2とその紫外線源2からの
光照射により光電子を発生する手段(例えば光電膜3お
よび電子増倍素子4等)を備え、真空雰囲気中でターゲ
ットTに加速された光電子を集束照射することによって
X線を発生するよう構成したことによって特徴づけられ
る。
〈作用〉
発生するX線の時間特性は、紫外光源2から光電膜3に
照射する光の照射時間によって決定される。すなわちX
線の時間特性は紫外光源2からの紫外線とほぼ同じとな
り、これにより、X線の発生の応答性は非常に速くなる
。
照射する光の照射時間によって決定される。すなわちX
線の時間特性は紫外光源2からの紫外線とほぼ同じとな
り、これにより、X線の発生の応答性は非常に速くなる
。
〈実施例〉
本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第1図は本発明実施例の構成を示す図である。
真空容器1内に電子増倍素子(MCP)4が配設されて
いる。この真空容器1の前部の壁体には電子増倍素子4
と対向して光電膜(ホトカソード)3が設けられている
。
いる。この真空容器1の前部の壁体には電子増倍素子4
と対向して光電膜(ホトカソード)3が設けられている
。
また、真空容器1内には、電子増倍素子4の後方に、タ
ングステン等の金属ターゲットTが配置されている。こ
のターゲットTの面する位置の真空容器1の側部壁体に
はBe製の窓1aが設けられている。
ングステン等の金属ターゲットTが配置されている。こ
のターゲットTの面する位置の真空容器1の側部壁体に
はBe製の窓1aが設けられている。
光電膜3と電子増倍素子4との間には、直流電源5が接
続されており、電子増倍素子4が正電位となるように、
この両者間に0.5kV程度の電位差が与えられる。ま
た、電子増倍素子4の出力側の面は、直流電源6によっ
てその入力側に対して、1.5kV程度の正電位が与え
られる。さらに、電子増倍素子4とターゲットTとの間
にも、直流電源7が接続されており、ターゲットTは電
子増倍素子4に対して100kV程度の正電位が与えら
れる。
続されており、電子増倍素子4が正電位となるように、
この両者間に0.5kV程度の電位差が与えられる。ま
た、電子増倍素子4の出力側の面は、直流電源6によっ
てその入力側に対して、1.5kV程度の正電位が与え
られる。さらに、電子増倍素子4とターゲットTとの間
にも、直流電源7が接続されており、ターゲットTは電
子増倍素子4に対して100kV程度の正電位が与えら
れる。
一方、真空容器1の外部前方には、レンズ8および紫外
線源2が順次配置されている。この紫外線源2としては
、紫外線ランプであってもよいしあるいは紫外光レーザ
等を用いてもよい。
線源2が順次配置されている。この紫外線源2としては
、紫外線ランプであってもよいしあるいは紫外光レーザ
等を用いてもよい。
次に、本発明実施例の作用を説明する。
まず、紫外線源2からの光をレンズ8を介して光電膜3
に照射すると、光電効果によって光電子が発生する。こ
の発生した光電子は電源5による電位差によって電子増
倍素子4へと導かれ、ここで増幅される。この増幅され
た光電子は、電源7によって形成される電場および電子
レンズlによって加速され集束された電子ビームとなっ
てターゲットTに衝突する。これによりX線が放射状に
発生し、そのX線は窓1aを経て真空容器1外部へと出
射する。
に照射すると、光電効果によって光電子が発生する。こ
の発生した光電子は電源5による電位差によって電子増
倍素子4へと導かれ、ここで増幅される。この増幅され
た光電子は、電源7によって形成される電場および電子
レンズlによって加速され集束された電子ビームとなっ
てターゲットTに衝突する。これによりX線が放射状に
発生し、そのX線は窓1aを経て真空容器1外部へと出
射する。
ここで、発生するX線の時間特性は、紫外線源2からの
出力光とほぼ同じになる。従って、得られるX線はDC
−Ml−17程度の周波数特性をもつ。また、現状では
、電子増倍素子4は、その時間分解能がn5ec以下の
ものもあることがら、n5ec以下の超短パルスX線も
得ることも可能となる。
出力光とほぼ同じになる。従って、得られるX線はDC
−Ml−17程度の周波数特性をもつ。また、現状では
、電子増倍素子4は、その時間分解能がn5ec以下の
ものもあることがら、n5ec以下の超短パルスX線も
得ることも可能となる。
なお、以上の本発明実施例において、電子増倍素子4を
複数段配置すれば、より高強度あるいは高輝度のX線を
発生することができる。
複数段配置すれば、より高強度あるいは高輝度のX線を
発生することができる。
また、以上の本発明実施例において、光電膜3は必ずし
も必要ではなく、例えば第2図(a)に示すように、紫
外線源2がらの光を、窓11bを通して真空容器11内
に導いて、電子増倍素子4に直接に照射してもよいし、
また、同図(ロ)に示すように、遠方に配置した紫外線
a!X2の出力光を光ファイバFによって、真空容器2
1内部へと導いて、電子増倍素子4に照射するよう構成
してもよい。
も必要ではなく、例えば第2図(a)に示すように、紫
外線源2がらの光を、窓11bを通して真空容器11内
に導いて、電子増倍素子4に直接に照射してもよいし、
また、同図(ロ)に示すように、遠方に配置した紫外線
a!X2の出力光を光ファイバFによって、真空容器2
1内部へと導いて、電子増倍素子4に照射するよう構成
してもよい。
ざらには、電子増倍素子4を設けずに、光電膜3から発
生した光電子を加速してターゲットTに直接照射するよ
う構成してもよい。
生した光電子を加速してターゲットTに直接照射するよ
う構成してもよい。
第3図は本発明の他の実施例の構成を示す図である。
この例においては、円環状の真空容器31に、リング状
の光電膜33および電子増倍素子34をそれぞれ所定位
置に配置しており、また、金属ターゲットT′の形状も
同様のリング状としている。
の光電膜33および電子増倍素子34をそれぞれ所定位
置に配置しており、また、金属ターゲットT′の形状も
同様のリング状としている。
そして、紫外線源2からの先進行路上に回転ミラーM、
を配置し、この回転ミラーM、および全反射鏡M2によ
って、リング状の光電膜33の光電面に、紫外線を半径
R上に沿って高速スキャンするよう構成している。
を配置し、この回転ミラーM、および全反射鏡M2によ
って、リング状の光電膜33の光電面に、紫外線を半径
R上に沿って高速スキャンするよう構成している。
この実施例によると、リング状ターゲットT′の半径R
の円周上の任意の位置からX線を発生することができ、
これにより、真空容器31の中央空間部に置かれた被検
体Wの立体像をリアルタイムで得ることができる。
の円周上の任意の位置からX線を発生することができ、
これにより、真空容器31の中央空間部に置かれた被検
体Wの立体像をリアルタイムで得ることができる。
なお、回転ミラーMによって紫外線をスキャンする構成
に代えて、例えば第4図に示すように、複数の紫外線源
2・・・2を半径Rの円周上に沿って等ピッチで配置し
、その配置位置に対応するターゲットT′の各位置から
X線をそれぞれ独立に発生するよう構成してもよい。
に代えて、例えば第4図に示すように、複数の紫外線源
2・・・2を半径Rの円周上に沿って等ピッチで配置し
、その配置位置に対応するターゲットT′の各位置から
X線をそれぞれ独立に発生するよう構成してもよい。
〈発明の効果〉
以上説明したように、本発明によれば、光電膜や電子増
倍素子等に紫外線を照射することにより発生する光電子
を、加速して金属ターゲットに衝突させることによって
、X線を発生するよう構成したから、X線発生の応答性
が非常に速くなって、超短パルスX線あるいは高周波X
線パルスを容易に得ることが可能となる。これにより、
例えばX線回折装置や蛍光測定装置等に本発明装置を適
用することによって、その各測定情報をリアルタイムで
得ることが可能となる。また、X線による高速撮影や高
速計測を容易に行うことができる。しかも、それらの装
置に適用するにあたり、X線発生装置自体やその周辺回
路等が複雑になることもない。
倍素子等に紫外線を照射することにより発生する光電子
を、加速して金属ターゲットに衝突させることによって
、X線を発生するよう構成したから、X線発生の応答性
が非常に速くなって、超短パルスX線あるいは高周波X
線パルスを容易に得ることが可能となる。これにより、
例えばX線回折装置や蛍光測定装置等に本発明装置を適
用することによって、その各測定情報をリアルタイムで
得ることが可能となる。また、X線による高速撮影や高
速計測を容易に行うことができる。しかも、それらの装
置に適用するにあたり、X線発生装置自体やその周辺回
路等が複雑になることもない。
第1図は本発明実施例の構成を示す図、第2図はその実
施例の変形例の説明図である。 第3図および第4図はそれぞれ本発明の他の実施例の構
成を示す図である。 1・・・真空容器 1a・・・窓 2・・・紫外線源 3・・・光電膜 4・・・電子増倍素子 5.6.7・・・直流電源 8・・・レンズ
施例の変形例の説明図である。 第3図および第4図はそれぞれ本発明の他の実施例の構
成を示す図である。 1・・・真空容器 1a・・・窓 2・・・紫外線源 3・・・光電膜 4・・・電子増倍素子 5.6.7・・・直流電源 8・・・レンズ
Claims (1)
- 真空雰囲気中でターゲット材料に加速された高速電子を
衝突させることによってX線を発生する装置において、
紫外線源と、この紫外線源からの光照射により光電子を
発生する手段を備え、上記光電子をターゲット材料に照
射するよう構成したことを特徴とする、X線発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11345190A JP2770549B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | X線発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11345190A JP2770549B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | X線発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0412497A true JPH0412497A (ja) | 1992-01-17 |
| JP2770549B2 JP2770549B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=14612567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11345190A Expired - Lifetime JP2770549B2 (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | X線発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2770549B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6516048B2 (en) | 2001-02-01 | 2003-02-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray generator |
| JP2006134876A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | General Electric Co <Ge> | 電子放出器アセンブリ、及び電子ビームを発生する方法 |
| GB2446505A (en) * | 2008-02-05 | 2008-08-13 | Gen Electric | X-ray generation using a secondary emission electron source |
| JP2015060735A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線発生装置及び試料検査装置 |
| US10712296B2 (en) | 2016-12-23 | 2020-07-14 | Orion Engineering Limited | Handheld material analyser |
| CN112837982A (zh) * | 2021-02-24 | 2021-05-25 | 天津金曦医疗设备有限公司 | 一种x射线源 |
-
1990
- 1990-04-27 JP JP11345190A patent/JP2770549B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6516048B2 (en) | 2001-02-01 | 2003-02-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray generator |
| JP2006134876A (ja) * | 2004-11-02 | 2006-05-25 | General Electric Co <Ge> | 電子放出器アセンブリ、及び電子ビームを発生する方法 |
| GB2446505A (en) * | 2008-02-05 | 2008-08-13 | Gen Electric | X-ray generation using a secondary emission electron source |
| JP2015060735A (ja) * | 2013-09-19 | 2015-03-30 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線発生装置及び試料検査装置 |
| US10712296B2 (en) | 2016-12-23 | 2020-07-14 | Orion Engineering Limited | Handheld material analyser |
| CN112837982A (zh) * | 2021-02-24 | 2021-05-25 | 天津金曦医疗设备有限公司 | 一种x射线源 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2770549B2 (ja) | 1998-07-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0560381B2 (ja) | ||
| JPH0372174B2 (ja) | ||
| JPH0216983B2 (ja) | ||
| GB2408905A (en) | Backscatter imaging using Hadamard transform masking | |
| JPS58118733A (ja) | ラジオグラフイ装置 | |
| JP4261691B2 (ja) | X線管 | |
| JPH0412497A (ja) | X線発生装置 | |
| US4764674A (en) | High time resolution electron microscope | |
| US3732426A (en) | X-ray source for generating an x-ray beam having selectable sectional shapes | |
| JPH09106777A (ja) | 電子顕微鏡用電子増倍器 | |
| JPS61140040A (ja) | X線ストリ−ク管の時間較正方法 | |
| JP3244620B2 (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| US4304998A (en) | Panoramic dental X-ray machine employing image intensifying means | |
| US2727183A (en) | Radiation detector of the scanning type | |
| JPS5811569B2 (ja) | デンシブンコウソウチ | |
| JPH05121021A (ja) | 2次元の電子源装置 | |
| GB1588234A (en) | Transmission type beam nicroscopes utilising a scanning technique | |
| JPS5928939B2 (ja) | X線発生器 | |
| JPS60130044A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JPS6230944A (ja) | 走査形x線光電子分析装置 | |
| JPS6114817B2 (ja) | ||
| JPS59230241A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JPH11111211A (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
| JP3765781B2 (ja) | X線顕微鏡の像調整装置と像調整方法 | |
| JPH06275215A (ja) | 二次元x線管 |