JPH04125443U - 縦型減圧cvd装置 - Google Patents

縦型減圧cvd装置

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JPH04125443U
JPH04125443U JP4081891U JP4081891U JPH04125443U JP H04125443 U JPH04125443 U JP H04125443U JP 4081891 U JP4081891 U JP 4081891U JP 4081891 U JP4081891 U JP 4081891U JP H04125443 U JPH04125443 U JP H04125443U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
boat
reaction tube
wafer
pressure cvd
protrusions
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Pending
Application number
JP4081891U
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English (en)
Inventor
武敏 佐藤
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Kokusai Denki Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
Kokusai Denki Electric Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ボートの下部付近に載置したウェーハの温度
を短時間で安定させる。 【構成】 内部反応管2内壁にボート1を保持すること
によりボート1の下部付近に載置したウェーハの温度を
短時間で安定させることができる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は内,外部反応管を垂設して炉口部を蓋6で密封し、内部反応管内にボ ートを設けて該ボートに載置されたウェーハに薄膜を堆積する縦型減圧CVD装 置に関する。
【0002】
【従来の技術】
シリコン半導体プロセスにおいて、多結晶シリコン膜,シリコン窒化膜等の薄 膜の堆積法として、化学的気相成長法が必要不可欠となっている。
【0003】 図4は従来装置の1例の要部を示す断面図である。2,3はそれぞれ内,外部 反応管、6は炉口部を密封するステンレス製蓋、5はこの蓋6上に置かれた石英 キャップ、1はこのキャップ5上に載せたボートで、多数枚のウェーハ4が載置 されている。
【0004】 このような従来装置は図示しないヒータによりボート1上に載置されたウェー ハ4を加熱し、反応ガスを流入させつつ排気することによりウェーハに薄膜を堆 積する装置である。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】
上記従来例にあっては、ウェーハ4を載置したボート1を保持するため、ステ ンレス製蓋6上の石英キャップ5にボート1を載せているので、ウェーハ4の熱 がボート1,石英キャップ5及びステンレス製蓋6を介して放熱するためボート 1の下部付近に載置したウェーハ4の温度が安定するまで長時間を要するという 課題がある。
【0006】 本考案の目的は、ボート1の下部付近に載置したウェーハ4の温度が安定する までに要する時間を短縮することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本考案装置は上記の課題を解決し上記の目的を達成するため、図1に示すよう に内,外部反応管2,3を垂設して炉口部を蓋6で密封し、上記内部反応管2内 にボート1を設けて該ボート1に載置されたウェーハ4に薄膜を堆積する縦型減 圧CVD装置において、前記内部反応管2内壁にボート1を保持してなる。
【0008】
【作用】
このように内部反応管2の内壁にボート1を保持することにより、ボート1の 下部付近に載置したウェーハ4の温度は内部反応管2の温度とほぼ等温になり、 ボート1の下部付近に載置したウェーハ4の熱が放熱する度合が極めて少なくな るため、当該ボート1の下部付近のウェーハ4の温度が短時間で安定することに なる。
【0009】
【実施例】
図1は本考案装置の1実施例の要部を示す断面図、図2は本実施例におけるボ ートの平面図、図3は同じくその内部反応管の平面図である。2,3はそれぞれ 内,外部反応管、6は炉口部を密封するステンレス製蓋で、炉内を減圧状態に保 つためのものである。この蓋6の内部には110〜150℃に温度制御されたヒ ータ8が収設されている。ヒータ8の温度制御は公知の手段を適宜用いればよい 。
【0010】 1はボートで、多数枚のウェーハ4が載置されている。このボート1の下面外 周には図2に示すように3つの突部9が等角度120°おきに設けられ、これに 対し内部反応管2の内壁には図3に示すようにボート1の3つの突部9をそれぞ れ支える突起部7が設けられている。この各突起部7の隣接相互間にはボート1 の3つの突部9が挿通する部分10が形成されることになる。7Aは各突起部7 に設けた支え部分であり、11はボート1を昇降するエレベータである。
【0011】 上記構成の本実施例において内部反応管2内にボート1をエレベータ11によ り上昇させ、3つの突起部7の支え部分7Aに保持するには、蓋6を取り除いた 後、エレベータ11によりボート1を上昇させ、内部反応管2の挿通部分10を 挿通させる。しかる後、エレベータ11自体を120°回転させ、エレベータ1 1を下降させることによりボート1の3つの突部9を内部反応管2の3つの突起 部7の支え部分7Aで支えてボート1を内部反応管2の3つの突起部7に保持す ることができることになる。
【0012】 次いで炉口部を蓋6で密封した後、この実施例においても従来と同様に図示し ないヒータによりボート1上に載置されたウェーハ4を加熱し、反応ガスを流入 させつつ排気することによりウェーハ4に薄膜を堆積することができる。
【0013】 本実施例は内部反応管2内壁に設けた突起部7に、ボート1の下面外周に設け た複数の突部9を保持することにより、ボート1の下部付近に載置したウェーハ 4の温度は内部反応管2の温度とほぼ等温になり、ボート1の下部付近に載置し ないウェーハ4の熱が放熱する度合が極めて少なくなるため、当該ボート1の下 部付近のウェーハ4の温度が短時間で安定することになる。
【0014】 更に炉口部を密封するステンレス製蓋6の内部に温度制御されるヒータ8を収 設し、このヒータ8を温度制御することによりボート1の下部付近に載置したウ ェーハ4の熱が放熱する度合をなお一層少なくできるため、当該ボート1の下部 付近のウェーハ4の温度が更に短時間で安定することができることになる。
【0015】
【考案の効果】
上述のように本考案によれば、内,外部反応管2,3を垂設して炉口部を蓋6 で密封し、上記内部反応管2内にボート1を設けて該ボート1に載置されたウェ ーハ4に薄膜を堆積する縦型減圧CVD装置において、前記内部反応管2内壁に ボート1を保持してなるので、ボート1の下部付近に載置したウェーハ4の温度 を短時間で安定させることができ、又スループットを向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案装置の1実施例の要部を示す断面図であ
る。
【図2】本実施例におけるボートの平面図である。
【図3】同じくその内部反応管の平面図である。
【図4】従来装置の1例の要部を示す断面図である。
【符号の説明】
1 ボート 2 内部反応管 3 外部反応管 4 ウェーハ 6 (ステンレス製)蓋 7 突起部 7A 支え部分 8 ヒータ 9 突部 10 挿通部分

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内,外部反応管(2,3)を垂設して炉
    口部を蓋(6)で密封し、上記内部反応管(2)内にボ
    ート(1)を設けて該ボート(1)に載置されたウェー
    ハ(4)に薄膜を堆積する縦型減圧CVD装置におい
    て、前記内部反応管(2)内壁にボート(1)を保持し
    てなる縦型減圧CVD装置。
  2. 【請求項2】 内部反応管(2)内壁に複数の突起部
    (7)を設け、ボート(1)の下面外周には前記各突起
    部(7)に保持される複数の突部(9)を設けてなる請
    求項1の縦型減圧CVD装置。
  3. 【請求項3】 蓋(6)内部に温度制御されたヒータ
    (8)を収設することを特徴とする請求項1,2の縦型
    減圧CVD装置。
JP4081891U 1991-05-01 1991-05-01 縦型減圧cvd装置 Pending JPH04125443U (ja)

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