JPH04125602A - 光導波路型偏光子 - Google Patents

光導波路型偏光子

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JPH04125602A
JPH04125602A JP24798490A JP24798490A JPH04125602A JP H04125602 A JPH04125602 A JP H04125602A JP 24798490 A JP24798490 A JP 24798490A JP 24798490 A JP24798490 A JP 24798490A JP H04125602 A JPH04125602 A JP H04125602A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光導波路内を伝搬してきたTE(電界が基板
に平行)及びTM(磁界が基板に平行)の2つの偏波の
内、TMモードは基板側に放射し、TEモードのみを通
過させる光導波路型偏光子に関するものである。
〔従来の技術〕
一般に、発光素子である半導体レーザはTEモードで発
振し、さらに他の光機能素子も、TE。
TMの何れかの偏光に対してのみ動作するものが多い。
それ対して、単一モードファイバ中を伝搬してきた光は
一般に楕円偏光になっており、TEとTMの両側光成分
を含むので、光機能素子に入射させて光慣号に何らかの
処理を行った約には、何れかの偏光を除去するか、TE
、TM偏光の伝搬路を分離するようにする必要がある。
したがって、偏光子や偏光モードスプリッタは光回路の
重要な構成要素である。また、偏光子はアイソレータを
構成するためにも用いられるものである。
ところで、光素子を組み合わせた光回路は、将来、素子
を有機的に一体化し、光軸調整が不要で、安定かつ高性
能、低コスト、大量生産に適した光集積回路になること
が予想されるが、その構成要素の1つである偏光子の現
状は、個別部品としては非常に高法能であるが、小型化
には不向きであり、モノリシックに光集積回路に組み込
むことは困難である。
光集積回路内では、各種の素子は光導波路により結合さ
れるので、光集積回路用の偏光子としては導波路型偏光
子が不可欠である。このタイプの偏光子として、第9図
に示すような光導波路WGの表面に金属Mをクラッドと
して直接又はバッファ層を介して装荷したものが最も簡
単な構造として知られている。報告例として、K゛イオ
ン交換作成した単一モードガラススラブ導波路にアルミ
ニウムを装荷したものにおいて、消光比は40〜60d
B/amがとれるが、TEモードの挿入損失は4〜6d
B/Cmと大きくなってしまう。
また、第10図に示すように、方解石((:aCO2)
などの異方性光学結晶Cをクラッドとして装荷した偏光
子は、異方性光学結晶Cが1Mモードに対してはコアよ
り屈折率が高く、TEモードに対しては低いので、TE
モード透過、TMモード漏洩となり、低い挿入損失で高
い消光比をとることができる。しかし、光学結晶を高精
度に研磨することが要求され、コアの屈折率も限られ、
また、モノリシックに集積することができないので大量
生産には不向きで、しかも、貰価になる。
ところで、本発明者等が提案した共振反射型光導波路(
以下、ARROWと称する。)は単一モード光導波路で
あり、従来の光導波路とは異なり、第8図にその断面と
屈折率の関係を示すように、高屈折率の半導体基板3と
低屈折率誘電体コア1との間に、高屈折率層の第1クラ
ッド層21と低屈折率層の第2クラッド層(コア1と同
じ屈折率をもつ材料)22の2層1組の共振反射クラッ
ド2を狭んだ構造をしており、基本構造において強い偏
波依存性を持ち、TEモードのみを低損失で導波させる
性質がある。第1クラド層の厚さに対する損失特性をみ
ると、第5図にTEモードを1点鋼線で、1Mモードを
2点鎖線で示したように、第1クラッド層の厚さを0.
1μm付近に設定すれば、波長1.3μmにおいて1c
m当たり消光比50dB、挿入損失0.3dBが得られ
る。なお、第5図に示したλは使用波長を、Tlcはコ
アの屈折率を、dcはコアの厚さを、nlは第1クラッ
ド層の屈折率を、dlは第1クラッド層の厚さを、d2
は第2クラッド層の厚さを、Δαは1MモードとTEモ
ードの単位長さ当たりの損失の差をそれぞれ表す。以下
、同様である。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、ARROWにおいてこのような特性を得
るたtには、コアの厚さを4μmと薄くする必要がある
ので、コア径が通常は8μm程度の光ファイバから光を
入れる場合に、光ファイバからの光のスポットサイズを
変換して小さくしなければならない。また逆に、コアの
厚さを光ファイバのそれと同程度に厚くすると、1Mモ
ードの損失が低くなって(TEモードもやはり低損失に
なる)偏光子としては使えなくなる。
本発明はこのような状況に鑑みてなされたものであり、
その目的は、上記に示した従来型のARROWを用いる
偏光素子に対して、高消光比、低挿入損失、しかも製作
が容易で、光集積回路に最適なTEモード透過、TMモ
ード漏洩タイプの光導波路型偏光子を提供することであ
る。
〔課題を解決するための手段〕
以下、図面を参照にして本発明の光導波路型偏光子の構
成を示す。
第1図に本発明の光導波路型偏光子300基本構造を示
す。
この光導波路型偏光子30の前提となるのは、第8図に
示したARROW (共振反射型光導波路)であるので
、この光導波路についてまず説馴する。この単一モード
光導波路は、上記したように、従来の光導波路とは異な
り、高屈折率の半導体基板(GaAs、InPSSi等
)3と低屈折率誘電体コア(510,)1との間に、高
屈折率層の第1クラッド層(TiOa 、po 1y−
3i等)21と低屈折率層の第2クラッド層(コア1と
同じ屈折率をもつ材′N)22の2層1組の共振反射ク
ラッド2を狭んだ構造をしており、この共振反射クラッ
ド2の共振反射による極めて高い反射率によって光をコ
ア1に閉じ込めるものである。
この共振反射クラッド2の反射率は、共振反射クラッド
2の各層の膜厚、屈折率及び波長に依存する。これらが
最適な条件を満たすときは、共振反射による反射率は極
めて1に近いために、1dB/ c m以下の低損失が
達成できる。逆に、この反射率が低くなる条件において
は、はとんどの光が共振反射クラッド2を透過して基板
3に放射され、非常に高損失となる。第3図は波長λ=
0.633μmにおける第1クラッド層21の厚さd、
に対するTEモードの放射損失を表したものがあるが、
放射損失は特に第1クラッド層21の厚さd及び屈折率
n1に大きく依存する。また、TMモードの方が損失が
大きくなる偏波依存性がある(第5図の1点鎖線及び2
点鎖線)。TE、TMモードともほぼ同じdlの値のと
きに損失は最大値をとるが、第3図に示すように、第1
クラッド層21の屈折率が高い程、最大点は左へ移動す
る。
ところで、第1クラッド層を第8図のように単層21で
構成する代わりに、第1図に示すように、高屈折率層H
と低屈折率層りを交互に重ねた多層薄膜21′で構成す
ると、第1クラッド層21′のTEモードの等価的な屈
折率に対してTMモードの等価的な屈折率の方が小さく
なる。その結果、TMモードの損失が最大になる第1ク
ラッド層21′の厚さdlが相対的に厚くなる。したが
って、第1クラッド層の厚さをTMモードの損失が最大
になる厚さに設定すれば、TEモードは低損失を保持し
、TEモード透過、TMモード漏洩の光導波路型偏光子
が構成できる。第4図は、波長13μmにおいて、第1
クラッド層21が単層(n、=3.5)すなわち基本的
なARROWと、第1クラツド21′を3層(n=3.
 5/1. 46/3. 5)で構成した本発明の偏光
子の各モードの損失特性を示したものである。3層の場
合、その合計の膜厚を第1クラッド層21′の厚さdと
する。1層の場合はTE、TMの損失が最大になる第1
クラッド層21の厚さdlは等しいが、3層と層数が比
較的少なくても、TMモードの最大点は相対的に右へず
れる。そのためa、 =0゜3μm付近ではTMモード
で導波損失30dB/cm以上、TEモードで導波損失
0.01dB/cm以下の高性能な光導波路型偏光子が
構成できる。
本素子の製作に関しては、元来製作が容易なARROW
の第1クラッド層を3層にするだけで構成されるので、
本光導波路型偏光子も製作が容易である。
また、本発明による光導波路型偏光子30は、第2図に
示すように、従来のARROWあるいはARROW−B
 (第1クラッド層をコアより低屈折率にし、第2クラ
ッド層をコアとほぼ同じ屈折率にしたもの)40.41
と容易に集積化が可能で、本発明の光導波路型偏光子3
0の入・出射端での損失をほとんどゼロにすることがで
きる。さらに、第2図に示すように、TMモード光は全
て基板3へ放射されるので、半導体基板3上に光検出器
4を一体に構成してこの基板3へ放射されたTMモード
光を光検出器4で検出するようにすることで、本偏光子
30と光検出器4を集積化したTMモード検波用の偏光
分離・光検出集積回路が構成できる。これにより、TM
、TEモードを別々に検出できるので、このように構成
した素子はコヒーレント通慣用の偏波ダイパーシティ受
慣器等に広く応用が可能である。
〔作用コ 本発明の光導波路型素子によると、第1クラッド層を高
屈折率層と低屈折率層を交互に重ねた多層薄膜で構成し
ているので、第1クラッド層のTEモードの等価的な屈
折率に対してTMモードの等価的な屈折率の方が小さく
なり、TMモードの損失が最大になる第1クラッド層の
厚さが相対的に厚くなるため、第1クラッド層の厚さを
TMモードの損失が最大になる厚さに設定すれば、TE
モードは低損失を保持し、TEモード透過、TMモード
漏洩となる。したがって、TE、TMの2つの偏波を含
む光を分離して、TMモードは非常に高効率で基板へ放
射し、TEモードのみを低損失で通過させることができ
る。
〔実施例〕
次に、本発明の光導波路型偏光子の実施例について説明
する。
この光導波路型偏光子の基本的な構成は、上記したよう
に、第8図に示した共振反射型光導波路(ARROW)
の第1クラッド層21を、第1図に示すように、高屈折
率層(屈折率n1)Hと低屈折率層(屈折率nL)Lを
交互に重ねた多層薄膜2ビで構成したものである。nL
とn8の差が大きいほどTESTMモードに対する等価
的な屈折率の差が大きくなり、前記したようなTEモー
ドとTMモードの損失の最大点の相違が大きくなる。高
折率層Nとしては、TiO2(短波長帯用>、poly
−3i  (長波長帯用)、低屈折率層りとしてはSi
n、等を用いればよい。第4図は、本発明の偏光子にお
けるTEモード(破線)及びTMモード(実線)の基本
モードの放射損失を示したものであり、光通信用の波長
メ=1.3μmにおいて、コア厚は光ファイバのコア径
と同程度のdc=8.2μmで、第1クラツド多層膜2
1′はSi  (n、l=3.5)と5102  (n
、。
1.46)を組合わせた3層(n□/ n 、、 / 
nや、合計の厚さc+、)のものを仮定している。多層
膜21′の層数が多いほど各モードの損失最大点の相違
は大きくなるが、わずか3層でも十分な相違が生じる。
したがって、第1クラッド層21′の厚さをd+=0.
3μm付近に設定することにより、TMモードの損失は
30dB/cm以上、TEモードは0.01dB/cm
以下の高性能な偏光子が構成できる。ただし、膜厚の誤
差の許容範囲が狭いので、5%程度の高精度の膜厚制御
が必要となる。また、TEの2次の斉次モードTE、モ
ードの損失が1dB/cm以下となり、実質的な単一モ
ードではなくなる。
この斉次モードが問題になるとき、あるいは、より高い
消光比を得る必要がある場合には、コア厚dcを比較的
薄くした同構造のものを用いるとよい。ただし、光ファ
イバと接続する場合は、スポット径を小さく変換する必
要がある。前記と同様の構造でコア厚をdc=4μmに
した場合と、このコア厚で第1クラッド層を単層(AR
ROWの基本的構造)とした場合の損失特性を第5図に
に示す。単層の場合でも、各モード間の損失差は50d
B/cm以上得られ、これが従来のARROW型偏光子
であるが、本発明に従って第1クラッド層を多層にすれ
ば、d+=0.25〜0.36L1mの広い範囲で損失
差100dB/am以上、TEモード挿入損失0.8d
B/cm以下の高性能が得られ、膜厚の許容範囲も広く
、TE高次モードは10dB/cm以上になり、実質的
に単一モードとなる。さらに、高精度に膜厚を制御すれ
ば、300dB/cm以上の非常に高性能な偏光子が実
現できる。コア厚をさらに小さくすれば、挿入損失をあ
る程度小さく保持しつつ、さらに消光比の高いものが得
られる。
次に、本発明の構造の光導波路型偏光子を用いれば、短
波長帯の光に対しても高性能な偏光子が構成できる。第
6図は、TiO2(n++=2゜3) 、S 1o2(
nL=1.46)を3層(nu/ n L / n I
l)重ねて第1クラツド21′にした構造における波長
λ=0.85μmの損失特性である。n4は大きい程よ
いが、短波長帯では吸収があるたtに、高屈折率のSi
  (n=3.5)は用いられない。第6図の場合には
、第1クラッド層21′はわずか3層であるが、TMモ
ードの最大となる膜厚は十分厚い方にずれ、(ll=0
.3〜0,32μmにおいてモード間の損失差は30d
B/cm以上が得られる。さらに、前言己と同様にコア
厚dcを3.0μmに小さくすると、第7図に示すよう
に、単層では損失差30dB/cmしか生じないが、多
層の場合は、d、二0.28〜0.35μm付近で損失
差100dB/cm以上が実現でき、高次のTEモード
は20dB/cm以上になり、実質的単一モードを保持
できる。
以上、本発明の光導波路型偏光子の基本構造といくつか
の実施例について説明してきたが、本発明はこれらに限
定されず種々の変形が可能である。
例えば、スラブ状のコアの上下に同様の2層1組のクラ
ッドを設け、その中、コアに接する上下の高屈折率のク
ラッド層を本発明に従って多層にすることも可能である
。また、断面円形のステップインデックス型の光ファイ
バに本発明を適用してモード分離用に構成することもで
きる。さらに、第1クラッド層を多層構造にする代わり
に、複屈折性を示す薄膜を用いても同様の効果がある。
〔発明の効果〕
本発明の光導波路型素子によると、第1クラッド層を高
屈折率層と低屈折率層を交互に重ねた多層薄膜で構成し
ているので、第1クラッド層のTEモードの等価的な屈
折率に対してTMモードの等価的な屈折率の方が小さく
なり、TMモードの損失が最大になる第1クラッド層の
厚さが相対的に厚くなるたt1第1クラッド層の厚さを
TMモードの損失が最大になる厚さに設定すれば、TE
モードは低損失を保持し、TEモード透過、TMモード
漏洩となる。したがって、TE、TMの2つの偏波を含
む光を分離して、TMモードは非常に高効率で基板へ放
射し、TEモードのみを低損失で通過させることができ
る。
そのたt、従来は光学結晶プリズム、偏光ビームスプリ
ッタなどの個別素子により得られた偏光子機能を、本発
明により光集積回路にて実現できる。これにより、集積
化された光アイソレータなどの性能が向上する。また、
半導体基板上に製作された光検出器と本発明の偏光子を
集積化することにより、TMモード検波用の偏光分離・
光検出集積回路等に適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光導波路型偏光子の基本構造を示す図
、第2図は本発明による光導波路型偏光子を組み込んで
構成した光集積回路の1例の構成を示す図、第3図は本
発明の前提の共振反射型光導波路の第1クラド層の厚さ
に対するTEモードの損失特性を示す図、第4図は本発
明の光導波路型偏光子の1実施例と共振反射型光導波路
の第1クラド層の厚さに対する損失特性を示す図、第5
図は第4図の場合にコア厚を薄くしたときの第1クラド
層の厚さに対する損失特性を示す図、第6図は本発明の
光導波路型偏光子の短波長帯用の実施例と共振反射型光
導波路の第1クラド層の厚さに対する損失特性を示す図
、第7図は第6図の場合にコア厚を薄くしたときの第1
クラド層の厚さに対する損失特性を示す図、第8図は共
振反射型光導波路の断面と屈折率の関係を示す図、第9
図、第10図は従来の光導波路型偏光子の構成を示す図
である。 1・・・コア、2・・・共振反射クラッド、3・・・基
板、4・・・光検出器、21.21′・・・第1クラッ
ド層、22・・・第2クラッド層、30・・・光導波路
型偏光子、40.41・・・共振反射型光導波路、H・
・・高屈折率層、L・・・低屈折率層 j13図 第4 図 十1クラ・・1層の厚さd1(μm) 1失(dB/cm) T暉失(dB/am) 第 図 才2クラヮド(nz、dz) 第 図 第10図 WG 7J’ラスh!+す(1番

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板、比較的低屈折率の第2クラッド層、比較的
    高屈折率の第1クラッド層、第2クラッド層とほぼ同じ
    屈折率をもつコア層の順に積層された共振反射型光導波
    路において、第1クラッド層を高屈折率層と低屈折率層
    を交互に重ねた多層膜で構成し、入射したTE偏波とT
    M偏波の内、TM偏波を基板に放射し、TE偏波を導波
    するように構成したことを特徴とする光導波路型偏光子
    。
  2. (2)基板が半導体で構成されていることを特徴とする
    請求項1記載の光導波路型偏光子。
  3. (3)第1クラッド層が高屈折率層、低屈折率層、高屈
    折率層の3層からなることを特徴とする請求項1又は2
    記載の光導波路型偏光子。
  4. (4)第1クラッド層に、高屈折率層と低屈折率層を交
    互に重ねた多層膜の代わりに、複屈折性を有する層を用
    いたことを特徴とする請求項1又は2記載の光導波路型
    偏光子。
  5. (5)基板に放射されたTM偏波を受光するように基板
    に一体に光検出器を設けたことを特徴とする請求項1か
    ら4の何れか1項記載の光導波路型偏光子。
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