JPH04127039A - 蛍光スペクトルによる物質の同定方法 - Google Patents
蛍光スペクトルによる物質の同定方法Info
- Publication number
- JPH04127039A JPH04127039A JP24700890A JP24700890A JPH04127039A JP H04127039 A JPH04127039 A JP H04127039A JP 24700890 A JP24700890 A JP 24700890A JP 24700890 A JP24700890 A JP 24700890A JP H04127039 A JPH04127039 A JP H04127039A
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- Japan
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- fluorescence
- excitation
- wavelength
- excitation wavelength
- substance
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は蛍光スペクトルを用いて主に有機物質である未
知物質を複数の標準物質の中から同定する同定方法に関
する。
知物質を複数の標準物質の中から同定する同定方法に関
する。
未知物質の蛍光スペクトルの形状を、既知の標準物質の
それと比較して、未知物質の同定を行う手法は従来から
試みられていた。しかしながら従来これらの分析を行う
場合、励起波長は特定の一つの波長に固定した状態で測
定された１本の蛍光スペクトルを用いて比較を行われて
いた。この種の装置として関連するものには例えば第２
５回応用スペクトロメトリー東京討論会予稿集（１９９
０年）において論じられている。
それと比較して、未知物質の同定を行う手法は従来から
試みられていた。しかしながら従来これらの分析を行う
場合、励起波長は特定の一つの波長に固定した状態で測
定された１本の蛍光スペクトルを用いて比較を行われて
いた。この種の装置として関連するものには例えば第２
５回応用スペクトロメトリー東京討論会予稿集（１９９
０年）において論じられている。
上記従来技術では、用いた励起波長において複数の標準
物質が酷似した蛍光スペクトルを示す場合について配慮
がされておらず、このような場合、これらの物質量の識
別ができず、未知物質の同定が困難となる問題があった
。
物質が酷似した蛍光スペクトルを示す場合について配慮
がされておらず、このような場合、これらの物質量の識
別ができず、未知物質の同定が困難となる問題があった
。
本発明の目的は、このような場合においても更にこれら
類似の標準物質間の識別を可能にする同定方法を提供す
ることを目的とする。
類似の標準物質間の識別を可能にする同定方法を提供す
ることを目的とする。
上記目的を達成するために、１つの励起波長における蛍
光スペクトルのみではなく、未知物質及び各々の標準物
質について２つ以上の予め定められた励起波長における
蛍光スペクトルを測定し、これら複数の蛍光スペクトル
を用いて比較を行うようにしたものである。
光スペクトルのみではなく、未知物質及び各々の標準物
質について２つ以上の予め定められた励起波長における
蛍光スペクトルを測定し、これら複数の蛍光スペクトル
を用いて比較を行うようにしたものである。
３５０ｎｍ近辺の近紫外から５５０ｎｍ近辺の可紫域の
範囲の励起光で励起した場合、一般に有機物の示す蛍光
スペクトルはピーク数も大抵の場合１個と少なく、半値
幅も１１００ｎ〜２００ｎｍと広く、単純な形状をとる
ことが多い。例として第３図に半導体製造を行うクリー
ンルーム中で異物として問題となる代表的な物質である
。人間の皮フ片の励起波長４０５ｎｍにおける蛍光スペ
クトルを示す。このような特徴から、ある励起波長にお
いて、２つ以上の物質が同様の蛍光スペクトル形状をも
つことも少なくない。しかし、このような場合でも別の
励起波長においては、形状に有意な差のある蛍光スペク
トルが得られ可能性がある。このため、２つ以上の励起
波長で訓定した蛍光スペクトルを比較して同定すること
は有益である。更に、この新たな励起波長で再び相似の
蛍光スペクトルが得られた場合でも、強度関係まで同一
のことは少ない。即ち、今、物質Ａが励起波長λｌでＦ
＾１（λ）、λ２でＦ＾２（λ）（但しλは蛍光側波長
を表す）なる蛍光スペクトルを示し、物質Ｂが同様に励
起波長λ１及びλ２においてＦＢＩ（λ）及びＦＢＩ（
λ）を示し、（但し、ｋｌ及びに２は定数） なる関係、即ちＦ＾１（λ）とＦａｌ（λ）、Ｆへ２（
λ）とＦＢＩ（λ）の各組が相似関係にあるとした時、
更にｋ ｓ ＝ ｋ ２が成立つ場合もあるが、多くの
場合に１≠に２となる。ｋｌ及びに２の各個そのものは
あまり意味を持たない。何故ならば蛍光スペクトルの強
度は、 １）物質の大きさ（量）または濃度 ２）物質の形状９表面状態 によって左右され、一般に定性分析においては特別な前
処理を施さない限り、一定の条件を仮定することは難し
いからである。しかし、これらの影響は、励起波長に無
関係かもしくは励起波長を多少変えても変化しないもの
であり、ある波長λ０における２つの励起波長による蛍
光スペクトル強度の比ＦＡＩ（λＯ）／ＦＡ２（λ０）
やＦａｔ（λｏ）／ＦＢ２（λ０）は物質が同じであれ
ば、はぼ一定と考えられることができる。先程のｋｔ、
ｋｚは多くの場合に１≠に２であったから、このような
時、である。この場合各励起波長における蛍光スペクト
ルの形状は相似で有意な差はなくても、強度関係まで寛
れば、識別が可能となる。
範囲の励起光で励起した場合、一般に有機物の示す蛍光
スペクトルはピーク数も大抵の場合１個と少なく、半値
幅も１１００ｎ〜２００ｎｍと広く、単純な形状をとる
ことが多い。例として第３図に半導体製造を行うクリー
ンルーム中で異物として問題となる代表的な物質である
。人間の皮フ片の励起波長４０５ｎｍにおける蛍光スペ
クトルを示す。このような特徴から、ある励起波長にお
いて、２つ以上の物質が同様の蛍光スペクトル形状をも
つことも少なくない。しかし、このような場合でも別の
励起波長においては、形状に有意な差のある蛍光スペク
トルが得られ可能性がある。このため、２つ以上の励起
波長で訓定した蛍光スペクトルを比較して同定すること
は有益である。更に、この新たな励起波長で再び相似の
蛍光スペクトルが得られた場合でも、強度関係まで同一
のことは少ない。即ち、今、物質Ａが励起波長λｌでＦ
＾１（λ）、λ２でＦ＾２（λ）（但しλは蛍光側波長
を表す）なる蛍光スペクトルを示し、物質Ｂが同様に励
起波長λ１及びλ２においてＦＢＩ（λ）及びＦＢＩ（
λ）を示し、（但し、ｋｌ及びに２は定数） なる関係、即ちＦ＾１（λ）とＦａｌ（λ）、Ｆへ２（
λ）とＦＢＩ（λ）の各組が相似関係にあるとした時、
更にｋ ｓ ＝ ｋ ２が成立つ場合もあるが、多くの
場合に１≠に２となる。ｋｌ及びに２の各個そのものは
あまり意味を持たない。何故ならば蛍光スペクトルの強
度は、 １）物質の大きさ（量）または濃度 ２）物質の形状９表面状態 によって左右され、一般に定性分析においては特別な前
処理を施さない限り、一定の条件を仮定することは難し
いからである。しかし、これらの影響は、励起波長に無
関係かもしくは励起波長を多少変えても変化しないもの
であり、ある波長λ０における２つの励起波長による蛍
光スペクトル強度の比ＦＡＩ（λＯ）／ＦＡ２（λ０）
やＦａｔ（λｏ）／ＦＢ２（λ０）は物質が同じであれ
ば、はぼ一定と考えられることができる。先程のｋｔ、
ｋｚは多くの場合に１≠に２であったから、このような
時、である。この場合各励起波長における蛍光スペクト
ルの形状は相似で有意な差はなくても、強度関係まで寛
れば、識別が可能となる。
このように、２つ以上の励起波長において測定した蛍光
スペクトルを用いて比較を行え１′Ｊ、高い効率で各物
質の識別が可能となる。
スペクトルを用いて比較を行え１′Ｊ、高い効率で各物
質の識別が可能となる。
以下、本発明の一実施例を第１図により説明する。励起
光源１は超高圧水銀灯のように近紫外域から可視域にお
いて複数の波長の発光線をもつもの、もしくはキャノン
灯のように連続波長分布をもつもので、試料を励起して
蛍光を出させるのに充分な発光エネルギーをもつものを
用いる。この励起光ｇ１から出た光から励起光として必
要な波長帯域の光のみを取出すためにバンドパスフィル
タ２を用いる。バンドパスフィルタ２を通過した励起光
はダイクロインクミラー３を経て対物レンズ４に導かれ
、試料５に照射される。このダイクロインクミラー３は
バンドパスフィルタ２によって選択される波長域の光に
ついては高い反射率で反射し、それより長い波長域は高
い透過率で透過する特性をもつ。励起光の照射により試
料５からは蛍光及び励起光の散乱光が発生するが、これ
らは再び対物レンズ４によって捕集され、ダイクロイン
クミラー３において蛍光の大部分は透過し。
光源１は超高圧水銀灯のように近紫外域から可視域にお
いて複数の波長の発光線をもつもの、もしくはキャノン
灯のように連続波長分布をもつもので、試料を励起して
蛍光を出させるのに充分な発光エネルギーをもつものを
用いる。この励起光ｇ１から出た光から励起光として必
要な波長帯域の光のみを取出すためにバンドパスフィル
タ２を用いる。バンドパスフィルタ２を通過した励起光
はダイクロインクミラー３を経て対物レンズ４に導かれ
、試料５に照射される。このダイクロインクミラー３は
バンドパスフィルタ２によって選択される波長域の光に
ついては高い反射率で反射し、それより長い波長域は高
い透過率で透過する特性をもつ。励起光の照射により試
料５からは蛍光及び励起光の散乱光が発生するが、これ
らは再び対物レンズ４によって捕集され、ダイクロイン
クミラー３において蛍光の大部分は透過し。
励起光の散乱光の大部分は反射されるが、この散乱光の
一部は透過してしまうのでこれを完全に除くために励起
波長を完全に吸収し、かつ励起波長より長い波長域の光
はできる限り励起波長に近い波長の光まで高い透過率で
透過させるよう作られた吸収フィルタ６を用いる。ダイ
クロインクミラー３及び吸収フィルタ６の波長特性はバ
ンドパスフィルタ２の透過波長に対応する必要があり、
この３つの光学部品は１組として働く。本実施例では複
数の励起波長が選べるように、バンドパスフィルタ２．
ダイクロイックミラー３及び吸収フィルタ６の組合せを
複数個備え、マイクロコンピュータ１３からの制御によ
って動作する励起波長切替え機構２ｏによってこれらを
切替えることができる。吸収フィルタ６を透過した蛍光
の一部はビームスプリンタ１８で反射されて接眼レンズ
１９に導かれ、肉眼にて試料５の蛍光像が観察される。
一部は透過してしまうのでこれを完全に除くために励起
波長を完全に吸収し、かつ励起波長より長い波長域の光
はできる限り励起波長に近い波長の光まで高い透過率で
透過させるよう作られた吸収フィルタ６を用いる。ダイ
クロインクミラー３及び吸収フィルタ６の波長特性はバ
ンドパスフィルタ２の透過波長に対応する必要があり、
この３つの光学部品は１組として働く。本実施例では複
数の励起波長が選べるように、バンドパスフィルタ２．
ダイクロイックミラー３及び吸収フィルタ６の組合せを
複数個備え、マイクロコンピュータ１３からの制御によ
って動作する励起波長切替え機構２ｏによってこれらを
切替えることができる。吸収フィルタ６を透過した蛍光
の一部はビームスプリンタ１８で反射されて接眼レンズ
１９に導かれ、肉眼にて試料５の蛍光像が観察される。
ビームスプリッタ１８を透過した蛍光は分光器８に導か
れる。分光器８は回折格子９１回回折格子走査用モータ
０．光電子増倍管１１から成り、蛍光は回折格子９で分
光され、光電子増倍管１１においてその波長成分の光強
度が電気信号に変換され、Ａ、 ／ Ｄ変換器１２でデ
ジタル信号化されマイクロコンピュータ１３に取込まれ
る。この際、回折格子走査用モータ１０はマイクロコン
ピュータに制御されており、この走査と同期してＡ／Ｄ
変換器１２の出力信号を読取ることにより、蛍光スペク
トルがマイクロコンピュータ１３に取込まれる。マイク
ロコンピュータ１３は磁気ディスク記憶装置１４を有し
、測定した蛍光スペクトルのデータを保存することがで
きる。またマイクロコンピュータ１３はキーボード１５
及びＣＲＴ表示装置１６及びプリンタ１７を有し、操作
者からの情報の入力及び結果等のＣＲＴへの表示及びプ
リンタへの印字が可能である。
れる。分光器８は回折格子９１回回折格子走査用モータ
０．光電子増倍管１１から成り、蛍光は回折格子９で分
光され、光電子増倍管１１においてその波長成分の光強
度が電気信号に変換され、Ａ、 ／ Ｄ変換器１２でデ
ジタル信号化されマイクロコンピュータ１３に取込まれ
る。この際、回折格子走査用モータ１０はマイクロコン
ピュータに制御されており、この走査と同期してＡ／Ｄ
変換器１２の出力信号を読取ることにより、蛍光スペク
トルがマイクロコンピュータ１３に取込まれる。マイク
ロコンピュータ１３は磁気ディスク記憶装置１４を有し
、測定した蛍光スペクトルのデータを保存することがで
きる。またマイクロコンピュータ１３はキーボード１５
及びＣＲＴ表示装置１６及びプリンタ１７を有し、操作
者からの情報の入力及び結果等のＣＲＴへの表示及びプ
リンタへの印字が可能である。
以下、第２図に従い、本実施例の動作を説明する。第２
図はマイクロコンピュータ１３上で動作するソフトウェ
アの流れ図である。ここでは２つの励起波長λ＾及びλ
Ｂにおいて測定された波長λ１からλ２の範囲で標本化
波長間隔Δλ毎に取込まれた蛍光スペクトルを基に同定
を行う場合の動作について説明する。同定対象となる標
準物質はＮ個あるとし、１番目（ｉ＝１．２．・・・、
Ｎ）の標準物質をλ八で励起した時の蛍光スペクトルデ
ータ列を（Ａｈａ） Ｆ＝λ１．λ工＋Δλ、・・λ
２）、λＢで励起した時の蛍光スペクトルデータ列を（
ＢＩＪ） （ｊ＝λ１．λ１＋Δλ、・・、λ２）とし
、Ｎ個の標準物質に対するこれらの各データ列及びその
物質名が予め磁気ディスク記憶装置１４に記憶されてい
るものとする。本ソフトウェアは動作を開始するとまず
励起波長切替え機構２０を制御して励起波長をλ＾に切
替える。次に回折格子走査用モータ１ｏを制御して分光
器８の波長をλ１からλ２まで走査し、Δλ毎にＡ／Ｄ
変換器１２の出力信号を取込み、未知試料５の励起波長
λ＾における蛍光スペクトルデータ列（ａ、）（ｊ＝λ
１．λ１＋Δλ、・・・、λ２）を測定する。次に励起
波長をλＢに切替え、同様に励起波長λＢにおける蛍光
スペクトルデータ列（ｂ、） （ｊ＝λ１．λ１＋Δ
λ、・・、λ２）を測定する。これら２つのスペクトル
の測定が終了すると、予め測定された各標準物質の蛍光
スペクトルとの比較が開始する。この比較に際して、未
知試料の蛍光スペクトルデータ列（ａ、）及び（ｔｚ）
と１番目の標準物質の蛍光スペクトルデータ列（Ａ、、
）及び（ＢＩＪ）との一致の度合いαｉは、下式のよう
にこれらのデータ間の相関係数をもって計算する。
図はマイクロコンピュータ１３上で動作するソフトウェ
アの流れ図である。ここでは２つの励起波長λ＾及びλ
Ｂにおいて測定された波長λ１からλ２の範囲で標本化
波長間隔Δλ毎に取込まれた蛍光スペクトルを基に同定
を行う場合の動作について説明する。同定対象となる標
準物質はＮ個あるとし、１番目（ｉ＝１．２．・・・、
Ｎ）の標準物質をλ八で励起した時の蛍光スペクトルデ
ータ列を（Ａｈａ） Ｆ＝λ１．λ工＋Δλ、・・λ
２）、λＢで励起した時の蛍光スペクトルデータ列を（
ＢＩＪ） （ｊ＝λ１．λ１＋Δλ、・・、λ２）とし
、Ｎ個の標準物質に対するこれらの各データ列及びその
物質名が予め磁気ディスク記憶装置１４に記憶されてい
るものとする。本ソフトウェアは動作を開始するとまず
励起波長切替え機構２０を制御して励起波長をλ＾に切
替える。次に回折格子走査用モータ１ｏを制御して分光
器８の波長をλ１からλ２まで走査し、Δλ毎にＡ／Ｄ
変換器１２の出力信号を取込み、未知試料５の励起波長
λ＾における蛍光スペクトルデータ列（ａ、）（ｊ＝λ
１．λ１＋Δλ、・・・、λ２）を測定する。次に励起
波長をλＢに切替え、同様に励起波長λＢにおける蛍光
スペクトルデータ列（ｂ、） （ｊ＝λ１．λ１＋Δ
λ、・・、λ２）を測定する。これら２つのスペクトル
の測定が終了すると、予め測定された各標準物質の蛍光
スペクトルとの比較が開始する。この比較に際して、未
知試料の蛍光スペクトルデータ列（ａ、）及び（ｔｚ）
と１番目の標準物質の蛍光スペクトルデータ列（Ａ、、
）及び（ＢＩＪ）との一致の度合いαｉは、下式のよう
にこれらのデータ間の相関係数をもって計算する。
Σ（ｘｋ−マ）（ｙｋ−ｙ）
ただし、データ列（ｘｋ）はデータ列（ａ、）の後にデ
ータ列（ｂ、）を結合したもの、同様にデータ列（ｙ、
）はデータ列 （Ａｔｄの後にデータ列（Ｂ、ｄ を結合したものであ
る。またＸは（Ｘ、）の平均値、ｙは（ｙｋ）の平均値
を表わす。
ータ列（ｂ、）を結合したもの、同様にデータ列（ｙ、
）はデータ列 （Ａｔｄの後にデータ列（Ｂ、ｄ を結合したものであ
る。またＸは（Ｘ、）の平均値、ｙは（ｙｋ）の平均値
を表わす。
１：１からｉ＝Ｎまで各標準物質の蛍光スペクトルと一
致の度合いα、を求め、最も大きいα１を与えた標準物
質から順にＣＲＴ及びプリンタに標準物質名と一致の度
合いを表示及び印字を行って本ソフトウェアは動作を終
了する。
致の度合いα、を求め、最も大きいα１を与えた標準物
質から順にＣＲＴ及びプリンタに標準物質名と一致の度
合いを表示及び印字を行って本ソフトウェアは動作を終
了する。
本実施例によれば、励起波長λ＾またはλＢの一方にお
いて未知試料の蛍光スペクトルと形状の一致する標準物
質が複数存在した場合には他方の励起波長における蛍光
スペクトルの形状に差が見られる場合にはそれら複数の
標準物質に対する一致の度合いに差が出るため、識別が
可能となる。
いて未知試料の蛍光スペクトルと形状の一致する標準物
質が複数存在した場合には他方の励起波長における蛍光
スペクトルの形状に差が見られる場合にはそれら複数の
標準物質に対する一致の度合いに差が出るため、識別が
可能となる。
また、両方の励起波長において未知スペクトルの蛍光ス
ペクトルと形状の一致する標準物質が複数存在した場合
でも、２つの励起波長間での蛍光スペクトル強度の比が
それら複数の標準物質毎に異なれば、その差が一致の度
合いの値に反映するため、それら複数の物質量の識別が
可能となる。このように本実施例では、ただ一つの励起
波長における蛍光スペクトルを用いて比較を行う場合よ
りも類似の蛍光スペクトルに形状を示す物質量の識別能
力を向上させられる効果がある。また、別の効果として
ただ一つの励起波長における蛍光スペクトルを用いて比
較を行う場合には、予め未知物質が効率良く励起される
励起波長を調べて励起波長を決める必要があるのに対し
、複数の励起波長を用いれば、それらのうちのいずれか
の励起波長では未知物質が効率良く励起されることが期
待でき、未知試料毎に励起波長を決定する手間を省ける
効果もある。
ペクトルと形状の一致する標準物質が複数存在した場合
でも、２つの励起波長間での蛍光スペクトル強度の比が
それら複数の標準物質毎に異なれば、その差が一致の度
合いの値に反映するため、それら複数の物質量の識別が
可能となる。このように本実施例では、ただ一つの励起
波長における蛍光スペクトルを用いて比較を行う場合よ
りも類似の蛍光スペクトルに形状を示す物質量の識別能
力を向上させられる効果がある。また、別の効果として
ただ一つの励起波長における蛍光スペクトルを用いて比
較を行う場合には、予め未知物質が効率良く励起される
励起波長を調べて励起波長を決める必要があるのに対し
、複数の励起波長を用いれば、それらのうちのいずれか
の励起波長では未知物質が効率良く励起されることが期
待でき、未知試料毎に励起波長を決定する手間を省ける
効果もある。
上記実施例中の励起波長切替え機構２０は上記ソフトウ
ェアの動作と同期して手動で切替える機構としても良い
。また励起波長を選択する手段としてバンドパスフィル
タ２に代えて分光器を用いても良い。また蛍光スペクト
ルを測定する分光器８は回折格子９を用いる代わりに波
長可変フィルタを用いても良い。また回折格子９を固定
として、光電子増倍管に代えて一次元または二次元のマ
ルチチャネル光検知器を用いても良い。
ェアの動作と同期して手動で切替える機構としても良い
。また励起波長を選択する手段としてバンドパスフィル
タ２に代えて分光器を用いても良い。また蛍光スペクト
ルを測定する分光器８は回折格子９を用いる代わりに波
長可変フィルタを用いても良い。また回折格子９を固定
として、光電子増倍管に代えて一次元または二次元のマ
ルチチャネル光検知器を用いても良い。
〔発明の効果〕
本発明によれば、一つの励起波長においては類似の蛍光
スペクトル形状を示す標準物質が複数存在する場合では
、複数の励起波長において測定した蛍光スペクトルを用
いて比較することにより多くの場合にこれら複数の物質
量の識別が可能となるので、未知物質の同定能力を向上
させられる効果がある。
スペクトル形状を示す標準物質が複数存在する場合では
、複数の励起波長において測定した蛍光スペクトルを用
いて比較することにより多くの場合にこれら複数の物質
量の識別が可能となるので、未知物質の同定能力を向上
させられる効果がある。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は本発明の一実施例の動作を示す流れ図、第３図は
蛍光スペクトルを示す図である。 １・・励起光源、２・・・バンドパスフィルタ、３・・
・ダイクロイックミラー、４・・・対物レンズ、５・・
・試料、６・・・吸収フィルタ、７・・・接眼レンズ、
８・・分光器、９・・回折格子、１０・・回折格子走査
用モータ、１１・・・光電子増倍管、１２・・・Ａ／Ｄ
変換器、１３・・マイクロコンピュータ、１４・・・磁
気ディスク記憶装置、１５・・・キーボード、１６・・
・ＣＲＴ表示装置、１７・・・プリンタ、２０・・・励
起波長切替え機構。 第 図 第２図 第 図
２図は本発明の一実施例の動作を示す流れ図、第３図は
蛍光スペクトルを示す図である。 １・・励起光源、２・・・バンドパスフィルタ、３・・
・ダイクロイックミラー、４・・・対物レンズ、５・・
・試料、６・・・吸収フィルタ、７・・・接眼レンズ、
８・・分光器、９・・回折格子、１０・・回折格子走査
用モータ、１１・・・光電子増倍管、１２・・・Ａ／Ｄ
変換器、１３・・マイクロコンピュータ、１４・・・磁
気ディスク記憶装置、１５・・・キーボード、１６・・
・ＣＲＴ表示装置、１７・・・プリンタ、２０・・・励
起波長切替え機構。 第 図 第２図 第 図
Claims (1)
- １、未知物質の蛍光スペクトルを複数の予め測定された
標準物質の蛍光スペクトルと一対比較し、最も良く一致
するものを捜す同定方法において、未知物質及び各々の
標準物質について２つ以上の励起波長において測定され
た複数の蛍光スペクトルを用いて比較を行うことを特徴
とする蛍光スペクトルによる物質の同定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24700890A JPH04127039A (ja) | 1990-09-19 | 1990-09-19 | 蛍光スペクトルによる物質の同定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24700890A JPH04127039A (ja) | 1990-09-19 | 1990-09-19 | 蛍光スペクトルによる物質の同定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04127039A true JPH04127039A (ja) | 1992-04-28 |
Family
ID=17157016
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24700890A Pending JPH04127039A (ja) | 1990-09-19 | 1990-09-19 | 蛍光スペクトルによる物質の同定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04127039A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0915171A (ja) * | 1995-03-16 | 1997-01-17 | Bio Rad Lab Inc | 蛍光結像システム及び蛍光結像方法 |
| JP2006527858A (ja) * | 2003-06-16 | 2006-12-07 | カール ツァイス イエナ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 蛍光検鏡のための方法 |
| JP2009527766A (ja) * | 2006-02-21 | 2009-07-30 | バイオ−ラッド ラボラトリーズ，インコーポレイティド | 重複密度（ｏｄ）ヒートマップおよびコンセンサスデータ表示 |
| EP2037255A4 (en) * | 2006-06-05 | 2010-03-17 | Nikon Corp | SPECTRUM OBSERVATION PROCESS AND SYSTEM |
| JP2011521237A (ja) * | 2008-05-20 | 2011-07-21 | ユニバーシティー ヘルス ネットワーク | 螢光に基づく画像化およびモニタリング用装置ならびにその方法 |
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