JPH04127650U - Ｉｃテスタ用ボードの接続機構 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＤＵＴボード５の座６から固定ボード１とソ
ケット３の接続部までの信号干渉を固定ボード１に設け
た接地導体で防ぎ、固定ボード１の端部とＤＵＴボード
５を接触させることにより、接触ピン４のストロークと
圧力を保つ。 【構成】 固定ボード１に取り付けられ、ソケット３が
取付けられるピンユニット２と、ソケット３に収容され
る接触ピン４と、接触ピン４に接触する座６が取り付け
られ、デバイス７を搭載したＤＵＴボード５とで構成さ
れるＩＣテスタ用ボードに、ピンユニット２を固定ボー
ド１の両側に配置し、固定ボード１の端部１ＡをＤＵＴ
ボード５に接触させ、固定ボード１の内層に接地導体８
を設ける。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

ＩＣテスタ用ボードには、デバイス測定用のＤＵＴボードと、テスタからの信 号をＤＵＴボードへ伝達する固定ボードがある。この考案は、ＤＵＴボードと固 定ボードの間の信号干渉を防ぎ、接触ピンストロークと圧力を保つＩＣテスタ用 ボードの接続機構についてのものである。

【０００２】

【従来の技術】

次に、従来技術によるＩＣテスタ用ボードの接続機構の構成を図３により説明 する。図３の１は固定ボード、２はピンユニット、３はソケット、４は接触ピン 、５はＤＵＴボード、６は座、７はデバイスである。固定ボード１にはピンユニ ット２が固定される。図４は図３からＤＵＴボード５を取り除いた外観斜視図で ある。図３のピンユニット２にはソケット３が固定され、ソケット３に接触ピン ４が収容される。接触ピン４には、ばねが内蔵されており、ばねの圧力で接触ピ ン４はＤＵＴボード５の座６に接触する。ソケット３の下部は、固定ボード１の 回路に接続される。固定ボード１は、ＤＵＴボード５上のデバイス７に接触ピン ４から信号を供給し、デバイス７からの信号を受けて、デバイス７の良否を判定 する。

【０００３】 接触ピン４は、ピンユニット２の絶縁物で固定され、他の接触ピンと絶縁され るが信号数が増えるにしたがい、接触ピン４の間隔が狭くなり、信号間の干渉で 正しい信号が供給されなくなる。接触ピン４は一定ストロークの適当な圧力で座 ６と接触し、最小の接触抵抗をもつが、ＤＵＴボード５の固定方法やたわみ等で 各接触ピン４のストロークが一定ではなくなり、接触抵抗が増え、正しい信号が 供給できなくなる。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

この考案は、ＤＵＴボード５の座６から固定ボード１とソケット３の接続部ま での信号干渉を固定ボード１内に設けた内層導体で防ぎ、固定ボード１の端部と ＤＵＴボード５を接触させることにより、接触ピン４のストロークと圧力を保つ ＩＣテスタ用ボードの接続機構の提供を目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

この目的を達成するために、この考案では、試験信号が供給される固定ボード １と、固定ボード１に取り付けられ、ソケット３が取付けられるピンユニット２ とソケット３に収容される接触ピン４と、接触ピン４に接触する座６が取り付け られ、デバイス７を搭載したＤＵＴボード５とを備えるＩＣテスタ用ボードであ って、ピンユニット２を固定ボード１の両側に配置し、固定ボード１の端部１Ａ を延長してＤＵＴボード５に接触させ、固定ボード１の内層に接地導体８を設け る。

【０００６】

【作用】

次に、この考案によるＩＣテスタ用ボードの接続機構の構成図を図１により説 明する。図１では図３のピンユニット２が固定ボード１の両側に配置され、接触 ピン４も固定ボード１の両側に配置される。固定ボード１の端部１Ａは、接触ピ ン４の圧力が最適となるストローク長まで延長され、固定ボード１がＤＵＴボー ド５に接触する。これにより、接触ピン４のストロークは一定となり、必要とす る圧力と接触抵抗が得られる。

【０００７】 図１の８は固定ボード１の内層に設けられた接地導体であり、固定ボード１内 で電気的に接地される。これにより、対向する接触ピン４とソケット３を伝わる 信号の干渉を座６まで防ぐことができる。図２は、図１からＤＵＴボード５を取 り除いた外観斜視図である。

【０００８】

【考案の効果】

この考案によれば、ＤＵＴボードピンユニット間の接触ピン部分を固定ボード 内層の接地導体で分離するので、信号の干渉を防ぐことができる。また、固定ボ ードの端部がＤＵＴボードと接触するので、接触ピンストロークと圧力を保つこ とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案によるＩＣテスタ用のボードの構成図
である。

【図２】図１からＤＵＴボード５を取り除いた外観斜視
図である。

【図３】従来技術によるＩＣテスタ用ボードの構成図で
ある。

【図４】図３からＤＵＴボード５を取り除いた外観斜視
図である。

【符号の説明】

１ 固定ボード １Ａ 端部 ２ ピンユニット ３ ソケット ４ 接触ピン ５ ＤＵＴボード ６ 座 ７ デバイス ８ 接地導体

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験信号が供給される固定ボード(1)
   と、固定ボード(1) に取り付けられ、ソケット(3) が取
   り付けられるピンユニット(2) と、ソケット(3) に収容
   される接触ピン(4) と、接触ピン(4) に接触する座(6)
   が取り付けられ、デバイス(7) を搭載したＤＵＴボード
   (5) を備えるＩＣテスタ用ボードであって、ピンユニッ
   ト(2) を固定ボード(1) の両側に配置し、固定ボード
   (1) の端部(1A)を延長してＤＵＴボード(5) に接触さ
   せ、固定ボード(1) の内層に接地導体(8) を設けること
   を特徴とするＩＣテスタ用ボードの接続機構。