JPH041289B2 - - Google Patents

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Publication number
JPH041289B2
JPH041289B2 JP57230009A JP23000982A JPH041289B2 JP H041289 B2 JPH041289 B2 JP H041289B2 JP 57230009 A JP57230009 A JP 57230009A JP 23000982 A JP23000982 A JP 23000982A JP H041289 B2 JPH041289 B2 JP H041289B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
chamber
spectrometer
sample
sample chamber
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57230009A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59120825A (ja
Inventor
Osamu Yoshikawa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS59120825A publication Critical patent/JPS59120825A/ja
Publication of JPH041289B2 publication Critical patent/JPH041289B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は分光光度計内から測定に支障のあるガ
スを排除するためのガスパージ機構に関するもの
である。
分光光度計を用いて気体試料などのスペクトル
を測定する場合に、測定波長範囲において吸収線
を持たないガスで分光器室内および試料室内のガ
スをパージする必要がある。一般に赤外領域の分
光分析では大気中の炭酸ガスや水蒸気がスペクト
ルの測定に悪影響を及ぼすので乾燥空気、窒素ガ
ス、希ガスなどの気体を用いて分光分析装置内の
大気のパージを行つている。従来は試料室および
分光器室のガスパージを行うのに約１時間を費や
していたので、多数の試料を連続して効率的に測
定することができないという欠点があつた。すな
わち第１図に示すように試料室１と分光器室２と
の隔壁３には光束通過窓４が透設されているの
で、試料を変更する際に試料室１ばかりでなく分
光器室２にも大気が入り込み、この分光器室２の
大気のパージに長時間を要するためである。そこ
でこの対策として、試料交換時に光束通過窓４を
遮蔽する機構を設けることが考えられるが、この
方法では試料室内に光学素子を挿入する必要があ
る場合に調整のための光を通すことができないの
で光学調整ができないという欠点がある。なお図
中、７は光源室である。
本発明は上記の問題点に鑑み、光束通過窓４を
開いたまま試料室１と分光器室２との気体の流通
を遮断してパージ所要時間を短縮することを目的
とするものである。
以下図面に基づいて本発明を詳述する。第２図
は本発明の一実施例を示したもので、同図ａの３
は第１図における試料室１と分光器室２との間の
隔壁３を示している。この隔壁３に透設された光
束通過窓４の周縁に沿つてリング状のガス供給パ
イプ５が設けられ、このガス供給パイプ５のリン
グ内側面に多数個の細孔６が列設されている。各
細孔６から噴出するパージ用ガスは第２図ｂに示
すように、光束通過窓４の光軸に向かつて求心状
に吹き寄せられ、中心部の厚みの大きい円板状の
ガスカーテンを形成して、試料室１から分光器室
２への空気の進入を防止する。また細孔６の向き
を第２図ａに示すように若干試料室１の方向へ向
けておけば一層効果があるが、通常分光器室２の
気圧が大気圧よりも高くなるので、必ずしも細孔
６の向きを試料室１側へ向ける必要はない。
上記のように構成された分光光度計のパージ機
構を使用する際には、試料交換のために試料室１
を開放する前にガス供給パイプ５へのパージ用ガ
スの供給を開始し、内部の圧力が大気圧より若干
高くなつた時点で試料室１を大気中に開放する。
このとき試料室１内には炭酸ガスや水蒸気を含ん
だ大気が進入するが、分光器室２はガス供給パイ
プ５の細孔６から噴出するパージ用ガスで形成さ
れたガスカーテンによつて大気と遮断され、分光
器室２内には大気圧よりも若干高い圧力のパージ
用ガスが充満している。この状態で試料および試
料と共に挿入された光学素子の光軸調整を行つた
のち試料室１の扉を閉じさらに数分間ガス供給パ
イプ５にパージ用ガスの供給を続けていると、供
給されたパージ用ガスに見合う量の試料室内ガス
が試料室の隙間から押し出され試料室１内の大気
のパージが行われるのでその後ガスの供給を停止
しスペクトルの測定を開始する。なお分光器室２
内のパージ用としてガス供給手段を上記リング状
ガス供給パイプ５とは別個に設けてもよく、その
場合にもパージ用ガスは同種のものを用いる。ま
た走査鏡の摺動用にガスベアリングを用いる型の
赤外フーリエ分光光度計においては、ガスベアリ
ングに用いるガスをガスカーテンにも使用する。
本発明は上述のように試料変更の際にパージを
必要とする容積が小さくて済むのでパージ所要時
間を大巾に短縮することができ、測定を効率よく
行うことができるとう利点がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は従来例を示す斜視図、第２図は本発明
の一実施例を示すもので、ａは要部側面図、ｂは
要部正面図である。 １は試料室、２は分光器室、３は隔壁、４は光
束通過窓、５はガス供給パイプ、６は細孔、７は
光源室。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 試料室と分光器室とを仕切る隔壁に光束通過
    窓を透設し、光束通過窓の周縁に沿つて分光器室
    側に設けられたガス供給パイプ相互対向側面に多
    数個の細孔を列設し、試料交換時に分光器室内の
    ガス圧力を大気圧より少し高くして、上記細孔よ
    りパージ用ガスを対向的に噴出させてエヤカーテ
    ンを形成せしめるようにしたことを特徴とする分
    光光度計のガスパージ機構。
JP23000982A 1982-12-27 1982-12-27 分光光度計のガスパ−ジ機構 Granted JPS59120825A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23000982A JPS59120825A (ja) 1982-12-27 1982-12-27 分光光度計のガスパ−ジ機構

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JP23000982A JPS59120825A (ja) 1982-12-27 1982-12-27 分光光度計のガスパ−ジ機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59120825A JPS59120825A (ja) 1984-07-12
JPH041289B2 true JPH041289B2 (ja) 1992-01-10

Family

ID=16901161

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23000982A Granted JPS59120825A (ja) 1982-12-27 1982-12-27 分光光度計のガスパ−ジ機構

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Families Citing this family (4)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6192836U (ja) * 1984-11-21 1986-06-16
JPH02120038U (ja) * 1989-03-15 1990-09-27
US6421127B1 (en) * 1999-07-19 2002-07-16 American Air Liquide, Inc. Method and system for preventing deposition on an optical component in a spectroscopic sensor
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Family Cites Families (5)

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JPS616429Y2 (ja) * 1979-02-13 1986-02-26
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JPS6017732Y2 (ja) * 1980-03-24 1985-05-30 富士通株式会社 赤外線疵検査装置のウインド構造

Also Published As

Publication number Publication date
JPS59120825A (ja) 1984-07-12

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