JPH04134005U - 軸間距離測定具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡易な構成で測定値に誤差が入いらず、測定
軸の真円度の判別も可能な軸間距離の測定具を提供す
る。 【構成】 測定物の基準軸１を支持する少なくとも２個
の基準Ｖブロック５と測定物の測定軸２を支持する測定
Ｖブロック４とを測定物の所定軸間距離Ｌだけずらせて
定盤に設置し、測定ＶブロックのＶ形支持面の両面にそ
れぞれ測長器を配設する。測定物を基準Ｖブロック５と
測定Ｖブロック４にセットし、測定軸のＶ面からの距離
を２つの測長器で測る。測定物の軸間距離が所定寸法で
ある場合は、測長器の読みはいずれも０となり、軸間距
離が所定寸法を外れた他場合は、一方の測長器は０を指
すが、他方の測長器は＋ｘを指す。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、クランクシャフト等の異なる２つの軸間の距離を測定する測定具に 関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来、クランクシャフトのジャ−ナル軸とピン軸との距離を測定する方法に、 定盤とマスタ−を使用し、ダイヤルゲ−ジ等で測定する方法がある。これは図４ Ａに示すように、ワ−クＷの一方の基準となる軸１，１を定盤に取付けたセンタ −11付きの支柱12で両側から芯出しして取付け、図４Ｂに示すように、ワ−クＷ を回転して測定軸２の最高点とマスタ−13とを測定具14で比較し、基準軸１，１ と測定軸２との軸間距離Ｌを測定するものである。 実開昭５５−６８２５号公報には、このような測定方式において、マグネスケ −ル等の複数の測定器を使用したものが記載されている。

【０００３】 また、Ｖブロックで基準軸を支持し、特殊軸間距離測定器で測定する方法があ る。これは図５に示すように、２個のＶブロック５で基準となる軸１をそれぞれ 支持して測定軸２を位置決めし、基準ブロック５と一体的に形成した測定部15に マグネスケ−ル等の電気的測長器17，18と摺動する測定子16を設置し、測定子16 を測定軸２の一側にセットし、測定軸２の直径上の両端を電気的測長器17，18の 測定子19，20の変位で測り、その測定値を演算して軸間距離Ｌを算出するもので ある。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

図４に示す従来の測定方法では、両端面にセンタ−孔のあるワ−クでないと測 定できないし、ワ−クを回転してその最高点を測定するので、測定に時間がかか る。また、測定軸の直径に影響され、軸間距離Ｌの測定値に誤差が出る。 図５に示した特殊測定具を使用した測定方法では、電源及び演算機能を備えた 大型の装置が必要となり、設備投資が高額となるだけでなく、測定軸の真円度の 不良が判別できない。 本考案は、上記の課題を解決し、簡易な構成で測定値に誤差が入いらず、測定 軸の真円度の判別も可能な軸間距離の測定具を提供することを目的とするもので ある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

本考案は、測定物の基準軸を支持する少なくとも２個の基準Ｖブロックと前記 測定物の測定軸を支持する測定Ｖブロックとを測定物の所定軸間距離だけずらせ て定盤に設置し、前記測定ＶブロックのＶ形支持面の両面にそれぞれ測長器を配 設した軸間距離測定具である。

【０００６】

【作用】

測定物を基準Ｖブロックと測定Ｖブロックにセットし、測定Ｖブロックにおけ る測定軸のＶ面からの距離を２つの測長器で測る。測定物の軸間距離が所定寸法 である場合は、測長器の読みはいずれも０となる。測定物の軸間距離が所定寸法 より短い場合は、一方の測長器は０を指すが、他方の測長器は＋ｘを指し、測定 物の軸間距離が所定寸法より長い場合は、両測長器の値が逆になる。 また、測定軸が真円形でない場合は、両方の測長値がいずれも０とならず、そ れぞれ＋ｙ,＋ｚを指すことになり、測定軸の真円度不良が判別できる。

【０００７】

【実施例】

図１Ａ，Ｂは、本考案の実施例のそれぞれ正面図、平面図である。 例えば、測定物をクランクシャフトとした場合、ジャ−ナル軸１，１を支持す る２個の基準Ｖブロック５，５と、クランクシャフトのピン軸２を支持する測定 Ｖブロック４とをクランクシャフトの所定軸間距離Ｌだけずらせて定盤３に設置 し、測定Ｖブロック４のＶ形支持面の両面にそれぞれダイヤルゲ−ジ６，６を配 設する。各ダイヤルゲ−ジ６には、角度付き測定子７とフラット測定子８を設け 、フラット測定子８の先端が測定ブロック４のＶ形面の両面から突き出してピン 軸２に当るようにしてある。 ワ−クＷの基準軸１，１を基準ブロック５，５に、測定軸２を測定ブロック４ にセットし、測定ブロック４の一部を断面とした図２に示すように、測定ブロッ ク４のＶ形面における各浮き上がり量をダイヤルゲ−ジ６，６で測るようにした もので、この測定具の定盤３に取っ手９を設けて可搬式としてある。

【０００８】 次に、具体的な測定方法について説明する。図３Ａに示すように、ワ−クＷの マスタ−Ｗ0を用いて各ダイヤルゲ−ジ６，６’が０を指すように調整する。 ワ−クＷの軸間距離Ｌが所定寸法である場合は、両方のダイヤルゲ−ジ６，６ ’の読みはいずれも０となる。 ワ−クＷの軸間距離Ｌが所定寸法より短い場合は、図３Ｂに示すようにダイヤ ルゲ−ジ６は０を指すが、他方のダイヤルゲ−ジ６’は＋ｘを指し、ワ−クＷの 軸間距離が所定寸法より長い場合は、図３Ｃに示すように逆にダイヤルゲ−ジ６ ’は０を指すが、ダイヤルゲ−ジ６は＋ｘを指すことになり、＋ｘの公差を決め て置けば、ワ−クＷの合否の判定が直ちに行える。

【０００９】 ワ−クＷの測定軸２が真円形でない場合は、図３Ｄに示すようにダイヤルゲ− ジ６，６’はいずれも０とならずそれぞれ＋ｙ,＋ｚを指すことになる。これに より、測定軸２の真円度不良が判別できる。

【００１０】 以上の実施例では、測定具に取っ手設けて可搬式としたが、固定式の測定具と することができるのは勿論であり、機械式のダイヤルゲ−ジに代えて電気式の測 定器を用いて自動化を図ることもできる。

【００１１】

【考案の効果】

本考案は、簡易な構成で軸間距離の測定が可能となり、測定値に誤差が入るこ ともなく、また、測定軸の真円度不良を判別することも可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の実施例を示す正面図及び平面図。

【図２】本考案の実施例の一部断面図。

【図３】本考案の測定状態の説明図。

【図４】従来の測定の説明図。

【図５】従来の特殊測定具の説明図。

【符号の説明】

１ 基準軸 ２ 測定軸 ３ 定盤 ４ 測定ブロック ５ 基準ブロック ６ ダイヤルゲ−ジ ７ 角度付き測定子 ８ フラット測定子

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 測定物の基準軸を支持する少なくとも２
   個の基準Ｖブロックと前記測定物の測定軸を支持する測
   定Ｖブロックとを測定物の所定軸間距離だけずらせて定
   盤に設置し、前記測定ＶブロックのＶ形支持面の両面に
   それぞれ測長器を配設したことを特徴とする軸間距離測
   定具。