JPH04134791A - データ読み出し回路 - Google Patents
データ読み出し回路Info
- Publication number
- JPH04134791A JPH04134791A JP2256365A JP25636590A JPH04134791A JP H04134791 A JPH04134791 A JP H04134791A JP 2256365 A JP2256365 A JP 2256365A JP 25636590 A JP25636590 A JP 25636590A JP H04134791 A JPH04134791 A JP H04134791A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mos transistor
- channel type
- inverter
- type mos
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、半導体集積回路に関し、特にCMOSのRA
MやROMのデータ読みだし回路に関するものである。
MやROMのデータ読みだし回路に関するものである。
[発明の概要]
本発明は、ASICで用いられる小容量RAM、ROM
などのデータ読みだし回路に関するもので、データ読み
出しにインバーターなどのゲート等を使用したときにリ
ーク電流が流れないようにするためのものである。
Nチャンネル型MOSトランジスタまたはPチャンネル
型MO5)ランジスタをゲートと電源またはグランドの
間に挿入し、ゲートにかかる電圧を下げてゲートに入力
される電圧と合わせることによってリーク電流が流れな
いようにしたものである。
などのデータ読みだし回路に関するもので、データ読み
出しにインバーターなどのゲート等を使用したときにリ
ーク電流が流れないようにするためのものである。
Nチャンネル型MOSトランジスタまたはPチャンネル
型MO5)ランジスタをゲートと電源またはグランドの
間に挿入し、ゲートにかかる電圧を下げてゲートに入力
される電圧と合わせることによってリーク電流が流れな
いようにしたものである。
[従来の技術]
半導体集積回路のRA?、lROMは、標準品として大
容量で高速の製品が各社から発売されているが、ASI
Cの分野においては小容量のRAMやROMを同一チッ
プ内に内蔵する場合が多く、特にゲートアレイやスタン
ダードセルでは小容量のRAMやROMを組み込むアプ
リケーションがよく見られる。
容量で高速の製品が各社から発売されているが、ASI
Cの分野においては小容量のRAMやROMを同一チッ
プ内に内蔵する場合が多く、特にゲートアレイやスタン
ダードセルでは小容量のRAMやROMを組み込むアプ
リケーションがよく見られる。
第5図に、従来の小容量RAMのデータ読み出し回路の
例を示す。 第5図に於て、インバーター40.41
はRAMセルを構成するインバーターであり、インバー
ター42は読み出し回路のためのバッファの役割をして
いる。 Nチャンネル型MOSトランジスタ22はデ
ータの読み出し制御に使用されるトランスミッションゲ
ートである。
例を示す。 第5図に於て、インバーター40.41
はRAMセルを構成するインバーターであり、インバー
ター42は読み出し回路のためのバッファの役割をして
いる。 Nチャンネル型MOSトランジスタ22はデ
ータの読み出し制御に使用されるトランスミッションゲ
ートである。
以上のインバーター40から42とMOSトランジスタ
22が1ビット分であり、第5図に示すように、これら
の回路ブロックが複数偏集まってRAMの回路が構成さ
れている。 制御端子50はどのビットのRAMセル
のデータを読み出すかを選択するための制御入力である
。
22が1ビット分であり、第5図に示すように、これら
の回路ブロックが複数偏集まってRAMの回路が構成さ
れている。 制御端子50はどのビットのRAMセル
のデータを読み出すかを選択するための制御入力である
。
第5図のPチャンネル型MOSトランジスタ10とNチ
ャンネル型MOSトランジスタ20はデータを読み出す
ためのインバーターであり、それぞれのソースは電源端
子4及び、グランド3に接続されている。
ャンネル型MOSトランジスタ20はデータを読み出す
ためのインバーターであり、それぞれのソースは電源端
子4及び、グランド3に接続されている。
データを選択するためのトランスミッションゲートは、
Nチャンネル型MO3l−ランジスタで構成されている
ため、その出力電圧はローレベルの場合Ov(グランド
レベル)にまで下がるが、ハイレベルはMOSトランジ
スタの特性上型R電圧まで上がらずおよそ電源電圧から
そのMOSトランジスタのスレッシュホールド電圧程度
下がった電圧しか出ない。
Nチャンネル型MO3l−ランジスタで構成されている
ため、その出力電圧はローレベルの場合Ov(グランド
レベル)にまで下がるが、ハイレベルはMOSトランジ
スタの特性上型R電圧まで上がらずおよそ電源電圧から
そのMOSトランジスタのスレッシュホールド電圧程度
下がった電圧しか出ない。
また、第5図の点Aの電位変化を第6図に示すが、トラ
ンスミッションゲートがNチャンネル型MOSトランジ
スタで構成されてるため、ローレベルを読み出す場合、
第6図の60で示すように短時間で信号が立ち下がるの
に対して、ハイレベルを読み出す場合には、第6図の6
1で示すように、電位が上昇するまでに長い時間が必要
になる。
ンスミッションゲートがNチャンネル型MOSトランジ
スタで構成されてるため、ローレベルを読み出す場合、
第6図の60で示すように短時間で信号が立ち下がるの
に対して、ハイレベルを読み出す場合には、第6図の6
1で示すように、電位が上昇するまでに長い時間が必要
になる。
そのため、第5図のインバーター43のスレッシュホー
ルド電圧は、ハイレベル/ロウレベルのデータの読み出
し時間のバランスを取るために低めに設定されることが
多い。
ルド電圧は、ハイレベル/ロウレベルのデータの読み出
し時間のバランスを取るために低めに設定されることが
多い。
[発明が解決しようとするi題〕
ここで、第5図のインバーター43の消費電流は、ロウ
レベルを読み出している時にはインバーター43の入力
電圧が完全にOv迄下がるためリーク電流は流れない。
レベルを読み出している時にはインバーター43の入力
電圧が完全にOv迄下がるためリーク電流は流れない。
一方、ハイレベルを読み出している時にはA点の電
位が完全に電源電圧まで上がらないため、Pチャンネル
型MoSトランジスタ10が完全にオフにならず、ごく
わずかではあるがリーク電流が流れ続けると言う欠点が
あった。
位が完全に電源電圧まで上がらないため、Pチャンネル
型MoSトランジスタ10が完全にオフにならず、ごく
わずかではあるがリーク電流が流れ続けると言う欠点が
あった。
本発明が解決しようとする課題は、如何なる時もリーク
を流が流れないデータ読み出し回路を実現することであ
る。
を流が流れないデータ読み出し回路を実現することであ
る。
[課題を解決するための手段]
本発明のデータ読み出し回路は、RAMセルのデータ読
み出しのためのトランスミッションゲートと同一チャン
ネル型MOS)−ランジスタを読み出し回路のインバー
ターと電源端子の間または、接地端子との間に挿入し、
インバーターに印加される電圧を下げて、トランスミッ
ションゲートの出力電圧振幅と一致させることによって
、データの読み出し時にリーク電流が流れないようにす
る。
み出しのためのトランスミッションゲートと同一チャン
ネル型MOS)−ランジスタを読み出し回路のインバー
ターと電源端子の間または、接地端子との間に挿入し、
インバーターに印加される電圧を下げて、トランスミッ
ションゲートの出力電圧振幅と一致させることによって
、データの読み出し時にリーク電流が流れないようにす
る。
[実施例]
以下、図を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の一実施例であり、図中10はPチャ
ンネル型MoSトランジスタ、20.21はNチャンネ
ル型MOS)ランジスタである。
ンネル型MoSトランジスタ、20.21はNチャンネ
ル型MOS)ランジスタである。
MOSトランジスタ10.20は直列に接続され、イン
バーター30を構成しており、電源端子4とインバータ
ー30の間にNチャンネル型MOSトランジスタ21が
か直列に接続されている。
バーター30を構成しており、電源端子4とインバータ
ー30の間にNチャンネル型MOSトランジスタ21が
か直列に接続されている。
Nチャンネル型MOSI−ランジスタ21のゲートは電
源に接続されており常にオンになっている。
源に接続されており常にオンになっている。
このため、Nチャンネル型MOSトランジスタ21によ
ってインバーター30に印可される電圧が低下すること
になる。MOSトランジスタ21はRAMセルのトラン
スミッションゲートと同じ特性を示すように設計してお
けば、トランスミッションゲートのハイレベル出力電圧
と、インバーター30に印加される電圧は、同じ電圧に
なる。
ってインバーター30に印可される電圧が低下すること
になる。MOSトランジスタ21はRAMセルのトラン
スミッションゲートと同じ特性を示すように設計してお
けば、トランスミッションゲートのハイレベル出力電圧
と、インバーター30に印加される電圧は、同じ電圧に
なる。
この為、第1図の回路を第5図のインバーター43の代
わりに挿入すれば、ハイレベルを読み出している場合で
も、Pチャンネル型MOSトランジスタ10は完全にオ
フになるので、リーク電流は全く流れない。
わりに挿入すれば、ハイレベルを読み出している場合で
も、Pチャンネル型MOSトランジスタ10は完全にオ
フになるので、リーク電流は全く流れない。
もちろん、ロウレベルを読み出す場合でも、インバータ
ー3□0に入力される電圧はov(グランドレベル)で
あるからリーク電流は全く流れることはない。
ー3□0に入力される電圧はov(グランドレベル)で
あるからリーク電流は全く流れることはない。
また、第1図の回路の伝達特性と従来の第5図のインバ
ーター43の伝達特性を第2図に示す。
ーター43の伝達特性を第2図に示す。
第2図で、横軸は入力電圧、縦軸は出力電圧であり、3
2は従来の読み出し回路の伝達特性、33は本発明の回
路の伝達特性である。Nチャンネル型MoSトランジス
タ21によって、インバーター30に印可される電源電
圧が下がるので本発明の回路のスレッシュホールド電圧
は従来の回路よりかなり低くすることが出来る。 こ
の為従来の回路よりデータのハイレベル/ロウレベルの
読み出し時間のバランスを容易に取ることが出来るよう
になるという利点もある。
2は従来の読み出し回路の伝達特性、33は本発明の回
路の伝達特性である。Nチャンネル型MoSトランジス
タ21によって、インバーター30に印可される電源電
圧が下がるので本発明の回路のスレッシュホールド電圧
は従来の回路よりかなり低くすることが出来る。 こ
の為従来の回路よりデータのハイレベル/ロウレベルの
読み出し時間のバランスを容易に取ることが出来るよう
になるという利点もある。
また第3図は、本発明の別の実施例である。第3図では
、Pチャンネル型MOSトランジスタ11がPチ°ヤン
ネル型MOSトランジスタ10とNチャンネル型MOS
トランジスタ20によって構成されるインバーター30
とグランド端子との間に挿入されている。 第3図の
例は、RAMセルのトランスミッションゲートがPチャ
ンネル型MoSトランジスタによって構成されている場
合に用いる回路である。トランスミッションゲートがP
チャンネル型MOSトランジスタによって構成されてい
る場合ロウレベルがOv迄下がりきらないため、第3図
のMOS トランジスタ11によってインバーター30
のグランドレベルを上昇させたものである。
、Pチャンネル型MOSトランジスタ11がPチ°ヤン
ネル型MOSトランジスタ10とNチャンネル型MOS
トランジスタ20によって構成されるインバーター30
とグランド端子との間に挿入されている。 第3図の
例は、RAMセルのトランスミッションゲートがPチャ
ンネル型MoSトランジスタによって構成されている場
合に用いる回路である。トランスミッションゲートがP
チャンネル型MOSトランジスタによって構成されてい
る場合ロウレベルがOv迄下がりきらないため、第3図
のMOS トランジスタ11によってインバーター30
のグランドレベルを上昇させたものである。
また第4図は、第1図の回路の出力電圧振幅が完全に電
源電圧まで上がらないことを改善した回路である。第4
図の回路では、第1図の回路に加えてインバーター31
、Pチャンネル型MOSトランジスタ12が追加されて
おり、インバーター31の出力はPチャンネル型MOS
トランジスタ12のゲートに入力されている。
源電圧まで上がらないことを改善した回路である。第4
図の回路では、第1図の回路に加えてインバーター31
、Pチャンネル型MOSトランジスタ12が追加されて
おり、インバーター31の出力はPチャンネル型MOS
トランジスタ12のゲートに入力されている。
第1図の回路では、入力端子1にロウレベルが入力され
ているときの出力電圧は電源電圧まで上がらないが、第
4図の回路に於いては、入力端子1にロウレベルが入力
されている時にはインバーター31によってPチャンネ
ル型MOSl−ランジスタ12がオンになり出力端子2
の出力電圧は電源電圧まで上げることが出来る。
ているときの出力電圧は電源電圧まで上がらないが、第
4図の回路に於いては、入力端子1にロウレベルが入力
されている時にはインバーター31によってPチャンネ
ル型MOSl−ランジスタ12がオンになり出力端子2
の出力電圧は電源電圧まで上げることが出来る。
この事によって、第4図の次段に通常の0MO5のゲー
トを接続してもそのゲートに入力される電圧は完全に電
源電圧またはグランドレベルになるので、その接続され
たゲートにリーク電流が流れることは全く無いという利
点がある。
トを接続してもそのゲートに入力される電圧は完全に電
源電圧またはグランドレベルになるので、その接続され
たゲートにリーク電流が流れることは全く無いという利
点がある。
【発明の効果J
以上説明したように本発明を使用すれば、リーク電流の
全く流れないデータ読み出し回路が実現でき、かつ回路
のスレッシュホールド電圧を低く設定できるため、ハイ
レベル/ロウレベルのデータ読み出し時間のバランスを
容易数ることが出来る効果がある。
全く流れないデータ読み出し回路が実現でき、かつ回路
のスレッシュホールド電圧を低く設定できるため、ハイ
レベル/ロウレベルのデータ読み出し時間のバランスを
容易数ることが出来る効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す図。
第2図は伝達特性の例を示す図。
第3図は本発明の別の実施例を示す図。
第4図は本発明の別の実施例を示す図。
第5図は従来の読み出し回路の例を示す図。
第6図(a)(b)は、第5図A点の電位変化を示す図
。 1: 入力端子 2: 出力端子 3: グランド(接地) 4:w、源 10〜12: 20〜22: 30、 3 に 32: 33: 40〜43: Pチャンネル型MOSトランジスタ Nチャンネル型MOSトランジスタ インバーター 従来の伝達特性 本発明の伝達特性 インバーター 50 : 51 : 60 : 61 : 制御入力端子 出力端子 立ち下がり波形図 立ち上がり波形図
。 1: 入力端子 2: 出力端子 3: グランド(接地) 4:w、源 10〜12: 20〜22: 30、 3 に 32: 33: 40〜43: Pチャンネル型MOSトランジスタ Nチャンネル型MOSトランジスタ インバーター 従来の伝達特性 本発明の伝達特性 インバーター 50 : 51 : 60 : 61 : 制御入力端子 出力端子 立ち下がり波形図 立ち上がり波形図
Claims (2)
- (1)Nチャンネル型MOSトランジスタのトランスミ
ッションゲートによつてデータを共通線に出力し、前記
共通線の信号を受けデータを読み出す回路に於いて、 ソース及びゲートが電源に接続された第1のNチャンネ
ル型MOSトランジスタと、Pチャンネル型MOSトラ
ンジスタとNチャンネル型MOSトランジスタが直列に
接続された回路のPチャンネル型MOSトランジスタの
ソースが前記第1のNチャンネル型MOSトランジスタ
のドレインと接続され前記回路のゲート入力に該共通線
の信号を入力したことを特徴とするデータ読み出し回路
。 - (2)Pチャンネル型MOSトランジスタのトランスミ
ッションゲートによってデータを共通線に出力し、前記
共通線の信号を受けデータを読み出す回路に於いて、 ソース及びゲートがグランドに接続された第1のPチャ
ンネル型MOSトランジスタと、Pチャンネル型MOS
トランジスタとNチャンネル型MOSトランジスタが直
列に接続された回路のNチャンネル型MOSトランジス
タのソースが前記第1のPチャンネル型MOSトランジ
スタのドレインと接続され前記回路のゲート入力に該共
通線の信号を入力したことを特徴とするデータ読み出し
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2256365A JPH04134791A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | データ読み出し回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2256365A JPH04134791A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | データ読み出し回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04134791A true JPH04134791A (ja) | 1992-05-08 |
Family
ID=17291675
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2256365A Pending JPH04134791A (ja) | 1990-09-26 | 1990-09-26 | データ読み出し回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04134791A (ja) |
-
1990
- 1990-09-26 JP JP2256365A patent/JPH04134791A/ja active Pending
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