JPH0413776B2 - - Google Patents
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- JPH0413776B2 JPH0413776B2 JP63103082A JP10308288A JPH0413776B2 JP H0413776 B2 JPH0413776 B2 JP H0413776B2 JP 63103082 A JP63103082 A JP 63103082A JP 10308288 A JP10308288 A JP 10308288A JP H0413776 B2 JPH0413776 B2 JP H0413776B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording
- light
- film
- reflectance
- layer
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、映像信号、音響信号などの逐次信号
を光学的に高密度に記録再生消去する方法に係
り、ことに基板上に形成された薄膜部材にレーザ
光を照射してその反射率を変化させて記録再生を
行う方法において、その反射率変化をより大きく
生じさせS/Nの高い情報記録再生を行なう光学
的情報記録再生消去方法に関するものである。
を光学的に高密度に記録再生消去する方法に係
り、ことに基板上に形成された薄膜部材にレーザ
光を照射してその反射率を変化させて記録再生を
行う方法において、その反射率変化をより大きく
生じさせS/Nの高い情報記録再生を行なう光学
的情報記録再生消去方法に関するものである。
従来逐次信号を光学的に高密度に記録再生する
方法はいわゆる、光学式ビデオデイスクとして知
られている。その基本的な原理は、記録信号を基
板上の凹凸として形成しておき、この凹凸の底部
より反射した光と凸部より反射した光を干渉させ
凹凸信号の書き込まれていない部分の反射率に比
して凹凸信号の書き込まれている部分の反射率が
異なることによつている(特開昭47−37407号公
報)。
方法はいわゆる、光学式ビデオデイスクとして知
られている。その基本的な原理は、記録信号を基
板上の凹凸として形成しておき、この凹凸の底部
より反射した光と凸部より反射した光を干渉させ
凹凸信号の書き込まれていない部分の反射率に比
して凹凸信号の書き込まれている部分の反射率が
異なることによつている(特開昭47−37407号公
報)。
これに似たものとして反射方式のビデオデイス
ク(特開昭52−114306号公報)がある。これは、
光吸収性の記録層と、その裏面に光反射層を設け
たもので、この記録層はレーザー光のエネルギー
を吸収して、昇温変形、蒸発させて凹凸を作る。
ク(特開昭52−114306号公報)がある。これは、
光吸収性の記録層と、その裏面に光反射層を設け
たもので、この記録層はレーザー光のエネルギー
を吸収して、昇温変形、蒸発させて凹凸を作る。
上記前者の方式は、機械的スタンプによデイス
クが製作されるので多量の複製盤を製作するのに
向くが、即時の記録再生が不可能である。また後
者の方式は、記録部位が変形を伴なうので、表面
被覆ができず取扱いが不便で実用になつていな
い。
クが製作されるので多量の複製盤を製作するのに
向くが、即時の記録再生が不可能である。また後
者の方式は、記録部位が変形を伴なうので、表面
被覆ができず取扱いが不便で実用になつていな
い。
また、さらに他の方式として記録部材にカルコ
ゲン化物を用いるものもある(米国特許第
3665425号)。これは基板上のカルコゲン化物薄膜
にレーザービームを照射してその部位を融点近く
まで昇温させ、その部分にボイドを形成させる。
再生に当つては、このボイド部に照射されたレー
ザー光は散乱されるので、未記録部分に比べて、
反射されて返つてくる反射光量は少いことを利用
するものである。
ゲン化物を用いるものもある(米国特許第
3665425号)。これは基板上のカルコゲン化物薄膜
にレーザービームを照射してその部位を融点近く
まで昇温させ、その部分にボイドを形成させる。
再生に当つては、このボイド部に照射されたレー
ザー光は散乱されるので、未記録部分に比べて、
反射されて返つてくる反射光量は少いことを利用
するものである。
本発明は従来法と異なり光吸収性の薄膜記録部
材の光学的干渉効果を利用し、薄膜記録部材の屈
折率と光学濃度と膜厚とを適宜選択することによ
り、大きい反射率変化を得、再生効率がすぐれ、
形状変化をともなわない反射方式の光学的情報記
録再生消去方法を提供するものである。
材の光学的干渉効果を利用し、薄膜記録部材の屈
折率と光学濃度と膜厚とを適宜選択することによ
り、大きい反射率変化を得、再生効率がすぐれ、
形状変化をともなわない反射方式の光学的情報記
録再生消去方法を提供するものである。
本発明における方法を、つぎに、それぞれ図に
したがつて説明する。
したがつて説明する。
本発明の前提となる情報記録再生消去方法に用
いる光記録部材を第1図に示す。この光学記録部
材は基材1、センター孔2、薄膜状の記録層3、
保護層4、およびラベル5よりなつている。
いる光記録部材を第1図に示す。この光学記録部
材は基材1、センター孔2、薄膜状の記録層3、
保護層4、およびラベル5よりなつている。
基材1としては光学的に透明で均質なものを用
い、ガラス、例えば、ソーダガラス、石英、パイ
レツクス、あるいは樹脂、例えば、アクリル、塩
化ビニル、ABS樹脂、等のシート、プレート、
又、透明フイルムとしては、ポリエステル、アセ
テートテフワン等が使用できる。
い、ガラス、例えば、ソーダガラス、石英、パイ
レツクス、あるいは樹脂、例えば、アクリル、塩
化ビニル、ABS樹脂、等のシート、プレート、
又、透明フイルムとしては、ポリエステル、アセ
テートテフワン等が使用できる。
中でも、樹脂としては、アクリル、ポリエステ
ルフイルム等を使用する場合、透明性がすぐれて
おり、記録した信号ビツトを光学的に記録、再生
する際に有効である。
ルフイルム等を使用する場合、透明性がすぐれて
おり、記録した信号ビツトを光学的に記録、再生
する際に有効である。
上記記録薄膜3の材料としては、低酸化物光吸
収性記録薄膜、例えばTeOx1 O<X1<2.0を主
成分とする薄膜が適用できる。
収性記録薄膜、例えばTeOx1 O<X1<2.0を主
成分とする薄膜が適用できる。
次に本発明の情報記録再生の原理を第2図とと
もに説明する。第2図において6は透明基材、7
は光吸収性記録薄膜である。
もに説明する。第2図において6は透明基材、7
は光吸収性記録薄膜である。
部位9は、未記録部で、部位10は、記録部で
ある。
ある。
それぞれの部位において、情報再生光8,13
が入射する場合、薄膜7の表面および裏面におい
て反射光11,12あるいは14,15が生じ
る。
が入射する場合、薄膜7の表面および裏面におい
て反射光11,12あるいは14,15が生じ
る。
これら表面および、裏面からの反射光の干渉に
より、再生光の反射光量が変化し、これを検出し
て、情報再生をおこなうものである。
より、再生光の反射光量が変化し、これを検出し
て、情報再生をおこなうものである。
この干渉による反射光の光量変化、つまり、反
射率の変化を説明する。
射率の変化を説明する。
該記録薄膜7の膜厚をdとし、未記録部および
記録部において膜厚は、同じ、つまり、蒸発、変
形等による凹凸は形成されていないものとする。
記録部において膜厚は、同じ、つまり、蒸発、変
形等による凹凸は形成されていないものとする。
第2図において、記録前後の反射率R1、R2を
それぞれ記録前後の膜の定数つまり、膜厚d1=
d2、屈折率n1、n2および、光吸収係数α1、α2に対
して、概念的に説明する。
それぞれ記録前後の膜の定数つまり、膜厚d1=
d2、屈折率n1、n2および、光吸収係数α1、α2に対
して、概念的に説明する。
まず、記録膜に吸収がない場合は、反射光量は
膜の屈折率n、および膜厚dで、反射率が定ま
る。膜7において、膜表面、つまり膜の上面にお
ける媒体6への反射光11と、膜裏面つまり膜下
面における膜7内への反射光12の膜上面におけ
る波面の位相により、膜面でのエネルギー反射
率、つまり反射光量が変わる。反射光11と12
の位相は、2nd=λ/sの場合は、位相が、π異
り、打ち消しあつて、反射率Rは減少し、2nd=
λの場合は、位相差が2πであり、強めあう結果、
反射率Rは増大する。
膜の屈折率n、および膜厚dで、反射率が定ま
る。膜7において、膜表面、つまり膜の上面にお
ける媒体6への反射光11と、膜裏面つまり膜下
面における膜7内への反射光12の膜上面におけ
る波面の位相により、膜面でのエネルギー反射
率、つまり反射光量が変わる。反射光11と12
の位相は、2nd=λ/sの場合は、位相が、π異
り、打ち消しあつて、反射率Rは減少し、2nd=
λの場合は、位相差が2πであり、強めあう結果、
反射率Rは増大する。
したがつて、第2図において、光吸収がない場
合、部位9つまり未記録部における光反射は、1
1と12の光路差△1=2n1d1で定まり、同様に、
部位10における光反射は、14と15の光路差
△2=2n2d1で定まる。
合、部位9つまり未記録部における光反射は、1
1と12の光路差△1=2n1d1で定まり、同様に、
部位10における光反射は、14と15の光路差
△2=2n2d1で定まる。
信号再生に用いる光の波長λに対応して、膜厚
d1を選ぶことにより、△1、△2が定まり、未記録
部9の反射率R1、および、記録部10の反射率
R2が定まり、反射率の変化量△R=R2−R1が生
ずる。
d1を選ぶことにより、△1、△2が定まり、未記録
部9の反射率R1、および、記録部10の反射率
R2が定まり、反射率の変化量△R=R2−R1が生
ずる。
したがつてこの変化量△Rを、膜厚d1により、
増減および、正負に選ぶことが可能になる。
増減および、正負に選ぶことが可能になる。
つぎに、膜に吸収がある場合は、上記屈折率と
して、複素数屈折率η1=n−ikただしkは、光吸
収係数αから生ずる消衰係数である。かかる場合
においても基本的には、複素屈折率η1、η2を介し
て、膜厚d1により反射率R1、R2は、定まる。
して、複素数屈折率η1=n−ikただしkは、光吸
収係数αから生ずる消衰係数である。かかる場合
においても基本的には、複素屈折率η1、η2を介し
て、膜厚d1により反射率R1、R2は、定まる。
この場合、第2図において、光波11,12の
対および14,15の対によつて定まる反射率
R1、R2は、その膜厚に対する変化量は、膜の吸
収のため、厚膜になるにしたがいその振巾が減少
する形となつてあらわれる。
対および14,15の対によつて定まる反射率
R1、R2は、その膜厚に対する変化量は、膜の吸
収のため、厚膜になるにしたがいその振巾が減少
する形となつてあらわれる。
本発明の薄膜の場合には、第2図において、記
録膜7の裏面に光反射層を設けることにより、未
記録部9における反射光量に対し、記録部10に
おける反射光量は、屈折率n1、n2の変化よりも吸
収係数α1、α2の変化が、反射光量変化△Rに大き
い効果を与える。
録膜7の裏面に光反射層を設けることにより、未
記録部9における反射光量に対し、記録部10に
おける反射光量は、屈折率n1、n2の変化よりも吸
収係数α1、α2の変化が、反射光量変化△Rに大き
い効果を与える。
記録部10においては、膜自体の吸収が大きい
ため、膜裏面の反射層からの反射光量が、顕著に
減少する結果を得る。
ため、膜裏面の反射層からの反射光量が、顕著に
減少する結果を得る。
したがつて、記録、再生において情報再生に適
した反射率変化△Rを得る膜厚を選ぶことができ
る。
した反射率変化△Rを得る膜厚を選ぶことができ
る。
第3図に本発明の前提となる情報記録再生方法
における書き込みビツトの形状16と、再生光照
射において検出が行われる反射光量のビツト部に
おける変化を17,17′で示す。
における書き込みビツトの形状16と、再生光照
射において検出が行われる反射光量のビツト部に
おける変化を17,17′で示す。
反射光量の変化17は、光照射により、記録部
の吸収係数および屈折率が変化し該記録膜の厚さ
との関係で、反射光量が、未記録部より減少する
状態を示す。つまり反射率の変化△Rが負になる
ことを示す。
の吸収係数および屈折率が変化し該記録膜の厚さ
との関係で、反射光量が、未記録部より減少する
状態を示す。つまり反射率の変化△Rが負になる
ことを示す。
反射光量の変化17′は、逆に反射光量が未記
録部より増大し、△Rが正になるような、該記録
膜の厚さの場合を示す。
録部より増大し、△Rが正になるような、該記録
膜の厚さの場合を示す。
つぎに本発明における情報記録の方法を述べる
第4図に示すように、レーザ光源18としては、
He−Neレーザ、λ=6328〓He−Cdレーザ、λ
=4416〓、Arレーザλ=5145〓等が使用できる。
レーザ光源18から出たレーザ光19は情報処理
装置20から発生した変調信号21により駆動し
た光変調器22により信号に応じた強度変調を受
け、ミラー23を介し、収束用レンズ24によ
り、スポツト形成し、光吸収性記録薄膜を設けた
記録媒体25を、基材26側から照射する。
第4図に示すように、レーザ光源18としては、
He−Neレーザ、λ=6328〓He−Cdレーザ、λ
=4416〓、Arレーザλ=5145〓等が使用できる。
レーザ光源18から出たレーザ光19は情報処理
装置20から発生した変調信号21により駆動し
た光変調器22により信号に応じた強度変調を受
け、ミラー23を介し、収束用レンズ24によ
り、スポツト形成し、光吸収性記録薄膜を設けた
記録媒体25を、基材26側から照射する。
光ビームと、光学記録媒体の相対的な移動に伴
つて、逐次にビツト信号が該記録部材に書き込ま
れる。なお、レーザ光源として半導体レーザλ=
8200〓を使用することもできる。
つて、逐次にビツト信号が該記録部材に書き込ま
れる。なお、レーザ光源として半導体レーザλ=
8200〓を使用することもできる。
光照射を受けた部位では、光吸収性記録薄層の
屈折率が増大し、記録がおこなわれる。この場合
テルル低酸化物では吸収率の増加も実際に伴つて
いる。
屈折率が増大し、記録がおこなわれる。この場合
テルル低酸化物では吸収率の増加も実際に伴つて
いる。
以上、情報記録用光源としては、広い波長範囲
のものが、適用できるわけであるが、使用波長に
より光吸収性記録薄層の膜厚dを、△Rが正に生
じるように、あるいは、△Rが負に生じるように
該記録膜の記録前後の屈折率n1、n2および吸収係
数α1、α2から定める必要がある。
のものが、適用できるわけであるが、使用波長に
より光吸収性記録薄層の膜厚dを、△Rが正に生
じるように、あるいは、△Rが負に生じるように
該記録膜の記録前後の屈折率n1、n2および吸収係
数α1、α2から定める必要がある。
次に、本発明における情報再生方法について述
べる。
べる。
本発明において用いる記録媒体は光吸収性の記
録薄層への記録により、その屈折率がn1からn2に
変化するとともに、吸収係数が変化し記録薄層の
膜原による干渉効果を利用して情報再生をおこな
うことを可能にするものである。
録薄層への記録により、その屈折率がn1からn2に
変化するとともに、吸収係数が変化し記録薄層の
膜原による干渉効果を利用して情報再生をおこな
うことを可能にするものである。
光照射により情報記録が行なわれた部位は、光
吸収係数および屈折率が増大し、記録薄層の膜厚
を介する干渉により、反射率は、増大または減少
し、同時に再生に使用する照射光の波長によつて
も変化する。
吸収係数および屈折率が増大し、記録薄層の膜厚
を介する干渉により、反射率は、増大または減少
し、同時に再生に使用する照射光の波長によつて
も変化する。
次に反射式再生方法について第5図とともに説
明する。
明する。
第5図において、照射光28としては光源27
例えばレーザ等の光を使用する。ハーフミラー2
9を通過した光30はレンズ31により集光さ
れ、信号像32を照明する。
例えばレーザ等の光を使用する。ハーフミラー2
9を通過した光30はレンズ31により集光さ
れ、信号像32を照明する。
つぎに信号像32から反射した光はレンズ31
を通過し、ハーフミラー29によつて反射し、反
射光33としてレンズ34を通じて光感応ダイオ
ード35に入る。検出信号36は増巾器37を通
して情報処理装置38により再生される。
を通過し、ハーフミラー29によつて反射し、反
射光33としてレンズ34を通じて光感応ダイオ
ード35に入る。検出信号36は増巾器37を通
して情報処理装置38により再生される。
反射光33の強度は、信号像がある部位におい
ては、2〜3倍に増大あるいは、1/8〜1/3に減少
しこの変化を検出して信号再生をおこなうもので
ある。
ては、2〜3倍に増大あるいは、1/8〜1/3に減少
しこの変化を検出して信号再生をおこなうもので
ある。
本発明の主たる目的は、この反射光量変化を、
正または、負の大きい変化量として得ることにあ
る。
正または、負の大きい変化量として得ることにあ
る。
情報再生に用いるレーザの波長および光吸収性
記録薄膜に適用する材料の屈折率および、屈折率
変化に対応して、該記録薄層の膜厚を選ぶ。
記録薄膜に適用する材料の屈折率および、屈折率
変化に対応して、該記録薄層の膜厚を選ぶ。
これら膜厚および、屈折率の組合せにより、情
報記録に伴う記録部位の反射率は、情報再生に使
用する波長において、増大あるいは減少し、反射
率の変化量△Rは、正または負の値に選ぶことが
できる。
報記録に伴う記録部位の反射率は、情報再生に使
用する波長において、増大あるいは減少し、反射
率の変化量△Rは、正または負の値に選ぶことが
できる。
△Rが正の場合、つまり、検出器に入る光量が
記録ビツトの部分では増大することになり、信号
を再生する場合、ビツト検出の際受光面での光量
が大きくはり、弱い再生光つまり、検出器の検出
限界近傍の再生光レベルにおいても良好なS/N
で信号検出が可能になる。
記録ビツトの部分では増大することになり、信号
を再生する場合、ビツト検出の際受光面での光量
が大きくはり、弱い再生光つまり、検出器の検出
限界近傍の再生光レベルにおいても良好なS/N
で信号検出が可能になる。
△Rが負の場合、つまり検出器に入る光量が、
記録ビツトの部分では、減少することになり、信
号再生において、ビツト検出の際、受光面での光
量が減少し、強い再生光で信号再生する場合は、
良好なS/Nで信号検出が可能になる。
記録ビツトの部分では、減少することになり、信
号再生において、ビツト検出の際、受光面での光
量が減少し、強い再生光で信号再生する場合は、
良好なS/Nで信号検出が可能になる。
さらに他の効果つまり、レーザビームによる消
去をおこなう場合、記録部では、反射率が減少し
ているため、光吸収効率が増大し、同一強度のビ
ームを走査することにより、選択的に記録部のみ
消去できる。
去をおこなう場合、記録部では、反射率が減少し
ているため、光吸収効率が増大し、同一強度のビ
ームを走査することにより、選択的に記録部のみ
消去できる。
実施例 1
基本的に光吸収性薄膜および、これを形成する
基材からなる構造を使用したものについて述べ
る。
基材からなる構造を使用したものについて述べ
る。
該薄膜としては、低酸化物光吸収性薄膜
TeOx1(O<x1<2.0)を主成分とするものを用い
る。
TeOx1(O<x1<2.0)を主成分とするものを用い
る。
基材は、アクリル樹脂厚みt=1.0mmを使用す
る。該薄膜は、真空蒸着で形成する。
る。該薄膜は、真空蒸着で形成する。
蒸着に用いる原材料の重量および蒸着時間によ
り該薄膜の膜厚を変えることができる。
り該薄膜の膜厚を変えることができる。
特に光吸収性記録薄膜dが薄く透過率が50%以
上になるものについては基材および記録薄膜に加
えて再生光の照明を行う面とは異なる他の面に光
反射層を設ける構造のものについて述べる。
上になるものについては基材および記録薄膜に加
えて再生光の照明を行う面とは異なる他の面に光
反射層を設ける構造のものについて述べる。
基板としては、アクリル樹脂厚みt=1.0mmを
使用する。記録膜は真空蒸着法で形成する。
使用する。記録膜は真空蒸着法で形成する。
本実施例の構成においては、光照射に際し、反
射光量は、膜表面の反射及び薄膜の裏面側に設け
た光反射層からの大きい反射光の影響で、一般に
増大する。
射光量は、膜表面の反射及び薄膜の裏面側に設け
た光反射層からの大きい反射光の影響で、一般に
増大する。
第6図には光反射層を設けた部材において、記
録薄層の厚さdが薄い領域1200〓における反射
率の膜厚依存性を示す。未記録状態における反射
率R1を曲線b1で記録状態における反射率R2を曲
線b2でそれぞれ示す。
録薄層の厚さdが薄い領域1200〓における反射
率の膜厚依存性を示す。未記録状態における反射
率R1を曲線b1で記録状態における反射率R2を曲
線b2でそれぞれ示す。
同時に比較のために反射層を設けない場合の反
射率R1、R2を曲線a1、a2で示す。
射率R1、R2を曲線a1、a2で示す。
本実施例の構成では未記録状態の反射率は膜厚
が薄い領域では大きく膜厚を厚くするにしたがつ
て低下し光反射層の影響は小さくなり、反射層を
設けない曲線a1に近ずく。
が薄い領域では大きく膜厚を厚くするにしたがつ
て低下し光反射層の影響は小さくなり、反射層を
設けない曲線a1に近ずく。
未記録状態の反射率R1を示す曲線b1に対し、
記録後の反射率R2を示す曲線b2は、光反射層
のない構成にくらべて薄膜領域において全般にb
2が下側になり、R2の減少がみられる。つまり、
再生に用いる変化量△R=R2−R1は全般的に負
になり、同時にその変化量も30%以上の値を得る
ことができる。この結果、再生効率の良い情報再
生方法が得られる。
記録後の反射率R2を示す曲線b2は、光反射層
のない構成にくらべて薄膜領域において全般にb
2が下側になり、R2の減少がみられる。つまり、
再生に用いる変化量△R=R2−R1は全般的に負
になり、同時にその変化量も30%以上の値を得る
ことができる。この結果、再生効率の良い情報再
生方法が得られる。
本発明における情報記録再生消去方法は、記録
媒体である光吸収性記録薄膜を記録再生の光源の
波長に対応して選び記録において、光吸収係数お
よび屈折率を同時に変化させ、または屈折率のみ
を変化させ、該記録膜の膜厚を介する干渉効果を
利用して情報記録再生消去をおこなうもので次の
効果を有する。
媒体である光吸収性記録薄膜を記録再生の光源の
波長に対応して選び記録において、光吸収係数お
よび屈折率を同時に変化させ、または屈折率のみ
を変化させ、該記録膜の膜厚を介する干渉効果を
利用して情報記録再生消去をおこなうもので次の
効果を有する。
(1) 形状の変化をともなわない、非破壊による反
射方式の光学的情報記録再生が行なわれる。
射方式の光学的情報記録再生が行なわれる。
(2) 反射率変化量が大きい値(|△R|20%)
が得られ、再生効率が向上した。
が得られ、再生効率が向上した。
(3) 膜厚を制御することにより、反射率の変化△
Rを正(d=1500Å〜2200Å、d3000Å△R
を負(d1500Å、2200Å〜3000Å)に選ぶこ
とができる。
Rを正(d=1500Å〜2200Å、d3000Å△R
を負(d1500Å、2200Å〜3000Å)に選ぶこ
とができる。
(4) レーザビームによる消去をおこなう場合、記
録部では、反射率が減少しているため、光吸収
率が増大し、同一強度のビームを走査すること
により、選択的に記録部のみ消去できる。
録部では、反射率が減少しているため、光吸収
率が増大し、同一強度のビームを走査すること
により、選択的に記録部のみ消去できる。
第1図は本発明の情報記録再生方法に用いる記
録部材の斜視図、第2図は、本発明における情報
再生の原理を示す図、第3図は本発明方法におけ
る情報記録部における反射光量の変化を示す図、
第4図は本発明方法を用いた情報記録装置の概略
図、第5図は、本発明方法を用いた情報再生装置
の概略図、第6図は光吸収性記録薄膜が薄い場合
の裏面に光反射層を設けた場合の未記録状態、記
録状態の反射率を示す図である。 1……基材、2……センター孔、3……記録
層、4……保護層、6……透明基材、7……光吸
収性記録薄膜、9……未起録部、10……記録
部、18……レーザ光源、19……レーザ光、2
0……情報処理装置、21……変調信号、22…
…光変調器、23……ミラー、24……レンズ、
25……記録媒体、26……基材、27……光
源、28……照射光、29……ハーフミラー、3
1……レンズ、35……光感応ダイオード、37
……増幅器、38……情報処理装置。
録部材の斜視図、第2図は、本発明における情報
再生の原理を示す図、第3図は本発明方法におけ
る情報記録部における反射光量の変化を示す図、
第4図は本発明方法を用いた情報記録装置の概略
図、第5図は、本発明方法を用いた情報再生装置
の概略図、第6図は光吸収性記録薄膜が薄い場合
の裏面に光反射層を設けた場合の未記録状態、記
録状態の反射率を示す図である。 1……基材、2……センター孔、3……記録
層、4……保護層、6……透明基材、7……光吸
収性記録薄膜、9……未起録部、10……記録
部、18……レーザ光源、19……レーザ光、2
0……情報処理装置、21……変調信号、22…
…光変調器、23……ミラー、24……レンズ、
25……記録媒体、26……基材、27……光
源、28……照射光、29……ハーフミラー、3
1……レンズ、35……光感応ダイオード、37
……増幅器、38……情報処理装置。
Claims (1)
- 1 レーザ光を光学記録部材に照射して記録再生
消去を行なう光学記録再生消去方法において、基
板上に薄膜状の記録層を設け、この膜の透過率が
未記録状態において略50%以上になる膜厚とし、
この上に、光反射層を設け、さらに密着保護層を
設け、所定周波数の光ビームの照射によつて上記
記録層の屈折率または屈折率と光学濃度の両方を
変化させて記録し、上記光ビームを光学記録部材
の基板側より入射させて記録再生消去する構成と
し、上記薄膜状の記録層の表面より反射した光
と、裏面である記録層と光反射層の界面で反射し
た光が干渉するようにし、記録部の反射率が未記
録部の反射率より小さくなるようにし、この記録
部を消去するに際し、記録層による光ビームの吸
収を大きくしてなる光学的情報記録再生消去方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63103082A JPS63298729A (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | 光学的情報記録再生消去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63103082A JPS63298729A (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | 光学的情報記録再生消去方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11846878A Division JPS5545166A (en) | 1978-09-25 | 1978-09-25 | Recording and reproducing method for optical information |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63298729A JPS63298729A (ja) | 1988-12-06 |
| JPH0413776B2 true JPH0413776B2 (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=14344715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63103082A Granted JPS63298729A (ja) | 1988-04-26 | 1988-04-26 | 光学的情報記録再生消去方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63298729A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0432040A (ja) * | 1990-05-29 | 1992-02-04 | Canon Inc | 光学的情報記録媒体、その媒体を用いた情報記録方法および情報再生方法および情報再生装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS522783B2 (ja) * | 1971-12-20 | 1977-01-24 | ||
| JPS52138145A (en) * | 1976-05-14 | 1977-11-18 | Hitachi Ltd | Optical recording device |
| JPS6240767A (ja) * | 1985-08-16 | 1987-02-21 | Olympus Optical Co Ltd | 半導体光電変換装置 |
-
1988
- 1988-04-26 JP JP63103082A patent/JPS63298729A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63298729A (ja) | 1988-12-06 |
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