JPH041399B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH041399B2 JPH041399B2 JP8635483A JP8635483A JPH041399B2 JP H041399 B2 JPH041399 B2 JP H041399B2 JP 8635483 A JP8635483 A JP 8635483A JP 8635483 A JP8635483 A JP 8635483A JP H041399 B2 JPH041399 B2 JP H041399B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- section
- signal
- input
- industrial
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 20
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 5
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は各種工業計器の性能を試験する場合に
好適な工業計器自動試験装置に関する。
好適な工業計器自動試験装置に関する。
(ロ) 従来技術
一般に、工業計器の製品出荷時やメインテナン
ス時等においては、それが所要の精度を保つてい
るかどうか試験をして性能を確認する必要があ
る。このような場合、従来は一つの工業計器にこ
れに応じた信号発生器を接続し、工業計器に信号
発生器から基準となる信号をたとえばレベルを段
階的に切換えて入力し、工業計器からこの入力信
号に応答して出力される信号を測定器で続みと
り、所定の出力値が得られているかどうかをみて
性能を確認している。しかも、その際の信号発生
器から工業計器へ入力する基準信号の切換えは、
手動で行なわれている。このため性能試験時には
常時人手が必要となり、労力も大きかつた。ま
た、多数個の工業計器の性能試験をする必要があ
るときには、それが同じ工業計器ならば互いを並
列に接続するなどして同時に試験することは可能
であるが、種類が異なると個々について１つずつ
性能試験を実施せねばならず試験に長時間を要す
るという問題がある。
ス時等においては、それが所要の精度を保つてい
るかどうか試験をして性能を確認する必要があ
る。このような場合、従来は一つの工業計器にこ
れに応じた信号発生器を接続し、工業計器に信号
発生器から基準となる信号をたとえばレベルを段
階的に切換えて入力し、工業計器からこの入力信
号に応答して出力される信号を測定器で続みと
り、所定の出力値が得られているかどうかをみて
性能を確認している。しかも、その際の信号発生
器から工業計器へ入力する基準信号の切換えは、
手動で行なわれている。このため性能試験時には
常時人手が必要となり、労力も大きかつた。ま
た、多数個の工業計器の性能試験をする必要があ
るときには、それが同じ工業計器ならば互いを並
列に接続するなどして同時に試験することは可能
であるが、種類が異なると個々について１つずつ
性能試験を実施せねばならず試験に長時間を要す
るという問題がある。
(ハ) 目的
本発明は上記の問題点に鑑みてなされたもので
あつて、工業計器が互いに種類の異なるものであ
つても、それらの性能を同時に多数個自動的に試
験することができるようにして、従来の問題点を
解消することを目的とする。
あつて、工業計器が互いに種類の異なるものであ
つても、それらの性能を同時に多数個自動的に試
験することができるようにして、従来の問題点を
解消することを目的とする。
(ニ) 構成
本発明はこのような目的を達成するため、試験
プログラム等を予じめ設定する設定部と、入出力
データを表示する表示部と、入出力信号を演算、
制御する制御演算部と、前記設定部で設定された
プログラムに基づいて基本となる信号を発生する
信号発生部と、複数の工業計器の各入力端と出力
端とにそれぞれ個別的に接続される各複数の信号
出力部および信号入力部と、前記信号発生部をこ
れらの信号出力部に順次選択的に切換えて接続す
る前段マルチプレクサと、前記信号入力部を前記
制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後段
マルチプレクサと、前記信号出力部および信号入
力部の各レンジを切換えるレンジ切換器とを備え
て構成している。
プログラム等を予じめ設定する設定部と、入出力
データを表示する表示部と、入出力信号を演算、
制御する制御演算部と、前記設定部で設定された
プログラムに基づいて基本となる信号を発生する
信号発生部と、複数の工業計器の各入力端と出力
端とにそれぞれ個別的に接続される各複数の信号
出力部および信号入力部と、前記信号発生部をこ
れらの信号出力部に順次選択的に切換えて接続す
る前段マルチプレクサと、前記信号入力部を前記
制御演算部に順次選択的に切換えて接続する後段
マルチプレクサと、前記信号出力部および信号入
力部の各レンジを切換えるレンジ切換器とを備え
て構成している。
(ホ) 実施例
以下、本発明を一実施例について図面に基づい
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図は本発明の工業計器自動試験装置の全体
を示すブロツク構成図である。同図において、１
は工業計器自動試験装置、２ａ，２ｂ，２ｃは性
能試験すべき複数（本例では３個）の工業計器で
ある。また４は各工業計器２ａ，２ｂ，２ｃを試
験するため予じめプログラムされた条件を設定す
るための設定部、６は入出力データを表示する表
示部で、この表示部６はカウンタ、CRT、プリ
ンタ等を含む。８は設定部４から入力した試験プ
ログラムの入力データ、表示部６への出力データ
およびその他の入出力信号を記憶する記憶部であ
る。１０は入出力信号を演算、制御する制御演算
部（以下CPUという）である。１２は設定部４
で設定された試験プログラムに基づいて基本とな
る信号を発生する信号発生器である。また１４
ａ，１４ｂ，１４ｃは前記工業計器２ａ，２ｂ，
２ｃの各入力端に、それぞれ個別的に接続された
信号出力部である。これらの各信号出力部１４
ａ，１４ｂ，１４ｃは共に同一の構成を有してい
る。一つの信号出力部１４ａについてみれば、た
とえば第２図ａに示すように、信号レベルを保持
するためのコンデンサＣ、差動増幅器Amp1、信
号発生部１２からの信号を各工業計器２ａ，２
ｂ，２ｃに適応した信号に変換するためのスイツ
チSW1，SW2，SW3，SW4を主体に構成されてい
る。一方、１６ａ，１６ｂ，１６ｃは工業計器２
ａ，２ｂ，２ｃの各出力端にそれぞれ個別的に接
続された信号入力部である。これらの各信号入力
部１６ａ，１６ｂ，１６ｃは共に同一の構成を有
している。一つの信号入力部１６ａについてみれ
ば、たとえば、第３図ａに示すように、１つの差
動増幅器Amp2および各工業計器２ａ，２ｂ，２
ｃからの出力信号を制御演算部１０に適応した信
号に変換するためのスイツチSW1′，SW2′を主体
に構成されている。１８は信号発生部１２を各信
号出力部１４ａ，１４ｂ，１４ｃに順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサ、２０は各
信号入力部１６ａ，１６ｂ，１６ｃを制御演算部
１０に順次選択的に切換えて接続する後段マルチ
プレクサである。また２２はＡ／Ｄ変換器であ
る。２４は制御演算部１０からの制御信号により
前記信号出力部１４ａ，１４ｂ，１４ｃのそれぞ
れの各スイツチSW1，SW2，SW3，SW4を切換え
るレンジ切換器である。２６は同じく制御演算部
１０からの制御信号により前記信号入力部１６
ａ，１６ｂ，１６ｃのそれぞれの各スイツチ
SW1′，SW2′を切換えるレンジ切換器である。両
レンジ切換器２４，２６は一種の論理回路で構成
されている。
を示すブロツク構成図である。同図において、１
は工業計器自動試験装置、２ａ，２ｂ，２ｃは性
能試験すべき複数（本例では３個）の工業計器で
ある。また４は各工業計器２ａ，２ｂ，２ｃを試
験するため予じめプログラムされた条件を設定す
るための設定部、６は入出力データを表示する表
示部で、この表示部６はカウンタ、CRT、プリ
ンタ等を含む。８は設定部４から入力した試験プ
ログラムの入力データ、表示部６への出力データ
およびその他の入出力信号を記憶する記憶部であ
る。１０は入出力信号を演算、制御する制御演算
部（以下CPUという）である。１２は設定部４
で設定された試験プログラムに基づいて基本とな
る信号を発生する信号発生器である。また１４
ａ，１４ｂ，１４ｃは前記工業計器２ａ，２ｂ，
２ｃの各入力端に、それぞれ個別的に接続された
信号出力部である。これらの各信号出力部１４
ａ，１４ｂ，１４ｃは共に同一の構成を有してい
る。一つの信号出力部１４ａについてみれば、た
とえば第２図ａに示すように、信号レベルを保持
するためのコンデンサＣ、差動増幅器Amp1、信
号発生部１２からの信号を各工業計器２ａ，２
ｂ，２ｃに適応した信号に変換するためのスイツ
チSW1，SW2，SW3，SW4を主体に構成されてい
る。一方、１６ａ，１６ｂ，１６ｃは工業計器２
ａ，２ｂ，２ｃの各出力端にそれぞれ個別的に接
続された信号入力部である。これらの各信号入力
部１６ａ，１６ｂ，１６ｃは共に同一の構成を有
している。一つの信号入力部１６ａについてみれ
ば、たとえば、第３図ａに示すように、１つの差
動増幅器Amp2および各工業計器２ａ，２ｂ，２
ｃからの出力信号を制御演算部１０に適応した信
号に変換するためのスイツチSW1′，SW2′を主体
に構成されている。１８は信号発生部１２を各信
号出力部１４ａ，１４ｂ，１４ｃに順次選択的に
切換えて接続する前段マルチプレクサ、２０は各
信号入力部１６ａ，１６ｂ，１６ｃを制御演算部
１０に順次選択的に切換えて接続する後段マルチ
プレクサである。また２２はＡ／Ｄ変換器であ
る。２４は制御演算部１０からの制御信号により
前記信号出力部１４ａ，１４ｂ，１４ｃのそれぞ
れの各スイツチSW1，SW2，SW3，SW4を切換え
るレンジ切換器である。２６は同じく制御演算部
１０からの制御信号により前記信号入力部１６
ａ，１６ｂ，１６ｃのそれぞれの各スイツチ
SW1′，SW2′を切換えるレンジ切換器である。両
レンジ切換器２４，２６は一種の論理回路で構成
されている。
次に、上記構成を有する工業計器自動試験装置
１を用いて複数の工業計器２ａ，２ｂ，２ｃの性
能試験を行なう場合について説明する。
１を用いて複数の工業計器２ａ，２ｂ，２ｃの性
能試験を行なう場合について説明する。
まず、設定部４から工業計器２ａ，２ｂ，２ｃ
の性能試験を行なうためのプログラムを入力す
る。CPU１０はこのプログラムを記憶部８に記
憶するとともに、このプログラムに基づいた制御
信号を信号発生部１２とともに表示部６へ出力す
る。従つて表示部６にはプログラムされた試験条
件が表示される。また、信号発生部１２はCPU
１０から送出された制御信号に応答して基本とな
る信号を発生し、これを前段マルチプレクサ１８
へ送出する。前段マルチプレクサ１８はCPU１
０に制御され信号発生部１２からの出力信号に応
じてその内部のスイツチをたとえば一定時間間隔
でもつて順次選択的に切換えていく。このため、
信号発生部１２と各信号出力部１４ａ，１４ｂ，
１４ｃとは前段マルチプレクサ１８を介して個々
に選択的に接続される。さらに、前段マルチプレ
クサ１８の切換タイミングに合せてCPU１０か
らはレンジ切換器２４にレンジ切換信号が入力さ
れるので、レンジ切換器２４はこのレンジ切換信
号に応答して、各信号出力部１４ａ，１４ｂ，１
４ｃのスイツチSW1，SW2，SW3，SW4を試験対
象とする各工業計器２ａ，２ｂ，２ｃの入力信号
レベルに適合するように切換える。たとえば、
今、一つの工業計器２ａについて、その入力信号
レベルが数ｍＶの単位を対象としているものとす
る。この場合、信号発生部１２と１つの信号出力
部１４ａとが前段マルチプレクサ１８により接続
されると、信号発生部１２からの基本信号はこの
信号出力部１４ａに入力される。その基本信号の
レベルは入力抵抗の影響を受けないように数Ｖ単
位の充分大きな値を有している。上記のごとくレ
ンジ切換器２４は信号発生部１２と信号出力部１
４ａとの接続タイミングに合せて信号出力部１４
ａのスイツチSW1，SW2，SW3，SW4を切換え
る。この各スイツチSW1，SW2，SW3，SW4の組
合せは第２図ｂのごとくになつている。すなわち
この例では次段の工業計器２ａはｍＶ単位の出力
レンジでなければならないので、スイツチSW1は
ON、スイツチSW2はOFF、SW3はｂとｃの各端
子が、またSW4はb′とc′の各端子がそれぞれ接続
する。このため信号出力部１４ａの入力端に印加
された数Ｖの電圧はその出力端では数ｍＶにレン
ジ切換され、これが工業計器２ａに送出される。
なお、各信号出力部１４ａ，１４ｂ，１４ｃはコ
ンデンサＣにより信号発生部１２からの出力レベ
ルを保持し、また、各スイツチSW1，SW2，
SW3，SW4の切換えはレンジ切換器２４を介して
CPU１０に制御されている。従つて、前段マル
チプレクサ１８およびレンジ切換器２４への入力
が更新されない限り各信号出力部１４ａ，１４
ｂ，１４ｃからはこれに対応した各工業計器２
ａ，２ｂ，２ｃに一定レベルの信号が常時出力さ
れる。
の性能試験を行なうためのプログラムを入力す
る。CPU１０はこのプログラムを記憶部８に記
憶するとともに、このプログラムに基づいた制御
信号を信号発生部１２とともに表示部６へ出力す
る。従つて表示部６にはプログラムされた試験条
件が表示される。また、信号発生部１２はCPU
１０から送出された制御信号に応答して基本とな
る信号を発生し、これを前段マルチプレクサ１８
へ送出する。前段マルチプレクサ１８はCPU１
０に制御され信号発生部１２からの出力信号に応
じてその内部のスイツチをたとえば一定時間間隔
でもつて順次選択的に切換えていく。このため、
信号発生部１２と各信号出力部１４ａ，１４ｂ，
１４ｃとは前段マルチプレクサ１８を介して個々
に選択的に接続される。さらに、前段マルチプレ
クサ１８の切換タイミングに合せてCPU１０か
らはレンジ切換器２４にレンジ切換信号が入力さ
れるので、レンジ切換器２４はこのレンジ切換信
号に応答して、各信号出力部１４ａ，１４ｂ，１
４ｃのスイツチSW1，SW2，SW3，SW4を試験対
象とする各工業計器２ａ，２ｂ，２ｃの入力信号
レベルに適合するように切換える。たとえば、
今、一つの工業計器２ａについて、その入力信号
レベルが数ｍＶの単位を対象としているものとす
る。この場合、信号発生部１２と１つの信号出力
部１４ａとが前段マルチプレクサ１８により接続
されると、信号発生部１２からの基本信号はこの
信号出力部１４ａに入力される。その基本信号の
レベルは入力抵抗の影響を受けないように数Ｖ単
位の充分大きな値を有している。上記のごとくレ
ンジ切換器２４は信号発生部１２と信号出力部１
４ａとの接続タイミングに合せて信号出力部１４
ａのスイツチSW1，SW2，SW3，SW4を切換え
る。この各スイツチSW1，SW2，SW3，SW4の組
合せは第２図ｂのごとくになつている。すなわち
この例では次段の工業計器２ａはｍＶ単位の出力
レンジでなければならないので、スイツチSW1は
ON、スイツチSW2はOFF、SW3はｂとｃの各端
子が、またSW4はb′とc′の各端子がそれぞれ接続
する。このため信号出力部１４ａの入力端に印加
された数Ｖの電圧はその出力端では数ｍＶにレン
ジ切換され、これが工業計器２ａに送出される。
なお、各信号出力部１４ａ，１４ｂ，１４ｃはコ
ンデンサＣにより信号発生部１２からの出力レベ
ルを保持し、また、各スイツチSW1，SW2，
SW3，SW4の切換えはレンジ切換器２４を介して
CPU１０に制御されている。従つて、前段マル
チプレクサ１８およびレンジ切換器２４への入力
が更新されない限り各信号出力部１４ａ，１４
ｂ，１４ｃからはこれに対応した各工業計器２
ａ，２ｂ，２ｃに一定レベルの信号が常時出力さ
れる。
次に、各工業計器２ａ，２ｂ，２ｃからの出力
はそれぞれこれに対応した信号入力部１６ａ，１
６ｂ，１６ｃに入力される。後端マルチプレクサ
２０はCPU１０に制御されその内部のスイツチ
をたとえば一定時間間隔でもつて順次切換えてい
く。このため各信号入力部１６ａ，１６ｂ，１６
ｃとCPU１０とは後端マルチプレクサ２０、
Ａ／Ｄ変換器２２を介して互いに接続される。さ
らに、後段マルチプレクサ２０の切換タイミング
に合せてCPU１０からはレンジ切換器２６にレ
ンジ切換信号が入力されるので、レンジ切換器２
６はこのレンジ切換信号に応答して各信号入力部
１６ａ，１６ｂ，１６ｃのスイツチSW1′，
SW2′をCPU１０の入力信号レベルに適合するよ
うに切換える。たとえば、今一つの工業計器２ａ
について、その出力信号レベルが数ｍＶの場合、
この信号は工業計器２ａに対応した信号入力部１
６ａに入力される。信号入力部１６ａのスイツチ
SW1′，SW2′の組合せは第３図ｂのごとくになつ
ている。したがつて、この例では両スイツチ
SW1′，SW2′は共にOFFのままである。このた
め、信号入力部１４ａの入力端に印加された数ｍ
Ｖ単位の電圧は、その出力端で数Ｖ単位にレンジ
切換される。そして、この信号は後端マルチプレ
クサ２０、Ａ／Ｄ変換器１０を介してCPU１０
に入力される。このように、各工業計器２ａ，２
ｂ，２ｃからのデータはCPU１０に一定時間間
隔で取り込まれ、CPU１０はこの入力データに
基づいた演算処理結果を表示部６にたとえばプリ
ントアウトするとともに記憶部８に記憶させる。
はそれぞれこれに対応した信号入力部１６ａ，１
６ｂ，１６ｃに入力される。後端マルチプレクサ
２０はCPU１０に制御されその内部のスイツチ
をたとえば一定時間間隔でもつて順次切換えてい
く。このため各信号入力部１６ａ，１６ｂ，１６
ｃとCPU１０とは後端マルチプレクサ２０、
Ａ／Ｄ変換器２２を介して互いに接続される。さ
らに、後段マルチプレクサ２０の切換タイミング
に合せてCPU１０からはレンジ切換器２６にレ
ンジ切換信号が入力されるので、レンジ切換器２
６はこのレンジ切換信号に応答して各信号入力部
１６ａ，１６ｂ，１６ｃのスイツチSW1′，
SW2′をCPU１０の入力信号レベルに適合するよ
うに切換える。たとえば、今一つの工業計器２ａ
について、その出力信号レベルが数ｍＶの場合、
この信号は工業計器２ａに対応した信号入力部１
６ａに入力される。信号入力部１６ａのスイツチ
SW1′，SW2′の組合せは第３図ｂのごとくになつ
ている。したがつて、この例では両スイツチ
SW1′，SW2′は共にOFFのままである。このた
め、信号入力部１４ａの入力端に印加された数ｍ
Ｖ単位の電圧は、その出力端で数Ｖ単位にレンジ
切換される。そして、この信号は後端マルチプレ
クサ２０、Ａ／Ｄ変換器１０を介してCPU１０
に入力される。このように、各工業計器２ａ，２
ｂ，２ｃからのデータはCPU１０に一定時間間
隔で取り込まれ、CPU１０はこの入力データに
基づいた演算処理結果を表示部６にたとえばプリ
ントアウトするとともに記憶部８に記憶させる。
なお、上記実施例において工業計器２ａ，２
ｂ，２ｃに対応した各信号出力部１４ａ，１４
ｂ，１４ｃと信号入力部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ
とは３か所設けているが、これに限るものではな
く工業計器の数に応じ、２つであつてもよくさら
に多数設けてもよいのは勿論である。
ｂ，２ｃに対応した各信号出力部１４ａ，１４
ｂ，１４ｃと信号入力部１６ａ，１６ｂ，１６ｃ
とは３か所設けているが、これに限るものではな
く工業計器の数に応じ、２つであつてもよくさら
に多数設けてもよいのは勿論である。
(ヘ) 効果
以上のように本発明によれば、工業計器が互い
に種類の異なるものであつても、それらの性能を
同時に多数個自動的に試験することができる。こ
のため昼夜を問わず試験を続行することが可能と
なり、試験に要する労力が大幅に軽減されるばか
りでなく、試験に要する期間も極めて短かくなる
という実用上優れた効果が発揮される。
に種類の異なるものであつても、それらの性能を
同時に多数個自動的に試験することができる。こ
のため昼夜を問わず試験を続行することが可能と
なり、試験に要する労力が大幅に軽減されるばか
りでなく、試験に要する期間も極めて短かくなる
という実用上優れた効果が発揮される。
図面は本発明の実施例を示し、第１図は工業計
器自動試験装置の全体を示すブロツク構成図、第
２図ａは前段マルチプレクサと一つの信号出力部
を示す回路図、同図ｂは信号出力部の各スイツチ
の動作条件を示す表図、第３図ａは後端マルチプ
レクサと一つの信号入力部を示す回路図、同図ｂ
は信号入力部の各スイツチの動作条件を示す表図
である。 １……工業計器自動試験装置、２ａ，２ｂ，２
ｃ……工業計器、４……設定部、６……表示部、
１０……制御演算部、１２……信号発生部、１４
ａ，１４ｂ，１４ｃ……信号出力部、１６ａ，１
６ｂ，１６ｃ……信号入力部、１８……前段マル
チプレクサ、２０……後端マルチプレクサ、２
４，２６……レンジ切換器。
器自動試験装置の全体を示すブロツク構成図、第
２図ａは前段マルチプレクサと一つの信号出力部
を示す回路図、同図ｂは信号出力部の各スイツチ
の動作条件を示す表図、第３図ａは後端マルチプ
レクサと一つの信号入力部を示す回路図、同図ｂ
は信号入力部の各スイツチの動作条件を示す表図
である。 １……工業計器自動試験装置、２ａ，２ｂ，２
ｃ……工業計器、４……設定部、６……表示部、
１０……制御演算部、１２……信号発生部、１４
ａ，１４ｂ，１４ｃ……信号出力部、１６ａ，１
６ｂ，１６ｃ……信号入力部、１８……前段マル
チプレクサ、２０……後端マルチプレクサ、２
４，２６……レンジ切換器。
Claims (1)
- １ 試験プログラム等を予じめ設定する設定部
と、入出力データを表示する表示部と、入出力信
号を演算、制御する制御演算部と、前記設定部で
設定されたプログラムに基づいて基本となる信号
を発生する信号発生部と、複数の工業計器の各入
力端と出力端とにそれぞれ個別的に接続される各
複数の信号出力部および信号入力部と、前記信号
発生部をこれらの信号出力部に順次選択的に切換
えて接続する前段マルチプレクサと、前記信号入
力部を前記制御演算部に順次選択的に切換えて接
続する後段マルチプレクサと、前記信号出力部お
よび信号入力部の各レンジを切換えるレンジ切換
器とを包含してなる工業計器自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8635483A JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8635483A JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59211194A JPS59211194A (ja) | 1984-11-29 |
| JPH041399B2 true JPH041399B2 (ja) | 1992-01-10 |
Family
ID=13884545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8635483A Granted JPS59211194A (ja) | 1983-05-16 | 1983-05-16 | 工業計器自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59211194A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IE55100B1 (en) * | 1982-08-12 | 1990-05-23 | Edeco Holdings Ltd | Thermochemical energy storage |
| JPS6451821U (ja) * | 1987-09-29 | 1989-03-30 | ||
| JPH03120418A (ja) * | 1989-10-04 | 1991-05-22 | Nippon Steel Corp | 計装テスタ |
-
1983
- 1983-05-16 JP JP8635483A patent/JPS59211194A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59211194A (ja) | 1984-11-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4926425A (en) | System for testing digital circuits | |
| CA2347236A1 (en) | Integrated multi-channel analog test instrument architecture | |
| CA1172361A (en) | Logic analyzer for a multiplexed digital bus | |
| KR20090046463A (ko) | 분산제어시스템 입,출력 모듈 시험장치 | |
| JPS5940721A (ja) | デジタル・アナログ変換器用診断装置 | |
| JPH041399B2 (ja) | ||
| JPS63281597A (ja) | 分散形制御システムの機能検査方式 | |
| JPH10123204A (ja) | Ｄｃ並列測定回路 | |
| JPH1185251A (ja) | デジタル制御装置およびそのデジタル用入出力基板試験装置 | |
| DE4113224A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum rechnergestuetzten fehlerbestimmen, pruefen oder messen bei videokomponentengeraeten | |
| JP2002010305A (ja) | 回線インタフェースカードテスター | |
| JPS60105005A (ja) | 冗長系出力信号の異常監視装置 | |
| SU984046A1 (ru) | Измерительный коммутатор | |
| SU706849A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
| US4514176A (en) | Automatic teaching apparatus and method | |
| JP3258460B2 (ja) | 測定器におけるデータ出力方法 | |
| JP2983109B2 (ja) | 抵抗検査装置 | |
| SU1111171A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых узлов | |
| SU1140056A1 (ru) | Цифровой измерительный прибор | |
| JPH04198813A (ja) | 多チャネルディジタルデータ計測システム | |
| JPH102935A (ja) | Ｉｃ試験装置 | |
| SU800904A1 (ru) | Устройство дл контрол правильностиМОНТАжА | |
| SU1677673A1 (ru) | Устройство дл фиксации параметров аварийного режима | |
| SU868606A1 (ru) | Многоканальное устройство дл контрол логических сигналов цифровых схем | |
| SU1183972A1 (ru) | Устройство дл имитации отказов дискретной аппаратуры |