JPH04142459A - 全有機炭素分析装置 - Google Patents
全有機炭素分析装置Info
- Publication number
- JPH04142459A JPH04142459A JP26546290A JP26546290A JPH04142459A JP H04142459 A JPH04142459 A JP H04142459A JP 26546290 A JP26546290 A JP 26546290A JP 26546290 A JP26546290 A JP 26546290A JP H04142459 A JPH04142459 A JP H04142459A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体産業、原子力、医薬品等に使用され
る超純水中の全有機炭素を分析する装置に関するもので
ある。
る超純水中の全有機炭素を分析する装置に関するもので
ある。
第2図は市販されている従来の全有機炭素分析装置を示
す断面図である。この図において、1は紫外線ラップ、
2は紫外線う、ブボソクス、3は電導度・温度セッサ、
4は紫外線照射窓、5は前記紫外線ランプ1.紫外線ラ
ノゴボ・ソクス2.電導度・温度センサ3.および紫外
線照射窓4を一体化するための外枠、6は試料水に紫外
線を照射する紫外線照射エリア、7は自動バルブ、8は
前記紫外線ランプ1のラーブ電源、9は前記電導度・温
度センサ3の電導度・温度測定回路、10は前記自動バ
ルブ7、ランプ電源8.電導度・温度測定回路9を特定
のシーケンスで制御する制御装置、11は試料水入口、
12は試料水出口、13は試料水である。
す断面図である。この図において、1は紫外線ラップ、
2は紫外線う、ブボソクス、3は電導度・温度セッサ、
4は紫外線照射窓、5は前記紫外線ランプ1.紫外線ラ
ノゴボ・ソクス2.電導度・温度センサ3.および紫外
線照射窓4を一体化するための外枠、6は試料水に紫外
線を照射する紫外線照射エリア、7は自動バルブ、8は
前記紫外線ランプ1のラーブ電源、9は前記電導度・温
度センサ3の電導度・温度測定回路、10は前記自動バ
ルブ7、ランプ電源8.電導度・温度測定回路9を特定
のシーケンスで制御する制御装置、11は試料水入口、
12は試料水出口、13は試料水である。
第3図は市販されている従来の全有機炭素分析装置の自
動バルブ7、紫外線ランプ1の動作シケンスと、このと
きの試料水13の分析結果を表した図である。
動バルブ7、紫外線ランプ1の動作シケンスと、このと
きの試料水13の分析結果を表した図である。
第3図において、上のグラフ■は、電導度と時間(状態
別)の関係を表しており、下の部分■は、自動バルブ7
の状態と、紫外線ランプ1の状態を表しており、上のゲ
ラ7■と対にしているこごて、14は時間軸、15は電
導変軸てあり、16は排水状態、17はバ・ツクゲラウ
ッド測定状態、18は試料測定状態、19は前記自動バ
ルブ7が開いた状態、20は前記自動バルブ7が閉した
状態、21は前記紫外線う、ゴ1が点灯した状態、22
は前記紫外線う、プ1が消灯した状態である。
別)の関係を表しており、下の部分■は、自動バルブ7
の状態と、紫外線ランプ1の状態を表しており、上のゲ
ラ7■と対にしているこごて、14は時間軸、15は電
導変軸てあり、16は排水状態、17はバ・ツクゲラウ
ッド測定状態、18は試料測定状態、19は前記自動バ
ルブ7が開いた状態、20は前記自動バルブ7が閉した
状態、21は前記紫外線う、ゴ1が点灯した状態、22
は前記紫外線う、プ1が消灯した状態である。
分析原理としては、試料水照射エリア6に導入された試
料水13に、紫外線ランプ1からの紫外線を照射する乙
とて全有機炭素を酸化分解し、炭酸イオン化する。こう
すると、生成された炭酸イオン分により試料水13中の
電導層が変化する。
料水13に、紫外線ランプ1からの紫外線を照射する乙
とて全有機炭素を酸化分解し、炭酸イオン化する。こう
すると、生成された炭酸イオン分により試料水13中の
電導層が変化する。
この電導層の変化分を全有機#、素換算する。
動作は前述の原理に基づき自動化されたものであり、ま
ず、第3図の排水状態16になる。これは自動バルブ7
が開いた状態19と、紫外線ラップ1が点灯した状態2
1である。このとき、試料水照射エリア6の中の分析済
みの試料水13が系外へ排水され、新しい試料水13と
入れ替わる。
ず、第3図の排水状態16になる。これは自動バルブ7
が開いた状態19と、紫外線ラップ1が点灯した状態2
1である。このとき、試料水照射エリア6の中の分析済
みの試料水13が系外へ排水され、新しい試料水13と
入れ替わる。
次に、バノクグラウノト測定状態17になる1、これは
自動バルブ7が閉した状態20と紫外線ラップ1が消灯
した状態22である。この時、試料水照射エリア6の中
には新しい試料水13が入っており、この試料水13の
温度と電導層を測定し、初期値を分析する。この後、試
料測定状態18になる。これは自動バルブ7が閉した状
態20と、紫外線ラップ1が消灯した状態22である。
自動バルブ7が閉した状態20と紫外線ラップ1が消灯
した状態22である。この時、試料水照射エリア6の中
には新しい試料水13が入っており、この試料水13の
温度と電導層を測定し、初期値を分析する。この後、試
料測定状態18になる。これは自動バルブ7が閉した状
態20と、紫外線ラップ1が消灯した状態22である。
このときが分析原理に基づく測定状態である。紫外線を
照射し始めてから変化する電導層と温度を連続して測定
する。
照射し始めてから変化する電導層と温度を連続して測定
する。
紫外線の照射によって有機物は酸化分解され、炭酸イオ
ン化し、電導層は上昇する。はとんどの有機物が酸化分
解されるとともに、電導層の上昇の傾きかにぶくなる。
ン化し、電導層は上昇する。はとんどの有機物が酸化分
解されるとともに、電導層の上昇の傾きかにぶくなる。
電導層の上昇がなくなった時点の電導層とバックグラウ
ンド状態17の初期の電導層を用いて全有機炭素換算し
、定量を行う。
ンド状態17の初期の電導層を用いて全有機炭素換算し
、定量を行う。
この試料測定状態18の後は、再び排水状態16となり
、本動作を繰り返し、連続的に測定を行う。
、本動作を繰り返し、連続的に測定を行う。
なお、上記動作説明の中の試料水13のン晶度泗定(ま
、電導層変化の温度依存性が非常(こ大きし)ため、こ
J’lを一定温度のときの電導層(こ補正するためのも
のである。
、電導層変化の温度依存性が非常(こ大きし)ため、こ
J’lを一定温度のときの電導層(こ補正するためのも
のである。
従来の全有機炭素分析装置(よ、分離原理のうちの全有
機炭素の検出に電導層の変化を用し)てし)ろため、試
料水13中にすてに含まれてL)ろ炭酸イオン分は検出
しないことになり、また、電導層ζこよろ検出のため、
現状のし、/</して(よ、検出限界り9実質的に1p
Pbであることなどの問題4屯力(あった。
機炭素の検出に電導層の変化を用し)てし)ろため、試
料水13中にすてに含まれてL)ろ炭酸イオン分は検出
しないことになり、また、電導層ζこよろ検出のため、
現状のし、/</して(よ、検出限界り9実質的に1p
Pbであることなどの問題4屯力(あった。
さらには、半導体産業等て使用されて5入る超寄屯水シ
ステムで製造された超純水中の全有機炭素成分はIPp
b以下の場合もあり、現在市販されている分析装置では
、分析できな0などの問題1へもある。
ステムで製造された超純水中の全有機炭素成分はIPp
b以下の場合もあり、現在市販されている分析装置では
、分析できな0などの問題1へもある。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、試料水中ζこすで巳と含まれている炭酸イ
オン分を含めた全有機炭素を測定てきるとともに、従来
の装置よりも検出感度を100倍〜1000m向上する
ことのてきろ全有機炭素分析装置を得ろことを目的とす
る。
れたもので、試料水中ζこすで巳と含まれている炭酸イ
オン分を含めた全有機炭素を測定てきるとともに、従来
の装置よりも検出感度を100倍〜1000m向上する
ことのてきろ全有機炭素分析装置を得ろことを目的とす
る。
この発明に係る全有機炭素分析装置は、試料水中の有機
物を、波長184.9nmの紫外線を用いて酸化分解し
て炭酸イオン化する有機物炭酸イオン化装置と、この有
機物炭酸イオン化装置によりイオン化した後、試料水中
の水酸基を除去する水酸基除去装置と、イオン化された
炭酸イオンを濃縮する陰イオン濃縮カラムと、この陰イ
オン濃縮カラムで濃縮された炭酸イオンの総量で全有機
炭素成分を決定する検出器とを備えたものである。
物を、波長184.9nmの紫外線を用いて酸化分解し
て炭酸イオン化する有機物炭酸イオン化装置と、この有
機物炭酸イオン化装置によりイオン化した後、試料水中
の水酸基を除去する水酸基除去装置と、イオン化された
炭酸イオンを濃縮する陰イオン濃縮カラムと、この陰イ
オン濃縮カラムで濃縮された炭酸イオンの総量で全有機
炭素成分を決定する検出器とを備えたものである。
〔作用〕
この発明における有機物炭酸イオン化装置は、試料水中
の有機物を主として、波長184,9nmの紫外線によ
り酸化分解し、すべてを炭酸イオン化する。この後、陰
イオン濃縮カラムで、炭酸イオンを#縮するのであるが
、他の陰イオンのうちの水酸基イオンについてもここで
濃縮されるために、検出感度のベースが高くなることと
、不安定性を招くため、水酸基除去装置を導入し、水酸
基を除去してから陰イオン濃縮カラムで炭酸イオ、を濃
縮する。この後、一般的なイオンクロマトグラフィの濃
縮分析法を用い、炭酸イオンを定量分析し、分析値を全
有機炭素換算する。
の有機物を主として、波長184,9nmの紫外線によ
り酸化分解し、すべてを炭酸イオン化する。この後、陰
イオン濃縮カラムで、炭酸イオンを#縮するのであるが
、他の陰イオンのうちの水酸基イオンについてもここで
濃縮されるために、検出感度のベースが高くなることと
、不安定性を招くため、水酸基除去装置を導入し、水酸
基を除去してから陰イオン濃縮カラムで炭酸イオ、を濃
縮する。この後、一般的なイオンクロマトグラフィの濃
縮分析法を用い、炭酸イオンを定量分析し、分析値を全
有機炭素換算する。
〔実施例]
以下、この発明の一実施例を第1図について説明する。
第1図において、第2図と同一符号は同一構成部分を示
し、23は試料水サンプリングおよび定量化のための定
量ボノゴ、24は波長184.9乙mの紫外線を発生す
る紫外線ランプであり、これら紫外線ラップ24.紫外
線ランプボックス2゜紫外線照射窓4.外枠5.紫外線
照射エリア6゜およびランプ電源8を総合して有機物炭
酸イオン化装置という。25は水酸基除去装置、26は
再生液、27はこの再生液26の再生液供給ポツプ、2
8は前記水酸基除去装置25への再生液供給配管、29
は前記水酸基除去装置25からの再生液配管、30,3
3.35,36.41はバルブ、3乙は陰イオン濃縮カ
ラム、31はこの陰イオ。
し、23は試料水サンプリングおよび定量化のための定
量ボノゴ、24は波長184.9乙mの紫外線を発生す
る紫外線ランプであり、これら紫外線ラップ24.紫外
線ランプボックス2゜紫外線照射窓4.外枠5.紫外線
照射エリア6゜およびランプ電源8を総合して有機物炭
酸イオン化装置という。25は水酸基除去装置、26は
再生液、27はこの再生液26の再生液供給ポツプ、2
8は前記水酸基除去装置25への再生液供給配管、29
は前記水酸基除去装置25からの再生液配管、30,3
3.35,36.41はバルブ、3乙は陰イオン濃縮カ
ラム、31はこの陰イオ。
濃縮カラム34に吸着されている陰イオ、を溶離する溶
i液、32は溶離液供給ボ、7.37は溶離液供給配管
、38は分離カラム、39は検出器、40は前記試料水
13が通過する主配管であるc1次に、動作について説
明する。
i液、32は溶離液供給ボ、7.37は溶離液供給配管
、38は分離カラム、39は検出器、40は前記試料水
13が通過する主配管であるc1次に、動作について説
明する。
本装置の動作状態は、濃縮状態と測定状態の2つある。
また、これらの状態は図中のバルブ30゜33.35,
36,41と溶離液供給ポンプ32で決まっているため
、これらの状態を第1表に示す。
36,41と溶離液供給ポンプ32で決まっているため
、これらの状態を第1表に示す。
第 1 表
双方の状態のときに定量ボンゴ紫外線紫外綿う、ゴ24
.水酌基除去装置25.および再生液供給ポシプ27は
連続稼動している、。
.水酌基除去装置25.および再生液供給ポシプ27は
連続稼動している、。
まず、濃縮状態について説明する。
試料水13は、定量ポンプ23て一定量送水される。送
水された試料水13は、有機物炭酸イオン化装置の紫外
線照射エリア6を通過する。この時、紫外線照射エリア
6において紫外線ラップ24により紫外線照射窓4を介
して試料水13に波長184.9乙mの紫外線が照射さ
れ、試料水13中の有機物が酸化分解され、はぼ100
%炭酸イオン化する。この後、試料水13は水酸基除去
装置25に導入され、濃縮する上での検出感度向上およ
びベースを安定化するために水酸基(OH″)を除去す
る。さらにこの後、炭酸イオン化した有機物と、水酸基
が減少した試料水13は陰イオン濃縮カラム34に導入
され、炭酸イオンを長時間濃縮する。この濃縮状態によ
り、高感度化をはかる。
水された試料水13は、有機物炭酸イオン化装置の紫外
線照射エリア6を通過する。この時、紫外線照射エリア
6において紫外線ラップ24により紫外線照射窓4を介
して試料水13に波長184.9乙mの紫外線が照射さ
れ、試料水13中の有機物が酸化分解され、はぼ100
%炭酸イオン化する。この後、試料水13は水酸基除去
装置25に導入され、濃縮する上での検出感度向上およ
びベースを安定化するために水酸基(OH″)を除去す
る。さらにこの後、炭酸イオン化した有機物と、水酸基
が減少した試料水13は陰イオン濃縮カラム34に導入
され、炭酸イオンを長時間濃縮する。この濃縮状態によ
り、高感度化をはかる。
次に、測定状態について説明する。
陰イオン濃縮カラム34で濃縮さ第1た炭酸イオ、を溶
離21231を通すととて溶離し、分離カラム38て炭
酸イオンを分離し、検出器39て炭酸イオ、総量を計測
する。この測定は一般的なイオンクロマトグラフィ法で
ある。その後、炭酸イオ。
離21231を通すととて溶離し、分離カラム38て炭
酸イオンを分離し、検出器39て炭酸イオ、総量を計測
する。この測定は一般的なイオンクロマトグラフィ法で
ある。その後、炭酸イオ。
濃度を全有機炭素換算し、測定値として表示する。
補足として、一般的なイオンクロマ1〜グラフイ法とこ
の測定装置との違いを述へる。
の測定装置との違いを述へる。
一般的なイオンクロマ1〜グラフイ法の濃縮法を用いて
、有機酸成分(炭酸イオンも含む)を定量分析し、全有
機炭素換算する方法も考丸られろが、この場合試料水1
3中の有機物がイオン化していないケースが多く、陰イ
オン濃縮カラム34ての吸着率が非常に悪いこと、また
、試料水13中のpHを低くして(酸性)有機物のイオ
ン化率を高くし、吸着率を向上させろ手法もあるが、吸
着率は100%とはならず、また、pH制御用の溶液か
らの汚染等の問題があり、高感度化には不向きである。
、有機酸成分(炭酸イオンも含む)を定量分析し、全有
機炭素換算する方法も考丸られろが、この場合試料水1
3中の有機物がイオン化していないケースが多く、陰イ
オン濃縮カラム34ての吸着率が非常に悪いこと、また
、試料水13中のpHを低くして(酸性)有機物のイオ
ン化率を高くし、吸着率を向上させろ手法もあるが、吸
着率は100%とはならず、また、pH制御用の溶液か
らの汚染等の問題があり、高感度化には不向きである。
以下に上記実施例で示した全有機炭素分析装置の各ユニ
・21・の条件例を示す。
・21・の条件例を示す。
定量ボ、ワ°の供給量 0.5〜1.5cc/min有
機物炭酸イオ、化装置 紫外線照射量が試料水中に含まれろ有機成分を全て分解
する量とする。
機物炭酸イオ、化装置 紫外線照射量が試料水中に含まれろ有機成分を全て分解
する量とする。
試料水中の炭素量(モル数)(処理可能な紫外線照射量
(モル数) 水酸基除去装置 DIONEX社八MMS再へ液
硫酸 陰イオン濃縮カラム DIONEX社八G4−人へa液
しほう酸(N人2B407)分離カラ
ム DIONEX社^S4検出器
電導度センサ なお、上記実施例では、検出器39に電導度センサを用
いたが、炭酸イオンを感度よく計測できるセンサてあれ
ば何てもよい。
(モル数) 水酸基除去装置 DIONEX社八MMS再へ液
硫酸 陰イオン濃縮カラム DIONEX社八G4−人へa液
しほう酸(N人2B407)分離カラ
ム DIONEX社^S4検出器
電導度センサ なお、上記実施例では、検出器39に電導度センサを用
いたが、炭酸イオンを感度よく計測できるセンサてあれ
ば何てもよい。
以上説明したように、この発明は、試料水中の有機物を
、波長184.9nrnの紫外線を用いて酸化分解して
炭酸イオン化する有機物炭酸イオン化装置と、この有機
物炭酸イオ、化装置によりイオ、化した後、試料水中に
水酸基を除去する水酸基除去装置と、イオン化された炭
酸イオ、を濃縮する陰イオン濃縮カラムと、この陰イオ
ン濃縮カラムで濃縮された炭酸イオンの総量で全有機炭
素成分を測定する検出器とを備左なので、従来の100
倍〜1000倍の高感度な全有機炭素分析装置が得られ
る効果があろう
、波長184.9nrnの紫外線を用いて酸化分解して
炭酸イオン化する有機物炭酸イオン化装置と、この有機
物炭酸イオ、化装置によりイオ、化した後、試料水中に
水酸基を除去する水酸基除去装置と、イオン化された炭
酸イオ、を濃縮する陰イオン濃縮カラムと、この陰イオ
ン濃縮カラムで濃縮された炭酸イオンの総量で全有機炭
素成分を測定する検出器とを備左なので、従来の100
倍〜1000倍の高感度な全有機炭素分析装置が得られ
る効果があろう
第1図はこの発明の一実施例による全有機炭素分析装置
を示す構成図、第2図は従来の全有機炭素分析装置を示
す断面図、第3図は従来の全有機炭素分析装置の動作シ
ーケンスと分析データの時間の関係を示した図である。 図において、2は紫外線ランプボックス、4は紫外線照
射窓、5は外枠、6は紫外線照射エリア、8はランプ電
源、23は定量ポンプ、24は紫外線ラップ、25は水
酸基除去装置、26は再生液、27は再生液供給ポンプ
、28は再生液供給配管、29は再生液配管、30,3
3,35゜36.4++よバルブ、311(よ陰イオン
濃縮カラム、31(4よ溶離液、32は溶S液供給ボッ
7°、37は溶S液供給配管、38ば分離カラム、39
(よ検出器、40は主配管である。 なお、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 (外2名)第 図 1、事件の表示 特願平2−265462号 2、発明の名称 全有機炭素分析装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
称 (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (1) 明細書の第7頁20行の「水酸基除去装置」
を、「水酸基除去装置」と補正する。 (2)同しく第10頁15行のrpHを低くして(酸性
)有機物のイオン化率」を、rpHを高くして(弱アル
カリ性)有機物のイオン化率」と補正する。 以 上
を示す構成図、第2図は従来の全有機炭素分析装置を示
す断面図、第3図は従来の全有機炭素分析装置の動作シ
ーケンスと分析データの時間の関係を示した図である。 図において、2は紫外線ランプボックス、4は紫外線照
射窓、5は外枠、6は紫外線照射エリア、8はランプ電
源、23は定量ポンプ、24は紫外線ラップ、25は水
酸基除去装置、26は再生液、27は再生液供給ポンプ
、28は再生液供給配管、29は再生液配管、30,3
3,35゜36.4++よバルブ、311(よ陰イオン
濃縮カラム、31(4よ溶離液、32は溶S液供給ボッ
7°、37は溶S液供給配管、38ば分離カラム、39
(よ検出器、40は主配管である。 なお、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄 (外2名)第 図 1、事件の表示 特願平2−265462号 2、発明の名称 全有機炭素分析装置 3、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号名
称 (601)三菱電機株式会社代表者志岐守哉 4、代理人 住所 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 5、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (1) 明細書の第7頁20行の「水酸基除去装置」
を、「水酸基除去装置」と補正する。 (2)同しく第10頁15行のrpHを低くして(酸性
)有機物のイオン化率」を、rpHを高くして(弱アル
カリ性)有機物のイオン化率」と補正する。 以 上
Claims (1)
- 試料水中の有機物を、波長184.9nmの紫外線を用
いて酸化分解して炭酸イオン化する有機物炭酸イオン化
装置と、この有機物炭酸イオン化装置によりイオン化し
た後、前記試料水中の水酸基を除去する水酸基除去装置
と、前記イオン化された炭酸イオンを濃縮する陰イオン
濃縮カラムと、この陰イオン濃縮カラムで濃縮された炭
酸イオンの総量で全有機炭素成分を測定する検出器とを
備えたことを特徴とする全有機炭素分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26546290A JPH04142459A (ja) | 1990-10-02 | 1990-10-02 | 全有機炭素分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26546290A JPH04142459A (ja) | 1990-10-02 | 1990-10-02 | 全有機炭素分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04142459A true JPH04142459A (ja) | 1992-05-15 |
Family
ID=17417509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26546290A Pending JPH04142459A (ja) | 1990-10-02 | 1990-10-02 | 全有機炭素分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04142459A (ja) |
-
1990
- 1990-10-02 JP JP26546290A patent/JPH04142459A/ja active Pending
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