JPH04147004A - 車両用外装品の塗装膜厚さ寸法の測定方法 - Google Patents
車両用外装品の塗装膜厚さ寸法の測定方法Info
- Publication number
- JPH04147004A JPH04147004A JP27036090A JP27036090A JPH04147004A JP H04147004 A JPH04147004 A JP H04147004A JP 27036090 A JP27036090 A JP 27036090A JP 27036090 A JP27036090 A JP 27036090A JP H04147004 A JPH04147004 A JP H04147004A
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- Japan
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- thin piece
- film thickness
- thickness
- magnetic metal
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は１合成樹脂製の車両用外装品（例えば車両用灯
具のレンズ、ランプハウジング、ミラーハウジング等）
の塗装膜厚の測定方法に係り、特に、電気絶縁性塗膜に
適用される。
具のレンズ、ランプハウジング、ミラーハウジング等）
の塗装膜厚の測定方法に係り、特に、電気絶縁性塗膜に
適用される。
車両用の外装品は、その外観を飾って意匠的価値を高め
るため１合成樹脂製部材に金属メツキ（例えばクロムメ
ツキ）を施したり、意匠塗装が施されたりする。
るため１合成樹脂製部材に金属メツキ（例えばクロムメ
ツキ）を施したり、意匠塗装が施されたりする。
車両用の外装品については、塗膜が外部異物による衝撃
に耐える性能く耐チッピング性）が求められる。
に耐える性能く耐チッピング性）が求められる。
例えば自動車が高速で走行している場゛合、自己車が跳
ね上げた砂礫が自己車の外装品に衡突することもあり、
また、対向車によって跳ね上げられた砂礫に対して自己
車が高速で打ち当たってゆく場合も有るからである。
ね上げた砂礫が自己車の外装品に衡突することもあり、
また、対向車によって跳ね上げられた砂礫に対して自己
車が高速で打ち当たってゆく場合も有るからである。
本邦においては、道路の舗装率が向上し、特殊用途車を
除けば非舗装路を走行する機会が少なくなったので、跳
ね上げた砂礫による衝撃を受けることについての考慮は
重要度を減じた。
除けば非舗装路を走行する機会が少なくなったので、跳
ね上げた砂礫による衝撃を受けることについての考慮は
重要度を減じた。
しかしながら、輸出用車両については耐チツピング試験
は依然として重要な試験項目であり、その基準は厳しい
ものである。
は依然として重要な試験項目であり、その基準は厳しい
ものである。
外国については、非舗装路を走行する機会が多い国もあ
る。また、寒冷地においては路面の氷結を防止するため
に岩塩が散布される場合が有り、このような場合には走
行中に岩塩の衝突を受けるおそれも有るので、高度の耐
チッピング性が求められる。
る。また、寒冷地においては路面の氷結を防止するため
に岩塩が散布される場合が有り、このような場合には走
行中に岩塩の衝突を受けるおそれも有るので、高度の耐
チッピング性が求められる。
従って、車両用外装品の塗装は厳密な品質管理の下に、
自動塗装ラインに乗せて行われる。
自動塗装ラインに乗せて行われる。
このような自動塗装ラインで品質管理を行うには、塗膜
厚さを簡易にかつ迅速に測定できることが是非とも必要
である。
厚さを簡易にかつ迅速に測定できることが是非とも必要
である。
自動車用外装品は一般に自動塗装ラインで量産的に塗装
されるので、量産品と同じ条件で塗装され、セットされ
、乾燥された塗膜について厚さ寸法を測定しなければな
らない。
されるので、量産品と同じ条件で塗装され、セットされ
、乾燥された塗膜について厚さ寸法を測定しなければな
らない。
さらに、塗装ラインから出た直後の被塗装品の塗膜厚さ
寸法を即時的に知ることが非常に望ましし１゜ 例えば塗装終了後２４時間で塗装膜厚さ寸法の異常が発
見されたならば、１日分の量産個数の不良品が発生して
しまっていることになる。
寸法を即時的に知ることが非常に望ましし１゜ 例えば塗装終了後２４時間で塗装膜厚さ寸法の異常が発
見されたならば、１日分の量産個数の不良品が発生して
しまっていることになる。
先行技術における膜厚測定には、破壊式膜厚測定と電子
顕微鏡観察による膜厚測定とが有るが、それぞれ次のよ
うな不具合が有る。
顕微鏡観察による膜厚測定とが有るが、それぞれ次のよ
うな不具合が有る。
破壊式膜厚測定は、塗膜を所定角度に切断して切口寸法
を測定し、上記所定角度の三角関数を用いて膜厚を算出
するのであるが、切断や測定に高度の熟練を要し、しか
も個人差に因る誤差が混入し易い。
を測定し、上記所定角度の三角関数を用いて膜厚を算出
するのであるが、切断や測定に高度の熟練を要し、しか
も個人差に因る誤差が混入し易い。
さらに、被塗装物がレンズのごとく透明である場合、塗
膜も必然的に透明であるから、塗膜の切口寸法を光学的
に測定することが困難である。
膜も必然的に透明であるから、塗膜の切口寸法を光学的
に測定することが困難である。
電子顕微鏡式膜厚測定は特殊設備を要し、測定費用が高
価である上に、長時間を要するので量産品の品質管理に
は適しない。
価である上に、長時間を要するので量産品の品質管理に
は適しない。
本発明は上述の事情に鑑みて為されたもので、高度の熟
練を要せず、量産工場における自動塗装ラインと同一条
件で成膜された試料について、迅速かつ容易に塗膜厚さ
寸法を測定し得る方法を提供することを目的とする。
練を要せず、量産工場における自動塗装ラインと同一条
件で成膜された試料について、迅速かつ容易に塗膜厚さ
寸法を測定し得る方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するための方法として本発明は合成樹脂
製の車両用外装品に施された電気絶縁性の塗装の塗膜厚
さ寸法を測定する方法において、被測定物の被測定個所
に非磁性体金属の薄片を両面粘着テープによって貼着し
、 上記の被測定物を、量産品の塗装ラインに乗せて、量産
品におけると同様の条件で塗装処理を行った後、 前記非磁性体金属の薄片を被測定物から剥がし取り、 剥がし取った上記の薄片上の塗膜厚さを高周波式膜厚計
によって計測することを特徴とする。
製の車両用外装品に施された電気絶縁性の塗装の塗膜厚
さ寸法を測定する方法において、被測定物の被測定個所
に非磁性体金属の薄片を両面粘着テープによって貼着し
、 上記の被測定物を、量産品の塗装ラインに乗せて、量産
品におけると同様の条件で塗装処理を行った後、 前記非磁性体金属の薄片を被測定物から剥がし取り、 剥がし取った上記の薄片上の塗膜厚さを高周波式膜厚計
によって計測することを特徴とする。
上記の方法によれば、被測定物（例えば合成樹脂製レン
ズの被測定部に貼着された非磁性体金属の薄片は、量産
品におけると同様の条件で塗装処理される。
ズの被測定部に貼着された非磁性体金属の薄片は、量産
品におけると同様の条件で塗装処理される。
量産品と同様の条件下で、量産品と同じ膜厚に塗装され
た非磁性体金属は、高周波式膜厚計によって膜厚を計測
される。
た非磁性体金属は、高周波式膜厚計によって膜厚を計測
される。
上記の高周波式膜厚計は、非磁性体上に電気絶縁性の膜
が成膜されている場合、該電気絶縁性膜の表面に誘導コ
イルを接触させてその膜厚を読み取り得る公知の機器で
、格別の熟練を要しないで高精度の測定を迅速に行い得
る６ 前記の薄片貼着操作が両面貼着テープによって行われる
ので、迅速かつ容易に貼着することができ、しかも貼着
された薄片を剥がす操作も容易である。
が成膜されている場合、該電気絶縁性膜の表面に誘導コ
イルを接触させてその膜厚を読み取り得る公知の機器で
、格別の熟練を要しないで高精度の測定を迅速に行い得
る６ 前記の薄片貼着操作が両面貼着テープによって行われる
ので、迅速かつ容易に貼着することができ、しかも貼着
された薄片を剥がす操作も容易である。
第２図は本発明に係る測定方法の一実施例における被測
定物（合成樹脂レンズ）と被測定個所（レンズ前面）と
を示すための断面図である。
定物（合成樹脂レンズ）と被測定個所（レンズ前面）と
を示すための断面図である。
１は、透明な合成樹脂で射出成形された車両灯具用のレ
ンズで、その内面（後面・図において下側の面）にはプ
リズム１ａが形成されていて、その前面には耐チツピン
グ塗料を用いた表面処理硬化膜１ｂが成膜されている。
ンズで、その内面（後面・図において下側の面）にはプ
リズム１ａが形成されていて、その前面には耐チツピン
グ塗料を用いた表面処理硬化膜１ｂが成膜されている。
本実施例においては、図示Ａ部付近の表面処理硬化膜１
ｂの膜厚を測定する。
ｂの膜厚を測定する。
このような被測定物においては、合成樹脂製部材（レン
ズ）も膜厚も透明であるから、切断して光学的に膜厚測
定することは出来ない。また、電子顕微鏡による膜厚測
定は長時間（例えば２日間）を要するので量産品の品質
管理には適用できない。
ズ）も膜厚も透明であるから、切断して光学的に膜厚測
定することは出来ない。また、電子顕微鏡による膜厚測
定は長時間（例えば２日間）を要するので量産品の品質
管理には適用できない。
そこで本発明方法は、合成樹脂レンズ１に表面処理硬化
膜１ｂを成膜するに先立って非磁性体金属薄片２をレン
ズ前面のＡ部に貼着しておく。
膜１ｂを成膜するに先立って非磁性体金属薄片２をレン
ズ前面のＡ部に貼着しておく。
第１図は上記Ａ部付近を拡大して描いた工程図である。
第１図（Ａ）は塗装前の合成樹脂レンズ１の前面付近の
断面図である。
断面図である。
同図（Ｂ）に示すように、非磁性体金属の薄片２を、両
面貼着テープ３で合成樹脂レンズ１の前面の被測定部に
貼着する。本例における薄片は厚さ寸法は０．５−のア
ルミニウム薄板によって構成した。
面貼着テープ３で合成樹脂レンズ１の前面の被測定部に
貼着する。本例における薄片は厚さ寸法は０．５−のア
ルミニウム薄板によって構成した。
この場合、両面貼着テープを用いるので非磁性体金属薄
片２の貼着が迅速かつ容易に行われる。
片２の貼着が迅速かつ容易に行われる。
本発明方法によって膜厚測定を行う場合、被測定物は量
産品と同じ物を用いることが望ましい。
産品と同じ物を用いることが望ましい。
本実施例においては、工業的に量産されている合成樹脂
レンズであって、射出成形直後の検査で不合格になった
ものを利用した。しかし、良品のレンズを使用すること
もできる。
レンズであって、射出成形直後の検査で不合格になった
ものを利用した。しかし、良品のレンズを使用すること
もできる。
前掲の（Ｂ）図のように準備を施した被測定物である合
成樹脂レンズ１を、生産工程の自動塗装ライン（図示せ
ず）に乗せて、量産品と同様に表面洗浄、塗料塗布、セ
ツティング、乾燥を行い、第１図（Ｃ）のように非磁性
体金属薄片２の上に表面処理硬化膜１ｂを成膜する。
成樹脂レンズ１を、生産工程の自動塗装ライン（図示せ
ず）に乗せて、量産品と同様に表面洗浄、塗料塗布、セ
ツティング、乾燥を行い、第１図（Ｃ）のように非磁性
体金属薄片２の上に表面処理硬化膜１ｂを成膜する。
成膜処理を終えると、第１図（Ｄ）に示すように、合成
樹脂レンズ１に貼着されていた非磁性体金属薄片２を剥
がし取る。
樹脂レンズ１に貼着されていた非磁性体金属薄片２を剥
がし取る。
この場合、両面貼着テープ３は非磁性体金属薄片２と一
緒に剥がしても良く、また合成樹脂レンズ１に付着した
ままに残しておいても良い。
緒に剥がしても良く、また合成樹脂レンズ１に付着した
ままに残しておいても良い。
このようにして、自動塗装ラインにおける塗膜と同一成
分、同一厚さ寸法の表面処理硬化膜１ｂで覆われた非磁
性体金属薄片２が得られる。
分、同一厚さ寸法の表面処理硬化膜１ｂで覆われた非磁
性体金属薄片２が得られる。
このようにして得られた非磁性体金属薄片２に成膜され
ている表面処理硬化膜１ｂの厚さ寸法を高周波式膜厚計
で測定する。
ている表面処理硬化膜１ｂの厚さ寸法を高周波式膜厚計
で測定する。
第３図は高周波式膜厚計の原理を説明するための模式図
である。
である。
誘導コイル４は、電流計５を介して高周波交流電源に接
続されて通電される６ 上記の誘導コイル４を非磁性体金属薄片２に接近させる
と接近距離によって上記の薄片２内の渦電流が変化し、
電流計５の指度が変化する。
続されて通電される６ 上記の誘導コイル４を非磁性体金属薄片２に接近させる
と接近距離によって上記の薄片２内の渦電流が変化し、
電流計５の指度が変化する。
そして、誘導コイル４が非磁性体金属薄片２に接近し得
る限界寸法は表面処理硬化膜１ｂの厚さ寸法によって決
まる。
る限界寸法は表面処理硬化膜１ｂの厚さ寸法によって決
まる。
この結果、膜厚寸法ｄと電流変化との間には第４図に示
すような関係が成立し、高精度の再現性を有している。
すような関係が成立し、高精度の再現性を有している。
本実施例においては株式会社ケット科学研究所製の万能
型膜厚計ＬＺ−２００を用いて非磁性体金属薄片２に成
膜された表面処理硬化膜１ｂの厚さ寸法ｄ（第１図（Ｄ
）参照）を測定した。
型膜厚計ＬＺ−２００を用いて非磁性体金属薄片２に成
膜された表面処理硬化膜１ｂの厚さ寸法ｄ（第１図（Ｄ
）参照）を測定した。
この万能型膜厚計によれば、測定範囲Ｏ〜８００μｍで
非磁性体金属上の電気絶縁性被膜の膜厚を測定すること
ができる。
非磁性体金属上の電気絶縁性被膜の膜厚を測定すること
ができる。
そして、格別の熟練を必要とせず１個人差が無く、その
測定精度は、 膜厚５０μｍ未満では絶対誤差：±１μｍ膜厚５０μｍ
以上では相対誤差：±３％である。
測定精度は、 膜厚５０μｍ未満では絶対誤差：±１μｍ膜厚５０μｍ
以上では相対誤差：±３％である。
以上説明したように本発明に係る車両用外装品の塗膜厚
さ寸法の測定方法によれば、 高度の熟練を要せず、迅速かつ容易に、しかも個人差に
よる誤差が混入するおそれなく、塗装ラインで合成樹脂
製品に施された塗装膜の膜厚寸法を測定することができ
、量産工場における塗装製品の品質管理に貢献するとこ
ろ多大である。
さ寸法の測定方法によれば、 高度の熟練を要せず、迅速かつ容易に、しかも個人差に
よる誤差が混入するおそれなく、塗装ラインで合成樹脂
製品に施された塗装膜の膜厚寸法を測定することができ
、量産工場における塗装製品の品質管理に貢献するとこ
ろ多大である。
第１図（Ａ）〜（Ｄ）は本発明に係る車両用外装品の塗
装膜厚さ寸法の測定方法の一実施例における工程図であ
る。 第２図は上記実施例における被測定物である合成樹脂レ
ンズの断面図である。 第３図は高周波式膜厚計の原理を説明するための模式図
、第４図は上記高周波式膜厚計の性能特性を示す図表で
ある。 １・・・合成樹脂レンズ、１ａ・・・プリズム、１ｂ・
・・表面処理硬化膜、２・・・非磁性体金属薄片、３・
・・両面粘着テープ、４・・・誘導コイル、５・・・電
流計、６・・・高周波交流電源。
装膜厚さ寸法の測定方法の一実施例における工程図であ
る。 第２図は上記実施例における被測定物である合成樹脂レ
ンズの断面図である。 第３図は高周波式膜厚計の原理を説明するための模式図
、第４図は上記高周波式膜厚計の性能特性を示す図表で
ある。 １・・・合成樹脂レンズ、１ａ・・・プリズム、１ｂ・
・・表面処理硬化膜、２・・・非磁性体金属薄片、３・
・・両面粘着テープ、４・・・誘導コイル、５・・・電
流計、６・・・高周波交流電源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、合成樹脂製の車両用外装品に施された電気絶縁性の
塗装の塗膜厚さ寸法を測定する方法において、 被測定物の被測定個所に非磁性体金属の薄片を両面粘着
テープによって貼着し、 上記の被測定物を、量産品の塗装ラインに乗せて、量産
品におけると同様の条件で塗装処理を行った後、 前記非磁性体金属の薄片を被測定物から剥がし取り、 剥がし取った上記の薄片上の塗膜厚さを高周波式膜厚計
によって計測することを特徴とする、車両用外装品の塗
装膜厚さ寸法の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27036090A JPH04147004A (ja) | 1990-10-11 | 1990-10-11 | 車両用外装品の塗装膜厚さ寸法の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27036090A JPH04147004A (ja) | 1990-10-11 | 1990-10-11 | 車両用外装品の塗装膜厚さ寸法の測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04147004A true JPH04147004A (ja) | 1992-05-20 |
Family
ID=17485188
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27036090A Pending JPH04147004A (ja) | 1990-10-11 | 1990-10-11 | 車両用外装品の塗装膜厚さ寸法の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04147004A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0953822A1 (de) * | 1998-05-02 | 1999-11-03 | Herberts GmbH & Co. KG | Verfahren zur Charakerisierung lackierter Kunststoffoberflächen |
| JP2006511805A (ja) * | 2002-12-23 | 2006-04-06 | ラム リサーチ コーポレーション | 渦電流を使用した薄膜基板信号分離のためのシステム、方法、および装置 |
| JP2007240458A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Napuson Kk | 膜厚測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5563708A (en) * | 1978-11-08 | 1980-05-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Thickness measuring method for anticorrosive film |
| JPS5720606B2 (ja) * | 1979-08-06 | 1982-04-30 |
-
1990
- 1990-10-11 JP JP27036090A patent/JPH04147004A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5563708A (en) * | 1978-11-08 | 1980-05-14 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Thickness measuring method for anticorrosive film |
| JPS5720606B2 (ja) * | 1979-08-06 | 1982-04-30 |
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| EP0953822A1 (de) * | 1998-05-02 | 1999-11-03 | Herberts GmbH & Co. KG | Verfahren zur Charakerisierung lackierter Kunststoffoberflächen |
| JP2006511805A (ja) * | 2002-12-23 | 2006-04-06 | ラム リサーチ コーポレーション | 渦電流を使用した薄膜基板信号分離のためのシステム、方法、および装置 |
| JP2007240458A (ja) * | 2006-03-10 | 2007-09-20 | Napuson Kk | 膜厚測定装置 |
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