JPH04147488A - メモリ装置 - Google Patents
メモリ装置Info
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- JPH04147488A JPH04147488A JP2270497A JP27049790A JPH04147488A JP H04147488 A JPH04147488 A JP H04147488A JP 2270497 A JP2270497 A JP 2270497A JP 27049790 A JP27049790 A JP 27049790A JP H04147488 A JPH04147488 A JP H04147488A
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- JP
- Japan
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- circuit
- flip
- initialization
- power source
- power
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は装置内部て直並列変換又は並直列変換を行うた
めのシリアルアクセスメモリを有してなるメモリ装置に
関する。
めのシリアルアクセスメモリを有してなるメモリ装置に
関する。
本発明は、シリアル入力若しくはシリアル出力するため
のシリアルアクセスメモリがメモリセルアレイに対して
設けられるメモリ装置において、そのシリアルアクセス
メモリの複数段のフリップフロップ回路に、電源投入時
等に初期化回路から発生する初期化信号を供給して、該
フリップフロップ回路をリセットさせる構造とすること
により、電源投入時等における貫通電流を防止するもの
である。
のシリアルアクセスメモリがメモリセルアレイに対して
設けられるメモリ装置において、そのシリアルアクセス
メモリの複数段のフリップフロップ回路に、電源投入時
等に初期化回路から発生する初期化信号を供給して、該
フリップフロップ回路をリセットさせる構造とすること
により、電源投入時等における貫通電流を防止するもの
である。
画像メモリ等のメモリ装置では、シリアルな入出力か可
能とされており、このようなメモリ装置は、一般にマト
リクス状にセルが配列されたメモリセルアレイと、直列
と並列の変換を行うためのシリアルアクセスメモリを有
している。書き込み時では、シリアルアクセスメモリに
対してシリアルデータが入力し、それが−括してパラレ
ルにメモリセルアレイに転送される。また、読み出し時
では、メモリセルアレイからのデータが一括してパラレ
ルにシリアルアクセスメモリに転送され、それが順次シ
リアルに出力される。
能とされており、このようなメモリ装置は、一般にマト
リクス状にセルが配列されたメモリセルアレイと、直列
と並列の変換を行うためのシリアルアクセスメモリを有
している。書き込み時では、シリアルアクセスメモリに
対してシリアルデータが入力し、それが−括してパラレ
ルにメモリセルアレイに転送される。また、読み出し時
では、メモリセルアレイからのデータが一括してパラレ
ルにシリアルアクセスメモリに転送され、それが順次シ
リアルに出力される。
このようなシリアルアクセスメモリの一例として、デー
タレジスタ(データバッファ)、データバス及びアドレ
スポインタより構成されるものが知られる。また、その
アドレスポインタとしては、大別して、デコーダから構
成されるものと、フリップフロップ回路を直列に接続し
たシフトレジスタから構成されるものとの2種類があり
、シフトレジスタから構成したものの方が、全体として
その構成も単純化される(例えば、シフトレジスタから
なるアドレスポインタの例としては、特開平1−251
497号公報参照。)。
タレジスタ(データバッファ)、データバス及びアドレ
スポインタより構成されるものが知られる。また、その
アドレスポインタとしては、大別して、デコーダから構
成されるものと、フリップフロップ回路を直列に接続し
たシフトレジスタから構成されるものとの2種類があり
、シフトレジスタから構成したものの方が、全体として
その構成も単純化される(例えば、シフトレジスタから
なるアドレスポインタの例としては、特開平1−251
497号公報参照。)。
第5図は従来のシリアルアクセスメモリを有するメモリ
装置の要部を示す。図示しないメモリセルからのデータ
が各列毎酸いはその何分の1の割合でラッチ回路102
a〜l02c、・・・にラッチされ、そのラッチ回路!
02a−102c、 ・・のデータはインバーター1
03a〜I O3c、 ・・及び転送ゲート104a〜
I O4c、・・・を介してデータバス101に転送さ
れる。転送ゲート+04a〜104 c、・・・は直列
接続されたDフリップフロ11回路105a−105c
、・・・がらのポインタ出力により順番に選択され、そ
の結果、シリアルデータがデータバス101に現れる。
装置の要部を示す。図示しないメモリセルからのデータ
が各列毎酸いはその何分の1の割合でラッチ回路102
a〜l02c、・・・にラッチされ、そのラッチ回路!
02a−102c、 ・・のデータはインバーター1
03a〜I O3c、 ・・及び転送ゲート104a〜
I O4c、・・・を介してデータバス101に転送さ
れる。転送ゲート+04a〜104 c、・・・は直列
接続されたDフリップフロ11回路105a−105c
、・・・がらのポインタ出力により順番に選択され、そ
の結果、シリアルデータがデータバス101に現れる。
Dフリップフロ11回路105a−105c、・・での
ポインタのシフトは、クロック信号CKに従い、クリア
信号CLの入力によりポインタの位置は先頭に戻るよう
にされている。
ポインタのシフトは、クロック信号CKに従い、クリア
信号CLの入力によりポインタの位置は先頭に戻るよう
にされている。
このような構造のメモリ装置では、電源投入時に貫通電
流が発生するという問題が生ずる。
流が発生するという問題が生ずる。
すなわち、電源投入時では、各フリップフロップ回路1
05a−105c、・・・のQ端子の出力が不定とされ
、その結果、アドレスポインタを構成するフリップフロ
ップ回路の出力が複数同時に高レベルとなることがある
。また、ラッチ回路102a−102c、・・・も単純
なため、電源投入時には、各インバーター103a−1
03c、・・・の出力レベルも不定となる。そして例え
ば、第5図において、フリップフロップ回路105aと
フリップフロップ回路105bのQ端子のレベルが、電
源投入時に高レベルになった場合であって、インバータ
ー103aの出力レベルが高レベルであり、且つインバ
ーター103bの出力レベルが低レベルとなった場合を
考えてみる。この場合ではパスライン101を介して2
つのインバーター103aとインバーター103bがワ
イヤード接続されることになり、例えばインバーターが
0MO3構成ならば、インバーター103aのpMOS
トランジスタとインバーター103bのnMO3)ラン
ジスタを介して貫通電流が流れることになる。
05a−105c、・・・のQ端子の出力が不定とされ
、その結果、アドレスポインタを構成するフリップフロ
ップ回路の出力が複数同時に高レベルとなることがある
。また、ラッチ回路102a−102c、・・・も単純
なため、電源投入時には、各インバーター103a−1
03c、・・・の出力レベルも不定となる。そして例え
ば、第5図において、フリップフロップ回路105aと
フリップフロップ回路105bのQ端子のレベルが、電
源投入時に高レベルになった場合であって、インバータ
ー103aの出力レベルが高レベルであり、且つインバ
ーター103bの出力レベルが低レベルとなった場合を
考えてみる。この場合ではパスライン101を介して2
つのインバーター103aとインバーター103bがワ
イヤード接続されることになり、例えばインバーターが
0MO3構成ならば、インバーター103aのpMOS
トランジスタとインバーター103bのnMO3)ラン
ジスタを介して貫通電流が流れることになる。
そして、この貫通電流は各フリップフロップ回路のクリ
ア入力端子に何らかのクリア信号が供給するまで続き、
その間、貫通電流はスタンバイ電流となり不良原因とさ
れる。
ア入力端子に何らかのクリア信号が供給するまで続き、
その間、貫通電流はスタンバイ電流となり不良原因とさ
れる。
そこで、本発明は上述の技術的な課題に鑑み、電源投入
時の貫通電流を防止するようなメモリ装置の提供を目的
とする。
時の貫通電流を防止するようなメモリ装置の提供を目的
とする。
上述の目的を達成するため、本発明のメモリ装置は、複
数のメモリセルからなるメモリセルアレイと、上記メモ
リセルアレイとの間で並列にデータを転送すると共に直
列にそのデータを入力若しくは出力するシリアルアクセ
スメモリを有するメモリ装置において、上記シリアルア
クセスメモリは、クロック信号によってポインタが移動
する複数段のフリップフロップ回路を有してなり、電源
投入時等の電源電圧変動時に初期化回路から発生する初
期化信号により上記フリップフロップ回路がリセットさ
れることを特徴とする。
数のメモリセルからなるメモリセルアレイと、上記メモ
リセルアレイとの間で並列にデータを転送すると共に直
列にそのデータを入力若しくは出力するシリアルアクセ
スメモリを有するメモリ装置において、上記シリアルア
クセスメモリは、クロック信号によってポインタが移動
する複数段のフリップフロップ回路を有してなり、電源
投入時等の電源電圧変動時に初期化回路から発生する初
期化信号により上記フリップフロップ回路がリセットさ
れることを特徴とする。
〔作用〕
上記メモリ装置の初期化回路は、電源投入時等に電源電
圧のレベルを検知し、充分に作動するレベルに電源電圧
が至ったところで、所要の初期化信号を発生させる。従
って、本発明の装置のシリアルアクセスメモリのフリッ
プフロップ回路をその初期化信号によりリセットされる
構造とすることにより、電源投入時や瞬時停電からの復
帰時等の際には確実に複数段のフリップフロップ回路が
リセットされることになり、その出力が不定となるよう
な状態を回避することができ、貫通電流か未・然に防止
される。
圧のレベルを検知し、充分に作動するレベルに電源電圧
が至ったところで、所要の初期化信号を発生させる。従
って、本発明の装置のシリアルアクセスメモリのフリッ
プフロップ回路をその初期化信号によりリセットされる
構造とすることにより、電源投入時や瞬時停電からの復
帰時等の際には確実に複数段のフリップフロップ回路が
リセットされることになり、その出力が不定となるよう
な状態を回避することができ、貫通電流か未・然に防止
される。
本発明の好適な実施例を図面を参照しながら説明する。
本実施例は、シリアルアクセスメモリを有する画像メモ
リ等のメモリ装置の例であり、電源投入時等にアドレス
ポインタを構成する複数段のフリップフロップ回路がリ
セットされる例である。
リ等のメモリ装置の例であり、電源投入時等にアドレス
ポインタを構成する複数段のフリップフロップ回路がリ
セットされる例である。
第2図は、本実施例のメモリ装置の概略構成を示す図で
ある。マトリクス状にメモリセルが配列されているメモ
リセルアレイ1が設けられ、そのメモリセルアレイ1に
は、セレクタ2を介して並列にデータを蓄積するための
データレジスタ3か設けられている。このデータレジス
タ3には、さらにシリアルレジスタ4が接続されており
、このシリアルレジスタ4から複数の転送ゲート7を介
してデータバス6が接続される。転送ゲート7は、シリ
アルレジスタ4の段数に対応した数だけ設けちれており
、これら転送ゲート7はそれぞれアドレスポインタ5に
よって制御される。このアドレスポインタ5.データバ
ス6、データレジスタ3及びシリアルレジスタ4によっ
てシリアルアクセスメモリ(SAM)か構成され、この
シリアルアクセスメモリで並直列変換や直並列変換が行
われる。
ある。マトリクス状にメモリセルが配列されているメモ
リセルアレイ1が設けられ、そのメモリセルアレイ1に
は、セレクタ2を介して並列にデータを蓄積するための
データレジスタ3か設けられている。このデータレジス
タ3には、さらにシリアルレジスタ4が接続されており
、このシリアルレジスタ4から複数の転送ゲート7を介
してデータバス6が接続される。転送ゲート7は、シリ
アルレジスタ4の段数に対応した数だけ設けちれており
、これら転送ゲート7はそれぞれアドレスポインタ5に
よって制御される。このアドレスポインタ5.データバ
ス6、データレジスタ3及びシリアルレジスタ4によっ
てシリアルアクセスメモリ(SAM)か構成され、この
シリアルアクセスメモリで並直列変換や直並列変換が行
われる。
第1図はそのシリアルアクセスメモリの要部回路図であ
る。複数段のDフリップフロップ回路lOa、10b、
lOc、 ・・・によりアドレスポインタ5か構成され
る。各079717071回路1Oa、10b、10c
、 ・・・は、入力用のD端子。
る。複数段のDフリップフロップ回路lOa、10b、
lOc、 ・・・によりアドレスポインタ5か構成され
る。各079717071回路1Oa、10b、10c
、 ・・・は、入力用のD端子。
出力用のQ (’Q)端子を有し、さらにクロック入力
端子CK、 クリア入力端子CLと初期化用のイニシ
ャライズ信号入力端子INTを有している。
端子CK、 クリア入力端子CLと初期化用のイニシ
ャライズ信号入力端子INTを有している。
先頭のDフリップフロップ回路10cのD端子は接地さ
れ、そのDフリップフロップ回路10cの回端子は次段
のDフリップフロップ回路10bのD端子に接続される
。この次段のDフリップフロップ回路10bのQ端子は
、同様にさらに次の段のDフリップフロップ回路10c
のD端子に接続され、以下、図示を省略しているが、Q
端子かその次の段のD端子に次々と接続され、アドレス
ポインタが構成されている。各フリップフロップ回路1
0a、10b、10c、 ・−のCK端子には、SAM
制御回路20からクロック信号が供給され、そのCL端
子には、SAM制御回路20からクリア信号が供給され
る。これらクロック信号とクリア信号は、所定のタイミ
ングでSAM制御回路20から供給され、クロック信号
によりポインタがシフトして行き、クリア信号によりポ
インタが先頭位置に戻ることになる。そして、これらフ
リップフロップ回路10a、job、IOc、・・・に
設けられた初期化用のINT端子は、パワーオン初期化
回路21に接続され、電源投入時には、そのパワーオン
初期化回路21からのイニシャライズ信号を受ける。こ
のイニシャライズ信号は、後述するように、電源投入後
に所定時間経過後に高レベルとなる信号であり、イニシ
ャライズ信号が低レベルの時に各079717071回
路10a。
れ、そのDフリップフロップ回路10cの回端子は次段
のDフリップフロップ回路10bのD端子に接続される
。この次段のDフリップフロップ回路10bのQ端子は
、同様にさらに次の段のDフリップフロップ回路10c
のD端子に接続され、以下、図示を省略しているが、Q
端子かその次の段のD端子に次々と接続され、アドレス
ポインタが構成されている。各フリップフロップ回路1
0a、10b、10c、 ・−のCK端子には、SAM
制御回路20からクロック信号が供給され、そのCL端
子には、SAM制御回路20からクリア信号が供給され
る。これらクロック信号とクリア信号は、所定のタイミ
ングでSAM制御回路20から供給され、クロック信号
によりポインタがシフトして行き、クリア信号によりポ
インタが先頭位置に戻ることになる。そして、これらフ
リップフロップ回路10a、job、IOc、・・・に
設けられた初期化用のINT端子は、パワーオン初期化
回路21に接続され、電源投入時には、そのパワーオン
初期化回路21からのイニシャライズ信号を受ける。こ
のイニシャライズ信号は、後述するように、電源投入後
に所定時間経過後に高レベルとなる信号であり、イニシ
ャライズ信号が低レベルの時に各079717071回
路10a。
10b、10c、・・・をクリア状態とすることで、電
源投入時や瞬時停電時等に発生する貫通電流を防止でき
ることになる。
源投入時や瞬時停電時等に発生する貫通電流を防止でき
ることになる。
各079717071回路10a、lOb、10c、・
・・のQ (Q)端子は、データバス6とレジスタのイ
ンバーター11a、I lb、11c、−の間で転送ゲ
ートとして機能するnMOSトランジスタ7a、7b、
7c、・・・のゲート電極にそれぞれ接続される。従っ
て、直列接続されたDフリップフロップ回路10c、1
0b、10c、・・・におけるポインタかシフトして行
くことで、nM。
・・のQ (Q)端子は、データバス6とレジスタのイ
ンバーター11a、I lb、11c、−の間で転送ゲ
ートとして機能するnMOSトランジスタ7a、7b、
7c、・・・のゲート電極にそれぞれ接続される。従っ
て、直列接続されたDフリップフロップ回路10c、1
0b、10c、・・・におけるポインタかシフトして行
くことで、nM。
Sトランジスタ7a、7b、7c、・・・が順にオン・
オフを繰り返し、その結果、データバス6に順番にデー
タが現れて、シリアル出力か行われることになる。各イ
ンバーター11a、llb 11C1・・・の入力端
子には、レジスタを構成するラッチ回路が接続されてお
り、インバーター12a。
オフを繰り返し、その結果、データバス6に順番にデー
タが現れて、シリアル出力か行われることになる。各イ
ンバーター11a、llb 11C1・・・の入力端
子には、レジスタを構成するラッチ回路が接続されてお
り、インバーター12a。
13a1インバーター12b、13b、インバター+2
c、13c、・・・の各組により、ラッチ回路が構成さ
れる。なお、これらラッチ回路には、メモリセルからの
データが転送される。
c、13c、・・・の各組により、ラッチ回路が構成さ
れる。なお、これらラッチ回路には、メモリセルからの
データが転送される。
上記SAM制御回路20には、外部或いは内部で発生し
た基準クロック信号CLKが供給される。
た基準クロック信号CLKが供給される。
この基準クロック信号CLKにより、上記クロック信号
CK等が発生する。また、このSAM制御回路20には
、パワーオン初期化回路21からのイニシャライズ信号
も供給される。このイニシャライズ信号によって、SA
M制御回路2oは電源投入時に各079717071回
路10a、10b、IOc、・・・にクリア信号が入力
するようにされ、より確実な初期化が行われる。
CK等が発生する。また、このSAM制御回路20には
、パワーオン初期化回路21からのイニシャライズ信号
も供給される。このイニシャライズ信号によって、SA
M制御回路2oは電源投入時に各079717071回
路10a、10b、IOc、・・・にクリア信号が入力
するようにされ、より確実な初期化が行われる。
第3図は本実施例のアドレスポインタ5に用いられる0
79717071回路の一例を示す。
79717071回路の一例を示す。
対の入出力相互に接続されたインバーター3132から
前段のラッチ回路が構成され、一対の入出力相互に接続
されたインバーター33.34から後段のラッチ回路か
構成される。D端子と前段のラッチ回路の間及び前段と
後段のラッチ回路の間には、異なる位相で開閉する第1
.第2の転送ゲートが設けられており、第1の転送ゲー
トは信号CKにより制御される9MO3)ランジスタ3
8と信号CKにより制御されるnMOSトランジスタ3
7からなり、第2の転送ゲートは信号亘πにより制御さ
れるpMOSトランジスタ42と信号CKにより制御さ
れるnMOSトランジスタ41からなる。後段のラッチ
回路の出力は、バッファ36を介して取り出され、その
バッファ36の出力端子かQ端子に接続される。前段の
ラッチ回路の入力部には、クリア用のnMOSトランジ
スタ40かnMO3)ランンスタ39を介して設けられ
いる。nMO3)ランジスタ40のソースは接地され、
そのゲートにはクリア信号CLが与えられる。nMO3
)ランジスタ39は信号CKにより制御される。従って
、クロック信号CKが高レベル時に、クリア信号CLが
高レベルとなれば、前段のラッチ回路の出力を高レベル
、後段のラッチ回路の出力を低レベルにすることができ
、データのクリアが行われる。そして、この07971
7071回路では、後段のラッチ回路の入力部に9MO
3)ランジスタ35のドレインが接続される。このnM
OSトランジスタ35のソースは電源電圧Vccに接続
され、ゲートは前述のパワーオン初期化回路21からの
イニシャライズ信号により制御される。従って、イニシ
ャライズ信号が低レベルの時、nMOSトランジスタ3
5はオン状態となり、当該フリップフロップ回路の出力
レベルを強制的にクリア時の状態にすることができる。
前段のラッチ回路が構成され、一対の入出力相互に接続
されたインバーター33.34から後段のラッチ回路か
構成される。D端子と前段のラッチ回路の間及び前段と
後段のラッチ回路の間には、異なる位相で開閉する第1
.第2の転送ゲートが設けられており、第1の転送ゲー
トは信号CKにより制御される9MO3)ランジスタ3
8と信号CKにより制御されるnMOSトランジスタ3
7からなり、第2の転送ゲートは信号亘πにより制御さ
れるpMOSトランジスタ42と信号CKにより制御さ
れるnMOSトランジスタ41からなる。後段のラッチ
回路の出力は、バッファ36を介して取り出され、その
バッファ36の出力端子かQ端子に接続される。前段の
ラッチ回路の入力部には、クリア用のnMOSトランジ
スタ40かnMO3)ランンスタ39を介して設けられ
いる。nMO3)ランジスタ40のソースは接地され、
そのゲートにはクリア信号CLが与えられる。nMO3
)ランジスタ39は信号CKにより制御される。従って
、クロック信号CKが高レベル時に、クリア信号CLが
高レベルとなれば、前段のラッチ回路の出力を高レベル
、後段のラッチ回路の出力を低レベルにすることができ
、データのクリアが行われる。そして、この07971
7071回路では、後段のラッチ回路の入力部に9MO
3)ランジスタ35のドレインが接続される。このnM
OSトランジスタ35のソースは電源電圧Vccに接続
され、ゲートは前述のパワーオン初期化回路21からの
イニシャライズ信号により制御される。従って、イニシ
ャライズ信号が低レベルの時、nMOSトランジスタ3
5はオン状態となり、当該フリップフロップ回路の出力
レベルを強制的にクリア時の状態にすることができる。
逆にイニシャライズ信号が高レベルの時、nMOSトラ
ンジスタ35はオフ状態とされ、後段のラッチ回路は前
段のラッチ回路の出力に応じて駆動される。
ンジスタ35はオフ状態とされ、後段のラッチ回路は前
段のラッチ回路の出力に応じて駆動される。
このようなりフリップフロップ回路の回路構成によって
、電源投入時には、確実に出力レベルがクリア時と同じ
状態になり、その結果、転送ゲート7を介した貫通電流
は未然に防止されることになる。
、電源投入時には、確実に出力レベルがクリア時と同じ
状態になり、その結果、転送ゲート7を介した貫通電流
は未然に防止されることになる。
第4図はパワーオン初期化回路の具体的な回路構成を示
す。ノード50と電源電圧VccO間には、ダイオード
として機能するドレイン−ゲート間か接続された2つの
9MO3)ランジスタ51,52が設けられると共に、
ゲートが接地された9MO3)ランジスタ53が設けら
れている。これらpMO3l−ランジスタ51,52に
より、少なくともノード50のレベルは、pMO3l−
ランジスタの閾値電圧vthの2倍よりも電源電圧Vc
cが大きくならなければ変動することはない。このノー
ド50は接地との間に容量55を有し、同時にソース・
ドレインの一方に電源電圧Vccが与えられているnM
O3)ランジスタ54の他方のソース・ドレイン及びゲ
ートに接続される。また、そのノード50はインバータ
ー56.57を介して出力端子に接続する。
す。ノード50と電源電圧VccO間には、ダイオード
として機能するドレイン−ゲート間か接続された2つの
9MO3)ランジスタ51,52が設けられると共に、
ゲートが接地された9MO3)ランジスタ53が設けら
れている。これらpMO3l−ランジスタ51,52に
より、少なくともノード50のレベルは、pMO3l−
ランジスタの閾値電圧vthの2倍よりも電源電圧Vc
cが大きくならなければ変動することはない。このノー
ド50は接地との間に容量55を有し、同時にソース・
ドレインの一方に電源電圧Vccが与えられているnM
O3)ランジスタ54の他方のソース・ドレイン及びゲ
ートに接続される。また、そのノード50はインバータ
ー56.57を介して出力端子に接続する。
電源投入時では、電源電圧Vccのレベルは接地レベル
からチャージポンプ回路等の作動によって徐々に立ち上
がる。この初期段階で、イニシャライズ信号INTは低
レベルとされ、アドレスポインタ5の各0797170
71回路はリセット状態にされる。具体的には、電源電
圧Vccがvth〜2Vthのレベルの時に、第3図の
pMO3)ランジスタ35がオン状態となるため、フリ
ップフロップ回路のQ端子のレベルが高レベルとなるこ
とはな0%0そして、電源電圧Vccのレベルが閾値電
圧Vthの2倍よりも高くなったところて、ノード50
のレベルが上昇し、さらに、そのノード50のレベルが
インバーター56の閾値電圧vthよりも高くなったと
ころで、前記イニシャライズ信号TNTが低レベルから
高レベルに遷移する。このイニシャライズ信号は上記ア
ドレスポインタ5に供給され、リセット状態か解除され
、各079717071回路はアドレスポインタとして
作動することになる。なお、電源オフとした時では、n
M0Sトランジスタ54により、ノード50のレベルを
リセットできる。
からチャージポンプ回路等の作動によって徐々に立ち上
がる。この初期段階で、イニシャライズ信号INTは低
レベルとされ、アドレスポインタ5の各0797170
71回路はリセット状態にされる。具体的には、電源電
圧Vccがvth〜2Vthのレベルの時に、第3図の
pMO3)ランジスタ35がオン状態となるため、フリ
ップフロップ回路のQ端子のレベルが高レベルとなるこ
とはな0%0そして、電源電圧Vccのレベルが閾値電
圧Vthの2倍よりも高くなったところて、ノード50
のレベルが上昇し、さらに、そのノード50のレベルが
インバーター56の閾値電圧vthよりも高くなったと
ころで、前記イニシャライズ信号TNTが低レベルから
高レベルに遷移する。このイニシャライズ信号は上記ア
ドレスポインタ5に供給され、リセット状態か解除され
、各079717071回路はアドレスポインタとして
作動することになる。なお、電源オフとした時では、n
M0Sトランジスタ54により、ノード50のレベルを
リセットできる。
以上のように、本実施例のメモリ装置では、パワーオン
初期化回路21からのイニシャライズ信号によって、電
源電圧Vccか所定のレベルまで上昇するまでは、アド
レスポインタ5の各079717071回路のQ端子の
レベルは低レベルに抑えられることになる。従って、転
送ゲート7とデータバス6を介した貫通電流が防止され
ることになり、安定した装置の起動が実現されることに
なる。
初期化回路21からのイニシャライズ信号によって、電
源電圧Vccか所定のレベルまで上昇するまでは、アド
レスポインタ5の各079717071回路のQ端子の
レベルは低レベルに抑えられることになる。従って、転
送ゲート7とデータバス6を介した貫通電流が防止され
ることになり、安定した装置の起動が実現されることに
なる。
なお、上述の実施例では、読み出し側の構成について説
明したが、書き込み側のアドレスポインタにも同様に電
源投入時等にリセットされるフリップフロップ回路を設
けることができる。
明したが、書き込み側のアドレスポインタにも同様に電
源投入時等にリセットされるフリップフロップ回路を設
けることができる。
本発明のメモリ装置は、電源投入時等に初期化回路から
発生する初期化信号により上記フリップフロップ回路が
リセットされるため、シリアルアクセスフモリ中の貫通
電流が防止され、その結果、安定したメモリ装置の起動
が実現される。
発生する初期化信号により上記フリップフロップ回路が
リセットされるため、シリアルアクセスフモリ中の貫通
電流が防止され、その結果、安定したメモリ装置の起動
が実現される。
第1図は本発明のメモリ装置の一例のシリアルアクセス
メモリの要部回路図、第2図は上記−例の全体の概略構
成を示すブロック図、第3図は上記−例の079717
071回路の具体的な回路図、第4図は上記−例のパワ
ーオン初期化回路の回路図、第5図は従来のメモリ装置
の一例の要部回路図である。 5・・・アドレスポインタ 6・・・データバス 7・・・転送ゲート 10a、10b。 路 +1a、 Ilb、 11 20・・・SAM制御回路 21・・パワーオン初期化回路 C・・・インバーター 10c・・・Dフリップフロップ回
メモリの要部回路図、第2図は上記−例の全体の概略構
成を示すブロック図、第3図は上記−例の079717
071回路の具体的な回路図、第4図は上記−例のパワ
ーオン初期化回路の回路図、第5図は従来のメモリ装置
の一例の要部回路図である。 5・・・アドレスポインタ 6・・・データバス 7・・・転送ゲート 10a、10b。 路 +1a、 Ilb、 11 20・・・SAM制御回路 21・・パワーオン初期化回路 C・・・インバーター 10c・・・Dフリップフロップ回
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数のメモリセルからなるメモリセルアレイと、上記メ
モリセルアレイとの間で並列にデータを転送すると共に
直列にそのデータを入力若しくは出力するシリアルアク
セスメモリを有するメモリ装置において、 上記シリアルアクセスメモリは、クロック信号によって
ポインタが移動する複数段のフリップフロップ回路を有
してなり、電源投入時等の電源電圧変動時に初期化回路
から発生する初期化信号により上記フリップフロップ回
路がリセットされることを特徴とするメモリ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2270497A JPH04147488A (ja) | 1990-10-11 | 1990-10-11 | メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2270497A JPH04147488A (ja) | 1990-10-11 | 1990-10-11 | メモリ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04147488A true JPH04147488A (ja) | 1992-05-20 |
Family
ID=17487098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2270497A Pending JPH04147488A (ja) | 1990-10-11 | 1990-10-11 | メモリ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04147488A (ja) |
-
1990
- 1990-10-11 JP JP2270497A patent/JPH04147488A/ja active Pending
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