JPH0414799A - Ｘ線装置 - Google Patents
Ｘ線装置Info
- Publication number
- JPH0414799A JPH0414799A JP2119456A JP11945690A JPH0414799A JP H0414799 A JPH0414799 A JP H0414799A JP 2119456 A JP2119456 A JP 2119456A JP 11945690 A JP11945690 A JP 11945690A JP H0414799 A JPH0414799 A JP H0414799A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- rays
- soft
- hard
- scattering reflector
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- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、硬Ｘ線源と軟Ｘ線源とを使い分けて使用する
ことができるＸ線装置に関する。
ことができるＸ線装置に関する。
〈従来の技術〉
一般に、工業用のＸ線発生装置は、最大定格電圧が数百
ＫＶと高く、これにより発生するＸ線も硬Ｘ線であるた
めに透過力が大きく、そのため主として厚物の透過検査
に使用されている。一方、紙、アルミ箔、プラスチック
膜等の極薄物の透過検査を行う場合には、上記のＸ線発
生装置では透過力が大き過ぎるために、写真撮影等を行
ってもコントラストのある画像が得られず、精密検査は
不可能である。したがって、薄物の非破壊検査を行う場
合には、透過力が小さい軟Ｘ線を用いることが必要で、
そのため、従来は、最大定格電圧が数十ＫＶで、かつ、
Ｘ線管球のＢｅ等の窓を薄くした軟Ｘ線発生装置が提供
されている。
ＫＶと高く、これにより発生するＸ線も硬Ｘ線であるた
めに透過力が大きく、そのため主として厚物の透過検査
に使用されている。一方、紙、アルミ箔、プラスチック
膜等の極薄物の透過検査を行う場合には、上記のＸ線発
生装置では透過力が大き過ぎるために、写真撮影等を行
ってもコントラストのある画像が得られず、精密検査は
不可能である。したがって、薄物の非破壊検査を行う場
合には、透過力が小さい軟Ｘ線を用いることが必要で、
そのため、従来は、最大定格電圧が数十ＫＶで、かつ、
Ｘ線管球のＢｅ等の窓を薄くした軟Ｘ線発生装置が提供
されている。
このように、従来は、肉厚の異なる被検体を透過検査す
る場合には、肉厚に応じてそれぞれ透過力の異なるＸ線
源を使い分ける必要があった。
る場合には、肉厚に応じてそれぞれ透過力の異なるＸ線
源を使い分ける必要があった。
〈発明が解決しようとする課題〉
しかしながら、被検体の肉厚さの大小に応じて、それぞ
れ２種類のＸ線発生装置を個別に設けるのは、設備上、
大きな出費が必要となるばかりか、装置の取り扱い上も
不便である。
れ２種類のＸ線発生装置を個別に設けるのは、設備上、
大きな出費が必要となるばかりか、装置の取り扱い上も
不便である。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、単一のＸ線管球を使用して、硬Ｘ線と軟Ｘ線の２種
類のＸ線源を使い分けることができるようにするもので
ある。
て、単一のＸ線管球を使用して、硬Ｘ線と軟Ｘ線の２種
類のＸ線源を使い分けることができるようにするもので
ある。
そのため、本発明のＸ線装置ｌは、Ｘ線管球２のＸ線出
射部前面に配置される中空のＸ線遮蔽体４を備え、この
Ｘ線遮蔽体４は、前記Ｘ線管球２からのＸ線の出射方向
に沿って形成された硬Ｘ線出射路部４ａと、この硬Ｘ線
出射Ｎ４ａに略直交配置して形成された軟Ｘ線出射路部
４ｂとがそれぞれ設けられ、前記Ｘ線遮蔽体４の内部に
は、前記硬Ｘ線出射路部４ａを通るＸ線を前記軟Ｘ線出
射路部４ｂに向けて反射する固有の結晶格子面をもつ散
乱反射体６が配置される一方、この散乱反射体６を前記
Ｘ線管球２からのＸ線の出射方向に対して倒立する反射
角度調節機構８を有し、この反射角度調節機構８が前記
Ｘ線遮蔽体４に取り付けられている構成とした。
射部前面に配置される中空のＸ線遮蔽体４を備え、この
Ｘ線遮蔽体４は、前記Ｘ線管球２からのＸ線の出射方向
に沿って形成された硬Ｘ線出射路部４ａと、この硬Ｘ線
出射Ｎ４ａに略直交配置して形成された軟Ｘ線出射路部
４ｂとがそれぞれ設けられ、前記Ｘ線遮蔽体４の内部に
は、前記硬Ｘ線出射路部４ａを通るＸ線を前記軟Ｘ線出
射路部４ｂに向けて反射する固有の結晶格子面をもつ散
乱反射体６が配置される一方、この散乱反射体６を前記
Ｘ線管球２からのＸ線の出射方向に対して倒立する反射
角度調節機構８を有し、この反射角度調節機構８が前記
Ｘ線遮蔽体４に取り付けられている構成とした。
く作用〉
紙、アルミ箔、プラスチック膜等の極薄物の透過検査な
どのために、軟Ｘ線源として使用する場合には、角度調
節機構８を操作して、硬Ｘ線出射路部４ａを通るＸ線が
軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて反射されるように、散乱反
射体６の角度を調節する。これにより、Ｘ線管球２から
のＸ線は、硬Ｘ線出射路部４ａを通って散乱反射体６に
照射され、この散乱反射体６で散乱と回折現象により、
Ｘ線の波長は長くなって軟Ｘ線になるとともに、強度も
減少し、この軟Ｘ線が軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて出射
される。したがって、軟Ｘ線出射路部４ｂからの軟Ｘ線
の出射方向に対向して被検体ＩＯを配置しておけば、こ
の軟Ｘ線により被検体ＩＯの透過検査を行うことができ
る。
どのために、軟Ｘ線源として使用する場合には、角度調
節機構８を操作して、硬Ｘ線出射路部４ａを通るＸ線が
軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて反射されるように、散乱反
射体６の角度を調節する。これにより、Ｘ線管球２から
のＸ線は、硬Ｘ線出射路部４ａを通って散乱反射体６に
照射され、この散乱反射体６で散乱と回折現象により、
Ｘ線の波長は長くなって軟Ｘ線になるとともに、強度も
減少し、この軟Ｘ線が軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて出射
される。したがって、軟Ｘ線出射路部４ｂからの軟Ｘ線
の出射方向に対向して被検体ＩＯを配置しておけば、こ
の軟Ｘ線により被検体ＩＯの透過検査を行うことができ
る。
一方、厚物の透過検査などのために、硬Ｘ線源として使
用する場合には、角度調節機構８を操作して散乱反射体
６が硬Ｘ線出射路部４ａ内に位置しないように散乱反射
体６の角度を調節する。これにより、硬Ｘ線出射路部４
ａを通って放射されるＸ線は散乱反射体６で反射される
ことなく硬Ｘ線出射路部４ａをそのまま直進する。した
がって、硬Ｘ線出射路部４ａにおけるＸ線出射方向に対
向して被検体１２を配置しておけば、このＸ線により厚
物の被検体１２の透過検査を行うことができる。
用する場合には、角度調節機構８を操作して散乱反射体
６が硬Ｘ線出射路部４ａ内に位置しないように散乱反射
体６の角度を調節する。これにより、硬Ｘ線出射路部４
ａを通って放射されるＸ線は散乱反射体６で反射される
ことなく硬Ｘ線出射路部４ａをそのまま直進する。した
がって、硬Ｘ線出射路部４ａにおけるＸ線出射方向に対
向して被検体１２を配置しておけば、このＸ線により厚
物の被検体１２の透過検査を行うことができる。
このように、角度調節機構８により散乱反射体６の角度
を調節することにより、単一のＸ線管球２を使用して、
硬Ｘ線と軟Ｘ線の２種類のＸ線源を使い分けることがで
きる。
を調節することにより、単一のＸ線管球２を使用して、
硬Ｘ線と軟Ｘ線の２種類のＸ線源を使い分けることがで
きる。
〈実施例〉
第１図および第２図は共に本発明の実施例を示すＸ線装
置の断面図である。これらの図において、符号１はＸ線
装置の全体を示し、２はＸ線管球である。このＸ線管球
２は、本例では、厚物の透過検査に適用できるように、
最大定格電圧が数百ＫＶで、連続Ｘ線を発生するもので
ある。また、４はＸ線管球２のＸ線出射部側前面に配置
される中空のＸ線遮蔽体である。このＸ／ｓｊ！蔽体４
は、Ｘ線管球２のＸ線出射方向（図中左右方向）に沿う
筒状の硬Ｘ線出射路部４ａと、この硬Ｘ線出射路部４ａ
に略直交配置して形成された筒状の軟Ｘ線出射路部４ｂ
とかそれぞれ設けられて構成されている。そして、この
Ｘ線遮蔽体４の内部には、硬Ｘ線出射路部４ａを通るＸ
線を軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて反射する散乱反射体６
が配置されている。
置の断面図である。これらの図において、符号１はＸ線
装置の全体を示し、２はＸ線管球である。このＸ線管球
２は、本例では、厚物の透過検査に適用できるように、
最大定格電圧が数百ＫＶで、連続Ｘ線を発生するもので
ある。また、４はＸ線管球２のＸ線出射部側前面に配置
される中空のＸ線遮蔽体である。このＸ／ｓｊ！蔽体４
は、Ｘ線管球２のＸ線出射方向（図中左右方向）に沿う
筒状の硬Ｘ線出射路部４ａと、この硬Ｘ線出射路部４ａ
に略直交配置して形成された筒状の軟Ｘ線出射路部４ｂ
とかそれぞれ設けられて構成されている。そして、この
Ｘ線遮蔽体４の内部には、硬Ｘ線出射路部４ａを通るＸ
線を軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて反射する散乱反射体６
が配置されている。
この散乱反射体６は、固有の結晶格子面をもつ物質、た
とえばＡ１、Ｃｕなどの金属が適用される。
とえばＡ１、Ｃｕなどの金属が適用される。
８は散乱反射体６をＸ線管球２からのＸ線の出射方向（
図中左右方向）に対して倒立する反射角度調節機構であ
る。この角度調節機構８は、本例では、Ｘ線遮蔽体４に
、その内外に渡ってリンク８ａが揺動可能に取り付けら
れ、このリンク８ａの先端部に支持板８ｂが取り付けら
れ構成されており、この支持板８ｂに上記の散乱反射体
６が固定されている。
図中左右方向）に対して倒立する反射角度調節機構であ
る。この角度調節機構８は、本例では、Ｘ線遮蔽体４に
、その内外に渡ってリンク８ａが揺動可能に取り付けら
れ、このリンク８ａの先端部に支持板８ｂが取り付けら
れ構成されており、この支持板８ｂに上記の散乱反射体
６が固定されている。
なお、ＩＯは紙、アルミ箔、プラスチック膜等の極薄物
の被検体、１２は厚物の被検体、１４はＸ線フィルム等
のＸ線検出器である。
の被検体、１２は厚物の被検体、１４はＸ線フィルム等
のＸ線検出器である。
次に、上記構成の作用について説明する。
紙、アルミ箔、プラスチック膜等の極薄物の被検体１０
を対象して透過検査を行う場合には、角度調節機構８を
操作して、第１図に示すように、硬Ｘ線出射路部４ａを
通るＸ線が軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて反射されるよう
に、散乱反射体６の角度を調節する。これにより、Ｘ線
管球２からのＸ線は、硬Ｘ線出射路部４ａを通って散乱
反射体６に照射される。そして、この散乱反射体６で散
乱と回折現象とによって、Ｘ線の波長は長くなって軟Ｘ
線になるとともに、強度も減少し、この軟Ｘ線が軟Ｘ線
出射路部４ｂに向けて出射される。
を対象して透過検査を行う場合には、角度調節機構８を
操作して、第１図に示すように、硬Ｘ線出射路部４ａを
通るＸ線が軟Ｘ線出射路部４ｂに向けて反射されるよう
に、散乱反射体６の角度を調節する。これにより、Ｘ線
管球２からのＸ線は、硬Ｘ線出射路部４ａを通って散乱
反射体６に照射される。そして、この散乱反射体６で散
乱と回折現象とによって、Ｘ線の波長は長くなって軟Ｘ
線になるとともに、強度も減少し、この軟Ｘ線が軟Ｘ線
出射路部４ｂに向けて出射される。
したがって、軟Ｘ線出射路部４ｂからの軟Ｘ線の出射方
向に対向して図示のように被検体ＩＯを配置しておけば
、この軟Ｘ線により被検体ｌＯの透過検査を行うことが
できる。この場合、被検体ＩＯを透過するのは軟Ｘ線で
あるから、Ｘ線検出器１４にはボケの少ないコントラス
トの明確な画像が得られる。
向に対向して図示のように被検体ＩＯを配置しておけば
、この軟Ｘ線により被検体ｌＯの透過検査を行うことが
できる。この場合、被検体ＩＯを透過するのは軟Ｘ線で
あるから、Ｘ線検出器１４にはボケの少ないコントラス
トの明確な画像が得られる。
一方、厚物の被検体１２を対象として透過検査を行う場
合には、角度調節機構８を操作して、第２図に示すよう
に、散乱反射体６か硬Ｘ線出射路部４ａ内に位置しない
ように散乱反射体６を完全に転倒させる。これにより、
Ｘ線管球２から硬Ｘ線出射路部４ａを通って放射される
Ｘ線は散乱反射体６で反射されることなく硬Ｘ線出射路
部４ａをそのまま直進する。
合には、角度調節機構８を操作して、第２図に示すよう
に、散乱反射体６か硬Ｘ線出射路部４ａ内に位置しない
ように散乱反射体６を完全に転倒させる。これにより、
Ｘ線管球２から硬Ｘ線出射路部４ａを通って放射される
Ｘ線は散乱反射体６で反射されることなく硬Ｘ線出射路
部４ａをそのまま直進する。
したがって、Ｘ線管球２がらのＸ線出射方向に対向して
図示のように被検体Ｉ２を配置しておけば、このＸ線に
より厚物の被検体１２の透過検査を行うことができる。
図示のように被検体Ｉ２を配置しておけば、このＸ線に
より厚物の被検体１２の透過検査を行うことができる。
このように、角度調節機構８により散乱反射体６の角度
を調節することにより、単一のＸ線管球２を使用して、
硬Ｘ線と軟Ｘ線の２種類のＸ線源を使い分けることが可
能となる。さらに、散乱反射体６の種類や反射角を適宜
選定することにより、Ｘ線の線質や線量を選択すること
ができる。
を調節することにより、単一のＸ線管球２を使用して、
硬Ｘ線と軟Ｘ線の２種類のＸ線源を使い分けることが可
能となる。さらに、散乱反射体６の種類や反射角を適宜
選定することにより、Ｘ線の線質や線量を選択すること
ができる。
〈発明の効果〉
本発明によれば、Ｘ線管球のＸ線出射部側前面にＸ線遮
蔽体を配置し、角度調節機構によって散乱反射体の角度
を調節することにより、単一のＸ線管球を使用して、硬
Ｘ線と軟Ｘ線の２種類のＸ線源を使い分けることができ
る。このた島、従来のように、硬Ｘ線と軟Ｘ線のＸ線発
生装置を個別に設けなくても、厚物の透過検査たけてな
く、紙、アルミ箔、プラスチック膜等の極薄物の透過検
査も行うことができる。したかって、設備経費の大幅な
節約になるばかりか、装置の取り扱い上も便利になる。
蔽体を配置し、角度調節機構によって散乱反射体の角度
を調節することにより、単一のＸ線管球を使用して、硬
Ｘ線と軟Ｘ線の２種類のＸ線源を使い分けることができ
る。このた島、従来のように、硬Ｘ線と軟Ｘ線のＸ線発
生装置を個別に設けなくても、厚物の透過検査たけてな
く、紙、アルミ箔、プラスチック膜等の極薄物の透過検
査も行うことができる。したかって、設備経費の大幅な
節約になるばかりか、装置の取り扱い上も便利になる。
また、散乱反射体の種類や反射角を適宜選定することに
より、Ｘ線の線質や線量を選択することも可能となる等
の優れた効果が発揮される。
より、Ｘ線の線質や線量を選択することも可能となる等
の優れた効果が発揮される。
第１図および第２図は共に本発明の実施例を示すＸ線装
置の断面図で、第１図は軟Ｘ線源として使用する場合、
第２図は硬Ｘ線源として使用する場合の状態をそれぞれ
示している。 ■・・Ｘ線装置、２・Ｘ線管球、４・・Ｘ線遮蔽体、４
ａ 硬Ｘ線出射路部、４ｂ 軟Ｘ線出射路部、６散乱反
射体、８ ・反射角度調節機構、１０゜２ 被検体。
置の断面図で、第１図は軟Ｘ線源として使用する場合、
第２図は硬Ｘ線源として使用する場合の状態をそれぞれ
示している。 ■・・Ｘ線装置、２・Ｘ線管球、４・・Ｘ線遮蔽体、４
ａ 硬Ｘ線出射路部、４ｂ 軟Ｘ線出射路部、６散乱反
射体、８ ・反射角度調節機構、１０゜２ 被検体。
Claims (1)
- （１）Ｘ線管球のＸ線出射部前面に配置される中空のＸ
線遮蔽体を備え、このＸ線遮蔽体は、前記Ｘ線管球から
のＸ線の出射方向に沿って形成された硬Ｘ線出射路部と
、この硬Ｘ線出射部に略直交配置して形成された軟Ｘ線
出射路部とがそれぞれ設けられ、前記Ｘ線遮蔽体の内部
には、前記硬Ｘ線出射路部を通るＸ線を前記軟Ｘ線出射
路部に向けて反射する固有の結晶格子面をもつ散乱反射
体が配置される一方、この散乱反射体を前記Ｘ線管球か
らのＸ線の出射方向に対して倒立する反射角度調節機構
を有し、この反射角度調節機構が前記Ｘ線遮蔽体に取り
付けられていることを特徴とするＸ線装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2119456A JPH0414799A (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | Ｘ線装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2119456A JPH0414799A (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | Ｘ線装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0414799A true JPH0414799A (ja) | 1992-01-20 |
Family
ID=14761821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2119456A Pending JPH0414799A (ja) | 1990-05-08 | 1990-05-08 | Ｘ線装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0414799A (ja) |
-
1990
- 1990-05-08 JP JP2119456A patent/JPH0414799A/ja active Pending
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