JPH04153774A - 回路接続情報の記憶方式 - Google Patents
回路接続情報の記憶方式Info
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- JPH04153774A JPH04153774A JP2278259A JP27825990A JPH04153774A JP H04153774 A JPH04153774 A JP H04153774A JP 2278259 A JP2278259 A JP 2278259A JP 27825990 A JP27825990 A JP 27825990A JP H04153774 A JPH04153774 A JP H04153774A
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 30
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 9
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000013524 data verification Methods 0.000 description 2
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は回路接続情報の記憶方式に関し、特に電子回路
のパタン設計における接続情報の記録方式に関する。
のパタン設計における接続情報の記録方式に関する。
従来、電子回路の高密度化や微細化に伴い、配線抵抗に
よる信号伝搬遅延等の回路への影響が無視できなくなっ
てきている。このため、電子回路の設計では回路設計時
に回路シミュレーションや遅延シミュレーションで回路
動作の確認を行うだけでなく、パタン設計時にもパタン
設計データから配線抵抗および配線容量等の配線パラメ
ータと回路接続情報を抽出し、回路シミュレーションや
遅延シミュレーションを行なって遅延の検証を行なうよ
うにしている。このように、電子回路のパタン設計後に
遅延の検証を行う場合、電子回路パタン設計データから
抽出した回路接続情報と配線パラメータを同時に接続情
報ファイルに表現(記憶〉する必要がある。ところが、
従来の回路接続情報ファイルにおいては、素子間の接続
は表現されるが、配線抵抗等を表現することは考慮され
ていないので、配線パラメータを素子として表現しなけ
ればならない、それ故、配線パラメータは記述されてい
ない論理回路図データと比較して差異が生じるため、遅
延検証用にパタン設計データから抽出した接続情報は、
論理回路図との接続比較照合を行うことができない。
よる信号伝搬遅延等の回路への影響が無視できなくなっ
てきている。このため、電子回路の設計では回路設計時
に回路シミュレーションや遅延シミュレーションで回路
動作の確認を行うだけでなく、パタン設計時にもパタン
設計データから配線抵抗および配線容量等の配線パラメ
ータと回路接続情報を抽出し、回路シミュレーションや
遅延シミュレーションを行なって遅延の検証を行なうよ
うにしている。このように、電子回路のパタン設計後に
遅延の検証を行う場合、電子回路パタン設計データから
抽出した回路接続情報と配線パラメータを同時に接続情
報ファイルに表現(記憶〉する必要がある。ところが、
従来の回路接続情報ファイルにおいては、素子間の接続
は表現されるが、配線抵抗等を表現することは考慮され
ていないので、配線パラメータを素子として表現しなけ
ればならない、それ故、配線パラメータは記述されてい
ない論理回路図データと比較して差異が生じるため、遅
延検証用にパタン設計データから抽出した接続情報は、
論理回路図との接続比較照合を行うことができない。
以下に従来の接続情報の記憶方式について、電子回路パ
タン設計データから柚比した接続情報と配線パラメータ
とを表現した例を参照して説明する。
タン設計データから柚比した接続情報と配線パラメータ
とを表現した例を参照して説明する。
第5図は従来の一例を説明するための簡単な電子回路図
である。
である。
第5図に示すように、この電子回路は電源および接地間
にPチャネルMO3FET13とチャネルMO3FET
14が接続されたものであり、15はネットを示す。
にPチャネルMO3FET13とチャネルMO3FET
14が接続されたものであり、15はネットを示す。
第6図は第5区の電子回路をMO8技術を用いて集積回
路にする際のパタン図である。
路にする際のパタン図である。
第6図に示すように、このパタンにおいて、16はアル
ミ配線、17は多結晶シリコン、18はN型拡散、19
はP型拡散、20はコンタクトカットのパタンを表わし
ている。
ミ配線、17は多結晶シリコン、18はN型拡散、19
はP型拡散、20はコンタクトカットのパタンを表わし
ている。
第7図は第6図におけるパタンから配線抵抗も含めて回
路接続を復元したときの回路図である。
路接続を復元したときの回路図である。
第7図に示すように、この回路はMOSFETおよび抵
抗により構成される。例えば、抵抗21は配線抵抗を示
している。このパタン設計データの遅延検証を高精度で
行うためには、配線抵抗および配線容量を抽出する必要
があるが、以下には説明を簡略化するため、配線抵抗だ
けを例にとって説明する。
抗により構成される。例えば、抵抗21は配線抵抗を示
している。このパタン設計データの遅延検証を高精度で
行うためには、配線抵抗および配線容量を抽出する必要
があるが、以下には説明を簡略化するため、配線抵抗だ
けを例にとって説明する。
第8図(a)、(b)はそれぞれ第5図におけるネット
に対応する配線パタン図および等電位集合から抽出した
配線抵抗図である。
に対応する配線パタン図および等電位集合から抽出した
配線抵抗図である。
第8図<a)、(b)に示すように、ここでは電気的に
接続し合ったパタン設計データ上の図形データの集合を
等電位集合と称しているが、この配線抵抗を考慮したと
きの等電位集合は、配線ノくタンの分岐点をネットとし
た抵抗素子のネ・ントワークとして表現される。
接続し合ったパタン設計データ上の図形データの集合を
等電位集合と称しているが、この配線抵抗を考慮したと
きの等電位集合は、配線ノくタンの分岐点をネットとし
た抵抗素子のネ・ントワークとして表現される。
要するに、前述した第6図のパタン設計データから配線
抵抗も含めて回路接続を復元すると、第7図のようにな
る。ここで、第5図と第7図の回路を比較すると、論理
回路図データの接続情報と、パタン設計データから抽出
および復元した接続情報とでは、配線抵抗のふんだけ差
異があることが解る。
抵抗も含めて回路接続を復元すると、第7図のようにな
る。ここで、第5図と第7図の回路を比較すると、論理
回路図データの接続情報と、パタン設計データから抽出
および復元した接続情報とでは、配線抵抗のふんだけ差
異があることが解る。
上述した従来の電子回路のパタン設計における接続情報
の記憶方式は、電子回路の高密度化や微細化に伴い、電
子回路のパタン設計後に遅延の検証を行うことがますま
す重要になってきている。
の記憶方式は、電子回路の高密度化や微細化に伴い、電
子回路のパタン設計後に遅延の検証を行うことがますま
す重要になってきている。
また、電子回路の大規模化や高集積化にともない、パタ
ン設計の接続検証、特に論理設計データとパタン設計デ
ータの接続照合が不可欠になってきている。
ン設計の接続検証、特に論理設計データとパタン設計デ
ータの接続照合が不可欠になってきている。
ところが、従来の接続情報の記憶方式は1<タン設計デ
ータから抽出した配線パラメータを素子として表現しな
ければならないため、遅延検証用にパタン設計データか
ら抽出した接続情報は論理設計データの接続情報と異な
ってしまう。すなわち、接続検証と遅延検証のためには
、別々にパタン設計データからの接続情報抽出処理を行
なわねばならず、これがために別々の接続情報ファイル
を用意しなければならないという欠点がある。
ータから抽出した配線パラメータを素子として表現しな
ければならないため、遅延検証用にパタン設計データか
ら抽出した接続情報は論理設計データの接続情報と異な
ってしまう。すなわち、接続検証と遅延検証のためには
、別々にパタン設計データからの接続情報抽出処理を行
なわねばならず、これがために別々の接続情報ファイル
を用意しなければならないという欠点がある。
本発明の目的は、かかる接続情報抽出処理を簡略化し、
ファイル量を削減するとともに、回路抽出時間を短縮す
ることのできる回路接続情報の記憶方式を提供すること
にある。
ファイル量を削減するとともに、回路抽出時間を短縮す
ることのできる回路接続情報の記憶方式を提供すること
にある。
本発明の回路接続情報の記憶方式は、電子回路のパタン
設計データから抽出および復元した素子間の接続情報を
記憶するメインファイルと、同様に抽出および復元した
等電位集合内の配線の接続情報を記憶するサブネットフ
ァイルとを設け、パタン設計の接続検証および遅延検証
を前記二つのファイルを用いて行なうように構成される
。
設計データから抽出および復元した素子間の接続情報を
記憶するメインファイルと、同様に抽出および復元した
等電位集合内の配線の接続情報を記憶するサブネットフ
ァイルとを設け、パタン設計の接続検証および遅延検証
を前記二つのファイルを用いて行なうように構成される
。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明における情報処理システムのブロック図
であう。
であう。
第1図に示すように、本発明において用いる情報処理シ
ステムは、電子回路のパタン設計データを入力するため
の磁気テーア装置等のデータ入力手段1と、アプリケー
ションプログラムが走る中央処理装置等の処理実行手段
2と、磁気ディスク等の補助記憶手段3と、実行結果を
印刷するラインプリンター等のデータ出力手段4とから
構成される0本発明はかかる情報処理システムにおいて
、パタン設計データを入力し、各種の接続情報を出力す
るものである。
ステムは、電子回路のパタン設計データを入力するため
の磁気テーア装置等のデータ入力手段1と、アプリケー
ションプログラムが走る中央処理装置等の処理実行手段
2と、磁気ディスク等の補助記憶手段3と、実行結果を
印刷するラインプリンター等のデータ出力手段4とから
構成される0本発明はかかる情報処理システムにおいて
、パタン設計データを入力し、各種の接続情報を出力す
るものである。
第2図(a)、(b)はそれぞれ本発明の一実施例を説
明するためのパタン設計データ検証処理フロー図および
その処理におけるステップA2の詳細な処理フロー図で
ある。
明するためのパタン設計データ検証処理フロー図および
その処理におけるステップA2の詳細な処理フロー図で
ある。
第2図(a)に示すように、本実施例は前述した第1図
の処理実行手段2上で走る接続情報の記憶方式を利用し
たアプリケーションプログラムのフローを示し、データ
入力ステップA1と、パタン設計データから回路接続情
報の抽出および配線抵抗、配線容量などの配線パラメー
タの算出を行う抽出・算出ステップA2と、回路図デー
タとパターン設計データの接続情報の比較照合を行う比
較照合ステップ3と、パタン設計から抽出した接続情報
を回路シミュレーシヨンなどのシミュレーション入力用
のデータに変換するデータ作成ステップA4の間のイン
ターフェース用のファイルに接続情報の記憶方式を利用
している。
の処理実行手段2上で走る接続情報の記憶方式を利用し
たアプリケーションプログラムのフローを示し、データ
入力ステップA1と、パタン設計データから回路接続情
報の抽出および配線抵抗、配線容量などの配線パラメー
タの算出を行う抽出・算出ステップA2と、回路図デー
タとパターン設計データの接続情報の比較照合を行う比
較照合ステップ3と、パタン設計から抽出した接続情報
を回路シミュレーシヨンなどのシミュレーション入力用
のデータに変換するデータ作成ステップA4の間のイン
ターフェース用のファイルに接続情報の記憶方式を利用
している。
第2図(b)に示すように、抽出・算出ステップA2は
、パタン設計データの図形データを入力して素子認識お
よび等電位追跡を行うステップB1と、配線の図形情報
を入力して配線パラメータを算出するステップB2と、
素子情報を基に接続情報を復元するステップB3との3
つのステップから構成される。この抽出・算出ステップ
A2では、データ入力ステップA1で入力されたパタン
設計データから回路接続情報の抽出と配線抵抗および配
線容量などの配線パラメータの算出とを行う。
、パタン設計データの図形データを入力して素子認識お
よび等電位追跡を行うステップB1と、配線の図形情報
を入力して配線パラメータを算出するステップB2と、
素子情報を基に接続情報を復元するステップB3との3
つのステップから構成される。この抽出・算出ステップ
A2では、データ入力ステップA1で入力されたパタン
設計データから回路接続情報の抽出と配線抵抗および配
線容量などの配線パラメータの算出とを行う。
まず、ステップB1はパタン設計データの図形データを
入力して素子を構成する図形データを認識するとともに
、配線を構成する図形データを等電位集合と呼ぶ電気的
に接続し合う図形の集合に分類する。
入力して素子を構成する図形データを認識するとともに
、配線を構成する図形データを等電位集合と呼ぶ電気的
に接続し合う図形の集合に分類する。
次に、ステップB2は等電位集合毎に配線の図形データ
を入力し、配線抵抗および配線容量などの配線パラメー
タの算出を行う、この算出の結果は前述した第1図の補
助記憶手段3上のファイルに格納される。
を入力し、配線抵抗および配線容量などの配線パラメー
タの算出を行う、この算出の結果は前述した第1図の補
助記憶手段3上のファイルに格納される。
更に、ステップB3では、ステップB1で付加した素子
情報や等電位情報を基に接続情報の復元を行う、この復
元された接続情報も補助記憶手段3上のファイルに格納
される。
情報や等電位情報を基に接続情報の復元を行う、この復
元された接続情報も補助記憶手段3上のファイルに格納
される。
次に、本実施例の接続情報の記憶方式を適用したステッ
プB2とステップB3から出力されるデータの構造につ
いて第3図および第4図を用いて説明する。
プB2とステップB3から出力されるデータの構造につ
いて第3図および第4図を用いて説明する。
第3図は第2図(a>、(b)における接続情報ファイ
ルの概念図である。
ルの概念図である。
第3図に示すように、この接続情報ファイルは第1図に
示す補助記憶手段3上のファイルを表わし、ステップB
3から出力される素子間の接続情報を格納するメインフ
ァイル5と、ステップB2から出力される配線抵抗や配
線容量等の配線寄生素子の接続情報を格納するサブネッ
トファイル6とを有する。このメインファイル5上の接
続情報は素子に対応する素子データと配線に対応するネ
ットデータとからなる。しかも、素子データは端子デー
タの集まりとして表現され、端子データがネットデータ
へのポインターを持つことにより接続を表現している。
示す補助記憶手段3上のファイルを表わし、ステップB
3から出力される素子間の接続情報を格納するメインフ
ァイル5と、ステップB2から出力される配線抵抗や配
線容量等の配線寄生素子の接続情報を格納するサブネッ
トファイル6とを有する。このメインファイル5上の接
続情報は素子に対応する素子データと配線に対応するネ
ットデータとからなる。しかも、素子データは端子デー
タの集まりとして表現され、端子データがネットデータ
へのポインターを持つことにより接続を表現している。
一方、サブネットファイル6上の接続情報は、等電位集
合毎に配線抵抗および配線容量相互の接続関係の情報を
格納している。
合毎に配線抵抗および配線容量相互の接続関係の情報を
格納している。
第4図は第3図におけるメインファイルとサブネットフ
ァイルの関係を示す概念図である。
ァイルの関係を示す概念図である。
第4図に示すように、このメインファイル5上のネット
データはサブネットファイル6上の等電位集合データへ
のポインターを有し、またメインファイル5上の端子デ
ータはサブネットファイル6上の配線抵抗ネットワーク
の内その端子が接続するネットへのポインターを有する
。
データはサブネットファイル6上の等電位集合データへ
のポインターを有し、またメインファイル5上の端子デ
ータはサブネットファイル6上の配線抵抗ネットワーク
の内その端子が接続するネットへのポインターを有する
。
まず、1つのネット7に対応する配線抵抗のネットワー
ク8を想定する。このとき、メインファイル5上のネッ
ト7に対応するネットデータはサブネットファイル6上
の配線抵抗ネットワーク8のデータへのポインタ9を有
している。また、10はネット7に接続する端子の1つ
であり、11は端子10が配線抵抗ネットワーク8の中
で接続する内部ネットである。更に、端子10に対応す
るメインファイル5上の端子データは端子10が接続す
る配線抵抗ネットワーク8上の内部ネット11に対応す
るサブネットファイル6上のネットデータのレコードへ
のポインタ12を有している。
ク8を想定する。このとき、メインファイル5上のネッ
ト7に対応するネットデータはサブネットファイル6上
の配線抵抗ネットワーク8のデータへのポインタ9を有
している。また、10はネット7に接続する端子の1つ
であり、11は端子10が配線抵抗ネットワーク8の中
で接続する内部ネットである。更に、端子10に対応す
るメインファイル5上の端子データは端子10が接続す
る配線抵抗ネットワーク8上の内部ネット11に対応す
るサブネットファイル6上のネットデータのレコードへ
のポインタ12を有している。
以上の説明から解るように、本実施例の回路接続情報の
記憶方式においては、メインファイル5だけを参照すれ
ば、素子間の接続が解るので、論理回路図データとの接
続比較照合が可能であり、メインファイルラとサブネッ
トファイル6を参照すると、配線パラメータも含めた接
続が解るので、遅延検証が可能になる。尚、従来技術の
説明で用いた第6図のパタン設計データを本実施例のシ
ステムに入力した場合、メインファイル5上の接続情報
は第5図のような接続になる。また、サブネットファイ
ル6上のデータは、第811g(b)に示すような配線
抵抗の接続情報の集まりになる。
記憶方式においては、メインファイル5だけを参照すれ
ば、素子間の接続が解るので、論理回路図データとの接
続比較照合が可能であり、メインファイルラとサブネッ
トファイル6を参照すると、配線パラメータも含めた接
続が解るので、遅延検証が可能になる。尚、従来技術の
説明で用いた第6図のパタン設計データを本実施例のシ
ステムに入力した場合、メインファイル5上の接続情報
は第5図のような接続になる。また、サブネットファイ
ル6上のデータは、第811g(b)に示すような配線
抵抗の接続情報の集まりになる。
次に、第2図(a>に示す比較照合ステップA3につい
てみると、ここでは回路図データとパタン設計データか
ら抽出したメインファイル5上の接続情報の比較照合を
行う、このとき、ステップA2から出力されるメインフ
ァイル5上の接続情報は素子間の接続を表現しており、
回路図データの接続情報と差異が無いことに注意する。
てみると、ここでは回路図データとパタン設計データか
ら抽出したメインファイル5上の接続情報の比較照合を
行う、このとき、ステップA2から出力されるメインフ
ァイル5上の接続情報は素子間の接続を表現しており、
回路図データの接続情報と差異が無いことに注意する。
このことにより、回路図データとの接続照合が可能にな
っている。また、接続照合の結果、回路図データ上の素
子とパタン設計データ上の素子との対応が解るので、対
応の情報を第1図の補助記憶手段3上のファイルに格納
する。
っている。また、接続照合の結果、回路図データ上の素
子とパタン設計データ上の素子との対応が解るので、対
応の情報を第1図の補助記憶手段3上のファイルに格納
する。
更に、第2図(a)のデータ作成ステップA4では、抽
出・算出ステップA2で出力されたメインファイル5と
サブネットファイル6及び比較照合ステップA3で出力
された回路図データとパタン設計データとの対応情報を
入力し、回路シミュレーションなどのシミュレーション
用データを出力する。このとき、シミュレーション用デ
ータ上の素子名は対応情報を参照して回路図データの素
子名をつけるようにする。この場合、本実施例のシステ
ムが勝手に付与する自動基でないため本実施例のシステ
ムの利用者にとって理解しやすいデータになっている。
出・算出ステップA2で出力されたメインファイル5と
サブネットファイル6及び比較照合ステップA3で出力
された回路図データとパタン設計データとの対応情報を
入力し、回路シミュレーションなどのシミュレーション
用データを出力する。このとき、シミュレーション用デ
ータ上の素子名は対応情報を参照して回路図データの素
子名をつけるようにする。この場合、本実施例のシステ
ムが勝手に付与する自動基でないため本実施例のシステ
ムの利用者にとって理解しやすいデータになっている。
以上説明したように、本発明の回路接続情報の記憶方式
は、1対のファイルに素子間の接続情報と、配線抵抗お
よび配線容量などの配線パラメータとを分けて同時に記
憶することにより、接続検証および遅延検証のために行
うパタン設計データからの接続情報抽出処理を1回で済
ませることができるので、ファイルの必要量を約3分の
2に縮小できるという効果がある。また、本発明は遅延
検証用に抽出した接続情報で論理回路図データとの接続
比較照合を行なうことができるので、レイアウトからの
回路抽出にかかる時間を半分にできるという効果がある
。
は、1対のファイルに素子間の接続情報と、配線抵抗お
よび配線容量などの配線パラメータとを分けて同時に記
憶することにより、接続検証および遅延検証のために行
うパタン設計データからの接続情報抽出処理を1回で済
ませることができるので、ファイルの必要量を約3分の
2に縮小できるという効果がある。また、本発明は遅延
検証用に抽出した接続情報で論理回路図データとの接続
比較照合を行なうことができるので、レイアウトからの
回路抽出にかかる時間を半分にできるという効果がある
。
第1図は本発明における情報処理システムの機器構成図
、第2図(a)、(b)はそれぞれ本発明の一実施例を
説明するためのパタン設計データ検証処理のフロー図お
よびその処理におけるステップA2の詳細な処理フロー
図、第3図は第2図(a)、(b)における接続情報フ
ァイルの概念図、第4図は第3図におけるメインファイ
ルとサブネットファイルの関係を示す概念図、第5図は
従来の一例を説明するための簡単な電子回路図、第6図
は第5図の電子回路をMO8技術を用いて集積回路にす
る際のパタン図、第7図は第6図におけるパタンから配
線抵抗も含めて回路接続を復元したときの回路図、第8
図<a)、(b)はそれぞれ第5図におけるネットに対
応する配線パタン図および等電位集合から抽出した配線
抵抗面である。 1・・・データ入力手段、2・・・処理実行手段、3・
・・補助記憶手段、4・・・データ出力手段、5・・・
メインファイル、6・・・サブネットファイル、7・・
・ネット、8・・・配線抵抗ネットワーク、9,12・
・・ポインタ、10・・・端子、11・・・内部ネット
。
、第2図(a)、(b)はそれぞれ本発明の一実施例を
説明するためのパタン設計データ検証処理のフロー図お
よびその処理におけるステップA2の詳細な処理フロー
図、第3図は第2図(a)、(b)における接続情報フ
ァイルの概念図、第4図は第3図におけるメインファイ
ルとサブネットファイルの関係を示す概念図、第5図は
従来の一例を説明するための簡単な電子回路図、第6図
は第5図の電子回路をMO8技術を用いて集積回路にす
る際のパタン図、第7図は第6図におけるパタンから配
線抵抗も含めて回路接続を復元したときの回路図、第8
図<a)、(b)はそれぞれ第5図におけるネットに対
応する配線パタン図および等電位集合から抽出した配線
抵抗面である。 1・・・データ入力手段、2・・・処理実行手段、3・
・・補助記憶手段、4・・・データ出力手段、5・・・
メインファイル、6・・・サブネットファイル、7・・
・ネット、8・・・配線抵抗ネットワーク、9,12・
・・ポインタ、10・・・端子、11・・・内部ネット
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、電子回路のパタン設計データから抽出および復元し
た素子間の接続情報を記憶するメインファイルと、同様
に抽出および復元した等電位集合内の配線の接続情報を
記憶するサブネットファイルとを設け、パタン設計の接
続検証および遅延検証を前記二つのファイルを用いて行
なうことを特徴とする回路接続情報の記憶方式。 2、入力されたパタン設計データから回路接続情報を抽
出し且つ配線抵抗、配線容量等の配線パラメータの算出
を行なう抽出・算出ステップは、前記パタン設計データ
の図形データを入力して素子認識および等電位追跡を行
なうステップと、配線の図形情報を入力して配線パラメ
ータを算出するステップと、素子情報を基に接続情報を
復元するステップとを含むことを特徴とする請求項1記
載の回路接続情報の記憶方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2278259A JPH04153774A (ja) | 1990-10-17 | 1990-10-17 | 回路接続情報の記憶方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2278259A JPH04153774A (ja) | 1990-10-17 | 1990-10-17 | 回路接続情報の記憶方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04153774A true JPH04153774A (ja) | 1992-05-27 |
Family
ID=17594848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2278259A Pending JPH04153774A (ja) | 1990-10-17 | 1990-10-17 | 回路接続情報の記憶方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04153774A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008299259A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Dainippon Printing Co Ltd | フォトマスク欠陥判定方法 |
-
1990
- 1990-10-17 JP JP2278259A patent/JPH04153774A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008299259A (ja) * | 2007-06-04 | 2008-12-11 | Dainippon Printing Co Ltd | フォトマスク欠陥判定方法 |
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