JPH04154182A - 半導体レーザ装置 - Google Patents
半導体レーザ装置Info
- Publication number
- JPH04154182A JPH04154182A JP28041190A JP28041190A JPH04154182A JP H04154182 A JPH04154182 A JP H04154182A JP 28041190 A JP28041190 A JP 28041190A JP 28041190 A JP28041190 A JP 28041190A JP H04154182 A JPH04154182 A JP H04154182A
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- Japan
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- semiconductor laser
- light
- wavelength
- laser device
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ディスクの高速化に有用な光源である半導体
レーザ装置に関する。
レーザ装置に関する。
100μm程度の間隔で独立に駆動できる半導体レーザ
素子を集積した半導体レーザ装置は光ディスクのデータ
の並列処理を可能にする光源として期待されている。半
導体レーザ素子と、光出力をモニターする検出器を備え
た半導体レーザ装置は、第5図に示すように半導体レー
ザ素子201.202の後方出射端面側に1個のフォト
ダイオード203を設け、時間分解で光出力を検出する
構成が一般に知られている。
素子を集積した半導体レーザ装置は光ディスクのデータ
の並列処理を可能にする光源として期待されている。半
導体レーザ素子と、光出力をモニターする検出器を備え
た半導体レーザ装置は、第5図に示すように半導体レー
ザ素子201.202の後方出射端面側に1個のフォト
ダイオード203を設け、時間分解で光出力を検出する
構成が一般に知られている。
また各素子の光出力を常に独立に検出する構造の半導体
レーザ装置として、第6図に示すような構造が(サンヨ
ーテクニカルレヒュ(SANYOTECI−1sICA
L REVIEW Vol、20 No、1 pp、7
1988))知られている。この図では3個の半導体レ
ーザ素子211.212.21:3の後方出射端面に半
導体レーザ素子と同じ間隔て3つの講215.216.
217を有する光ガイド220を近接して配置し、さら
に光ガイドの各溝の後方に独立な光検出器221.22
2.223を配置している。各半導体レーザ素子の光は
光ガイド220に設けた1215 216.217に依
ってそれぞれ別の光検出器に導かれるため、素子ごとに
独立に光出力をすることができる。
レーザ装置として、第6図に示すような構造が(サンヨ
ーテクニカルレヒュ(SANYOTECI−1sICA
L REVIEW Vol、20 No、1 pp、7
1988))知られている。この図では3個の半導体レ
ーザ素子211.212.21:3の後方出射端面に半
導体レーザ素子と同じ間隔て3つの講215.216.
217を有する光ガイド220を近接して配置し、さら
に光ガイドの各溝の後方に独立な光検出器221.22
2.223を配置している。各半導体レーザ素子の光は
光ガイド220に設けた1215 216.217に依
ってそれぞれ別の光検出器に導かれるため、素子ごとに
独立に光出力をすることができる。
さらに従来第7図に示すような半導体レーザ装置が第3
5回応用物理学関係連合講演会講演予稿集(30p−Z
Q−3p8981988)に記載されている。これは発
振波長780nmと830nmの個別の二つの半導体レ
ーザ素子301,302をステム310.311の相対
した面上にマウントしたちので、二つのビームの波長が
異なるためフィルターを用いればビームの分離が可能で
ある。しかし光検出器は備えていなかった。
5回応用物理学関係連合講演会講演予稿集(30p−Z
Q−3p8981988)に記載されている。これは発
振波長780nmと830nmの個別の二つの半導体レ
ーザ素子301,302をステム310.311の相対
した面上にマウントしたちので、二つのビームの波長が
異なるためフィルターを用いればビームの分離が可能で
ある。しかし光検出器は備えていなかった。
しかしながら従来の技術では時間分解てしか各半導体レ
ーザ素子の出力を独立に検出することができないため、
時間分解できないような使用方法例えば複数の半導体レ
ーザ素子を同時に連続発振させる場合には各半導体レー
ザ素子の光出力を独立に検出、制御することはできなか
った。また第6図に示す従来例では、半導体レーザ素子
と光ガイド、また光ガイドと光検出器との位置合わせか
難しく、位置ずれによるクロストークの増大を招く心配
があった。また半導体レーザ装置そのものが大型化する
ことを避けることができなかった。
ーザ素子の出力を独立に検出することができないため、
時間分解できないような使用方法例えば複数の半導体レ
ーザ素子を同時に連続発振させる場合には各半導体レー
ザ素子の光出力を独立に検出、制御することはできなか
った。また第6図に示す従来例では、半導体レーザ素子
と光ガイド、また光ガイドと光検出器との位置合わせか
難しく、位置ずれによるクロストークの増大を招く心配
があった。また半導体レーザ装置そのものが大型化する
ことを避けることができなかった。
また第7図の従来例においては2つのビームの波長が異
なるためフィルター等を用いることにより各レーザビー
ムを分離することができるが、各半導体レーザ素子の間
隔や光の出射位置が同じ半導体基板上に形成し独立駆動
できるように電気的に分離された構造に比べ、精度良く
決めることが難しいため、実用上使い難い。
なるためフィルター等を用いることにより各レーザビー
ムを分離することができるが、各半導体レーザ素子の間
隔や光の出射位置が同じ半導体基板上に形成し独立駆動
できるように電気的に分離された構造に比べ、精度良く
決めることが難しいため、実用上使い難い。
本発明の目的は各レーザ素子の光出力を容易に分離して
検出が可能な半導体レーザ装置を提供することにある。
検出が可能な半導体レーザ装置を提供することにある。
本発明による半導体レーザ装置は3つあり、その1つは
、活性層がバンドギャップの寮なる2つの量子井戸から
なる半導体レーザ素子を複数個同一半導体基板上に形成
し、且つそれらが電気的に分離されていることを特徴と
している。
、活性層がバンドギャップの寮なる2つの量子井戸から
なる半導体レーザ素子を複数個同一半導体基板上に形成
し、且つそれらが電気的に分離されていることを特徴と
している。
本発明による第2の半導体レーザ装置は、上記半導体レ
ーザ装置の後方、光出射方向に2つの独立な光検出器を
備え、少なくともいずれか一方の光検出器の受光面に、
半導体レーザ素子の活性層を形成するいずれか一方のバ
ンドギャップに相当する光の波長を減衰するフィルター
を設けたことを特徴としている。
ーザ装置の後方、光出射方向に2つの独立な光検出器を
備え、少なくともいずれか一方の光検出器の受光面に、
半導体レーザ素子の活性層を形成するいずれか一方のバ
ンドギャップに相当する光の波長を減衰するフィルター
を設けたことを特徴としている。
また本発明による第3の半導体レーザ装置は、上記第2
の半導体レーザ装置において、フィルターを設けた光検
出器の受光面が、そのフィルターによって減衰されない
波長で動作しているレーザ素子の後方出射端面の発光点
より、減衰される波長で動作している半導体レーザ素子
の後方出射端面の発光点からの距離の短い領域に位置す
ることを特徴としている。
の半導体レーザ装置において、フィルターを設けた光検
出器の受光面が、そのフィルターによって減衰されない
波長で動作しているレーザ素子の後方出射端面の発光点
より、減衰される波長で動作している半導体レーザ素子
の後方出射端面の発光点からの距離の短い領域に位置す
ることを特徴としている。
活性層がバンドギャップの異なる2つ量子井戸からなる
半導体レーザ素子は光出力により発振波長が、その2つ
の量子井戸のエネルギーギャップに相当する波長の間で
スイッチングすることが第37回応用物理学関係連合講
演会講演予稿集(28aSa−13p9801990)
に記載されテイル。すなわち電流を高水準に注入した高
出力動作時には、低出力動作時より50nm近く短い波
長で発振する。
半導体レーザ素子は光出力により発振波長が、その2つ
の量子井戸のエネルギーギャップに相当する波長の間で
スイッチングすることが第37回応用物理学関係連合講
演会講演予稿集(28aSa−13p9801990)
に記載されテイル。すなわち電流を高水準に注入した高
出力動作時には、低出力動作時より50nm近く短い波
長で発振する。
同一半導体基板上にこのレーザ構造を集積し、独立に駆
動できるように電気的に分離しアレイレーザ素子を形成
して半導体レーザ装置とする。一方の半導体レーザ素子
を光ディスクの記録のために高出力で、もう一方の半導
体レーザ素子を記録直後の再生のために低出力で駆動す
る場合、同じレーザ構造でありながら隣合う2つの半導
体レーザ素子は異なる発振波長で動作する。しかも同一
基板上に形成するので半導体レーザ素子の間隔や発光点
位置は厳密に決めることができる。
動できるように電気的に分離しアレイレーザ素子を形成
して半導体レーザ装置とする。一方の半導体レーザ素子
を光ディスクの記録のために高出力で、もう一方の半導
体レーザ素子を記録直後の再生のために低出力で駆動す
る場合、同じレーザ構造でありながら隣合う2つの半導
体レーザ素子は異なる発振波長で動作する。しかも同一
基板上に形成するので半導体レーザ素子の間隔や発光点
位置は厳密に決めることができる。
そこで2つの光検出器を用い、一方の受光部にこの2つ
の波長を分離てきるようなフィルターを備えれば、フィ
ルターを備えた検出器の出力よりフィルターに減衰され
ない波長で動作している半導体レーザ素子の光出力を検
出することができる。もう一方の光検出器には両方の素
子の光出力の和が検出されるため、これより先に述べた
光出力を差し引くことにより、フィルターで減衰される
波長で動作している半導体レーザ素子の光出力を検出す
ることができる。
の波長を分離てきるようなフィルターを備えれば、フィ
ルターを備えた検出器の出力よりフィルターに減衰され
ない波長で動作している半導体レーザ素子の光出力を検
出することができる。もう一方の光検出器には両方の素
子の光出力の和が検出されるため、これより先に述べた
光出力を差し引くことにより、フィルターで減衰される
波長で動作している半導体レーザ素子の光出力を検出す
ることができる。
さらに2素子の半導体レーザ装置において、常に決まっ
た一方の半導体レーザ素子が低出力、もう一方が高出力
で動作させる場合、フィルターを備えた検出器の受光面
が、そのフィルターでより減衰の少ない方の波長で動作
している半導体レーザ素子の後方出射端面で、且つ、も
う一方のフィルターで減衰される波長で動作している半
導体レーザ素子の後方出射端面の発光点より距離の短い
領域に位置することにより、フィルターを有する検出器
に入射するフィルターで減衰されない光の量に対するフ
ィルターで減衰される波長の光の量を減少させ、2つの
光出力の分離をより容易にする。
た一方の半導体レーザ素子が低出力、もう一方が高出力
で動作させる場合、フィルターを備えた検出器の受光面
が、そのフィルターでより減衰の少ない方の波長で動作
している半導体レーザ素子の後方出射端面で、且つ、も
う一方のフィルターで減衰される波長で動作している半
導体レーザ素子の後方出射端面の発光点より距離の短い
領域に位置することにより、フィルターを有する検出器
に入射するフィルターで減衰されない光の量に対するフ
ィルターで減衰される波長の光の量を減少させ、2つの
光出力の分離をより容易にする。
本発明の第1の実施例として第1図に半導体レーザ素子
を2つ並べてレーザアレイを構成した半導体レーザ装置
を示す。ここで用いた半導体レーザ素子は、第2図に示
すように、活性層1が近接したGaAs井戸10とAl
GaAs井戸11の2層の量子井戸からなっている。G
aAs量子井戸10のエネルギーギャップに相当する光
の波長が0.83μmで、AlGaAs量子井戸11の
エネルギーギャップに相当する光の波長が0.78μm
になっている。GaAs基板5上に2個の半導体レーザ
素子2.3が発光位置の間隔は100μmで形成されて
いる。2個の半導体レーザ素子の間にはそれぞれの半導
体レーザ素子を電気的に独立に駆動するために活性層を
含む半導体層を完全に分離する7116が設けられてい
る。半導体レーザ装置はGaAs基板5側がCu8のス
テムにIn7でマウントされている。この半導体レーザ
装置は出力10mWを境に発振波長が830nmと78
0nmの間でスイッチングする。一方を書き込みの30
mW、もう一方を読み出しの3mWで動作させれば、書
き込み側のレーザ発振波長は830nm、読みだし側の
レーザ発振波長は780nmと、同じ半導体基板上に形
成した同じレーザ構造であるにも関わらず、それぞれの
発振波長は50nmも異なる。そこで両者の波長をフィ
ルターで分離してやれば独立に光出力を検出することが
できる。
を2つ並べてレーザアレイを構成した半導体レーザ装置
を示す。ここで用いた半導体レーザ素子は、第2図に示
すように、活性層1が近接したGaAs井戸10とAl
GaAs井戸11の2層の量子井戸からなっている。G
aAs量子井戸10のエネルギーギャップに相当する光
の波長が0.83μmで、AlGaAs量子井戸11の
エネルギーギャップに相当する光の波長が0.78μm
になっている。GaAs基板5上に2個の半導体レーザ
素子2.3が発光位置の間隔は100μmで形成されて
いる。2個の半導体レーザ素子の間にはそれぞれの半導
体レーザ素子を電気的に独立に駆動するために活性層を
含む半導体層を完全に分離する7116が設けられてい
る。半導体レーザ装置はGaAs基板5側がCu8のス
テムにIn7でマウントされている。この半導体レーザ
装置は出力10mWを境に発振波長が830nmと78
0nmの間でスイッチングする。一方を書き込みの30
mW、もう一方を読み出しの3mWで動作させれば、書
き込み側のレーザ発振波長は830nm、読みだし側の
レーザ発振波長は780nmと、同じ半導体基板上に形
成した同じレーザ構造であるにも関わらず、それぞれの
発振波長は50nmも異なる。そこで両者の波長をフィ
ルターで分離してやれば独立に光出力を検出することが
できる。
本発明の第2の実施例を第3図に示す。2個の半導体レ
ーザ素子101.102のうち一方の半導体レーザ素子
は3mWの低出力、もう一方の半導体レーザ素子は30
mWの高出力で駆動している。レーザアレイの後方光出
射端面後方の出射光に対し垂直な面に2個のSiフォト
ダイオード105.106をその受光面がいずれもレー
ザの後方出射点から等位置になるように配置している。
ーザ素子101.102のうち一方の半導体レーザ素子
は3mWの低出力、もう一方の半導体レーザ素子は30
mWの高出力で駆動している。レーザアレイの後方光出
射端面後方の出射光に対し垂直な面に2個のSiフォト
ダイオード105.106をその受光面がいずれもレー
ザの後方出射点から等位置になるように配置している。
そしてその内の1個、図では上方のフォトダイオード1
05の受光面に800nm以下の波長の光を減衰するフ
ィルターを備え、下方のフォトダイオード106の受光
面には800nm以上の波長の光を減衰するフィルター
を備えている。これにより3mWの低出力で動作してい
る半導体レーザ素子の出力は発振波長が830nmであ
るため、上方のフォトダイオード105では検出される
が、下方のフォトダイオード106では光がフィルター
で減衰されて検出されない、またもう一方の30nWの
高出力で動作している半導体レーザ素子の発振波長は7
80nmであるため、先はどとは逆に上方のフォトダイ
オード105では検出されず、下方のフォトダイオード
106で検出される。すなわち各半導体レーザ素子の光
出力を個別に検出することができる。また2つの半導体
し−ザ素子101.102のいずれが低出力でいずれが
高出力であっても別々に検出できる。
05の受光面に800nm以下の波長の光を減衰するフ
ィルターを備え、下方のフォトダイオード106の受光
面には800nm以上の波長の光を減衰するフィルター
を備えている。これにより3mWの低出力で動作してい
る半導体レーザ素子の出力は発振波長が830nmであ
るため、上方のフォトダイオード105では検出される
が、下方のフォトダイオード106では光がフィルター
で減衰されて検出されない、またもう一方の30nWの
高出力で動作している半導体レーザ素子の発振波長は7
80nmであるため、先はどとは逆に上方のフォトダイ
オード105では検出されず、下方のフォトダイオード
106で検出される。すなわち各半導体レーザ素子の光
出力を個別に検出することができる。また2つの半導体
し−ザ素子101.102のいずれが低出力でいずれが
高出力であっても別々に検出できる。
第4図に本発明の第3の実施例を示す。2つの半導体レ
ーザ素子111,112のうち、半導体レーザ素子11
1は常に3mWの低出力で、また半導体レーザ素子11
2は常に30mWの高出力で駆動させる。半導体レーザ
素子111の後方出射端面方向の出射光に対して垂直な
面100上の、半導体レーザ素子111の導波路を後方
出射方向に延長した交点に、800nm以下の波長を減
衰させるフィルターを備えたSiフォトダイオード10
5の受光面がくるように配置し、もう−方の半導体レー
ザ素子112の導波路を後方出射方向に延長した交点に
、800nm以上の波長を減衰させるフィルターを備え
たSiフォトダイオード106の受光面がくるように配
置しな。3mWで動作する半導体レーザ素子111の発
振波長は830nmであるのでその後方のフォトダイオ
ード105では検出されるが、半導体レーザ素子の後方
のフォトダイオード106ではフィルターに減衰されて
検出されない。さらにその際、もともとフォトタイオー
ド106に入射する半導体レーザ素子111の光量も、
半導体レーザ素子の光出射方向(導波路の延長方向)に
対し角度107を有するため、後方のフォトダイオード
に入射する光量に対して10分の1から100分の1程
度となる。30mWで動作する半導体レーザ素子112
に対してはまったく逆の構成か成り立つ。このようにフ
ィルターによる減衰だけではなく、フォトダイオードへ
の入射光量にも差を設けるような位置構成にすることに
より2つの半導体レーザ素子の光検出をより低いタロス
トークで行え、検出精度を高めることができた。
ーザ素子111,112のうち、半導体レーザ素子11
1は常に3mWの低出力で、また半導体レーザ素子11
2は常に30mWの高出力で駆動させる。半導体レーザ
素子111の後方出射端面方向の出射光に対して垂直な
面100上の、半導体レーザ素子111の導波路を後方
出射方向に延長した交点に、800nm以下の波長を減
衰させるフィルターを備えたSiフォトダイオード10
5の受光面がくるように配置し、もう−方の半導体レー
ザ素子112の導波路を後方出射方向に延長した交点に
、800nm以上の波長を減衰させるフィルターを備え
たSiフォトダイオード106の受光面がくるように配
置しな。3mWで動作する半導体レーザ素子111の発
振波長は830nmであるのでその後方のフォトダイオ
ード105では検出されるが、半導体レーザ素子の後方
のフォトダイオード106ではフィルターに減衰されて
検出されない。さらにその際、もともとフォトタイオー
ド106に入射する半導体レーザ素子111の光量も、
半導体レーザ素子の光出射方向(導波路の延長方向)に
対し角度107を有するため、後方のフォトダイオード
に入射する光量に対して10分の1から100分の1程
度となる。30mWで動作する半導体レーザ素子112
に対してはまったく逆の構成か成り立つ。このようにフ
ィルターによる減衰だけではなく、フォトダイオードへ
の入射光量にも差を設けるような位置構成にすることに
より2つの半導体レーザ素子の光検出をより低いタロス
トークで行え、検出精度を高めることができた。
本発明により各レーザ出力を容易に分離、独立に検出で
きる発振波長の異なるレーザアレイ素子が同一基板上に
精度よく作製でき、光ディスクの高速化に有効な光源で
ある半導体レーザ装置を提供することができた。
きる発振波長の異なるレーザアレイ素子が同一基板上に
精度よく作製でき、光ディスクの高速化に有効な光源で
ある半導体レーザ装置を提供することができた。
第1図は本発明による第1の実施例を示す図、第2図は
第1図の半導体レーザ装置の活性層の構造を示した図で
ある。第3図および第4図は本発明による第2及び第3
の実施例を示した図、第5図、第6図、第7図は従来例
を示した図である。 1・・・活性層、2.3,101.102・・・半導体
レーザ素子、5・・・GaAs基板、7・・・In、8
・・・Cuステム、10・・・GaAs量子井戸、11
・・・A I GaAs量子井戸、105−800 n
m以下減衰のフィルターを備えたSiフォトダイオー
ド、106・・・800nm以上減衰のフィルターを備
えたSiフォトダイオード、107・・・角度、111
・・・3mWで駆動している半導体レーザ素子、112
・・・30mWで駆動している半導体レーザ素子、20
1,202,211,212,213・・・従来例の半
導体レーザ素子、203,211,222.223・・
・Siフォトダイオード、215゜216.217・・
・渭(導波路)、220・・・光ガイド、301・・・
発振波長780nmの半導体レーザ素子、 302・・・発振波長830nmの半導体レーザ素子、 10゜ 1・・・Cuステム。
第1図の半導体レーザ装置の活性層の構造を示した図で
ある。第3図および第4図は本発明による第2及び第3
の実施例を示した図、第5図、第6図、第7図は従来例
を示した図である。 1・・・活性層、2.3,101.102・・・半導体
レーザ素子、5・・・GaAs基板、7・・・In、8
・・・Cuステム、10・・・GaAs量子井戸、11
・・・A I GaAs量子井戸、105−800 n
m以下減衰のフィルターを備えたSiフォトダイオー
ド、106・・・800nm以上減衰のフィルターを備
えたSiフォトダイオード、107・・・角度、111
・・・3mWで駆動している半導体レーザ素子、112
・・・30mWで駆動している半導体レーザ素子、20
1,202,211,212,213・・・従来例の半
導体レーザ素子、203,211,222.223・・
・Siフォトダイオード、215゜216.217・・
・渭(導波路)、220・・・光ガイド、301・・・
発振波長780nmの半導体レーザ素子、 302・・・発振波長830nmの半導体レーザ素子、 10゜ 1・・・Cuステム。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、活性層がバンドギャップの異なる2つの量子井戸か
らなる半導体レーザ素子を同一半導体基板上に複数個配
列・形成し、且つそれらが電気的に分離されていること
を特徴とする半導体レーザ装置。 2、請求項1記載の半導体レーザ装置の後方、光出射方
向に2つの独立な光検出器を備え、少なくともいずれか
一方の光検出器の受光面に、半導体レーザ装置の活性層
を形成するいずれか一方のバンドギャップに相当する光
の波長を減衰するフィルターを設けたことを特徴とする
半導体レーザ装置。 3、請求項2記載の半導体レーザ装置において、フィル
ターを設けた光検出器の受光面が、そのフィルターによ
って減衰されない波長で動作しているレーザ素子の後方
出射端面の発光点より、減衰される波長で動作している
レーザ素子の後方出射端面の発光点からの距離の短い領
域に位置することを特徴とする半導体レーザ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28041190A JPH04154182A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 半導体レーザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28041190A JPH04154182A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 半導体レーザ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04154182A true JPH04154182A (ja) | 1992-05-27 |
Family
ID=17624668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28041190A Pending JPH04154182A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 半導体レーザ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04154182A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000004614A1 (en) * | 1998-07-14 | 2000-01-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device |
| JP2001160647A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-06-12 | Sharp Corp | 半導体レーザ装置、光伝送装置、光伝送システム、電子機器、制御装置、接続コネクタ、通信装置、ならびに光伝送方法、データ送受信方法 |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP28041190A patent/JPH04154182A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000004614A1 (en) * | 1998-07-14 | 2000-01-27 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor laser device |
| US6456635B1 (en) | 1998-07-14 | 2002-09-24 | Sharp Kabushiki Kaishiki | Semiconductor laser device |
| JP2001160647A (ja) * | 1999-09-24 | 2001-06-12 | Sharp Corp | 半導体レーザ装置、光伝送装置、光伝送システム、電子機器、制御装置、接続コネクタ、通信装置、ならびに光伝送方法、データ送受信方法 |
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