JPH04155271A - Emi測定用ターンテーブル - Google Patents
Emi測定用ターンテーブルInfo
- Publication number
- JPH04155271A JPH04155271A JP27786390A JP27786390A JPH04155271A JP H04155271 A JPH04155271 A JP H04155271A JP 27786390 A JP27786390 A JP 27786390A JP 27786390 A JP27786390 A JP 27786390A JP H04155271 A JPH04155271 A JP H04155271A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- turntable
- metal
- emi
- electrode
- ground surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は、電子および電気機器から発生するE M
1 (Electro−Magnetic Inter
ference) 、すなわち電磁波障害の原因となる
電磁妨害波を測定する際に用いられるEMI測定装置用
ターンテーブルに関する。
1 (Electro−Magnetic Inter
ference) 、すなわち電磁波障害の原因となる
電磁妨害波を測定する際に用いられるEMI測定装置用
ターンテーブルに関する。
[従来の技術]
テレビ、ラジオ、コンピュータなどの電子および電気機
器のEMIについては、国際勧告であるCl5PR(国
際無線障害特別委員会)規格をペースに各国の国内規格
(例えば、日本の電気通信技術S議会答申規格、米国の
FCC規格、および西独のVDE規格等)が定められて
規制されている。これらの規格の規制対象機器は、コン
ピュータ、ワードプロセッサーおよびファクシミリなど
の情報技術装置、工業、科学および医療用の高周波利用
設備、テレビ、ラジオ受信機およびその関連機器、なら
びに家庭用の電気機器などである。
器のEMIについては、国際勧告であるCl5PR(国
際無線障害特別委員会)規格をペースに各国の国内規格
(例えば、日本の電気通信技術S議会答申規格、米国の
FCC規格、および西独のVDE規格等)が定められて
規制されている。これらの規格の規制対象機器は、コン
ピュータ、ワードプロセッサーおよびファクシミリなど
の情報技術装置、工業、科学および医療用の高周波利用
設備、テレビ、ラジオ受信機およびその関連機器、なら
びに家庭用の電気機器などである。
特に、最近は、規制対象機器は年々増加の一途を辿フて
おり、今日では、電子または電気機器と名の付くものの
多くがEMI規制の対象となっている。
おり、今日では、電子または電気機器と名の付くものの
多くがEMI規制の対象となっている。
EMIとしては、対象機器から空間に放射されて伝搬し
他の機器の動作に妨害を与える放射妨害と、電源ケーブ
ルやその他の外部接続ケーブルを伝わって他の機器の動
作に妨害を与える伝導妨害とがある。
他の機器の動作に妨害を与える放射妨害と、電源ケーブ
ルやその他の外部接続ケーブルを伝わって他の機器の動
作に妨害を与える伝導妨害とがある。
これらの電磁妨害のうち、放射妨害は、第2図に示すよ
うに、供試機器1を金属製のターンテーブル2の上の供
試機器設置台3に搭載して回転させ、一方、アンテナ4
を昇降装置5に取付けて上下させ、これによって、供試
機器1から輻射される濡洩電波の電界強度の水平および
垂直偏波成分の最大値を測定している。
うに、供試機器1を金属製のターンテーブル2の上の供
試機器設置台3に搭載して回転させ、一方、アンテナ4
を昇降装置5に取付けて上下させ、これによって、供試
機器1から輻射される濡洩電波の電界強度の水平および
垂直偏波成分の最大値を測定している。
放射妨害の測定サイトにおいては、地表面からの反射電
波の影響を一定にするために、鉄板または金網などの導
電性の平面を金属大地面6として設置し、その上にター
ンテーブル、アンテナ昇降機および測定器等を配置する
。
波の影響を一定にするために、鉄板または金網などの導
電性の平面を金属大地面6として設置し、その上にター
ンテーブル、アンテナ昇降機および測定器等を配置する
。
ターンテーブル上の供試機器は、卓上設置機器の場合金
属大地面から0.8〜1m、床上設置機器の場合金属大
地面上に絶縁して設置する。
属大地面から0.8〜1m、床上設置機器の場合金属大
地面上に絶縁して設置する。
ところで、このような放射妨害測定においては、ターン
テーブルと金属大地面は導電的な接続の外に高周波的に
完全に接続されていることが必要で、これが不完全な場
合、供試機器のEMI放射特性の変化および放射された
電磁界の擾乱等を生じ、測定の再現性および精度の確保
に重大な影響を及ぼすことになる。このために、従来の
技術では、ターンテーブルの周囲に複数のスライド式の
接触片を設け、これによってターンテーブルと金属大地
面を接続する方法がとられているが、この方式では高周
波的な接続が不充分で、さらに、経年変化に対する点検
・保守を必要とする等の不都合があった。
テーブルと金属大地面は導電的な接続の外に高周波的に
完全に接続されていることが必要で、これが不完全な場
合、供試機器のEMI放射特性の変化および放射された
電磁界の擾乱等を生じ、測定の再現性および精度の確保
に重大な影響を及ぼすことになる。このために、従来の
技術では、ターンテーブルの周囲に複数のスライド式の
接触片を設け、これによってターンテーブルと金属大地
面を接続する方法がとられているが、この方式では高周
波的な接続が不充分で、さらに、経年変化に対する点検
・保守を必要とする等の不都合があった。
[発明が解決しようとする訝題コ
この発明は、上述の従来技術における問題点に鑑みてな
されたもので、接続部の高周波特性の改善を計ると共に
、接続部の磨耗および点検・保守の必要性のないEMI
測定用ターンテーブルを提供することを目的とする。
されたもので、接続部の高周波特性の改善を計ると共に
、接続部の磨耗および点検・保守の必要性のないEMI
測定用ターンテーブルを提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するため、この発明では、EMI測定用
ターンテーブルにおいて、このターンテーブルに間隙を
おいて対向する接地用固定電極を設け、この電極とター
ンテーブルの間の静電容量を通してターンテーブルを高
周波的に金属大地面に接地することを特徴としている。
ターンテーブルにおいて、このターンテーブルに間隙を
おいて対向する接地用固定電極を設け、この電極とター
ンテーブルの間の静電容量を通してターンテーブルを高
周波的に金属大地面に接地することを特徴としている。
[作用および効果]
ターンテーブルはその回転軸を通して導線またはスライ
ド式接触片によって金属大地面に接続されるが、これだ
けでは必要とする高周波的な接続には不完全である。し
たがって、従来の技術では、ターンテーブルの周囲に複
数のスライド式の接触片を設け、これによって金属大地
面と最短距離で接続する方法がとられているが、この方
法でも高い周波数領域ではその波長に比へて接触部の長
さが無視できなくなって接触部の残留インダクタンスに
よる特性劣化を生ずる。また、この方式ではスライド接
触の部分がターンテーブルの回転に伴なって磨耗するた
め、良好な接触状態を保つために常に点検と保守を必要
とする。
ド式接触片によって金属大地面に接続されるが、これだ
けでは必要とする高周波的な接続には不完全である。し
たがって、従来の技術では、ターンテーブルの周囲に複
数のスライド式の接触片を設け、これによって金属大地
面と最短距離で接続する方法がとられているが、この方
法でも高い周波数領域ではその波長に比へて接触部の長
さが無視できなくなって接触部の残留インダクタンスに
よる特性劣化を生ずる。また、この方式ではスライド接
触の部分がターンテーブルの回転に伴なって磨耗するた
め、良好な接触状態を保つために常に点検と保守を必要
とする。
本発明は、上記のスライド式接触によるターンテーブル
の接地方式の代りに、ターンテーブルに間隔をおいて対
向させた固定電極を配置することにより、ターンテーブ
ルと固定電極間の静電容量を通して接地を行うものであ
る。
の接地方式の代りに、ターンテーブルに間隔をおいて対
向させた固定電極を配置することにより、ターンテーブ
ルと固定電極間の静電容量を通して接地を行うものであ
る。
この発明によれば、ターンテーブルは金属大地面に静電
容量結合により導線を経由せず直接接続されるため、高
い周波数領域まで特性が変化せず、さらに、非接触式の
ため磨耗部分がなく長期間安定な動作を確保することが
できる。
容量結合により導線を経由せず直接接続されるため、高
い周波数領域まで特性が変化せず、さらに、非接触式の
ため磨耗部分がなく長期間安定な動作を確保することが
できる。
[実施例]
以下、図面に基ついて、この発明の詳細な説明する。
第1図は、この発明の一実施例に係るEMI測足用足用
ターンテーブル成を示す。
ターンテーブル成を示す。
図において、11は円盤状の金属テーブル、12は外側
電極、13は内側N極、14は駆動ホイール、15は駆
動ローラ、16はモータである。
電極、13は内側N極、14は駆動ホイール、15は駆
動ローラ、16はモータである。
金属テーブル11は軸受17により水平面で回転自在に
支承されている。外側電極12はテーブル11の外縁を
立ち下げてテーブル11のスラスト軸を中心とする円筒
状にテーブル11と一体に形成さ−れている。内側電極
13は、外側電8i12より径の/11さな円筒状に形
成され、外側電8i12と間隙をおいて対向するよう外
側電極12の内側に同軸となるように8本のステー18
にネジ止めされている。各ステー18は底板19°にネ
ジ止めされている。円盤状のテーブル11、外側電極1
2、内制電8i13、ステー18および底板19は、い
ずれも金属製である。
支承されている。外側電極12はテーブル11の外縁を
立ち下げてテーブル11のスラスト軸を中心とする円筒
状にテーブル11と一体に形成さ−れている。内側電極
13は、外側電8i12より径の/11さな円筒状に形
成され、外側電8i12と間隙をおいて対向するよう外
側電極12の内側に同軸となるように8本のステー18
にネジ止めされている。各ステー18は底板19°にネ
ジ止めされている。円盤状のテーブル11、外側電極1
2、内制電8i13、ステー18および底板19は、い
ずれも金属製である。
このターンテーブルの使用時には、底板19が地表面に
敷設された金属大地面と接触するので、内側電極13は
、ステー18および底板19を介して接地されることに
なる。
敷設された金属大地面と接触するので、内側電極13は
、ステー18および底板19を介して接地されることに
なる。
この実施例においては、外側電極12と内側電極13と
のクリアランスを5mm、対向面積を0.5m’とした
。この場合、外側電極12と内側電極13との静電容量
は、計算上、約1000pFとなり、100MHzにお
ける接地インピーダンスは約1.6Ωとなる。
のクリアランスを5mm、対向面積を0.5m’とした
。この場合、外側電極12と内側電極13との静電容量
は、計算上、約1000pFとなり、100MHzにお
ける接地インピーダンスは約1.6Ωとなる。
駆動ホイール14は、内側電極13よりさらに内側に外
、側電極12と同軸となるように金属テーブル11に固
定されている。テーブル11の回転は、モータ16で駆
動ローラ15を介してこの駆動ホイール14を駆動する
ことにより行なわれる。
、側電極12と同軸となるように金属テーブル11に固
定されている。テーブル11の回転は、モータ16で駆
動ローラ15を介してこの駆動ホイール14を駆動する
ことにより行なわれる。
第2図のターンテーブル2として第1図の構成のものを
使用してEMI測定を行なったところ、測定値が安定で
再現性がよく、さらに、ターンテーブル2と金属大地面
6を金属シートで完全に接続した場合との測定値の差は
測定器で検知できない程僅少であり、ターンテーブルは
高周波的に完全に接地されていることが確認された。
使用してEMI測定を行なったところ、測定値が安定で
再現性がよく、さらに、ターンテーブル2と金属大地面
6を金属シートで完全に接続した場合との測定値の差は
測定器で検知できない程僅少であり、ターンテーブルは
高周波的に完全に接地されていることが確認された。
[実施例の変形例]
なお、上述の実施例においては、金属テーブル側電極を
外側電極とし、固定電極を内側電極とした例を示したが
、これらの電極の内外は逆にしてもよい。また、上述に
おいては、固定t8i接地用に金属ステーを用いたが、
外カバー20等を兼用することもで粗る。さらに、この
例では金属テーブル側1を極と固定電極とを同軸円筒状
に配置したが、金属テーブル側電極をテーブル面そのも
のとし、固定電極をこのテーブル面に対向する面、例え
ばテーブルと同心の円盤またはその一部で構成すること
もできる。
外側電極とし、固定電極を内側電極とした例を示したが
、これらの電極の内外は逆にしてもよい。また、上述に
おいては、固定t8i接地用に金属ステーを用いたが、
外カバー20等を兼用することもで粗る。さらに、この
例では金属テーブル側1を極と固定電極とを同軸円筒状
に配置したが、金属テーブル側電極をテーブル面そのも
のとし、固定電極をこのテーブル面に対向する面、例え
ばテーブルと同心の円盤またはその一部で構成すること
もできる。
第1図は、この発明の一実施例に係るEMT測定用ター
ンテーブルの構成を示す側断面図、第2図は、放射妨害
測定方法の説明図である。 1・供試機器 2:ターンテーブル 11:金属テーブル 12:外側電極(金属テーブル制電1)13:内側′を
極(固定電極) 特許出願人 株式会社アブラス 特許出願人 協立電子工業株式会社代理人 弁理士
伊 東 哲 也 代理人 弁理士 伊 東 辰 雄
ンテーブルの構成を示す側断面図、第2図は、放射妨害
測定方法の説明図である。 1・供試機器 2:ターンテーブル 11:金属テーブル 12:外側電極(金属テーブル制電1)13:内側′を
極(固定電極) 特許出願人 株式会社アブラス 特許出願人 協立電子工業株式会社代理人 弁理士
伊 東 哲 也 代理人 弁理士 伊 東 辰 雄
Claims (1)
- (1)供試機器から放射される電磁妨害信号を該供試機
器に対向させたアンテナで受信し測定する際、該供試機
器を搭載して所定の位置に保持し水平面内で回転する導
電性のターンテーブルと、該ターンテーブルを高周波的
に接地するために該テーブルと対向させ間隙をおいて配
置した固定電極と を具備することを特徴とするEMI測定用ターンテーブ
ル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27786390A JPH04155271A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | Emi測定用ターンテーブル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27786390A JPH04155271A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | Emi測定用ターンテーブル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04155271A true JPH04155271A (ja) | 1992-05-28 |
Family
ID=17589337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27786390A Pending JPH04155271A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | Emi測定用ターンテーブル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04155271A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008064704A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Ntt Docomo Inc | 測定対象物搭載装置、電磁界特性測定システム |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP27786390A patent/JPH04155271A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008064704A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-21 | Ntt Docomo Inc | 測定対象物搭載装置、電磁界特性測定システム |
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