JPH04155737A - 荷電粒子ビーム装置 - Google Patents
荷電粒子ビーム装置Info
- Publication number
- JPH04155737A JPH04155737A JP2279672A JP27967290A JPH04155737A JP H04155737 A JPH04155737 A JP H04155737A JP 2279672 A JP2279672 A JP 2279672A JP 27967290 A JP27967290 A JP 27967290A JP H04155737 A JPH04155737 A JP H04155737A
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- Japan
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- current
- coil
- optical axis
- charged particle
- scanning
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は安価な軸合わせ機構を備えた荷電粒子ビーム装
置に関する。
置に関する。
(従来の技術)
電子ビーム描画装置やイオンビーム描画装置等の荷電粒
子ビーム装置では、荷電粒子ビームの光軸と電子光学系
の光軸とを一致させる必要がある。
子ビーム装置では、荷電粒子ビームの光軸と電子光学系
の光軸とを一致させる必要がある。
第2図は光軸合わせ機構を具備した電子ビーム描画装置
の概略図を示したものである。図中1は電子銃、2a、
2bは二段のアライメントコイルで、共にX方向及びY
方向アライメントから成る。
の概略図を示したものである。図中1は電子銃、2a、
2bは二段のアライメントコイルで、共にX方向及びY
方向アライメントから成る。
3は制御装置、4は電流増幅回路、7X、7Y。
12はアンプ、5は集束レンズ、6は走査信号発生回路
、8X、8Yは夫々X方向走査用偏向器。
、8X、8Yは夫々X方向走査用偏向器。
Y方向走査用偏向器、9は材料、10はステージ、11
は2次電子検出器、13はブラウン管、14゜15は夫
々X方向走査用偏向器、Y方向走査用偏向器である。前
記材料9上には該材料の材質(例えば、シリコン)と異
なった材質(例えば、金)の十字状マークが蒸着等によ
り形成されている。
は2次電子検出器、13はブラウン管、14゜15は夫
々X方向走査用偏向器、Y方向走査用偏向器である。前
記材料9上には該材料の材質(例えば、シリコン)と異
なった材質(例えば、金)の十字状マークが蒸着等によ
り形成されている。
この様に構成された電子ビーム描画装置において、光軸
合わせは次の様にして行われる。
合わせは次の様にして行われる。
先ず、マークが電子ビーム光軸上に来る様にステージ1
0を移動させる。そして、制御装置3の指令に基づき、
電流増幅回路4から集束レンズ5に所定の励磁電流(最
適励磁電流)を流す事により、電子銃1からの電子ビー
ムを材料9上にフォーカスさせる。又、走査信号発生回
路6から、アンプ7Xを介して第3図(a)に示す様な
走査信号をX方向走査用偏向器8Xに、又、アンプ7Y
を介して第3図(b)に示す様な走査信号をY方向走査
用偏向器8Yに供給する。該各走査信号と供給により電
子ビームは前記マークを含む材料−の所定領域を走査す
る。該走査により該材料9メら発生した2次電子は2次
電子検出器11に検匙され、該2次電子に基づく信号は
アンプ12をプしてブラウン管11に供給される。この
際、該:ラウン管のX方向走査用偏向器14.Y方向走
1用偏向器15各々に、前記走査信号発生回路6ズら前
記X方向走査信号、Y方向走査信号が同期表で供給され
ているので、該ブラウン管13の画d上には、第4図に
示す様な十字状マークの像が1示される。
0を移動させる。そして、制御装置3の指令に基づき、
電流増幅回路4から集束レンズ5に所定の励磁電流(最
適励磁電流)を流す事により、電子銃1からの電子ビー
ムを材料9上にフォーカスさせる。又、走査信号発生回
路6から、アンプ7Xを介して第3図(a)に示す様な
走査信号をX方向走査用偏向器8Xに、又、アンプ7Y
を介して第3図(b)に示す様な走査信号をY方向走査
用偏向器8Yに供給する。該各走査信号と供給により電
子ビームは前記マークを含む材料−の所定領域を走査す
る。該走査により該材料9メら発生した2次電子は2次
電子検出器11に検匙され、該2次電子に基づく信号は
アンプ12をプしてブラウン管11に供給される。この
際、該:ラウン管のX方向走査用偏向器14.Y方向走
1用偏向器15各々に、前記走査信号発生回路6ズら前
記X方向走査信号、Y方向走査信号が同期表で供給され
ているので、該ブラウン管13の画d上には、第4図に
示す様な十字状マークの像が1示される。
この状態において、前記電流増幅回路4は、官記制御装
置3の指令に基づき、集束レンズ5にa給する励磁電流
を最適励磁電流から少し増減(くオブラと称し、この増
減電流をウォプラ電流と(う)する。この時、電子ビー
ムの光軸が、電子り学系の光軸から、例えば、X方向に
ずれているM合、前記ブラウン管6の画面上に表示され
るマークの像はX軸上で移動し、又、Y方向にずれて(
リ る場合、前記像はY軸上で移動する。
置3の指令に基づき、集束レンズ5にa給する励磁電流
を最適励磁電流から少し増減(くオブラと称し、この増
減電流をウォプラ電流と(う)する。この時、電子ビー
ムの光軸が、電子り学系の光軸から、例えば、X方向に
ずれているM合、前記ブラウン管6の画面上に表示され
るマークの像はX軸上で移動し、又、Y方向にずれて(
リ る場合、前記像はY軸上で移動する。
ヒ そこで、オペレーターは前記ブラウン管6に
表>1 示されるマーク像の移動が無くなる様に、
アライb メントコイル2g、:2bへの電流を調
整する。該l 調整により、像が移動しなくなれば、
光軸合わせl は終了する。
表>1 示されるマーク像の移動が無くなる様に、
アライb メントコイル2g、:2bへの電流を調
整する。該l 調整により、像が移動しなくなれば、
光軸合わせl は終了する。
k (発明が解決しようとする課題)11
さて、前記した様に、光軸合わせの為に集束レンズ5
に最適励磁電流の前後で少し増減する励磁d 電流を
電流増幅回路4から与えているが、この様ン な光
軸合わせの為には周波数特性の良い該電流増幅回路が望
まれる。
さて、前記した様に、光軸合わせの為に集束レンズ5
に最適励磁電流の前後で少し増減する励磁d 電流を
電流増幅回路4から与えているが、この様ン な光
軸合わせの為には周波数特性の良い該電流増幅回路が望
まれる。
ゴ 一方、通常、荷電粒子ビーム装置が本来の目的
((例えば、電子ビーム描画装置をパターン描画)r
に使用される場合、S/N比の良い電流増幅回路が
望まれる。しかし、通常の電流増幅回路は、周波数特性
が良ければS/N比は良くなく、逆に84 /N
が良ければ周波数特性が悪い。
((例えば、電子ビーム描画装置をパターン描画)r
に使用される場合、S/N比の良い電流増幅回路が
望まれる。しかし、通常の電流増幅回路は、周波数特性
が良ければS/N比は良くなく、逆に84 /N
が良ければ周波数特性が悪い。
しかしながら、実際上、光軸合わせの為に、電流増幅回
路4の周波数特性をある程度良くしなければならない。
路4の周波数特性をある程度良くしなければならない。
その為、S/N比が悪くなり、例えば、電子ビーム描画
装置では描画精度が低下する。又、若し、周波数特性と
S/N比が共に良い電流増幅回路を実現しようとすれば
、極めて複雑な構成となり、且つ極めて高価に付く。
装置では描画精度が低下する。又、若し、周波数特性と
S/N比が共に良い電流増幅回路を実現しようとすれば
、極めて複雑な構成となり、且つ極めて高価に付く。
本発明はこの様な問題を解決する事を目的としたもので
ある。
ある。
(課題を解決する為の手段)
その為に本発明は、レンズヨーク内に励磁用コイルとウ
ォプラ用コイルが別々に巻かれ、該夫々のコイルに別々
の電流増幅手段が繋がれて成る電磁レンズを荷電粒子ビ
ーム装置に備えた。
ォプラ用コイルが別々に巻かれ、該夫々のコイルに別々
の電流増幅手段が繋がれて成る電磁レンズを荷電粒子ビ
ーム装置に備えた。
(実施例)
第1図は本発明の要部の一実施例として示した集束レン
ズの概略図を示したものである。図中16はレンズヨー
クで、該レンズヨーク内には励磁用コイル17とウォプ
ラ用コイル18が巻かれている。該ウォプラ用コイルの
巻数は励磁用コイルに比べ極めて少ない。又、19.2
0は電流増幅回路である。該前者の電流増幅回路19は
後者の電流増幅回路20に比べ、周波数特性は可成悪い
が、S/N比が可成良いものを用いる。逆に、後者の電
流増幅回路20は前者の電流増幅回路19に比べ、S/
N比は可成悪いが周波数特性は可成良いものを用いる。
ズの概略図を示したものである。図中16はレンズヨー
クで、該レンズヨーク内には励磁用コイル17とウォプ
ラ用コイル18が巻かれている。該ウォプラ用コイルの
巻数は励磁用コイルに比べ極めて少ない。又、19.2
0は電流増幅回路である。該前者の電流増幅回路19は
後者の電流増幅回路20に比べ、周波数特性は可成悪い
が、S/N比が可成良いものを用いる。逆に、後者の電
流増幅回路20は前者の電流増幅回路19に比べ、S/
N比は可成悪いが周波数特性は可成良いものを用いる。
そして、この様に構成された集束レンズを前記第2図に
示す如き電子ビーム描画装置の集束レンズとして用いる
。この場合、光軸合わせを行う時だけ、前記電流増幅回
路20からウォプラ用コイル18にウォプラ用電流が流
れる様に、制御装置3は前記電流増幅回路20を作動さ
せる。
示す如き電子ビーム描画装置の集束レンズとして用いる
。この場合、光軸合わせを行う時だけ、前記電流増幅回
路20からウォプラ用コイル18にウォプラ用電流が流
れる様に、制御装置3は前記電流増幅回路20を作動さ
せる。
さて、光軸合わせを行う場合、前記した様に、制御装置
3の指令に基づき電流増幅回路19から励磁コイル17
に最適励磁電流を流し、電子銃1からの電子ビームを材
料9上にフォーカスさせる。
3の指令に基づき電流増幅回路19から励磁コイル17
に最適励磁電流を流し、電子銃1からの電子ビームを材
料9上にフォーカスさせる。
そして前記した様に、マークを含む材料上の所定領域を
走査して、ブラウン管画面上にマーク像を表示させる。
走査して、ブラウン管画面上にマーク像を表示させる。
この状態において、制御装置if3の指令により電流増
幅回路20からウォプラ用コイル18にウォプラ電流が
供給される。電子ビームの光軸が、電子光学系の光軸か
ら、例えば、X方向にずれている場合、前記ブラウン管
6の画面上に表示されるマークの像はX軸上で移動し、
又、光軸からY方向にずれている場合、前記像はY軸上
で移動する。
幅回路20からウォプラ用コイル18にウォプラ電流が
供給される。電子ビームの光軸が、電子光学系の光軸か
ら、例えば、X方向にずれている場合、前記ブラウン管
6の画面上に表示されるマークの像はX軸上で移動し、
又、光軸からY方向にずれている場合、前記像はY軸上
で移動する。
そこで、オペレーターは、前記ブラウン管6に表示され
るマークの像の移動が無くなる様に、アライメントコイ
ル2a、 2bへの電流を調整する。
るマークの像の移動が無くなる様に、アライメントコイ
ル2a、 2bへの電流を調整する。
該調整により、該像が移動しなくなれば光軸合わせは終
了する。
了する。
該光軸合わせが終了した後、電子ビーム描画装置本来の
使用目的、即ち材料上へのパターン描画の為に装置を作
動させる。この時には、前記電流増幅回路20は作動さ
せない。
使用目的、即ち材料上へのパターン描画の為に装置を作
動させる。この時には、前記電流増幅回路20は作動さ
せない。
尚、本発明はイオンビームを用いた描画装置や電子顕微
鏡等の光軸合わせにも応用可能である。
鏡等の光軸合わせにも応用可能である。
(効果)
本発明は、電磁レンズヨーク内に励磁用コイルとウォプ
ラ用コイルを別々に巻き、譲与々のコイルに専用の電流
増幅手段から夫々励磁用電流、ウォプラ用電流を供給出
来る様に成した。その為、ウォプラ専用の電流増幅手段
として、S/N比が良くなくても周波数特性の良い安価
なものが使用できる。又、励磁用の電流増幅手段として
、周波数特性が良くなくてもS/N比の良い安価なもの
が使用できる。従って、費用がかからずに、正確な光軸
合わせと、荷電粒子ビーム装置の本来の使用目的(例え
ば、描画装置はパターン描画、電子顕微鏡は材料観察等
)を高精度に実現できる。
ラ用コイルを別々に巻き、譲与々のコイルに専用の電流
増幅手段から夫々励磁用電流、ウォプラ用電流を供給出
来る様に成した。その為、ウォプラ専用の電流増幅手段
として、S/N比が良くなくても周波数特性の良い安価
なものが使用できる。又、励磁用の電流増幅手段として
、周波数特性が良くなくてもS/N比の良い安価なもの
が使用できる。従って、費用がかからずに、正確な光軸
合わせと、荷電粒子ビーム装置の本来の使用目的(例え
ば、描画装置はパターン描画、電子顕微鏡は材料観察等
)を高精度に実現できる。
第1図は本発明の要部の一実施例として示した集束レン
ズの概略図、第2図は電子ビーム描画装置の概略図、第
3図は走査信号の波形を示したもの、第4図はブラウン
管に表示される像を示したものである。 1・・・電子銃、2a、2b・・・アライメントコイル
、3・・・制御装置、4,17.18・・・電流増幅回
路、5・・・集束レンズ、6・・・走査信号発生回路、
7X。 7Y、12・・・アンプ、8X・・・X方向走査用偏向
器、8Y・・・Y方向走査用偏向器、9・・・材料、1
0・・・ステージ、11・・・2次電子検出器、13・
・・ブラウン管、14・・・X方向走査用偏向器、15
・・・Y方向走査用偏向器、16・・・レンズヨーク、
17・・・励磁用コイル、18ウオブラ用コイル、19
.20・・・電流増幅回路 特許出願人 日本電子株式会社 rli げ−刀
ズの概略図、第2図は電子ビーム描画装置の概略図、第
3図は走査信号の波形を示したもの、第4図はブラウン
管に表示される像を示したものである。 1・・・電子銃、2a、2b・・・アライメントコイル
、3・・・制御装置、4,17.18・・・電流増幅回
路、5・・・集束レンズ、6・・・走査信号発生回路、
7X。 7Y、12・・・アンプ、8X・・・X方向走査用偏向
器、8Y・・・Y方向走査用偏向器、9・・・材料、1
0・・・ステージ、11・・・2次電子検出器、13・
・・ブラウン管、14・・・X方向走査用偏向器、15
・・・Y方向走査用偏向器、16・・・レンズヨーク、
17・・・励磁用コイル、18ウオブラ用コイル、19
.20・・・電流増幅回路 特許出願人 日本電子株式会社 rli げ−刀
Claims (1)
- レンズヨーク内に励磁用コイルとウォプラ用コイルが別
々に巻かれ、該夫々のコイルに別々の電流増幅手段が繋
がれて成る電磁レンズを備えた荷電粒子ビーム装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2279672A JPH04155737A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 荷電粒子ビーム装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2279672A JPH04155737A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 荷電粒子ビーム装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04155737A true JPH04155737A (ja) | 1992-05-28 |
Family
ID=17614257
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2279672A Pending JPH04155737A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 荷電粒子ビーム装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04155737A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11312485A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Nikon Corp | 荷電粒子線写像投影光学系及びその調整方法 |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP2279672A patent/JPH04155737A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11312485A (ja) * | 1998-04-28 | 1999-11-09 | Nikon Corp | 荷電粒子線写像投影光学系及びその調整方法 |
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