JPH04159740A - チップのボンディング方法 - Google Patents

チップのボンディング方法

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Publication number
JPH04159740A
JPH04159740A JP2286210A JP28621090A JPH04159740A JP H04159740 A JPH04159740 A JP H04159740A JP 2286210 A JP2286210 A JP 2286210A JP 28621090 A JP28621090 A JP 28621090A JP H04159740 A JPH04159740 A JP H04159740A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrodes
substrate
chip
base material
intermediate base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2286210A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahide Koyama
賢秀 小山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2286210A priority Critical patent/JPH04159740A/ja
Publication of JPH04159740A publication Critical patent/JPH04159740A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/60Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
    • H10W70/62Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
    • H10W70/65Shapes or dispositions of interconnections
    • H10W70/654Top-view layouts
    • H10W70/655Fan-out layouts
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/721Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors
    • H10W90/724Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bump connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はチップのボンディング方法に係り、チップに形
成された電極と、基板に71−リクス状に形成された電
極を、中間基材を介してバンプ手段によりボンディング
するための方法に関する。
(従来の技術) ICやLSIなどのチップの電極は、高集積化の要請か
ら、益々多数且つ狭ピッチ化しており、チ・ノブによっ
ては、電極の数は数100以」二にも達することから、
チップの電極を基板の電極に合致させてボンディングす
ることは次第に困難になってきている。
このよ・うな問題を解決するために、チップを中間基材
を介して、基板にボンディングすることが知られている
第4図はその従来手段を示すものであって、100はチ
ップ、101は中間基材、]02は基板である。この手
段は、チップ100の電極と中間基材101の電極をリ
ード103やワイヤにより接続した後、中間基材101
の下面に71−リクス状に植設されたピン104を、基
板102にマトリクス状に開孔されたビン孔105に挿
着するようになっている。106はビン104をビン孔
105に固定するための半田である。
(発明が解決しようとする課題) ところが上記従来手段は、ピン104の剛性確保の為に
、かなり大きなビン径dか必要であり、しかも半田10
6を十分に塗4】シておかねばならないため、半田径り
もかなり大きなものとなる。このため、中間J、tlJ
101の寸法はかなり大きくならざるを得す、小形コン
バクI・化には限界があった。
そこで本発明は、チップを中間144を介してコンパク
トに基板にボンディングできる手段を桿(共することを
目的とする。
(課題を解決するための手段) 本発明は、チップに形成された電極を、基板に71〜リ
クス状に形成された電極にボンディングするにあたり、 −1−記チップの電極を、中間、14.Hの表面に形成
された電極にバンプ手段によりボンディングする工程と
、この中間基材の裏面に」−記基板の電極を同一・ピッ
チで7トリクス状に形成された電極と、」−記基板の電
極にバンプ手段によりボンディングする工程とを組み合
わせ、 上記2回のバンプ手段におけるバンプの融点に差異を付
与したものである。
(作用) 上記構成において、例えばチップの電極を第1回目のバ
ンプ手段により中間基材の電極にボンディングし、次い
で中間基材の電極を、第2回目のバンプ手段により基板
の電極にボンディングするが、第2回目のバンプ手段の
バンプの融点を、第1回目のバンプ手段のバンプの融点
よりも低くしておくことにより、先にボンディングした
第1回目のバンプが、後の第2回目のバンプ手段の加熱
により悪影響を受けることはなく、電極同士を確実にボ
ンディングできる。
(実施例) 次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。
第1図において、1ばチップ、2は中間基材、3は基板
である。チップ1の下面には、電極4がデツプ1の側縁
部に沿って千鳥状に形成されている。また中間基材2の
表面には、チップ1の電極4に対応するように、電極5
が千鳥状に形成されている。また中間基材2の裏面には
、電極6がマトリクス状に形成されており、また基板3
の上面には、この電極6に対応する電極7が同一ビノヂ
でマトリクス状に形成されている。
第2図は、第1回目のバンプ手段によるボンディングを
示している。11はバンプであり、チップ1の電極4と
、中間基材2の電極5をボンディングしている。12は
電極5の表面に形成された半田である。本実施例では、
チップ1の電極4に、ワイヤボンディング手段によりバ
ンプ11を形成し、このバンプ11を中間基材2の電極
5に着地させる。次いで加熱手段により、バンプ】1や
、電極5」二の半田12を加熱して溶融させ、電極4と
電極5をボンディングする。
第3図は、第2回目のバンプ手段によるボンディングを
示している。13はバンプであり、中間基H’2の電極
6と、基板3の電極7をボンディングしている。14は
電極7の表面に形成された半田である。本実施例では、
中間基材2の電極6に、ワイヤボンディング手段により
バンプ13を形成し、このバンプ13を電極7に着地さ
せたうえで、加熱手段によりバンプ13と半田14を?
容融さセてボンディングする。15は中間基材2の表面
の電極5と裏面の電極6を接続する導電材である。
ここで、バンプ13の融点ば、バンプ11の融点よりも
低くしである。すなわち、バンプ11により電極4と電
極5をボンディングした後、バンプ13により、電極6
と電極7をボンディングするごとから、先にボンディン
グされたバンプ11は、再度加熱されることとなるが、
ごのバンプ11の融点が、バンプ13の融点と同等若し
くはこれよりも低いと、第2回目の加熱処理により、こ
のバンプ11は再度溶融してしまい、その溶出によりバ
ンプ11同士が短絡するなどの悪影害を受ける。そこで
−1−記のように融点を設定することにより、このよう
な不都合が生しないようにしている。勿論、電極6と電
極7をバンブ13により先にボンディングし、その後で
、電極4と電極5をバンプ11によりボンディングする
場合は、バンプ11の融点をバンプ13の融点よりも低
くする。
バンプ13は、上記従来手段の半田106の外径よりも
かなり小さくすることが可能であり、したがって上記手
段によれば、中間基材2の寸法をより小さくして、チッ
プ1を基板3にコンパクトにボンディングできる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、上記チップの電極を、中
間基材の表面に形成された電極にバンプ手段によりボン
ディングする工程と、この中間基土オの裏面に上記基板
の電極と同一ピッチでマI・リクス状に形成された電極
を、上記基板の電極にバンプ手段によりボンディングす
る工程とを組み合わせ、 」上記2回のバンプ手段におけるバンプの融点に差異を
付与しているので、中間基材の寸法を小さくし、チップ
をコンパクトに基板にボンディングすることができる。
【図面の簡単な説明】
図は本発明の実施例を示すものであって、第1図は全体
斜視図、第2図は第1回目のボンディングの側面図、第
3図は゛第2回目のボンディングの側面図、第4図は従
来手段のボンディングの側面図である。 1・・・チップ 2・・・中間基材 3・・・基板 4.5.6.7・・・電極 11.13・・・バンプ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 チップに形成された電極を、基板にマトリクス状に形成
    された電極にボンディングするにあたり、 上記チップの電極を、中間基材の表面に形成された電極
    にバンプ手段によりボンディングする工程と、この中間
    基材の裏面に上記基板の電極と同一ピッチでマトリクス
    状に形成された電極を、上記基板の電極にバンプ手段に
    よりボンディングする工程とを組み合わせ、上記2回の
    バンプ手段におけるバンプの融点に差異を付与したこと
    を特徴とするチップのボンディング方法。
JP2286210A 1990-10-23 1990-10-23 チップのボンディング方法 Pending JPH04159740A (ja)

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JP2286210A JPH04159740A (ja) 1990-10-23 1990-10-23 チップのボンディング方法

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JP2286210A JPH04159740A (ja) 1990-10-23 1990-10-23 チップのボンディング方法

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JPH04159740A true JPH04159740A (ja) 1992-06-02

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ID=17701397

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2286210A Pending JPH04159740A (ja) 1990-10-23 1990-10-23 チップのボンディング方法

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JP (1) JPH04159740A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004282072A (ja) 2003-03-14 2004-10-07 General Electric Co <Ge> インタポーザ、インタポーザパッケージ、及びそれらを使用したデバイス組立体

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004282072A (ja) 2003-03-14 2004-10-07 General Electric Co <Ge> インタポーザ、インタポーザパッケージ、及びそれらを使用したデバイス組立体

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