JPH04166790A - 走査光学系 - Google Patents

走査光学系

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JPH04166790A
JPH04166790A JP29340590A JP29340590A JPH04166790A JP H04166790 A JPH04166790 A JP H04166790A JP 29340590 A JP29340590 A JP 29340590A JP 29340590 A JP29340590 A JP 29340590A JP H04166790 A JPH04166790 A JP H04166790A
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JP
Japan
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light
optical system
reflected
scanning optical
light receiving
Prior art date
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Pending
Application number
JP29340590A
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English (en)
Inventor
Ryoji Musashi
武蔵 良二
Ikuo Ishinabe
郁夫 石鍋
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、反射対象物を垂直方向、水平方向に走査して
、反射対象物に光波測距装置本体を自動追尾させる自動
追尾型光波測距装置に用いるのに好適の走査光学系に関
する。
(従来の技術) 従来から、走査光学系には、その投光系から走査光束を
出射させて反射対象物を走査し、その反射対象物による
反射光束を受光系により受光する構成のものが知られて
いる。この従来の走査光学系の投光系と受光系とは別々
に構成されている。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、反射対象物としてのコーナーキューブを
垂直方向、水平方向に走査して、反射対象物に測距装置
本体を自動追尾させる自動追尾型光波測距装置等に走査
光学系を搭載する場合には、走査光学系の投光系と受光
系とが別々に構成されていると、その反射対象物により
反射された反射光束が必ずしも受光系に戻ってくるとは
限らず、反射対象物により反射された反射光束を効率的
に受光できないおそれがある。
本発明は、上記の事情に鑑みて為されたもので、その目
的とするところは、その反射対象物からの反射光束を確
実にかつ効率よく受光することのできる走査光学系を提
供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明に係わる走査光学系は、上記の課題を解決するた
め、反射対象物に向けて平行光束を出射して該反射対象
物を走査する投光系と、前記反射対象物からの反射光束
を受光する受光系とを備え、該受光系には集光レンズが
設けられ、該集光レンズにはその先軸と同軸の貫通孔が
形成され、前記受光系には前記投光系の光軸を前記集光
レンズの光軸と同軸にするための反射部材が設けられ、
前記平行光束は前記貫通孔を通って前記反射対象物に向
けて出射されることを特徴とする。
(作用) 本発明に係わる走査光学系によれば、投光系から出射さ
れる平行光束は反射部材により受光系の集光レンズの光
軸と同軸にされる。そして、その集光レンズに形成され
た貫通孔を通って反射対象物に導かれ、その反射対象物
が走査される。その反射対象物からの反射光束は受光系
に受光される。
(実施例) 以下に、本発明に係わる走査光学系を自動追尾屋光波測
距装置に適用した実施例を図面を参照しつつ説明する。
第1図において、1は測量台、2は濁点に設置の反射対
象物としてのコーナーキューブである。
測量台1はたとえば船舶の甲板などに設置されている。
この測量台1には光波測距装置が据え付けられている。
この光波測距装置3は固定台4と水平回動部5とを有す
る。水平回動部5は、第2図に示すように固定台4に対
して矢印A方向に回転され、支持部6を有する。支持部
6には垂直方向回動軸7が設けられ、垂直方向回動軸7
には測距装置本体8が設けられている。測距装置本体8
は、水平回動部5の回転により水平方向に回動されると
共に、垂直方向回動軸7の回転により第1図に矢印Bで
示すように垂直方向に回転される。
その測距装置本体8には、測距光学系9と走査光学系1
0とが設けられている。この測距光学系9は第3図に概
略示すように投光系11と受光系12とを有する。投光
系11はレーザー光源13を有する。受光系12は受光
素子14を有する。
レーザー光源13は赤外レーザー光波を出射する。
その赤外レーザー光波はビームスプリッタ15のダイク
ロイックミラー16により対物レンズ17に向けて反射
され、カバーガラス18を介して測距装置本体8から平
面波として出射される。
赤外レーザー光波はコーナーキューブ2により反射され
、カバーガラス18を介して対物レンズ17に戻り、ビ
ームスプリッタ15のダイクロイックミラー19により
反射され、受光素子14に収束される。その受光索子1
4の受光出力は、図示を略す公知の計測回路に入力され
、コーナーキューブ2までの距離が測距される。この測
距光学系9は結像レンズ20、レチクル板21を有して
おり、可視光は対物レンズ17、ダイクロイックミラー
16.19を通過して、結像レンズ20に至り、レチク
ル板21に収束され、測定者は接眼レンズ22を介して
コーナーキューブ2を含めて測点箇所を視認できる。
走査光学系10は第4図に示すようにレーザーダイオー
ド23、コリメータレンズ24、水平方向偏向素子25
、垂直方向偏向素子26、反射プリズム27.28.2
9、集光レンズ30.  カバーガラス31、反射プリ
ズム32、ノイズ光除去用フィルタ33、受光素子34
を有する。レーザーダイオード23、コリメータレンズ
24、水平方向偏向素子25、垂直方向偏向素子26、
反射プリズム27.28.29は投光系10Aを大略構
成している。また、集光レンズ30、反射プリズム32
、ノイズ光除去用フィルタ33、受光素子34は受光系
10Eを大略構成している。水平方向偏向素子25、垂
直方向偏向素子26は例えば音響光学素子から構成され
ている。
レーザーダイオード23は測距光学系9の測距光波とは
異なる波長の赤外レーザー光を出射する。
その赤外レーザー光は、コリメータレンズ24により平
行光束にされ、水平方向偏向素子25に導かれる。この
水平方向偏向素子25は第5図に示すように赤外レーザ
ー光を水平方向Hに偏向させる機能を有する。垂直方向
偏向素子26は赤外レーザー光を垂直方向■に偏向させ
る機能を有する。
その赤外レーザー光は水平方向偏向素子25、垂直方向
偏向素子26により水平方向H1垂直方向Vに偏向され
て反射プリズム27に導かれ、この反射プリズム27に
より反射され、反射プリズム28を経由して反射プリズ
ム29に導かれる。
反射プリズム29は、投光系10Aの光軸を集光レンズ
30の光軸と同軸にするための反射部材として機能し、
赤外レーザー光はその反射プリズム29により反射され
て集光レンズ30に導かれる。
集光レンズ30には貫通孔35がその集光レンズ3oの
光軸○と同軸に形成されている0反射プリズム29によ
り反射された赤外レーザー光Pはその貫通孔35を通っ
て測距装置本体8の外部に出射され、コーナーキューブ
2の走査が行われる。
コーナーキューブ2の走査は、第6図に示すように水平
方向Hにまず走査を行い、次に、垂直方向■に偏向させ
ながら水平方向Hに走査するという手順によって行われ
る。この第6図において、符号36はその赤外レーザー
光Pのコーナーキューブ2を含む面内でのビームスポッ
トである。このビームスポット36は第7図に示すよう
にその強度分布I(36)がガウシアン分布となってい
るため、コーナーキューブ2が第6図に示すように走査
線りと走査線り一との間に位置するような場合には、そ
の反射光束がほとんど得られないおそれがあり、そこで
、この実施例では、第8図に示すように、ビームスポッ
ト36が垂直方向■の偏向に対して互いに重なり合うよ
うに垂直方向偏向素子26を制御するものとなっている
今、第7図に示すように、ビームスポット36の直径を
2ω、垂直方向Vの走査線りの間隔(垂直方向のスキャ
ニングステップ)をSとすると、ビームスポット36に
よる強度I (38L  ビームスポット37による強
度I (37L  ビームスポット36とビームスポッ
ト37との重なり合い部38の強度I(38)は、それ
ぞれ、I (36)=I@EXP (−2ρ2/ω2)
I (37) −It+EXP (−2(ρ−8)2/
ω2)I (38)=IsEXP (−82/2ω2)
で表される。
なお、Illはビームスポットのピーク強度である。
従って、強度I(38)を1例えば後述の意味を有する
係数Kを用いて、強度I (38)5強度(1/K)X
Isを満足するようにスキャニングステップSを設計す
るときには、 I sE X P (S 2/ 2ω2)≧(1/K)
XIeの不等式を自然対数変換して、 ln[: I s EXP(−82/ 2 ω2)]≧
ln[(1/ K ) X I @]を計算する。
この式を変形すると、 1nIs+(S2/ 2 (132)≧in (1/ 
K) +lr+4 sよって、S2/2ω2≦1nK 従って、 (S−ωX (21nK)−”2)(S+ ωX (2
1nK)−172)≦0この式から、S≦ωX (21
nK) −172という関係式が求められ、スキャニン
グステップSを決定することができる。なお、係数には
、をピーク強度■0に対する重なり合い部38のピーク
強度を決定するための定数で、K≦3以内であれば十分
である。これによって、ビームスポット36とビームス
ポット37との重なり合い部38の強度■(38)をピ
ーク強度IOの1/3以上に確保できる。
コーナーキューブ2からの反射光束は、集光レンズ30
に戻り、この集光レンズ30により収束され、反射プリ
ズム32により反射され、ノイズ光除去用フィルター3
3を通過して受光素子34に結像される。ノイズ光除去
用フィルター33は赤外レーザー光の波長と同一波長の
光を透過させる機能を有する。
この走査光学系10によれば、投光系10Aと受光系1
0Bとの光軸が同軸であるので、コーナーキューブ2に
より反射された赤外レーザー光を効率よく確実に受光で
きるメリットがある。また、ノイズ光除去用フィルター
33を設けであるので、赤外レーザー光の波長以外の波
長の光が受光素子34に入射するのを防止できる。
(発明の効果) 本発明に係わる走査光学系は、以上説明したように、走
査光学系の投光系と受光系とを同軸に形成したので、そ
の反射対象物からの反射光束を確実にかつ効率よく受光
することができる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる走査光学系を適用した自動追尾
型光波測距装置の概略構成を示す側面図、第2図は本発
明に係わる走査光学系を適用した自動追尾型光波測距装
置の概略構成を示す平面図第3図は第1図に示す測距光
学系の概略構成を示す光学図、 第4図は第1図に示す走査光学系の詳細構成図、第5図
は第4図に示す走査光学系による偏向を模式的に説明す
るための説明図、 第6図は本発明に係わる走査光学系の走査の一例を示す
模式図、 第7図はビームスポットの垂直方向の重なりを説明する
ための模式図、 第8図は垂直方向にビームスポットを重なり合わせて走
査を行う場合の説明図、 である。 2・・・コーナーキューブ(反射対象物)10・・・走
査光学系、IOA・・・投光系10B・・・受光系、2
9・・・反射プリズム(反射部材)30・・・集光レン
ズ、35・・・貫通孔0・・・光軸、P・・・赤外レー
ザー光(平行光束)龜ム

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 反射対象物に向けて平行光束を出射して該反射対象物を
    走査する投光系と、前記反射対象物からの反射光束を受
    光する受光系とを備え、該受光系には集光レンズが設け
    られ、該集光レンズにはその光軸と同軸の貫通孔が形成
    され、前記受光系には前記投光系の光軸を前記集光レン
    ズの光軸と同軸にするための反射部材が設けられ、前記
    平行光束は前記貫通孔を通つて前記反射対象物に向けて
    出射されることを特徴とする走査光学系。
JP29340590A 1990-10-29 1990-10-29 走査光学系 Pending JPH04166790A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29340590A JPH04166790A (ja) 1990-10-29 1990-10-29 走査光学系

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29340590A JPH04166790A (ja) 1990-10-29 1990-10-29 走査光学系

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JPH04166790A true JPH04166790A (ja) 1992-06-12

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ID=17794348

Family Applications (1)

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JP29340590A Pending JPH04166790A (ja) 1990-10-29 1990-10-29 走査光学系

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