JPH04167010A - 電流源回路 - Google Patents
電流源回路Info
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- JPH04167010A JPH04167010A JP2293923A JP29392390A JPH04167010A JP H04167010 A JPH04167010 A JP H04167010A JP 2293923 A JP2293923 A JP 2293923A JP 29392390 A JP29392390 A JP 29392390A JP H04167010 A JPH04167010 A JP H04167010A
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- current source
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Amplifiers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電流源回路とくに温度比例型の基準電流源回
路に関する。
路に関する。
[従来の技術]
電源電圧に依存しない電流源回路は、アナログ回路にお
ける基準電流源回路として頻繁に使用される。
ける基準電流源回路として頻繁に使用される。
第5図は一般的な基準電流源回路を示す図である。第5
図のQl、Q2はPNPNPN型バイポーラトランジス
タ下PNPトランジスタと略称する)であり、Q3.Q
4はNPN型バイポーラトランジスタ(以下NPNトラ
ンジスタと略称する)である。またRは抵抗である。
図のQl、Q2はPNPNPN型バイポーラトランジス
タ下PNPトランジスタと略称する)であり、Q3.Q
4はNPN型バイポーラトランジスタ(以下NPNトラ
ンジスタと略称する)である。またRは抵抗である。
上記の回路は次の様に作動する。NPN)ランジスタQ
3のコレクタ電流およびPNP l−ランジスタQ2の
コレクタ電流を共に15とする。そうすると、NPN
)ランジスタQ3.Q4のベース電位VBは次式で表さ
れる。
3のコレクタ電流およびPNP l−ランジスタQ2の
コレクタ電流を共に15とする。そうすると、NPN
)ランジスタQ3.Q4のベース電位VBは次式で表さ
れる。
VB −VT (l n 15 / Is
−(1)ただし、 VT:kT/g IS :逆方向飽和電流 T :絶対温度 k :ボルツマン定数 g :電子の電荷 またvBは次式の様にも表せる。
−(1)ただし、 VT:kT/g IS :逆方向飽和電流 T :絶対温度 k :ボルツマン定数 g :電子の電荷 またvBは次式の様にも表せる。
VB−(VTNn 15/n1s) +R−15・・
(2) ただし上記nは、NPN トランジスタQ3のエリアフ
ァクタである。前記(1)(2)式より、基準電流I5
は次式の様になる。
(2) ただし上記nは、NPN トランジスタQ3のエリアフ
ァクタである。前記(1)(2)式より、基準電流I5
は次式の様になる。
15−VTIn −n/R−(3)
上記(3)式より、基準電流■5は抵抗RとNPNトラ
ンジスタQ3とのエリアファクタnによって決定される
。
ンジスタQ3とのエリアファクタnによって決定される
。
[発明か解決しようとする課題]
第5図に示す回路を集積回路(以下ICと略称する)化
した場合、抵抗Rの値やNPN )ランジスタQ3のエ
リアファクタnは固定される。このため上記(3)式に
より決定される基準電流I5を、必要に応じて変更する
ことができないという不具合がある。また電流値を変更
するには回路を再設計する必要かあり、それに要する時
間や費用が増大する。
した場合、抵抗Rの値やNPN )ランジスタQ3のエ
リアファクタnは固定される。このため上記(3)式に
より決定される基準電流I5を、必要に応じて変更する
ことができないという不具合がある。また電流値を変更
するには回路を再設計する必要かあり、それに要する時
間や費用が増大する。
本発明の目的は、基準電流源の電流値を必要に応して任
意に変更設定することがi+J能な電流源回路を提供す
ることにある。
意に変更設定することがi+J能な電流源回路を提供す
ることにある。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決し目的を達成するために、本発明では次
のような手段を講じた。
のような手段を講じた。
基準電流の設定値を変更可能にするために、抵抗に電流
を注入し、かつ基準電流と相関のある電流源と、上記電
流源の電流を最低電位端子にバイパスするためのスイッ
チと、このスイッチが閉じた状態のとき、電流を逆流さ
せないためのダイオードとを備えるようにした。
を注入し、かつ基準電流と相関のある電流源と、上記電
流源の電流を最低電位端子にバイパスするためのスイッ
チと、このスイッチが閉じた状態のとき、電流を逆流さ
せないためのダイオードとを備えるようにした。
第1図は本発明の概念図である。第1図において、第5
図と同一部分には同一符号を付しである。
図と同一部分には同一符号を付しである。
Ql、Q2はPNPトランジスタてあり、Q3゜Q4は
NPN)ランジスタであり、Rは抵抗であり、nはNP
N )ランジスタQ3のエリアファクタである。上記各
素子Ql、Q2.Q3.Q4゜Rにより、基本的な基準
電流源回路10が構成される。またDlは逆流阻止用の
ダイオードであり、SWIはスイッチであり、11は前
記基4電流Iとの相関のある電流11を流す電流源であ
る。
NPN)ランジスタであり、Rは抵抗であり、nはNP
N )ランジスタQ3のエリアファクタである。上記各
素子Ql、Q2.Q3.Q4゜Rにより、基本的な基準
電流源回路10が構成される。またDlは逆流阻止用の
ダイオードであり、SWIはスイッチであり、11は前
記基4電流Iとの相関のある電流11を流す電流源であ
る。
本発明では上記基準電流源回路10のNPN トランジ
スタQ3のエミッタとダイオードD1のカソードとを接
続点3で接続している。また、ダイオードD1のアノー
ドと電流源11の一端とスイッチSWIの片方の端子と
を接続点4で接続している。スイッチSW1のもう一方
の端子はGND端子2と接続されている。
スタQ3のエミッタとダイオードD1のカソードとを接
続点3で接続している。また、ダイオードD1のアノー
ドと電流源11の一端とスイッチSWIの片方の端子と
を接続点4で接続している。スイッチSW1のもう一方
の端子はGND端子2と接続されている。
次に上記のように接続された回路における基準電流Iに
ついて説明する。
ついて説明する。
(a)スイッチSWIが閉じた状態の場合電流Ifはす
べてGND端子2へ流れるので、第1図の回路は基準電
流源回路1oのみの場合と等価になる。したがってこの
場合の基準電流Iは(3)式より 1−VT II n −n/R−(4)となる。
べてGND端子2へ流れるので、第1図の回路は基準電
流源回路1oのみの場合と等価になる。したがってこの
場合の基準電流Iは(3)式より 1−VT II n −n/R−(4)となる。
(b)スイッチSWIが開いた状態の場合NPN )ラ
ンジスタQ3及びQ4のヘース電位をVBBとすると、
VBBは次のように表せる。
ンジスタQ3及びQ4のヘース電位をVBBとすると、
VBBは次のように表せる。
VBB−VTI) n ・ 1/Is
−(5)またVBBは次のように
も表せる。
−(5)またVBBは次のように
も表せる。
VBB−(VTNn ・IIIs ) 十R(1+II
)・・・(6) ここで 11 −ml
・・・ (7)とすると、(5)(6)(7)式よ
り、基準電流工は次式で表される。
)・・・(6) ここで 11 −ml
・・・ (7)とすると、(5)(6)(7)式よ
り、基準電流工は次式で表される。
1−VT I n −n/ (m+1) R−(8)[
作用] 上記手段を講じたことにより次のような作用が生じる。
作用] 上記手段を講じたことにより次のような作用が生じる。
電流源11から抵抗RとNPN )ランジスタQ3のエ
ミッタとの接続点3に電流を注入するようにしたので、
基準電流1の設定値を変更することが可能となる。
ミッタとの接続点3に電流を注入するようにしたので、
基準電流1の設定値を変更することが可能となる。
[実施例]
(第1実施例)
第2図は本発明の第1実施例を示す図である。
第2図において、Ql、Q2.Q5はPNP トランジ
スタてあり、Q3.Q4.Q6はNPN トランジスタ
である。Dlはダイオードてあり、Rは抵抗てあり、m
は上記PNPトランジスタQ5のエリアファクタであり
、nはNPNトランジスタQ3のエリアファクタである
。Ql、Q2.Q3゜Q4.Hにより基本的な基準電流
源回路10を構成している。基準電流Iに相関をもつ第
1図に示した電流源11は、上記PNP )ランジスタ
Ql。
スタてあり、Q3.Q4.Q6はNPN トランジスタ
である。Dlはダイオードてあり、Rは抵抗てあり、m
は上記PNPトランジスタQ5のエリアファクタであり
、nはNPNトランジスタQ3のエリアファクタである
。Ql、Q2.Q3゜Q4.Hにより基本的な基準電流
源回路10を構成している。基準電流Iに相関をもつ第
1図に示した電流源11は、上記PNP )ランジスタ
Ql。
Q2.Q5により構成されるカレントミラー回路で実現
されており、(7)式の関係が成立する。
されており、(7)式の関係が成立する。
また第1図に示した電流値変更用のスイッチSW1はス
イッチング用のNPN )ランジスタQ6で実現されて
いる。そして上記トランジスタQ6のベースに設けたコ
ントロール端子5に制御信号を人力することにより、上
記接続点3へ電流11−mlを適時供給するものとなっ
ている。これにより、 (A)NPNI−ランジスタQ6かON状態ならばI
=VT I n −n/R (B)NPN)ランシスタQ6がOFF状態ならば I −VT (l n−n/ Crn+ 1
) Rとなる。
イッチング用のNPN )ランジスタQ6で実現されて
いる。そして上記トランジスタQ6のベースに設けたコ
ントロール端子5に制御信号を人力することにより、上
記接続点3へ電流11−mlを適時供給するものとなっ
ている。これにより、 (A)NPNI−ランジスタQ6かON状態ならばI
=VT I n −n/R (B)NPN)ランシスタQ6がOFF状態ならば I −VT (l n−n/ Crn+ 1
) Rとなる。
(第2実施例)
第3図は本発明の第2実施例を示す回路図である。第2
図と同一部分には同一符号を付し、説明を省略する。図
示のごとく本実施例は第2図に示した回路のスイッチン
グ用のNPNトランジスタQ6をNチャネル型のMOS
FETMIに置き換えた例である。その他の個所は
第2図と同じである。本実施例においても第1実施例と
同様の作用効果を奏する。
図と同一部分には同一符号を付し、説明を省略する。図
示のごとく本実施例は第2図に示した回路のスイッチン
グ用のNPNトランジスタQ6をNチャネル型のMOS
FETMIに置き換えた例である。その他の個所は
第2図と同じである。本実施例においても第1実施例と
同様の作用効果を奏する。
(第3実施例)
第4図は本発明の第3実施例を示す回路図である。第2
図と同一部分には同一符号を付し、説明を省略する。図
示のごとく本実施例は第2図に示した回路のPNP )
ランジスタQ5.ダイオードD1.スイッチング用のト
ランジスタQ6を複数個並列的に設けた例である。本実
施例においては第1実施例と同様の作用効果を奏する上
、コントロール端子7,8.9に制御信号を選択的に入
力することにより、スイッチング用のNPN トランジ
スタQIO,Qll、 Ql2を0N−OFFさせ、そ
の結果、基準電流■を表−1のように設定できる利点が
ある。
図と同一部分には同一符号を付し、説明を省略する。図
示のごとく本実施例は第2図に示した回路のPNP )
ランジスタQ5.ダイオードD1.スイッチング用のト
ランジスタQ6を複数個並列的に設けた例である。本実
施例においては第1実施例と同様の作用効果を奏する上
、コントロール端子7,8.9に制御信号を選択的に入
力することにより、スイッチング用のNPN トランジ
スタQIO,Qll、 Ql2を0N−OFFさせ、そ
の結果、基準電流■を表−1のように設定できる利点が
ある。
上記の表−1の中のrlJはNPN )ランジスタQI
O,Qll、 Q12ノON状態を示し、rOJはNP
N トランシフ、夕QlO,Qll、 Ql2(7)O
F F状態を示している。またI rerはVTgn−
n/Rである。
O,Qll、 Q12ノON状態を示し、rOJはNP
N トランシフ、夕QlO,Qll、 Ql2(7)O
F F状態を示している。またI rerはVTgn−
n/Rである。
なお本発明は上記した各実施例に限定されるものではな
い。例えば、ダイオードD1の代オ〕りにダイオードと
等価な動作をする半導体素子からなるダイオード類を接
続するようにしてもよい。このほか本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種々変形実施可能である。
い。例えば、ダイオードD1の代オ〕りにダイオードと
等価な動作をする半導体素子からなるダイオード類を接
続するようにしてもよい。このほか本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種々変形実施可能である。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、回路設計段階で
電流値の設定を変更可能な回路構成にしであるので、基
準電流源の電流値を必要に応じて変更設定することので
きる電流源回路を提供できる。
電流値の設定を変更可能な回路構成にしであるので、基
準電流源の電流値を必要に応じて変更設定することので
きる電流源回路を提供できる。
第1図は本発明の概念図、第2図は本発明の第1実施例
を示す回路図、第3図は本発明の第2実施例を示す回路
図、第4図は本発明の第3実施例を示す回路図である。 第5図は従来技術を示す回路図である。 1・・・電源端子、2・・GND端子、Ql、Q2゜Q
3・・・PNPトランジスタ、Q3.Q4.Q6・・N
PN hランジスタ、Dl・・ダイオード、R・・抵抗
、SWI・・スイッチ。 出願人代理人 弁理士 坪井 浮 彫3図 第4図 第1図 finn 第5図
を示す回路図、第3図は本発明の第2実施例を示す回路
図、第4図は本発明の第3実施例を示す回路図である。 第5図は従来技術を示す回路図である。 1・・・電源端子、2・・GND端子、Ql、Q2゜Q
3・・・PNPトランジスタ、Q3.Q4.Q6・・N
PN hランジスタ、Dl・・ダイオード、R・・抵抗
、SWI・・スイッチ。 出願人代理人 弁理士 坪井 浮 彫3図 第4図 第1図 finn 第5図
Claims (1)
- 第1のトランジスタのエミッタと抵抗の一端とが接続さ
れ、上記第1のトランジスタのベースと第2のトランジ
スタのベースとが接続され、上記抵抗の他端と上記第2
のトランジスタのエミッタとが接続される型式の電流源
回路において、上記第1のトランジスタのエミッタと抵
抗との接続点にダイオードまたはダイオードと等価な動
作をする半導体素子からなるダイオード類のカソードが
接続され、上記ダイオード類のアノードに電流源が接続
され、上記ダイオード類のアノードと最低電位点との間
にスイッチが接続されたことを特徴とする電流源回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2293923A JPH04167010A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 電流源回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2293923A JPH04167010A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 電流源回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04167010A true JPH04167010A (ja) | 1992-06-15 |
Family
ID=17800913
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2293923A Pending JPH04167010A (ja) | 1990-10-31 | 1990-10-31 | 電流源回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04167010A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009013112A1 (en) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Analog Devices Inc | Low noise bandgap voltage reference |
| US7543253B2 (en) | 2003-10-07 | 2009-06-02 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for compensating for temperature drift in semiconductor processes and circuitry |
| US7576598B2 (en) | 2006-09-25 | 2009-08-18 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference and method for providing same |
| US7598799B2 (en) | 2007-12-21 | 2009-10-06 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
| US7612606B2 (en) | 2007-12-21 | 2009-11-03 | Analog Devices, Inc. | Low voltage current and voltage generator |
| US7714563B2 (en) | 2007-03-13 | 2010-05-11 | Analog Devices, Inc. | Low noise voltage reference circuit |
| US7750728B2 (en) | 2008-03-25 | 2010-07-06 | Analog Devices, Inc. | Reference voltage circuit |
| US7880533B2 (en) | 2008-03-25 | 2011-02-01 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
| US8102201B2 (en) | 2006-09-25 | 2012-01-24 | Analog Devices, Inc. | Reference circuit and method for providing a reference |
-
1990
- 1990-10-31 JP JP2293923A patent/JPH04167010A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7543253B2 (en) | 2003-10-07 | 2009-06-02 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for compensating for temperature drift in semiconductor processes and circuitry |
| US7576598B2 (en) | 2006-09-25 | 2009-08-18 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference and method for providing same |
| US8102201B2 (en) | 2006-09-25 | 2012-01-24 | Analog Devices, Inc. | Reference circuit and method for providing a reference |
| US7714563B2 (en) | 2007-03-13 | 2010-05-11 | Analog Devices, Inc. | Low noise voltage reference circuit |
| WO2009013112A1 (en) * | 2007-07-23 | 2009-01-29 | Analog Devices Inc | Low noise bandgap voltage reference |
| US7605578B2 (en) | 2007-07-23 | 2009-10-20 | Analog Devices, Inc. | Low noise bandgap voltage reference |
| US7598799B2 (en) | 2007-12-21 | 2009-10-06 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
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| US7750728B2 (en) | 2008-03-25 | 2010-07-06 | Analog Devices, Inc. | Reference voltage circuit |
| US7880533B2 (en) | 2008-03-25 | 2011-02-01 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
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