JPH04181108A - Method for recognizing three-dimensional shape - Google Patents
Method for recognizing three-dimensional shapeInfo
- Publication number
- JPH04181108A JPH04181108A JP30718190A JP30718190A JPH04181108A JP H04181108 A JPH04181108 A JP H04181108A JP 30718190 A JP30718190 A JP 30718190A JP 30718190 A JP30718190 A JP 30718190A JP H04181108 A JPH04181108 A JP H04181108A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- camera
- image
- slit light
- light
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 15
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 14
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、光切断法による三次元形状認識方法に関し、
特に虚像を確実に検出して取り除けるようにしたもので
ある。[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a three-dimensional shape recognition method using optical cutting method.
In particular, it is designed to reliably detect and remove virtual images.
〈従来の技術〉
工作機械の分野において、倣い加工を行うため或いは衝
突を防止するために、また、金型加工装置のために、三
次元形状を認識する必要が生じる場合がある。<Prior Art> In the field of machine tools, it may be necessary to recognize three-dimensional shapes in order to perform copying or to prevent collisions, or for mold processing equipment.
非接触の形状認識の一手法として、光切断法がある。こ
れは、スリット光を測定対象物に照射して、その乱反射
した像により、測定対象物の座標を求めるものである。Optical sectioning is one method of non-contact shape recognition. This method involves irradiating a measurement object with slit light and determining the coordinates of the measurement object from the diffusely reflected image.
この光切断法による従来の三次元形状認識装置を第2図
に示す。同図に示すようにテーブル8上に載置した測定
対象物7には、スリット光発生装置1からスリット光2
が照射される。スリット光発生装置1はテーブル8の上
方に配置され、そのスリット光2はテーブル8に対して
略垂直となっている。そして、このスリット光2の平行
な方向に対して直交する方向にスリット光発生装置lは
移動できるようになっている。A conventional three-dimensional shape recognition device using this optical cutting method is shown in FIG. As shown in the figure, a slit beam 2 is emitted from a slit beam generator 1 onto an object to be measured 7 placed on a table 8.
is irradiated. The slit light generator 1 is placed above the table 8, and the slit light 2 is substantially perpendicular to the table 8. The slit light generating device 1 can be moved in a direction perpendicular to the parallel direction of the slit light 2.
一方、カメラ3はテーブル8の斜め上方に設置され、ス
リット光の照射により形成された光学像を撮影している
。このカメラ3で撮影された画像に対応した画像データ
は画像取り込み器4に取り込まれ、座標演算器6で画像
データが演算されて測定対象物7の形状が認識できるよ
うになっている。On the other hand, the camera 3 is installed obliquely above the table 8, and photographs an optical image formed by irradiation with slit light. Image data corresponding to the image taken by this camera 3 is captured by an image capture device 4, and the image data is computed by a coordinate calculator 6 so that the shape of the object to be measured 7 can be recognized.
座標演算器6による座標の演算方法を第3図(a) (
b) (C) ((支)を参照して説明する。ただし、
座標軸は第3図(a) (b)に示すように、テーブル
80表面をx−y平面とし、その垂直上方を2軸方向と
する。また、スリット光2の照射方向は2方向とし、カ
メラ3の観察方向はy軸方向の斜め上方(Z軸よりθの
角度)とする。つまり、スリット光2の照射方向とカメ
ラ3の光軸とのなす角度がθとなるのである。The method of calculating coordinates by the coordinate calculator 6 is shown in Fig. 3(a) (
b) (C) (Explain with reference to (branch). However,
As shown in FIGS. 3(a) and 3(b), the coordinate axes are such that the surface of the table 80 is the x-y plane, and the two axes are vertically above the x-y plane. Further, the irradiation direction of the slit light 2 is set to two directions, and the observation direction of the camera 3 is set diagonally upward in the y-axis direction (at an angle of θ from the Z-axis). In other words, the angle between the irradiation direction of the slit light 2 and the optical axis of the camera 3 is θ.
第3図(C) (d)に示すように、スリット光2がZ
−X平面に一致するため、スリット光2は下式%式%
また、カメラ3のレンズ中心O°から距離り離れた座標
原点0での拡大率Mは下式で示される。As shown in FIG. 3(C)(d), the slit light 2
Since it coincides with the −X plane, the slit light 2 is expressed by the following formula %. Furthermore, the magnification M at the coordinate origin 0, which is a distance from the lens center O° of the camera 3, is expressed by the following formula.
M=Δ−=B =L ・−・(2)
A、 B、 f
ただし、A s B eは座標原点即ち距離りにおける
X方向、X方向から見た輻A、Bを撮像した画面内の幅
である。M=Δ−=B=L・−・(2) A, B, f However, A s B e is the coordinate origin, that is, the X direction at the distance, and the radius in the screen where the radiation A and B seen from the X direction are captured. It is the width.
ここで、第4図に示すように画像内の座標がそれぞれα
、βとするときに、この座標に対応するy−x平面にお
ける撮影方向は下式で示される。Here, as shown in Figure 4, the coordinates in the image are α
, β, the photographing direction in the y-x plane corresponding to these coordinates is expressed by the following formula.
上記(3)式に前記(11式を代入すると、スリット光
の切断線の2軸座標が求まる。By substituting the above equation (11) into the above equation (3), the biaxial coordinates of the cutting line of the slit light can be found.
2・−一」初二一一一・・・(4)
Lsxnθ+MαCOSθ
同様に、スリット光の切断線のX座標も次のように求ま
る。2・-1'' Hatsu 2111...(4) Lsxnθ+MαCOSθ Similarly, the X coordinate of the cutting line of the slit light is determined as follows.
L−zすCOSθ
X= t β
=(L−、−−m−−→、L
LIJαCOSθ
Lstn13 + Ma cosθ f=(1−i肋工
旺L−→Mβ・・・(5)LSxuθ+MαCOSθ
このように(41(51式により、2座標、xM標を演
算するとともに、この演算を測定対象物の全体に対して
行うことにより、三次元形状が認識できることになる。L-zsuCOSθ (41 (By using formula 51, calculate the two coordinates and xM mark, and perform this calculation on the entire object to be measured, the three-dimensional shape can be recognized.
〈発明が解決しようとする課題〉
上述したように光切断法による三次元形状認識方法では
、スリット光2を測定対象物7に照射し、その乱反射し
た光をカメラ3で撮像し、その像により測定対象物の座
標を求めるものであるが、測定対象物7の素材、形状に
よっては正反射光が観察されるため、実像以外に虚像が
観察されることがあったり、実像よりも虚像の方が強く
観察されることがある。<Problems to be Solved by the Invention> As described above, in the three-dimensional shape recognition method using the light cutting method, the slit light 2 is irradiated onto the measurement object 7, the diffusely reflected light is imaged by the camera 3, and the image is This is to find the coordinates of the object to be measured, but depending on the material and shape of the object to be measured 7, specularly reflected light may be observed, so a virtual image may be observed in addition to the real image, or the virtual image may be more accurate than the real image. may be strongly observed.
例えば、第5図に示すように測定対象物7が反射率の高
い素材で、水平に対し傾斜角φがθ/2付近の斜面を有
する場合、その斜面からのスリット光の正反射光がカメ
ラ3に入射し、虚像が発生していた。For example, as shown in FIG. 5, if the measurement object 7 is made of a material with high reflectance and has a slope with an inclination angle φ of around θ/2 with respect to the horizontal, the specular reflection light of the slit light from the slope is reflected by the camera. 3, and a virtual image was generated.
このような場合に、従来では虚像と実像とを区別するこ
とができず、形状認識を誤ることがあった。In such cases, in the past, it was not possible to distinguish between the virtual image and the real image, resulting in errors in shape recognition.
本発明は、上記従来技術に鑑みて成されたものであり、
光切断法による三次元形状認識において、虚像を確実に
検出して取り除くことができる三次元形状認識方法を提
供することを目的とするものである。The present invention has been made in view of the above-mentioned prior art,
It is an object of the present invention to provide a three-dimensional shape recognition method that can reliably detect and remove virtual images in three-dimensional shape recognition using a light cutting method.
く課題を解決するための手段〉
斯かる目的を達成する本発明の構成はスリット光発生器
から測定対象物に向けてスリット光を照射すると共に該
測定対象物からのスリット光の反射光をカメラで撮影し
、該カメラで撮影した反射光を画像処理して画像座標を
求め、画像座標、スリット光の位置の座標、スリット光
とカメラの光軸のなす角度θ、カメラのレンズの緒元に
基づいて測定対象物の三次元形状を認識する三次元形状
認識方法において、前記カメラにより二つ以上の画像が
撮影された場合には、前記カメラを移動させて該カメラ
の光軸とスリット光のなす角度θを変化させ、移動した
カメラ位置で一つの画像が撮影されたとき、これを実像
と判定することを特徴とする。Means for Solving the Problems> The configuration of the present invention to achieve such an object is to irradiate a slit light from a slit light generator toward an object to be measured, and to capture the reflected light of the slit light from the object to be measured by a camera. The reflected light taken by the camera is processed to obtain the image coordinates, and the image coordinates, the coordinates of the slit light position, the angle θ between the slit light and the optical axis of the camera, and the specifications of the camera lens are calculated. In a three-dimensional shape recognition method that recognizes the three-dimensional shape of a measurement target based on The camera is characterized in that when an image is taken at a moved camera position by changing the angle θ, it is determined to be a real image.
〈作用〉
反射率が高い測定対象物に対し、スリット光をある角度
から照射すると、正反射光がカメラに入射して、実像の
他に虚像が取り込まれる場合がある。<Operation> When a measurement object with a high reflectance is irradiated with slit light from a certain angle, the specularly reflected light enters the camera, and a virtual image may be captured in addition to the real image.
例えば、第5図に示すように測定対象物の傾斜面が水平
面に対し角度φ(=θI/2)を成す場合に、鉛直上方
からスリット光を照射し、このスリット光に対しθ1の
角度をなす方向からカメラで観察すると、カメラには正
反射光が入射し、実像の他に虚像が観察される。For example, when the inclined surface of the object to be measured forms an angle φ (=θI/2) with respect to the horizontal plane as shown in Fig. 5, a slit light is irradiated from vertically above and an angle of θ1 is set to the slit light. When observed with a camera from the same direction, specularly reflected light enters the camera, and a virtual image is observed in addition to the real image.
そこで、カメラを移動してカメラの光軸とスリット光の
成す角度をθ1から02に変化させることにより、正反
射光はカメラに入射しなくなり、従って虚像が観察され
なくなる。Therefore, by moving the camera and changing the angle between the optical axis of the camera and the slit light from θ1 to 02, the specularly reflected light no longer enters the camera, and therefore no virtual image is observed.
〈実施例〉
以下、本発明について、図面に示す実施例を参照して詳
細に説明する。<Examples> The present invention will be described in detail below with reference to examples shown in the drawings.
第1図に本発明の一実施例を示す。同図に示す実施例は
、第2図に示す従来の三次元形状認識装置に、カメラ移
動装置9と実像虚像判断器5を付は加えたものである。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. The embodiment shown in the figure is the same as the conventional three-dimensional shape recognition device shown in FIG.
即ち、テーブル8上には測定対象物7が設置されると共
にスリット光発生装置lはテーブル8の上方において釣
り下げられている。スリット光発生装置1からは測定対
象物7に対し、鉛直上方からスリット光2を照射するも
のであり、図示しない移動機構により、テーブル8と平
行な方向に移動可能となっている。That is, the object to be measured 7 is placed on the table 8, and the slit light generator 1 is suspended above the table 8. The slit light generator 1 irradiates the measurement object 7 with the slit light 2 from vertically above, and is movable in a direction parallel to the table 8 by a moving mechanism (not shown).
測定対象物7の斜め上方には、その反射光を観察するカ
メラ3がカメラ移動装置9により支持されており、この
カメラ移動装置9はカメラ3を移動させることができる
。A camera 3 for observing the reflected light of the object to be measured 7 is supported by a camera moving device 9, and the camera moving device 9 can move the camera 3.
このため、カメラ移動装置9によりカメラ3を移動する
と、スリット光の照射方向とカメラ3の光軸のなす角度
θはθ1からθ2まで変化することになる。Therefore, when the camera 3 is moved by the camera moving device 9, the angle θ between the irradiation direction of the slit light and the optical axis of the camera 3 changes from θ1 to θ2.
このカメラ3で撮影された画像に対応した画像データは
画像取り込み器4に取り込まれ、座標演算器6で画像デ
ータが演算されて測定対象物7の形状が認識できるよう
になっている。Image data corresponding to the image taken by this camera 3 is captured by an image capture device 4, and the image data is computed by a coordinate calculator 6 so that the shape of the object to be measured 7 can be recognized.
画像取り込み器4と座標演算器6と間には実像虚像判断
器5が介装され、この実像虚像判別器5は画像取り込み
器4に取り込まれた画像に二つ以上の像が存在するか否
かを判断する。A real image/virtual image discriminator 5 is interposed between the image capture device 4 and the coordinate calculator 6, and the real/virtual image discriminator 5 determines whether two or more images exist in the image captured by the image capture device 4. to judge.
従って、スリット光発生装置1からスリット光2を測定
対象物7に投光すると、スリット光2は測定対象物7の
表面で乱反射し、その反射光がカメラ3で受光される。Therefore, when the slit light generator 1 projects the slit light 2 onto the object to be measured 7, the slit light 2 is diffusely reflected on the surface of the object to be measured 7, and the reflected light is received by the camera 3.
カメラ3で受光された画像は画像取り込み器4に取り込
まれ、実像虚像判断器5では、画像取り込み器4に取り
込まれた画像に二つ以上の像があるか否か判断する。The image received by the camera 3 is captured by the image capturing device 4, and the real/virtual image determining device 5 determines whether or not there are two or more images in the image captured by the image capturing device 4.
実像虚像判断器5で二つ以上の像があると判断されたと
きには、その画像に虚像が含まれる場合であり、この場
合には座標演算器6で演算するデータとして採用せず、
カメラ移動装fi19によりカメラ3を虚像が観察され
ない方向に移動させる。When the real/virtual image determiner 5 determines that there are two or more images, this means that the image includes a virtual image, and in this case, it is not adopted as data to be calculated by the coordinate calculator 6.
The camera 3 is moved by the camera moving device fi19 in a direction where the virtual image is not observed.
例えば、第5図に示すように測定対象物7が反射率の高
い素材であり、且つ、水平面に対する傾斜角ψがθ1/
2付近であると、スリット光2の正反射光がカメラ3に
入射して画像取り込み器4には、実像の他に虚像が観察
される。For example, as shown in FIG. 5, the measurement object 7 is made of a material with high reflectance, and the inclination angle ψ with respect to the horizontal plane is θ1/
2, the specularly reflected light of the slit light 2 enters the camera 3, and a virtual image is observed in the image capture device 4 in addition to the real image.
但し、カメラ3の光軸とスリット光2の照射方向はθ1
の角度をなすものとする。However, the optical axis of camera 3 and the irradiation direction of slit light 2 are θ1
shall form an angle of
そこで、カメラ移動装置9によりカメラ3を移動させて
、カメラ3の観察方向とスリット光2の照射方向との成
す角度を01からθ、となるようにすると、カメラ3が
正反射光の反射される方向からずれてしまうので、カメ
ラ3には正反射光は入射されず、乱反射光のみが入射す
る。Therefore, if the camera 3 is moved by the camera moving device 9 so that the angle formed between the observation direction of the camera 3 and the irradiation direction of the slit light 2 becomes from 01 to θ, the camera 3 is moved so that the specularly reflected light is not reflected. Therefore, the specularly reflected light does not enter the camera 3, but only the diffusely reflected light enters the camera 3.
従って、このようにカメラ3を移動した後におけるカメ
ラ3により撮像され反射光は、二つ以上の画像はないた
め、実像だけであると実像虚像判断器5により判断され
、その画像が座標演算器6に送られる。Therefore, since there are no more than two images of the reflected light captured by the camera 3 after the camera 3 has been moved, the real/virtual image judger 5 judges that the reflected light is only a real image, and that image is sent to the coordinate calculator. Sent to 6.
座標演算器6では、前述した(4) (51式に基づい
て、2座標、X座標を求めるが、これらの式におけるり
、θに代えてカメラ移動後のLt、 θ2を使用する
。L、は、カメラ移動後のレンズ中心と座標原点との距
離である。The coordinate calculator 6 calculates the two coordinates and the X coordinate based on the above-mentioned formula (4) (51), but in these formulas, Lt and θ2 after the camera movement are used instead of θ. is the distance between the lens center and the coordinate origin after camera movement.
尚、カメラ3に正反射光が入射せず、虚像が発生しない
ときには、カメラ3は移動させず、カメラ移動前のLI
+ 01をf41 (51式に使用する。Note that when no specularly reflected light is incident on the camera 3 and no virtual image is generated, the camera 3 is not moved and the LI before moving the camera is
+01 to f41 (used in formula 51.
座標演算器6により2座標、X座標を求める演算が終了
すると、カメラ3はカメラ移動装置9により、元の位置
に戻る。When the coordinate calculator 6 finishes calculating the two coordinates and the X coordinate, the camera 3 is returned to its original position by the camera moving device 9.
このように、本実施例では、測定対象物7から正反射光
がカメラ3に入射する時には、カメラ3を移動させて、
正反射光がカメラ3に入射しないようにするので、虚像
のない実像のみを観察することができ、これよにり、正
確な形状認識が可能となる。In this way, in this embodiment, when the specularly reflected light from the measurement object 7 enters the camera 3, the camera 3 is moved,
Since specularly reflected light is prevented from entering the camera 3, only a real image without a virtual image can be observed, thereby allowing accurate shape recognition.
尚、本実施例では、カメラ移動装C9、実像虚像判断器
5を使用したが、同等の機能を有するものであれば、こ
れに限るものではなく、その他の構造を用いてもよいも
のである。In this embodiment, the camera moving device C9 and the real image/virtual image judge 5 are used, but the structure is not limited to these and other structures may be used as long as they have equivalent functions. .
〈発明の効果〉
以上、実施例に基づいて具体的に説明したように、本発
明は測定対象物からスリット光の正反射光がカメラに入
射する場合には、カメラを移動させて、カメラの光軸と
スリット光の方向との成す角度を変えるようにしたので
、カメラに測定対象物から正反射光が入射することはな
い。この為、測定対象物が反射率の高いものでも、虚像
を確実に除去して正確な形状認識が可能となる。<Effects of the Invention> As described above in detail based on the embodiments, the present invention is capable of moving the camera and adjusting the angle of the camera when the specularly reflected light of the slit light from the object to be measured is incident on the camera. Since the angle between the optical axis and the direction of the slit light is changed, specularly reflected light from the object to be measured does not enter the camera. Therefore, even if the object to be measured has a high reflectance, it is possible to reliably remove the virtual image and accurately recognize the shape.
第1図は本発明の一実施例にかがる三次元形状認識方法
に使用される装置の斜視図、第2図は従来の三次元形状
認識装置の斜視図、第3図(a) (b)はそれぞれx
−y平面、z−y平面の説明図、第3図(C) (d)
はそれぞれ従来の三次元形状認識方法のz−y平面、Z
−X平面での位置関係を示す配置1rEI、第4図はカ
メラ内の座標の説明図、第5図はスリット光とカメラの
光軸との関係を示す説明図である。
図面中、
1はスリット光発生装置、
2はスリット光、
3はカメラ、
4Wi像取り込み器、
5は実像虚像判断器、
6は座標演算器、
7は測定対象物、
8はテーブル、
9はカメラ移動装置である。
!スリ・ント九発生装置
(Cノ
α、β:画像内座標
第3図
第4図
!スリット九発生装置FIG. 1 is a perspective view of a device used in a three-dimensional shape recognition method according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a perspective view of a conventional three-dimensional shape recognition device, and FIG. b) are each x
-y plane, zy plane explanatory diagram, Figure 3 (C) (d)
are the z-y plane and Z of the conventional three-dimensional shape recognition method, respectively.
FIG. 4 is an explanatory diagram of the coordinates within the camera, and FIG. 5 is an explanatory diagram showing the relationship between the slit light and the optical axis of the camera. In the drawings, 1 is a slit light generator, 2 is a slit light, 3 is a camera, 4 is a Wi image capture device, 5 is a real/virtual image judge, 6 is a coordinate calculator, 7 is an object to be measured, 8 is a table, and 9 is a camera It is a mobile device. ! Slit 9 generator (C α, β: Coordinates in the image Figure 3 Figure 4! Slit 9 generator
Claims (1)
を照射すると共に該測定対象物からのスリット光の反射
光をカメラで撮影し、該カメラで撮影した反射光を画像
処理して画像座標を求め、画像座標、スリット光の位置
の座標、スリット光とカメラの光軸のなす角度θ及びカ
メラのレンズの緒元に基づいて測定対象物の三次元形状
を認識する三次元形状認識方法において、前記カメラに
より二つ以上の像が撮影された場合には、前記カメラを
移動させて該カメラの光軸とスリット光のなす角度θを
変化させ、移動したカメラ位置で一つの画像が撮影され
たとき、これを実像と判定することを特徴とする三次元
形状計測方法。A slit light generator emits slit light toward the object to be measured, and the reflected light of the slit light from the object to be measured is photographed by a camera, and the reflected light photographed by the camera is image-processed to obtain image coordinates. , in the three-dimensional shape recognition method for recognizing the three-dimensional shape of the object to be measured based on the image coordinates, the coordinates of the position of the slit light, the angle θ between the slit light and the optical axis of the camera, and the specifications of the camera lens. When two or more images are taken by a camera, the angle θ between the optical axis of the camera and the slit light is changed by moving the camera, and one image is taken at the moved camera position. , a three-dimensional shape measurement method characterized by determining this as a real image.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30718190A JPH04181108A (en) | 1990-11-15 | 1990-11-15 | Method for recognizing three-dimensional shape |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30718190A JPH04181108A (en) | 1990-11-15 | 1990-11-15 | Method for recognizing three-dimensional shape |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04181108A true JPH04181108A (en) | 1992-06-29 |
Family
ID=17966013
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30718190A Pending JPH04181108A (en) | 1990-11-15 | 1990-11-15 | Method for recognizing three-dimensional shape |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04181108A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05196416A (en) * | 1992-01-17 | 1993-08-06 | Japan Radio Co Ltd | Optical displacement measuring device |
-
1990
- 1990-11-15 JP JP30718190A patent/JPH04181108A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05196416A (en) * | 1992-01-17 | 1993-08-06 | Japan Radio Co Ltd | Optical displacement measuring device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Saeed et al. | Weld pool surface depth measurement using a calibrated camera and structured light | |
| CN101506614A (en) | Method and apparatus for three-dimensional visualization and inspection of balls and similar protrusions of electronic components | |
| JP2001521140A (en) | 3D inspection system | |
| CN102713671A (en) | Point cloud data processing device, point cloud data processing method, and point cloud data processing program | |
| JP2008241643A (en) | Three-dimensional shape measuring device | |
| US4760269A (en) | Method and apparatus for measuring distance to an object | |
| US7436498B2 (en) | Apparatus for determining the shape of a gemstone | |
| CN209147948U (en) | Profile measurement device based on line light source | |
| JP4191295B2 (en) | Semiconductor package inspection equipment | |
| JPH05306915A (en) | Method and instrument for measuring shape | |
| JPH04181108A (en) | Method for recognizing three-dimensional shape | |
| JPH0484707A (en) | Three-dimensional size measuring apparatus | |
| JP2007093412A (en) | Three-dimensional shape measuring device | |
| JPH05149727A (en) | Three-dimensional shape recognizing device | |
| JPH03186706A (en) | 3D shape and dimension measuring device | |
| JPH04181107A (en) | Method and device for recognizing three-dimensional shape | |
| JP5487920B2 (en) | Optical three-dimensional shape measuring apparatus and optical three-dimensional shape measuring method | |
| JPH03257307A (en) | Recognizing method and apparatus for three-dimensional shape | |
| JPH06129820A (en) | Three dimensional shape recognition device | |
| JPH03249511A (en) | Three-dimensional shape recognizer | |
| JPH04240508A (en) | Recognizing apparatus of three-dimensional shape | |
| JPH03249506A (en) | Three-dimensional shape recognizer | |
| JPH0886616A (en) | Method and apparatus for measuring three-dimensional image | |
| JPH058663U (en) | 3D shape recognition device | |
| JPH03186705A (en) | 3D shape and dimension measuring device |