JPH04181830A - 誤り試験方式 - Google Patents
誤り試験方式Info
- Publication number
- JPH04181830A JPH04181830A JP30882490A JP30882490A JPH04181830A JP H04181830 A JPH04181830 A JP H04181830A JP 30882490 A JP30882490 A JP 30882490A JP 30882490 A JP30882490 A JP 30882490A JP H04181830 A JPH04181830 A JP H04181830A
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- JP
- Japan
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- delay
- channels
- channel
- bits
- delay circuit
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 6
- 230000001934 delay Effects 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は誤り試験方式、特に複数のチャンネル信号を多
重化して伝送する伝送系のチャンネルごとの誤り試験を
行う際に用いる誤り試験方式に関するものである。
重化して伝送する伝送系のチャンネルごとの誤り試験を
行う際に用いる誤り試験方式に関するものである。
[従来の技術]
従来誤り試験を行なう場合は、第3図に示すように、パ
ターン発生器1と誤り測定器13を用いて1スイッチ1
21,122によりチャンネルごとに切替えて試験を実
施していた。
ターン発生器1と誤り測定器13を用いて1スイッチ1
21,122によりチャンネルごとに切替えて試験を実
施していた。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来の試験方法では、1種類のデータ信
号を伝送する場合と比較すると、チャンネルの数に比例
して測定時間が増加するとともに。
号を伝送する場合と比較すると、チャンネルの数に比例
して測定時間が増加するとともに。
全チャンネルの漏話試験を同時に実施するためには、チ
ャンネルの数だけパターン発生器と誤り検出器が必要に
なると云う問題点があった。
ャンネルの数だけパターン発生器と誤り検出器が必要に
なると云う問題点があった。
[本発明は従来のもののこのよう問題点を解決し。
パターン発生器1台が複数のチャンネルの誤り試験を同
時に実施できる誤り検出方式を提供するものである。
時に実施できる誤り検出方式を提供するものである。
[課題を解決するための手段]
本発明は複数のチャンネルの信号を多重化して伝送する
送信系と多重化された信号を各チャンネルに分離する受
信系を含む伝送系において、送信系は1台のパターン発
生器と、該パターン発生器からのデータ信号をチャンネ
ルごとにビット単位で遅延量を変えて多重変換部に人力
する遅延回路とを含み、受信系は分離変換部出力を送信
系も含めたチャンネルごとのビット遅延量が全チャンネ
ルとも同じになるように遅延する遅延回路と、該遅延回
路出力を比較する比較器を含んで構成される。
送信系と多重化された信号を各チャンネルに分離する受
信系を含む伝送系において、送信系は1台のパターン発
生器と、該パターン発生器からのデータ信号をチャンネ
ルごとにビット単位で遅延量を変えて多重変換部に人力
する遅延回路とを含み、受信系は分離変換部出力を送信
系も含めたチャンネルごとのビット遅延量が全チャンネ
ルとも同じになるように遅延する遅延回路と、該遅延回
路出力を比較する比較器を含んで構成される。
[実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
多重変換部4は4チヤンネルの信号を多重化しており、
パターン発生器1と各チャンネル入力端子3の間にそれ
ぞれn l + 12 + n 3 + n 4
ビツトの遅延回路21,22.23.24が挿入されて
いる。これにより、各チャンネルの信号か擬但的に異な
ったパターンになるような効果を持たせ7チヤンネル間
の漏話を試験することができる。また伝送路でのバース
ト誤りに対しても有効である。
パターン発生器1と各チャンネル入力端子3の間にそれ
ぞれn l + 12 + n 3 + n 4
ビツトの遅延回路21,22.23.24が挿入されて
いる。これにより、各チャンネルの信号か擬但的に異な
ったパターンになるような効果を持たせ7チヤンネル間
の漏話を試験することができる。また伝送路でのバース
ト誤りに対しても有効である。
今、仮に遅延量の関係がn H< n 2 < 3 <
n 4とすると、送信側と受信側の遅延回路での総遅
延量が全チャンネルとも04ビツトになるように受信側
で調節するため(n4 n+ )ビット遅延の遅延回路
81.(n4 n2)ビット遅延の遅延回路82.(n
4 n3)ビット遅延の遅延回路83を設ければ比較
器8の入力位相は全て同一になる。したがって、送受信
間で誤りか発生しなければ4チヤンネルとも同一の信号
になり、4チヤンネルを同時に比較器9て比較すること
により。
n 4とすると、送信側と受信側の遅延回路での総遅
延量が全チャンネルとも04ビツトになるように受信側
で調節するため(n4 n+ )ビット遅延の遅延回路
81.(n4 n2)ビット遅延の遅延回路82.(n
4 n3)ビット遅延の遅延回路83を設ければ比較
器8の入力位相は全て同一になる。したがって、送受信
間で誤りか発生しなければ4チヤンネルとも同一の信号
になり、4チヤンネルを同時に比較器9て比較すること
により。
誤りのチエツクを行なうことができる。
第2図は実際の回路構成の一例で、光伝送系のため電気
−光変換部11と光−電気変換部12か追加されている
。送信側のビット遅延にはシフトレジスタ2を用いてお
り、第1図の遅延量には。
−光変換部11と光−電気変換部12か追加されている
。送信側のビット遅延にはシフトレジスタ2を用いてお
り、第1図の遅延量には。
nl−0,n2−2.n3−5.n4−8が対応する。
従って受信側の遅延回路81.82.83はそれぞれ8
ビツト、6ビツト、3ビツト遅延となる。
ビツト、6ビツト、3ビツト遅延となる。
受信側の比較器9は、論理ゲートを用いてチャンネルの
全ての組合せを同時に比較している。
全ての組合せを同時に比較している。
[発明の効果コ
以上説明したように2本発明の試験方式により。
パターン発生器1台と遅延回路及び比較器を用いるだけ
で複数のチャンネルの誤り試験を同時に実施でき、測定
器と測定時間の大幅な削減が可能になる効果がある。
で複数のチャンネルの誤り試験を同時に実施でき、測定
器と測定時間の大幅な削減が可能になる効果がある。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図に示したブロック図の回路構成図、第3図は従来のも
ののブロック図である。 記号の説明:1・・・パターン発生器、2・・・シフト
レジスタ、21,22.23.24・・・ビット遅延回
路、3・・・多重変換部入力端子、31,32.33・
・・ビット遅延回路、4・・・多重変換部、5・・・伝
送路、6・・・分離変換部、7・・分離変換部出力端子
。 9・・・比較器、10・・・比較器出力端子、11・・
・電気−光変換部、12・・・光−電気変換部、121
,122・・・チャンネル切替用スイッチ、13・・・
誤り測定器。
図に示したブロック図の回路構成図、第3図は従来のも
ののブロック図である。 記号の説明:1・・・パターン発生器、2・・・シフト
レジスタ、21,22.23.24・・・ビット遅延回
路、3・・・多重変換部入力端子、31,32.33・
・・ビット遅延回路、4・・・多重変換部、5・・・伝
送路、6・・・分離変換部、7・・分離変換部出力端子
。 9・・・比較器、10・・・比較器出力端子、11・・
・電気−光変換部、12・・・光−電気変換部、121
,122・・・チャンネル切替用スイッチ、13・・・
誤り測定器。
Claims (2)
- (1)複数のチャンネルの信号を多重化して伝送する送
信系と多重化された信号を各チャンネルに分離する受信
系を含む伝送系において、 前記送信系は1台のパターン発生器と、該パターン発生
器からのデータ信号をチャンネルごとにビット単位で遅
延量を変えて多重変換部に入力する遅延回路とを含み、 前記受信系は分離変換部出力を前記送信系も含めたチャ
ンネルごとのビット遅延量が全チャンネルとも同じにな
るように遅延する遅延回路と、該遅延回路出力を比較す
る比較器とを含むことを特徴とする誤り試験方式。 - (2)前記送信系に電気−光変換部、前記受信系に光−
電気変換部を含むことを特徴とする請求項第(1)項記
載の誤り試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30882490A JPH04181830A (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | 誤り試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30882490A JPH04181830A (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | 誤り試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04181830A true JPH04181830A (ja) | 1992-06-29 |
Family
ID=17985748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30882490A Pending JPH04181830A (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | 誤り試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04181830A (ja) |
-
1990
- 1990-11-16 JP JP30882490A patent/JPH04181830A/ja active Pending
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