JPH04181830A - 誤り試験方式 - Google Patents

誤り試験方式

Info

Publication number
JPH04181830A
JPH04181830A JP30882490A JP30882490A JPH04181830A JP H04181830 A JPH04181830 A JP H04181830A JP 30882490 A JP30882490 A JP 30882490A JP 30882490 A JP30882490 A JP 30882490A JP H04181830 A JPH04181830 A JP H04181830A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
delay
channels
channel
bits
delay circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30882490A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Tsukagoshi
塚越 崇
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP30882490A priority Critical patent/JPH04181830A/ja
Publication of JPH04181830A publication Critical patent/JPH04181830A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
  • Time-Division Multiplex Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は誤り試験方式、特に複数のチャンネル信号を多
重化して伝送する伝送系のチャンネルごとの誤り試験を
行う際に用いる誤り試験方式に関するものである。
[従来の技術] 従来誤り試験を行なう場合は、第3図に示すように、パ
ターン発生器1と誤り測定器13を用いて1スイッチ1
21,122によりチャンネルごとに切替えて試験を実
施していた。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来の試験方法では、1種類のデータ信
号を伝送する場合と比較すると、チャンネルの数に比例
して測定時間が増加するとともに。
全チャンネルの漏話試験を同時に実施するためには、チ
ャンネルの数だけパターン発生器と誤り検出器が必要に
なると云う問題点があった。
[本発明は従来のもののこのよう問題点を解決し。
パターン発生器1台が複数のチャンネルの誤り試験を同
時に実施できる誤り検出方式を提供するものである。
[課題を解決するための手段] 本発明は複数のチャンネルの信号を多重化して伝送する
送信系と多重化された信号を各チャンネルに分離する受
信系を含む伝送系において、送信系は1台のパターン発
生器と、該パターン発生器からのデータ信号をチャンネ
ルごとにビット単位で遅延量を変えて多重変換部に人力
する遅延回路とを含み、受信系は分離変換部出力を送信
系も含めたチャンネルごとのビット遅延量が全チャンネ
ルとも同じになるように遅延する遅延回路と、該遅延回
路出力を比較する比較器を含んで構成される。
[実施例〕 次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック図である。
多重変換部4は4チヤンネルの信号を多重化しており、
パターン発生器1と各チャンネル入力端子3の間にそれ
ぞれn l +  12 +  n 3 +  n 4
ビツトの遅延回路21,22.23.24が挿入されて
いる。これにより、各チャンネルの信号か擬但的に異な
ったパターンになるような効果を持たせ7チヤンネル間
の漏話を試験することができる。また伝送路でのバース
ト誤りに対しても有効である。
今、仮に遅延量の関係がn H< n 2 < 3 <
 n 4とすると、送信側と受信側の遅延回路での総遅
延量が全チャンネルとも04ビツトになるように受信側
で調節するため(n4 n+ )ビット遅延の遅延回路
81.(n4 n2)ビット遅延の遅延回路82.(n
4  n3)ビット遅延の遅延回路83を設ければ比較
器8の入力位相は全て同一になる。したがって、送受信
間で誤りか発生しなければ4チヤンネルとも同一の信号
になり、4チヤンネルを同時に比較器9て比較すること
により。
誤りのチエツクを行なうことができる。
第2図は実際の回路構成の一例で、光伝送系のため電気
−光変換部11と光−電気変換部12か追加されている
。送信側のビット遅延にはシフトレジスタ2を用いてお
り、第1図の遅延量には。
nl−0,n2−2.n3−5.n4−8が対応する。
従って受信側の遅延回路81.82.83はそれぞれ8
ビツト、6ビツト、3ビツト遅延となる。
受信側の比較器9は、論理ゲートを用いてチャンネルの
全ての組合せを同時に比較している。
[発明の効果コ 以上説明したように2本発明の試験方式により。
パターン発生器1台と遅延回路及び比較器を用いるだけ
で複数のチャンネルの誤り試験を同時に実施でき、測定
器と測定時間の大幅な削減が可能になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は第1
図に示したブロック図の回路構成図、第3図は従来のも
ののブロック図である。 記号の説明:1・・・パターン発生器、2・・・シフト
レジスタ、21,22.23.24・・・ビット遅延回
路、3・・・多重変換部入力端子、31,32.33・
・・ビット遅延回路、4・・・多重変換部、5・・・伝
送路、6・・・分離変換部、7・・分離変換部出力端子
。 9・・・比較器、10・・・比較器出力端子、11・・
・電気−光変換部、12・・・光−電気変換部、121
,122・・・チャンネル切替用スイッチ、13・・・
誤り測定器。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のチャンネルの信号を多重化して伝送する送
    信系と多重化された信号を各チャンネルに分離する受信
    系を含む伝送系において、 前記送信系は1台のパターン発生器と、該パターン発生
    器からのデータ信号をチャンネルごとにビット単位で遅
    延量を変えて多重変換部に入力する遅延回路とを含み、 前記受信系は分離変換部出力を前記送信系も含めたチャ
    ンネルごとのビット遅延量が全チャンネルとも同じにな
    るように遅延する遅延回路と、該遅延回路出力を比較す
    る比較器とを含むことを特徴とする誤り試験方式。
  2. (2)前記送信系に電気−光変換部、前記受信系に光−
    電気変換部を含むことを特徴とする請求項第(1)項記
    載の誤り試験方式。
JP30882490A 1990-11-16 1990-11-16 誤り試験方式 Pending JPH04181830A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30882490A JPH04181830A (ja) 1990-11-16 1990-11-16 誤り試験方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP30882490A JPH04181830A (ja) 1990-11-16 1990-11-16 誤り試験方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04181830A true JPH04181830A (ja) 1992-06-29

Family

ID=17985748

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP30882490A Pending JPH04181830A (ja) 1990-11-16 1990-11-16 誤り試験方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04181830A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6961317B2 (en) Identifying and synchronizing permuted channels in a parallel channel bit error rate tester
EP0214215B1 (en) Arrangement for accessing and testing telecommunication circuits
US4858224A (en) Diagnostic method of equipment and system using the same
CN104871488B (zh) 同时测试多数据包信号收发器的方法
ATE7439T1 (de) Verfahren zum funktionsfaehighalten einer digitalen nachrichtenuebertragungseinrichtung und anwendung desselben.
US6871311B2 (en) Semiconductor integrated circuit having a self-testing function
JPH04181830A (ja) 誤り試験方式
US5202845A (en) Optical signal processing method and apparatus using coupled channels
US6516434B1 (en) Application-specific integrated circuit (ASIC) for use in communication facilities of a digital network
US5136583A (en) Data-communication method for loop-type network having portable slave stations connectable to addressable junction boxes permanently connected in the network
JP2001318128A (ja) 自己テスト機能を備える半導体装置および当該半導体装置のテスト方法
US5473597A (en) Test circuit of multiplex equipment
JPS6033757A (ja) 符号誤り率測定装置
SU1383508A1 (ru) Преобразователь последовательного кода в параллельный
JPH0438174B2 (ja)
SU720758A1 (ru) Устройство определени цикла повторени информации
JP3262284B2 (ja) 半導体試験装置
SU633151A1 (ru) Устройство межканального фазировани
SU717760A1 (ru) Устройство дл логарифмировани двоичных чисел
JPH0951317A (ja) ループバック試験方法
JPH04103236A (ja) 多重変換装置
KR970009441A (ko) 채널 루프백 경로를 이용한 디지탈 트렁크 채널 테스트 장치 및 방법
JPH01190142A (ja) 折り返し試験機能付多重変換装置
JPH01256833A (ja) 回線別パリティエラー検出方式
JPH05268207A (ja) フレーム同期システム