JPH0418376U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0418376U JPH0418376U JP5993090U JP5993090U JPH0418376U JP H0418376 U JPH0418376 U JP H0418376U JP 5993090 U JP5993090 U JP 5993090U JP 5993090 U JP5993090 U JP 5993090U JP H0418376 U JPH0418376 U JP H0418376U
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- JP
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- lead
- measuring
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図はこの考案の一実施例であるＩＣパツケ
ージの位置決め構造を示す側面図、第２図はこの
考案の他の実施例を示す側面図、第３図、第４図
は従来のＩＣパツケージの位置決め構造を示す側
面図である。 図において、１……ＩＣパツケージ、２……Ｉ
Ｃリード、５……ＩＣパツケージの凸部、６……
位置決めピンの凹部、７……ＩＣパツケージの凹
部、８……位置決めピンの凸部を示す。なお、図
中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
ージの位置決め構造を示す側面図、第２図はこの
考案の他の実施例を示す側面図、第３図、第４図
は従来のＩＣパツケージの位置決め構造を示す側
面図である。 図において、１……ＩＣパツケージ、２……Ｉ
Ｃリード、５……ＩＣパツケージの凸部、６……
位置決めピンの凹部、７……ＩＣパツケージの凹
部、８……位置決めピンの凸部を示す。なお、図
中、同一符号は同一、または相当部分を示す。
Claims (1)
- ＩＣを測定する場合にＩＣリードと測定部（接
触子）の位置ずれを防止する位置決め用の凸部又
は凹部を設け、この凹部または凸部によつてＩＣ
リードと測定部（接触子）の位置ずれを防止した
ことを特徴とするＩＣパツケージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5993090U JPH0418376U (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5993090U JPH0418376U (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0418376U true JPH0418376U (ja) | 1992-02-17 |
Family
ID=31586866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5993090U Pending JPH0418376U (ja) | 1990-06-05 | 1990-06-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0418376U (ja) |
-
1990
- 1990-06-05 JP JP5993090U patent/JPH0418376U/ja active Pending