JPH04184107A - 外観検査装置 - Google Patents
外観検査装置Info
- Publication number
- JPH04184107A JPH04184107A JP2311346A JP31134690A JPH04184107A JP H04184107 A JPH04184107 A JP H04184107A JP 2311346 A JP2311346 A JP 2311346A JP 31134690 A JP31134690 A JP 31134690A JP H04184107 A JPH04184107 A JP H04184107A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- change point
- coordinate
- section
- midpoint
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、テレビカメラ等を用いて対象物像を電気信
号として取り出し、その信号から対象物の外形を検出し
、撮像信号に合わせて所定の領域を発生して特徴量を抽
出し、対象物の外観検査を行なう外観検査装置に関する
。
号として取り出し、その信号から対象物の外形を検出し
、撮像信号に合わせて所定の領域を発生して特徴量を抽
出し、対象物の外観検査を行なう外観検査装置に関する
。
従来、テレビカメラ等からの撮像信号に対し、対象物の
外形に従って所定の検査領域を設定し、この領域内で対
象物の特徴を抽出するに当たり、特に対象物の位置変動
にも対処し得るようにするためには、対象物画像を一旦
メモリに記憶してその外形を検出し、しかる後にメモリ
から画像を取り出しつつ検出された対象物外形位置に対
応する検査領域（検査エリア）を発生して、その領域内
で特徴抽出を行なうようにしているのが一般的である（
例えば、特公昭６３−１２３１０号公報参照）。
外形に従って所定の検査領域を設定し、この領域内で対
象物の特徴を抽出するに当たり、特に対象物の位置変動
にも対処し得るようにするためには、対象物画像を一旦
メモリに記憶してその外形を検出し、しかる後にメモリ
から画像を取り出しつつ検出された対象物外形位置に対
応する検査領域（検査エリア）を発生して、その領域内
で特徴抽出を行なうようにしているのが一般的である（
例えば、特公昭６３−１２３１０号公報参照）。
上記の如き方式では、画像を記憶するためのメモリが必
要になるだけでなく、画像のメモリへの入力、メモリか
らの画像データの出力および処理という２段階の処理が
必要となり、時間が掛かるという問題もある。
要になるだけでなく、画像のメモリへの入力、メモリか
らの画像データの出力および処理という２段階の処理が
必要となり、時間が掛かるという問題もある。
したがって、この発明の解決しようとする課題は高速な
処理が可能な外観検査装置を提供することにある。
処理が可能な外観検査装置を提供することにある。
かかる課題を解決するために、この発明では、対象物を
撮像して得られる撮像信号をラスタ走査しながら２値化
する２値化手段と、その２値化信号の０−１変化点およ
び１−０変化点の各座標位置を検出する位置検出手段と
、各変化点座標値を順次加算しその結果を所定ビット数
だけシフトさせて全変化点の平均化された中点を検出す
る検出手段とを設け、予め設定した数の変化点座標値か
ら平均化された中点を求め、以後の各走査においてこの
中点を起点とする予め設定された位置に所定の検査領域
を発生し、この領域内にて検査対象物に関する特徴抽出
を行なうことを特徴としている。
撮像して得られる撮像信号をラスタ走査しながら２値化
する２値化手段と、その２値化信号の０−１変化点およ
び１−０変化点の各座標位置を検出する位置検出手段と
、各変化点座標値を順次加算しその結果を所定ビット数
だけシフトさせて全変化点の平均化された中点を検出す
る検出手段とを設け、予め設定した数の変化点座標値か
ら平均化された中点を求め、以後の各走査においてこの
中点を起点とする予め設定された位置に所定の検査領域
を発生し、この領域内にて検査対象物に関する特徴抽出
を行なうことを特徴としている。
対象物の先端近傍位置（起点）をはじめの数回の走査に
て検出し、以後の各走査においてこの検出された起点に
対し一定の位置関係を持つ位置に所定の検査領域を発生
させ、その領域内で特徴抽出を実行することで、画像メ
モリを不要とし高速な処理を可能にする。
て検出し、以後の各走査においてこの検出された起点に
対し一定の位置関係を持つ位置に所定の検査領域を発生
させ、その領域内で特徴抽出を実行することで、画像メ
モリを不要とし高速な処理を可能にする。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
この発明による処理を具体的に説明するための説明図で
ある。
この発明による処理を具体的に説明するための説明図で
ある。
第１図において、１は撮像装置としてのテレビカメラ、
２はアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換部、３は変化
点検出部（ＤＥＴ） 、４は変化点計数部（ＣＮＴ）
、５はＸ（水平）座標発生部（ＸＧＥ） 、６はＹ（垂
直）座標発生部（ＹＧＥ）、７はＸ座標加算部（ＡＤＤ
） 、８は座標ラッチ部（ＬＣＨ） 、９は座標シフト
部（ＳＦＴ） 、１０はＸオフセット設定部（ＡＤＪ）
、１１はＸアドレス比較部（ＸＣＭＰ） 、１２はエ
リア発生部（ＡＧＥ）、１３は特徴抽出部（ＦＥＴ）
、１４はマイクロプロセッサ（ＭＰ）、１５はΔＹ計数
部（ΔＹＣＮＴ） 、１６はバスである。
２はアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換部、３は変化
点検出部（ＤＥＴ） 、４は変化点計数部（ＣＮＴ）
、５はＸ（水平）座標発生部（ＸＧＥ） 、６はＹ（垂
直）座標発生部（ＹＧＥ）、７はＸ座標加算部（ＡＤＤ
） 、８は座標ラッチ部（ＬＣＨ） 、９は座標シフト
部（ＳＦＴ） 、１０はＸオフセット設定部（ＡＤＪ）
、１１はＸアドレス比較部（ＸＣＭＰ） 、１２はエ
リア発生部（ＡＧＥ）、１３は特徴抽出部（ＦＥＴ）
、１４はマイクロプロセッサ（ＭＰ）、１５はΔＹ計数
部（ΔＹＣＮＴ） 、１６はバスである。
以下、第２図も参照してその動作につき説明する。
まず、テレビカメラ１からの画像信号はＡ／Ｄ変換部２
において２億化され、この２値化された画像の０→１，
１→０への変化点が変化点検出部３により検出される。
において２億化され、この２値化された画像の０→１，
１→０への変化点が変化点検出部３により検出される。
変化点計数部４はこの各変化点の数を計数し、予め設定
された走査線数分（２”）、すなわち２ Ｘ ２” （
２”’）に達したら終了信号を出力する。Ｘ座標発生部
５゛は画面走査に従ってＸ走査方向における座標値を出
力するが、座標ラッチ部８には変化点検出部３からの信
号が与えられているので、先ず最初の変化点（第２図の
ＸＬＩ参照）に対応するＸ座標がＸ座標加算部７を介し
て座標ラッチ部８にラッチされ、以後変化点検出部３か
ら変化点検出信号が座標ラッチ部８に与えられる毎に、
そのときのＸ座標に対し以前にラッチされていたＸ座標
がＸ座標加算部７にて加算されて座標ラッチ部８にラッ
チされる動作が繰り返され、変化点計数部４から終了信
号を受信した時点では２ｎ＋１個の変化点座標の全積算
値が座標ラッチ部８にラッチされることになる。変化点
計数部４から終了信号を受信すると、座標ラッチ部８の
データは座標シフト部９に与えられ、これを（ｎ＋１）
ビットだけシフトさせることにより、予め設定された個
数の全変化点座標の中点の平均値を求める。
された走査線数分（２”）、すなわち２ Ｘ ２” （
２”’）に達したら終了信号を出力する。Ｘ座標発生部
５゛は画面走査に従ってＸ走査方向における座標値を出
力するが、座標ラッチ部８には変化点検出部３からの信
号が与えられているので、先ず最初の変化点（第２図の
ＸＬＩ参照）に対応するＸ座標がＸ座標加算部７を介し
て座標ラッチ部８にラッチされ、以後変化点検出部３か
ら変化点検出信号が座標ラッチ部８に与えられる毎に、
そのときのＸ座標に対し以前にラッチされていたＸ座標
がＸ座標加算部７にて加算されて座標ラッチ部８にラッ
チされる動作が繰り返され、変化点計数部４から終了信
号を受信した時点では２ｎ＋１個の変化点座標の全積算
値が座標ラッチ部８にラッチされることになる。変化点
計数部４から終了信号を受信すると、座標ラッチ部８の
データは座標シフト部９に与えられ、これを（ｎ＋１）
ビットだけシフトさせることにより、予め設定された個
数の全変化点座標の中点の平均値を求める。
第２図は第１回の走査で変化点ＸＬＩ、ＸＲＩを検出し
、第２回の走査で変化点ＸＬ２．ＸＲ２を検出してその
中点の平均値（ＸＳ、ＹＳ）を起点Ｐとして求めた例を
示している。なお、Ｍｌは変化点ＸＬ１．ＸＲＩの中点
を示す、また、座標ＸＳに対するＹ座標ｙｓはＹ座標発
生部６により検出される。
、第２回の走査で変化点ＸＬ２．ＸＲ２を検出してその
中点の平均値（ＸＳ、ＹＳ）を起点Ｐとして求めた例を
示している。なお、Ｍｌは変化点ＸＬ１．ＸＲＩの中点
を示す、また、座標ＸＳに対するＹ座標ｙｓはＹ座標発
生部６により検出される。
起点（ＸＳ、ＹＳ）はマイクロプロセッサ１４にて読み
取られる。Ｘオフセット設定部１０には座標シフト部９
からの起点座標が与えられる一方、マイクロプロセッサ
１４からは予め定められた量（オフセット量ΔＸ）がセ
ットされるので、Ｘオフセント設定部１０からはＸＳ＋
ΔＸなる量が出力され、Ｘアドレス比較部１１に与えら
れる。ただし、このオフセット量ΔＸは符号付きとし、
ＸＳより右にあるときは正、左にあるときは負とし、予
め適宜な方法にて求めておくものとする。Ｘアドレス比
較部１１はＸ方向走査に伴いＸ座標発生部５から出力さ
れる座標が、 ＸＳ＋ΔＸ＝ＸＯ となったところで、エリア発生部１２にＸ方向でのエリ
ア発生のための起動信号を出力する。
取られる。Ｘオフセット設定部１０には座標シフト部９
からの起点座標が与えられる一方、マイクロプロセッサ
１４からは予め定められた量（オフセット量ΔＸ）がセ
ットされるので、Ｘオフセント設定部１０からはＸＳ＋
ΔＸなる量が出力され、Ｘアドレス比較部１１に与えら
れる。ただし、このオフセット量ΔＸは符号付きとし、
ＸＳより右にあるときは正、左にあるときは負とし、予
め適宜な方法にて求めておくものとする。Ｘアドレス比
較部１１はＸ方向走査に伴いＸ座標発生部５から出力さ
れる座標が、 ＸＳ＋ΔＸ＝ＸＯ となったところで、エリア発生部１２にＸ方向でのエリ
ア発生のための起動信号を出力する。
一方、ΔＹ計数部１５は変化点検出部４からの終了信号
を受けた後の走査量が、Ｙ方向オフセント量をΔＹとし
て、 ＹＳ＋ΔＹ＝Ｙ Ｏ に達したら、エリア発生部１２にＹ方向でのエリア発生
のための起動信号を出力する。エリア発生部１２ではこ
れらの信号を受けて、以後の画面走査に合わせて検査領
域（検査エリア）を発生する。
を受けた後の走査量が、Ｙ方向オフセント量をΔＹとし
て、 ＹＳ＋ΔＹ＝Ｙ Ｏ に達したら、エリア発生部１２にＹ方向でのエリア発生
のための起動信号を出力する。エリア発生部１２ではこ
れらの信号を受けて、以後の画面走査に合わせて検査領
域（検査エリア）を発生する。
検査エリアを第２図に符号Ａにて示す。なお、このオフ
セット量ΔＹや検査エリアＡも適宜な方法にて予め求め
ておくものとする。
セット量ΔＹや検査エリアＡも適宜な方法にて予め求め
ておくものとする。
特徴抽出部１３はこの検査エリアＡ内にて面積を含む対
象物画像の特徴量を抽出し、マイクロプロセッサ１４は
これを読み取り、所定の基準値と比較するなどしてその
良否判定を行なう。
象物画像の特徴量を抽出し、マイクロプロセッサ１４は
これを読み取り、所定の基準値と比較するなどしてその
良否判定を行なう。
こうすることにより、対象物位置が変動してもこれに合
わせた検査領域を発生させることができ、その領域内で
所望の特徴抽出を行なうことが可能となる。
わせた検査領域を発生させることができ、その領域内で
所望の特徴抽出を行なうことが可能となる。
この発明によれば、画像の走査に対応して対象物の先端
近傍の起点位置を検出し、以後の走査でこの起点位置に
オフセット値を与えて検査エリアを発生し、これにもと
づき特徴抽出を行なうようにしたので、検査対象物の画
像を一旦記憶する必要がなく、したがって画像走査と同
時にかつ対象物の位置変動に関わらず、安定かつ正確な
検査が可能となる利点が得られる。
近傍の起点位置を検出し、以後の走査でこの起点位置に
オフセット値を与えて検査エリアを発生し、これにもと
づき特徴抽出を行なうようにしたので、検査対象物の画
像を一旦記憶する必要がなく、したがって画像走査と同
時にかつ対象物の位置変動に関わらず、安定かつ正確な
検査が可能となる利点が得られる。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
この発明による処理を具体的に説明するための説明図で
ある。 １・・・撮像装置（テレビカメラ）、２・・・アナログ
／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換部、３・・・変化点検出部
（ＤＥＴ） 、４・・・変化点計数部（ＣＮＴ） 、５
・・・Ｘ座標発生部（ＸＧＥ） 、６・・・Ｙ座標発生
部（ＹＧＥ） 、７・・・Ｘ座標加算部（ＡＤＤ） 、
８・・・座標ラッチ部（ＬＣＨ） 、９・・・座標シフ
ト部（ＳＦＴ）、１０・・・Ｘオフセット設定部（ＡＤ
Ｊ） 、１１・・・Ｘアドレス比較部（ＸＣＭＰ） 、
１２・・・エリア発生部（ＡＧＥ） 、１３・・・特徴
抽出部（Ｆ ＥＴ）、１４・・・マイクロプロセッサ（
ＭＰ）、１５・・・ΔＹ計数部（ΔＹＣＮＴ） 、１６
・・・バス、Ａ・・・検査エリア。
この発明による処理を具体的に説明するための説明図で
ある。 １・・・撮像装置（テレビカメラ）、２・・・アナログ
／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換部、３・・・変化点検出部
（ＤＥＴ） 、４・・・変化点計数部（ＣＮＴ） 、５
・・・Ｘ座標発生部（ＸＧＥ） 、６・・・Ｙ座標発生
部（ＹＧＥ） 、７・・・Ｘ座標加算部（ＡＤＤ） 、
８・・・座標ラッチ部（ＬＣＨ） 、９・・・座標シフ
ト部（ＳＦＴ）、１０・・・Ｘオフセット設定部（ＡＤ
Ｊ） 、１１・・・Ｘアドレス比較部（ＸＣＭＰ） 、
１２・・・エリア発生部（ＡＧＥ） 、１３・・・特徴
抽出部（Ｆ ＥＴ）、１４・・・マイクロプロセッサ（
ＭＰ）、１５・・・ΔＹ計数部（ΔＹＣＮＴ） 、１６
・・・バス、Ａ・・・検査エリア。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）対象物を撮像して得られる撮像信号をラスタ走査し
ながら２値化する２値化手段と、 その２値化信号の０→１変化点および１→０変化点の各
座標位置を検出する位置検出手段と、各変化点座標値を
順次加算しその結果を所定ビット数だけシフトさせて全
変化点の平均化された中点を検出する検出手段と、 を設け、予め設定した数の変化点座標値から平均化され
た中点を求め、以後の各走査においてこの中点を起点と
する予め設定された位置に所定の検査領域を発生し、こ
の領域内にて検査対象物に関する特徴抽出を行なうこと
を特徴とする外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2311346A JPH04184107A (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | 外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2311346A JPH04184107A (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | 外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04184107A true JPH04184107A (ja) | 1992-07-01 |
Family
ID=18016043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2311346A Pending JPH04184107A (ja) | 1990-11-19 | 1990-11-19 | 外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04184107A (ja) |
-
1990
- 1990-11-19 JP JP2311346A patent/JPH04184107A/ja active Pending
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