JPH04184521A

JPH04184521A - 座標検出方式

Info

Publication number: JPH04184521A
Application number: JP2314751A
Authority: JP
Inventors: Koichi Kobayashi; 浩一小林; Shinpei Kunii; 晋平國井
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1990-11-20
Filing date: 1990-11-20
Publication date: 1992-07-01

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は、座標入力装置における座標検出方式に関する
。

（従来の技術）一般に、座標入力装置では、タブレット面上におけるス
タイラスペン等を用いて任意に指示された位置を示す座
標データが入力される。この座標入力装置を用いること
によって、例えば文字や図形等のパターンを手書きによ
って入力することができる。文字や図形等のパターンは
、ある時間毎に入力される座標データの系列として表現
される。

例えば、電界結合方式を用いた座標入力装置では、タブ
レットにＸ軸方向、Ｙ軸方向に多数の電極がマトリクス
状に配設されており、各電極に順次所定の電圧を印加す
ることによってタブレット面（座標検出面）全体を走査
するようになっている。すなわち、タブレット面上のス
タイラスペンによって指示された座標の検出は、座標検
出面の隅の一点を原点とし、Ｘ軸方向の走査を原点から
行ない、次にＹ軸方向の走査を同様に原点から走査して
（Ｙ軸方向、Ｘ軸方向の順でも良い）、検出したＸ軸と
Ｙ軸の座標値から座標検出面上の１点を決定するもので
ある。

（発明が解決しようとする課題）このように、従来の座標入力装置では、座標検出面のＸ
軸方向の走査を行なった後に、Ｙ軸方向の走査を行なっ
ている。このため、スタイラスペンによる指示位置が、
文字の描画等の際に早く移動するような場合には、Ｘ軸
方向の走査で座標を検出してから、Ｙ軸方向の座標を検
出するまでの時間的間隔が長いために、Ｘ軸方向とＹ軸
方向の走査によって求まった座標値が、本来のスタイラ
スペンによって指示された位置と一致しないことがあっ
た。

本発明は前記のような点に鑑みてなされたもので、座標
検出面上の指示された位置を正確に示す座□標の入力が
可能な座標検出方式を提供することを目的とする。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）本発明は、座標検出面に対して任意に指示された位置の
座標を入力する座標入力装置において、前記座標検出面
を複数の領域に分割し、領域単位で座標測定するもので
ある。

また、隣接する領域の一部を重複させたものである。

また、入力された座標近傍の領域内のみを座標測定する
ものである。

また、領域内の一方向の座標Ｊｌ定によって座標が検出
された場合にのみ、他方向の座標測定を行なうものであ
る。

（作用）このような方式によれば、座標ＩＩ定を座標検出面全体
について繰り返し行なうのではなく領域単位で行なうの
で、座標測定の時間的間隔が狭くなり、指示された位置
が高速に移動している場合であっても、指示位置に対応
する正確な座標が入力される。

また、隣接する領域を一部重複させることにより、領域
の境界近傍が指示されても正確な座標入力が可能となる
。

また、連続して座標検出面に対して位置指示される場合
には、先に入力された座標の近傍において後続する座標
が入力されるものと予測できるため、入力された座標近
傍の領域内のみについて座標測定を行なうことにより、
座標測定の時間的間隔を短縮できる。

また、領域内の一方向の座標測定によって座標が検出さ
れた場合にのみ、他方向の座標測定を行なうので、座標
測定の時間的間隔を短縮できる。

（実施例）以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
。第１図は第１実施例に係わる図である。第１図におい
て、１０は座標検出面（タブレット面）であり、例えば
電極から成る多数の走査線２４（後述する）がＸ軸方向
、Ｙ軸方向にマトリクス状に配設されている。座標検出
面ｌＯは、図中破線で示すように、Ｙ軸方向と平行に複
数のブロック１２−１〜１２−ｎに等分割されている。

この座標検出面１０では、Ａ点を座標の基準となる原点
とする。

また、Ｂ（Ｂ−２〜Ｂ−ｎ）点を各ブロックにおいて走
査を開始する始点とする。（Ａ点とＢ−１点は同一点）
Ｙ軸方向と平行に配設された走査線２４は、各ブロック
毎にそれぞれ対応するシフトレジスタ１４−１〜１４−
ｎが接続されている。シフトレジスタ１４−１〜１４−
ｎは、クロック信号の入力によって走査線２４に順次一
定電圧を印加するものである。各シフトレジスタ１４−
１〜１４−ｎは、デコーダ１６に接続されている。デコ
ーダ１６は、コントローラ１８から入力されたブロック
選択データに応じて制御信号をイネーブルにし、シフト
レジスタ１４−１−１４−ｎの制御を行なうものである
。コントローラ１８は、座標入力装置全体の制御を司る
ものであり、デコーダ１Ｂへのブロック選択データ、ク
ロック信号等を与えると共に、変換器２０からの座標値
決定信号を入力する。変換器２０には、スタイラスペン
２２が接続されている。変換器２０は、スタイラスペン
２２が座標検出面で検出した検出信号を入力し、この信
号を座標値決定信号に変換してコントローラ１８に出力
するものである。なお、スタイラスペン２２にょって検
出される検出信号は、スタイラスペン２２のペン先と電
圧が印加された走査線との間で誘起されるものである。

第２図はシフトレジスタ１４と走査線２４との接続部分
の拡大図である。シフトレジスタ１４には、対応するブ
ロック１２に配設された複数の走査線２４が接続されて
いることを示している。

なお、Ｘ軸方向と平行にも、走査線が配設されている。

ただし、第１実施例では、Ｙ軸方向について複数のブロ
ックに分割していない。

第３図は第２実施例に係わる図である。第２実施例では
、座標検出面１０のブロック１２−１＝　１２−ｎを一
部分重複させたものである。つまり、隣り合ったブロッ
クの端部を重複させて、重複領域２６−１〜２Ｂ−（ｎ
−１）が設けられている。他の部分の構成は、第１実施
例と同一であるので省略する。

次に、第１実施例、第２実施例の動作について説明する
。

座標入力可能状態では、コントローラ１８によってブロ
ック単位毎にＸ軸方向、Ｙ軸方向に走査が行なわれる。

例えば第４図に示すように、スタイラスペン２２によっ
て線Ｃが描画された場合を例にして説明する。従来では
、Ｙ軸方向とＸ軸方向の走査の時間的間隔が長いために
、Ｙ座標ＣＩＹが検出されてから、Ｘ軸方向の走査によ
ってＸ座標Ｃ２Ｘが検出される。このため、求められる
座標はＣ２（Ｃ２Ｘ、　　ＣＩＹ）となり、本来の指示
された位置と大きく異なってしまう。一方、本発明では
、まずブロック１２−ｋ　（Ｋは任意）においてＹ軸方
向を始点Ｂ−ｋから走査を行ないＹ座標ＣＩＹを検出し
、次にＸ軸方向を始点Ｂ−ｋから走査を行ないＸ座標Ｃ
ＩＸを検出する。これにより、求められる座標はＣ１（
ＣＩＸ、　　ＣＩＹ）となり、本来の指示位置との誤差
を極めて少なくすることができる。なお、実腔の座標ｆ
ｒＸ（座標検出面１０における位置）は、始点を基準と
した座標値を原点を基準とした値に変換して求める。

このように走査することにより、スタイラスペン２２に
よる指示位置が早く移動した場合であっても、指示され
た位置の正確な座標を検出することができる。

第２実施例は、隣り合ったブロックと重複する領域を設
けることによって、第１実施例でのブロックＩ２−１〜
１２−ｎの境界線上の座標が検出しにくい点を改善する
ものである。これにより、ブロック１２−１〜１２−ｎ
の境界線近傍の座標も正確に検出することができる。

第５図は第３実施例に係わる図である。第３実施例では
、第１実施例、第２実施例に示すＸ軸方向と同様に、Ｙ
軸方向についても複数のブロック２８−１〜２８１に等
分割されている。各ブロック２８−１〜２８１において
Ｘ軸と平行に配設された走査線は、各ブロック毎にそれ
ぞれ対応するシフトレジスタ３０−１〜３０−ｍが接続
されている。シフトレジスタ３０−１〜３０１は、コン
トローラ１８からのクロック信号の入力によって走査線
に順次一定電圧を印加するものである。各シフトレジス
タ３０−１〜３０−１は、デコーダ３２に接続されてい
る。デコーダ３２は、コントローラＩ８から入力された
Ｙ軸ブロック選択データに応じて制御信号をイネーブル
にし、シフトレジスタ３０−１〜３０１の制御を行なう
ものである。なお、コントローラ１８からデコーダ１６
に対しては、Ｘ軸ブロック選択データが出力される。

次に、第３実施例の動作について説明する。

第３実施例では、座標が入力された場合に、それ以降の
座標検出を検出された座標の近傍のブロック（対象ブロ
ック）について行なうことによって、Ｘ軸方向の走査と
Ｙ軸方向の走査の時間的間隔を短縮しようとするもので
ある。例えば、第６図に示すように、座標検出面ＩＯ上
の点りが、第１八日として検出された場合には、次の座
標測定により検出が予想される点は、描画速度に応じた
最大移動距離半径Ｒの円内と予想される。このため、座
標測定を原点から行なうのではなく、円内の対象ブロッ
ク（図中破線で示す）についてのみ走査すれば良いこと
になり、Ｘ座標の検出からＹ座標検出までの時間的間隔
を短縮することができる。

第６図に示す状態では、Ｘ座標、Ｙ座標の走査を、対象
ブロックの始点Ｅから開始し、対象ブロック内について
のみ行なう。この動作について、第７図に示すフローチ
ャートを参照しながら説明する。

はじめに、予め、初期設定された描画速度Ｖをもとに、
先に検出された座標位置から次に検出されると予想され
る座標までの最大移動距離半径Ｒを算出する。この半径
Ｒに応じて、座標１７定処理中に走査の対象となる対象
ブロックが設定される。

ここでは、説明を簡単にするために、Ｘ軸方向、Ｙ軸方
向のそれぞれに、第６図に示すように、Ｘｌ−Ｘ８、Ｙ
　１−Ｙ　６のブロックが設定されているものとする。

まず、第１番目の座標測定の場合には、Ｘ１ブロツクの
Ｙ軸方向の座標測定を行なう（ステップ８１〜Ｓ３）。

この走査では、各ＸｎブロックのＹ座標測定を行なって
いる。座標が検出されない場合には、測定を繰り返す（
ステップＳ４）。ステップＳ４において座標検出があっ
た場合には、検出されたＹ座標値を、例えばコントロー
ラ１８内のレジスタに保存する（ステップＳ５）。そし
て、Ｘ１ブロツクのＸ軸方向の座標測定を行なう（ステ
ップＳ６）。ここで、座標が検出されない場合には（ス
テップＳ７）、測定対象とするブロックを変更してステ
ップＳ３に移り、Ｘ２ブロツクのＹ軸座標の測定を行な
う。こうして、原点方向からブロック単位で順にＸ軸座
標、Ｙ軸座標を走査することにより、Ｙ軸座標を検出し
てからＸ軸座標を検出するまでの時間的間隔が短縮され
る。

こうして、ステップＳ６においてＸ軸座標が検出される
と、ブロック単位で測定したＸ軸座標を原点から測定し
た場合の座標に変換する（ステップＳ９）。すなわち、
Ｘ軸方向の走査によって検出したＸ軸座標値は、ブロッ
ク単位の始点からの走査で求まった値のため、この値を
原点を基準とした座標値に変換するものである。変換方
法は、同じ座標幅のブロックの場合、第ｎ番目のブロッ
クで検出したＸ軸の座標値をに１ブロツクのＸ軸の座標
幅がしい求める原点からの座標値をＮとすると、Ｎ　−（ｎ　−１）　Ｘ　Ｌ　＋　Ｋ　　　　−（１）
となる。

こうしてＸ軸座標、Ｙ座標から第１番目の測定によって
検出された点りが求められる（ステップＳ　１０）。検
出された点ＡのＸ軸、Ｙ軸の座標値は、レジスタに保存
される（ステップＳ　１１．　　Ｓ　１２）。

ｔＪ２番目の点の測定は、点Ａを基準とした対象ブロッ
クについて行なわれる。まず、点Ａ（ステップＳ１２に
おいて保存された座標）を中心とする、予め設定された
描画速度■に基づく最大移動距離半径Ｒ内に位置する対
象ブロックを算出する（ステップＳ　１３）。第６図に
示すように、点Ａがブロック（Ｘ５．Ｙ４）内に検出さ
れた場合、距離半径Ｒに応じて対象ブロックが（Ｘ４〜
Ｘ６．Ｙ３〜Ｙ５）に設定される。そして、対象ブロッ
クの始点（第６図中点Ｅ）からＹ軸座標の測定を行なう
（ステップＳ　１４）。これにより、座標検出があった
場合には、検出されたＹ軸座標をレジスタに保存する（
ステップＳ１５．５１Ｂ）。次に、対象ブロックの始点
からＸ軸座標の測定を行なう（ステップＳ　１７）。こ
れにより、座標検出があった場合には（ステップ５ｌｌ
ｉ）、Ｘ軸座標、Ｙ軸座標を原点からの座標に変換しく
ステップ５Ｌ９）、Ｘ軸。

Ｙ軸の座標をレジスタに保存する（ステップＳ２０゜５
１２）。以降の点は、前記同様にしてステップＳ１２に
おいて保存された座標を基準とした対象ブロック内を走
査することにより検出される。なお、ステップ５１５、
Ｓｌｌ＋において、座標が検出されていない場合には、
ステップＳ２の処理に移る。

このようにして、座標検出面ＩＯを複数のブロックに分
割し、ブロック毎に座標測定を行なうことによって、Ｘ
軸方向、Ｙ軸方向の座標検出の時間的間隔が短縮される
ので、スタイラスペン２２によって指示された本来の位
置と検出された座標との誤差を極めて小さくすることが
できる。特に、隣り合ったブロックと重複する領域を設
けることにより、境界線近傍の座標も正確に検出するこ
とができる。さらに、検出された座標から所定範囲内の
ブロックについてのみ走査を行なうことにより、Ｘ軸方
向、Ｙ軸方向の走査の時間が短縮されて、Ｘ軸座標が検
出されてからＹ軸座標が検出されるまでの時間的間隔が
短縮され、正確な座標検出を行なうことができる。

なお、第３実施例において、対象ブロックのサイズを、
予め設定された最大移動距離半径Ｒに基づいて設定する
ものとしたが、処理過程中に描画速度Ｖを測定し、この
描画速度Ｖに応じて設定するようにしても良い。また、
第３実施例では、隣り合ったブロックに重複領域を設け
ていないが、第２実施例のように重複領域を設けた構成
にすることもできる。

［発明の効果］以上のように本発明によれば、座標検出面を複数の領域
に分割し、この領域単位で指示された位置の座標測定を
行なうことにより、座標測定の時間的間隔を狭くするこ
とができるので、指示位置が移動している場合であって
も正確な座標の入力が可能となるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１実施例に係わる座標検出面を示す
図、第２図は第１図に示すシフトレジスタと走査線との
接続部分の拡大図、第３図は本発明の第２実施例に係わ
る座標検出面を示す図、第４図は座標検出の動作を説明
するための図、第５図は本発明の第３実施例に係わる座
標検出面を示す図、第６図は第３実施例の動作を説明す
るための図、第７図は座標検出の動作手順を示すフロー
チャートである。１０・・・座標検出面、１２．２８・・・ブロック（領
域）、１４、３０・・・シフトレジスタ、１６．３２・
・・デコーダ、１ｇ・・・コントローラ、２０・・・変
換器、２２・・・スタイラスペン、２４・・・走査線、
２Ｂ・・・ＩＹＩ複領域。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第１図第２図第３図第　７　囚　（そのｌ）第　７　図　（その２）

Claims

【特許請求の範囲】

（１）座標検出面に対して任意に指示された位置の座標
を入力する座標入力装置において、前記座標検出面を複
数の領域に分割し、領域単位で座標測定することを特徴
とする座標検出方式。
（２）隣接する領域の一部を重複させたことを特徴とす
る第１請求項記載の座標検出方式。
（３）入力された座標近傍の領域内のみを座標測定する
ことを特徴とする第１請求項または第２請求項記載の座
標検出方式。
（４）領域内の一方向の座標測定によって座標が検出さ
れた場合にのみ、他方向の座標測定を行なうことを特徴
とする第１請求項または第２請求項または第３請求項記
載の座標検出方式。