JPH0418603B2 - - Google Patents

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JPH0418603B2
JPH0418603B2 JP13194082A JP13194082A JPH0418603B2 JP H0418603 B2 JPH0418603 B2 JP H0418603B2 JP 13194082 A JP13194082 A JP 13194082A JP 13194082 A JP13194082 A JP 13194082A JP H0418603 B2 JPH0418603 B2 JP H0418603B2
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JP
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observation
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JP13194082A
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Fuminobu Furumura
Koichi Pponma
Nobutake Yamagata
Yutaka Kubo
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は3次元空間における物体の位置計測シ
ステムに係り、特に複数の簡単な受動型センサを
用いて分散処理により物体位置を精密に計測する
のに好適なシステムに関する。 3次元空間における物体の位置(x,y,z)
を計測する受動的手段として従来光学的距離計が
用いられている。距離計から得られる、観測点か
ら対象物体までの距離情報と、別途光学的センサ
を用いて対象の像を撮り、その像のセンサ面上で
の位置情報から算出できる、観測点から見た該対
象物体の方位情報とにより、該物体の観測点を基
準とした位置が得られる。しかしこの方法では遠
距離にある物体は、距離計の距離計測精度が落ち
るため、その空間での位置の計測精度が低くなる
という欠点があつた。 したがつて、本発明の目的は遠距離にある物体
の3次元空間における位置を精度良く計測するシ
ステムを提供することにある。 この目的を達成するため本発明では、相異なる
位置に分散して設置した複数のセンサによる対象
物体の方位情報にもとづいて、立体幾何学計算を
行なうことにより上記センサごとに物体の位置を
算出するようにした点に特徴がある。 ここで本発明で用いる立体幾何学の原理を説明
する。初めに2つの観測点からの方位観測情報か
ら対象物体の位置を算出する方法を述べる。第1
図の1,2を観測点、3を対象物体点とする。観
測点1に固定された座標系10(x1,y1,z1)を
基準座標系とする。この座標系で点2の位置ベク
トルをr 21、点1から3への視線ベクトル(単位
長さ)4をu 11、点2から3への単位長さの視線
ベクトル5をu 21、未知の点3の位置ベクトルr
3 1と表わすものとする。このとき点3の位置ベク
トルr 3 1は、点1から3への視線と、点2から3
への視線との交点として次式で求まる。 r 3 1=t1 u 11 =r 21+t2 u 21 (1) ただし、t1,t2はパラメータ(スカラー量)で
ある。 視線ベクトルは例えば次のようにして得られ
る。第2図の観測点6に中心を持つ光学センサを
考える。点6を原点とする座標系8のy軸上で原
点6から上記センサの焦点距離fだけ離れたとこ
ろにある焦点面7に対象物体iのセンサ像9があ
るとする。像9の座標を(xf,f,zf)とすれば
点6と像9を結ぶ視線に沿つた視線ベクトルは u=(xf/d,f/d,zf/d)T (2) で与えられる。 但し、 d=(xf 2+f2+zf 2)1/2 (3) T:転置行列を示す記号 である。第1図の点1における座標系10で定義
される視線ベクトルu 11はこの方法で求まる。同
様にして点2における視線ベクトルとして点2に
固定された座標系11(x2,y2,z2)で定義され
たu 22が(2)式で得られる。u 22は座標系10で定
義したu 21に次の式で変換できる。 u 21=G12 u 22 (4) ここにG12は座標系11の各軸方向を座標系1
0の各軸方向に合致させるための回転マトリツク
スである。 以上まとめると、回転マトリツクスG12、座標
系10で定義した点2の位置ベクトルr 21が既知
であれば、点1および点2のセンサで(2)式に従つ
て観測された視線ベクトルu 11,u 22から、(4)
式、(1)式により未知の点3にある物体の座標が求
まる。 次に2つの観測点におけるセンサ像の相対位置
関係を算出する方法を述べる。これにもとづき第
1図の2つの観測点1,2について(1)式中の位置
ベクトルr 21、(4)式中の回転マトリツクスG12を
求める。いま位置が未知のN個の点に物体i(i
=1,……,N)があり、点1および点2のセン
サでその像が得られているとする。物体iの座標
系10および11での位置ベクトルをそれぞれr
1 i,r 2 iとすると、両者の間には r 2 i=G12 -1(r 1 i−r 21) (5) (G12 -1:G12の逆行列) なる関係がある。観測センサが第2図の観測点6
に中心を持つごとき光学センサであるとすれば、
観測点1にあるセンサ(S1とする)で観測した物
体iの像の位置は xf1 i=f1x1 i/y1 i,zf1 i=f1z1 i/y1 i (6) また観測点2にあるセンサ(S2とする)での像の
位置は xf2 i=f2x2 i/y2 i,zf2 i=f2z2 i/y2 i (7) で与えられる。ただし、f1,f2はセンサS1,S2の
焦点距離で既知、r 1 i=(x1 iy1 iz1 i)T,r 2 i=(x2 iy
2 i
z2 i)Tとする。そこでN個の物体の両センサ面上で
の像の位置が測定できれば、(5),(6),(7)の関係式
から最小2乗法を用いて回転マトリツクスG12と
単位ベクトルr 21′が求まる。ここに r 21′=r21/r21,(r21:観測点1,2間の距離)(
8) である。解法は例えば次の文献で述べられてい
る。 D.Gennery,Stereo−Camera Calibration,Proc.of ARPA Image
Understonding Workshop,101−107,
Nov.1978。この方法では観測点2の1に対する
位置は方向を示す単位ベクトルr 21′のみが求ま
り、その距離r21は不足である。このr21は次の方
法で得る。すなわちN個の点物体のうち1組2点
についてその距離が既知とする。この2点をk,
lとし距離をrklとする。上記方法で得た回転マト
リツクスG12、単位ベクトルr 21′と、点kにある
物体の観測点1および2の両センサにおける像の
位置から(2)式に従つて求めた視線ベクトルu 11 k,
u22 kから(4)式,(1)式により点kの位置ベクトル
rk′が得られる。但し(1)式でr 21の代りにr 21′を
用いる。点lについても同様に位置ベクトルr
l′が得られる。そこで既知の距離rklを用いて r21=rkl/|rk′−rl′| (9) なる計算で2つの観測点1,2間の距離r21が与
えられる。これから(8)式に従つて未知の位置ベク
トルr 21が求まる。以上の方法でG12とr 21が決
定できる。ここでマトリツクスG12と、ベクトル
r21とを合わせて相対位置情報と呼ぶ。 以下、本発明を実施例にもとづき詳細に説明す
る。第3図は本発明による3次元空間における物
体位置計測システムの全体構成図である。観測点
ごとに観測装置12(・点で示す)が設置され、
それらは相互に回線13で結ばれている。位置が
未知の対象物体を14、較正用物体を15とす
る。第4図は観測装置12の構成図である。該装
置は第i観測点に設置されているとする。観測装
置12は、検出手段200と、処理装置100
と、通信手段40とから成る。検出手段200
は、センサ17と、検出回路18とから成る。通
信手段40は、送信器26と、受信器27とから
成る。センサ17は物体14からの光線16をと
りこむ。検出回路18はセンサ面上の物体の像位
置を検出し、(2)式の計算を行ない物体への単位視
線ベクトルu iiを算出する。u iiの値は送信器26
により回線13を通して他の観測装置へ送られ
る。他の観測装置から回線13を通して送られて
きた単位視線ベクトルu jj(j≠i)は受信器2
7により受け取られ位置算出回路19に送られ
る。メモリ20には該観測点iと他の観測点jと
の相対位置関係を示す相対位置姿勢情報すなわち
回転マトリツクスGijと位置ベクトルrijがすべて
のjについて蓄えられている。位置算出回路19
は受信器27の出力である観測点jでの単位視線
ベクトルu ijと、メモリ20から読み出したマト
リツクスGijおよびベクトルr jiを用いて、(2)式お
よび(1)式の演算を行なつて物体14の位置rを算
出する。こうして物体の3次元空間における未知
の位置が計測できる。この結果は操作装置21に
送られ、この値にもとづいて所定の制御を行なわ
せることができる。以上が本発明による位置計測
システムの基本動作である。なお、メモリ20に
は、外部入力装置25(たとえば、キーボード入
力装置)を介してあらかじめ計算に必要なマトリ
ツクスGijおよびベクトルr jiの値が収納されてい
るものとする。これは各観測点の位置とセンサの
とりつけ方向(センサ面の方向が、x,y,z軸
となす角度で表わされる)があらかじめ正確に判
つている場合である。 次にこの各観測点の位置とセンサのとりつけ方
向があらかじめ判つていない場合の動作を説明す
る。このとき以下に述べる方法によりマトリツク
スGij,ベクトルr jiを較正演算回路22で計算し
結果を相対位置情報としてメモリ20に蓄える。
この較正動作が完了した後の未知の物体位置計測
の動作は上述のとおりである。第3図のごとく較
正用の物体15を任意の位置に複数設置する(そ
の数をNとする)。各観測装置12ではこれら較
正用物体15の像を次々撮影する。第4図の観測
装置12の設置位置をiとする。前述の未知の物
体位置計測の時と同様にセンサ17、検出回路1
8により物体15への視線ベクトルが得られる。
第k番目の較正用物体への視線ベクトルをu ii kと
する。すべてのkについてu ii kを送信器26、回
線13を介して他の観測装置12に送る。他のj
地点の観測装置12から回線13を通して送られ
た視線ベクトルu jj k(k=1,……,N)は受信
器27で受信したのち較正演算回路22に送られ
る。回路22は、検出回路18の出力であるu ii k
と、受信器27の出力であるu jj k(k=1,…
…,N)にもとづき、(5),(6),(7)式を前述の最小
2乗法により解いて回転マトリツクスGijと単位
ベクトルr ji′を求める。一方、較正用物体15の
うちの2個(kとlとする)についてその距離rkl
が既知で外部入力装置24(たとえば、キーボー
ド入力装置)から与えられるとする。これを用い
て回路22は(9)式により観測点iとjとの距離rji
を算出し、(8)式により所望の位置ベクトルr jiを
得る。上記の演算をおこなう較正演算回路22と
しては通常のマイクロプロセツサを用いればよ
い。こうして算出したマトリツクスGijとベクト
ルr jiはメモリ20に蓄えられる。以上の較正演
算を、該観測点をiとするとき、すべての観測点
j(j≠i)について行なつて結果をメモリ20
に蓄えておく。 以上述べた複数の観測装置を結んで物体位置を
計測する方式では観測装置が2個あれば原理的に
動作可能である。しかし観測装置数を3以上にす
ることにより精度の向上、信頼性の向上、協調操
作の実現が可能となる。まず複数の観測装置があ
れば各観測装置と他の装置との組合せのそれぞれ
について相互の位置および方向の較正演算と、未
知物体の位置計測が可能であり、この結果を平均
する等の処理により較正精度、物体位置計測精度
を高めることができる。 次に複数の観測装置があればそのうち1つまた
はそれ以上が故障して動作しなくなつても、残り
装置が2つ以上あれば機能するので全体としての
信頼性が向上する。 また複数観測装置の協調動作が可能である。例
えば観測装置がその観測点から対象物体までの距
離を測定し、距離が最小の装置のみに所定の操作
をほどこしたい場合には次のようにすればよい。
第i番目の観測装置で前述の動作で物体までの位
置ベクトルrを算出したとする。第4図の判定回
路23は、メモリ20から他の観測装置jの位置
ベクトルr jiをすべてのjについて読み出し、|r
−r ji|の最小のものと|r|とを比較し、その
最小値を与える装置を、該対象物体に最も近い装
置と判定する。もし判定結果として該装置iが最
も近いと判定されたならば、操作装置21に所定
の操作を行なわせる。 以上述べた較正すなわちセンサの相互位置関係
算出の演算、および未知物体の位置測定の演算
は、複数のセンサからの信号を中央処理装置(図
示せず)に取りこんで、まとめて行なうことも可
能であるが、本実施例のように各観測装置ごとに
行なう分散処理方式にすれば全体の信頼性を高め
る効果がある。 以上述べたごとく本発明によれば、複数の観測
装置で相違なる位置から測定した方位情報から、
立体幾何学演算により物体の未知の位置を、推定
できる。これにより従来の光学的距離計を用いた
測定よりも、遠距離物体の位置測定精度を高める
ことができる。また方位測定は距離測定よりも簡
単な装置で高精度でおこなうことができる。また
本発明の、較正用物体を用いた較正方式によれば
各観測装置の位置と方向が算出できるので、較正
のための厳密な測量が不要となり、観測装置を任
意の位置に移動設置することが可能となる。さら
に複数の観測装置を組合せて使うことにより位置
測定精度を装置数に応じて高めることが可能であ
る。また位置測定を短い周期でくり返すことによ
り移動物体の位置測定も可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は方位観測から物体位置を計測する原理
を示す図、第2図はセンサ面上の像位置と視線の
関係を示す図、第3図は本発明の位置計測システ
ムを用いた装置の全体図、第4図は第3図の構成
要素である観測装置の構成図である。 1,2……観測点、3……対象物体、7……セ
ンサ面、9……センサ上の像、12……観測装
置、13……回線、14……対象物体、15……
較正用物体、17……センサ、18……検出回
路、19……位置算出回路、20……メモリ、2
1……操作装置、22……較正演算回路、23…
…判定回路、26……送信器、27……受信器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 観測装置12と、回線13とを有する物体位
    置計測システムであつて、 観測装置12は、 処理装置100と、検出手段200と、通信手
    段40とを有し、任意の複数位置に配置され、回
    線13を介して相互に交信可能であり、 検出手段200により計測対象物体の該観測装
    置12からみた方位を検出し、また、検出した方
    位を通信手段40および回線13を介して他の各
    観測装置12に送信し、 かつ、回線13および通信手段40を介して他
    の各観測装置12から、該各観測装置からみた該
    計測対象物体の方位を受信し、 処理装置100は、該観測装置12からみた方
    位と、他の各観測装置12からみた方位と、あら
    かじめメモリ20に蓄えた該観測装置12と他の
    各観測装置12との既知の相対位置姿勢情報とを
    用いて、該計測対象物体の位置を算出する手段を
    有する 物体位置計測システム。 2 上記観測装置12は、 処理装置100が算出した計測対象物体の位置
    と、上記相対位置姿勢情報とを用いて、該観測装
    置12のとるべき操作を判定する手段を有する 特許請求の範囲第1項に記載の物体位置計測シ
    ステム。 3 観測装置12と、回線13とを有する物体位
    置計測システムであつて、 観測装置12は、 処理装置100と、検出手段200と、通信手
    段40とを有し、任意の複数位置に配置され、回
    線13を介して相互に交信可能であり、 少なくとも1組2個の較正用物体についてその
    間の距離が既知である、任意の位置に置いた各較
    正用物体15の、該観測装置12からみた方位を
    検出手段200により検出し、また、検出した各
    方位を通信手段40および回線13を介して他の
    各観測装置12に送信し、 かつ、回線13および通信手段40を介して他
    の各観測装置12から、該各観測装置からみた該
    各較正用物体の方位を受信し、 処理装置100は、該観測装置12からみた各
    方位と、他の各観測装置12からみた各方位とを
    用いて、該観測装置12と他の各観測装置12と
    の相対位置姿勢情報を算出し、該情報をメモリ2
    0に蓄える手段を有する 物体位置計測システム。
JP13194082A 1982-07-30 1982-07-30 物体位置計測システム Granted JPS5923214A (ja)

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JP13194082A JPS5923214A (ja) 1982-07-30 1982-07-30 物体位置計測システム

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JPS5923214A JPS5923214A (ja) 1984-02-06
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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NL192312C (nl) * 1984-04-06 1997-05-07 Geeris Holding Nederland Werkwijze en systeem voor het bepalen van de coördinaten van terreinpunten.
JPH0634646Y2 (ja) * 1986-11-06 1994-09-07 川崎重工業株式会社 自動車の車体の作業装置
JPS63148329U (ja) * 1987-03-23 1988-09-29

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