JPH04198769A - Ｈｃｔ接触不良時のスイッチング素子の保護方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ａ、産業上の利用分野 本発明は、ホール電流検出器（ＨＣＴ）を用い閉ループ
で電流制御を行うインバータ装置のＨＣＴと制御回路と
の間の接続不良による過大電流による破損からスイッチ
ング素子を保護する方法に関する。

Ｂ０発明の概要 本発明は、ＨＣＴのコネクタにＨＣＴケーブル側ハ中ハ
ウジング続された一対のピンを設けてそのピン回路に抵
抗を介して電圧を印加しその電流を検出してコネクタの
接触状態を判定、又はＨＣＴに供給する電源に流れる電
流を検出してＨＣＴの正常動作時の範囲にあるか否かを
判定し、その判定結果を用いてインバータのスイッチン
グ素子のゲートを遮断してＨＣＴ接続不良時にスイッチ
ング素子に過電流が流れることのないようにするもので
ある。

Ｃ９従来の技術 電流検出器を用い閉ループで電流制御を行うインバータ
装置は第３図に示すように、マイクロコンピュータ内部
で算出した出力電流指令値と、電流検出器からの現在出
力電流値のフィードバックにより出力電流を決定する閉
ループを構成している。この電流検出器には一般的にホ
ールＣＴ（以下単にＨＣＴという）が使用され、ＨＣＴ
と制御回路はコネクタにより接続されている。

Ｄ０発明が解決しようとする課題 上記閉ループにおいて、インバータを始動すると、電流
を出力するが、ＨＣＴから配線されるＨＣＴ用コネクタ
が抜けていた場合、電流検出値は０となるため電流指令
は出力電流を増加させる方向に動く。その結果、出力電
流が急激に増加する。

過電流の保護はこの電流検出値を使用しているためＨＣ
Ｔ用コネクタが抜けていると過電流検出ができず、出力
電流はスイッチング素子の定格を超えて破損に至る。

本発明は、従来のこのような問題点に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、ＨＣＴ用コネクタ
が配線されないまま運転してもインバータのスイッチン
グ素子を破壊から保護することができるＨＣＴ接続不良
時のスイッチング素子の保護方法を提供することにある
。

Ｅ０課題を解決するための手段 上記目的を達成するために、本発明におけるＨＣＴ接続
不良時のスイッチング素子の保護方法は、ＨＣＴの検出
電流をコネクタを介して制御回路にフィードバックし閉
ループで電流制御を行うＣＰＵを用いたインバータ装置
において、前記コネクタにＨＣＴケーブル側ハ中ハウジ
ング続された一対のピンを設け、そのピン回路に抵抗を
介して電圧を印加し、一対のピン回路に流れる電流を検
出し、検出した電流値からコネクタの接触状態の良否を
判定し、その判定結果を用いてインバータのスイッチン
グ素子のゲートを遮断するものである。

また、前記ＨＣＴに供給する電流に流れる電流を検出し
、検出した電流値がＨＣＴの正常動作時の範囲にあるか
否かを判定し、その判定結果を用いてインバータのスイ
ッチング素子のゲートを遮断するようにしてもよい。

そして、判定結果はＣＰＵに取り込みＨＣＴ回路の配線
不良を表示することもできる。

Ｆ０作用 ＨＣＴ用コネクタをハウジングで接続された一対のピン
を有するものとして、その一対のピンに抵抗を介して電
圧を印加すれば、その電流はコネクタの接触状態により
変るので、その電流値を検出することによりコネクタの
接触状態の良否が判定できる。

また、ＨＣＴに供給する電源に流れる電流はＨＣＴのコ
ネクタの接触状態により変るので、この電流を検出し、
その電流値がＨＣＴの正常動作時の範囲にあるか否かを
判定すればコネクタの接触状態の良否が判定できる。

しかして、上記によりコネクタの接触状態が不良と判定
されたときインバータのスイッチング素子のゲートを遮
断すれば、ＨＣＴからのフィードバック不良によるスイ
ッチング素子の過電流を未然に防止してスイッチング素
子を保護することができる。

Ｇ、実施例 本発明の実施例について図面を参照して説明する。

実施例１ 第１図において、１１は基板側ピン１２とケーブル側ハ
ウジング１３からなるＨＣＴ用コネクタである。コネク
タ１１の１〜４番目のピンはＨＣＴ回路用、５，６番目
のピンはハウジング１３において線１４により接続され
たコネクタ接触状態検出用ピンで、５番目のピンは制御
回路電源＋１５Ｖに接続され６番ピンは抵抗Ｒ１を介し
て電源０ｖに接続されている。

、１５はコネクタの接触状態の良否を判定するＮＡＮＤ
回路で、抵抗Ｒ１の端子電圧とインバータ運転するラン
信号が入力されるようになっており、コネクタの接触状
態が良い場合はラン信号が入力するとゲートエナブル（
ＥＮＡＢＬＥ）信号が出力され、接触状態の不良の場合
はラン信号が入力されてもゲートエナブル信号が出力さ
れないようになっている。１６はインバータのスイッチ
ング素子を駆動するゲート回路で、ゲートパルス発生回
路（図示省略）よりのゲートパルスとＮＡＮＤ回路１５
からのゲートエナブル信号が入力されるようになってい
る。

しかして、コネクタ１１の接触状態が良の場合は、ラン
信号がＮＡＮＤ回路に入力するとゲートエナブル信号が
ゲート回路１６に入力するので、スイッチング素子はゲ
ート回路１６のゲート駆動信号により駆動されコネクタ
１１の接触状態が不良の場合は、抵抗Ｒ１の端子電圧が
所定の電圧に達しないためＮＡＮＤ回路１５にラン信号
が入力してもゲートエナブル信号が有効に出力されない
。

このため、ゲート回路１６はＯＮＬないので、インバー
タのスイッチング素子がコネクタの接触不良によるフィ
ードバック不良に基づく過電流による破損から保護され
る。

実施例２゜ 第２図について、２０はＨＣＴ、２１は通常のＨＣＴ用
コネクタ、２２はＨＣＴ出力が入力される電流検出回路
、２３は電流指令回路、２４は電流指令回路２３の電流
指令と電流検出回路２２の検出電流からゲートパルスを
発生させるゲートパルス発生回路、２５はゲートパルス
発生回路２４からのゲートパルスが入力されインバータ
のスイッチング素子を駆動するゲート回路、２６は丑ネ
クタの十電源回路用ピンと制御電源＋１５Ｖとの間に挿
入されたＨＣＴに供給する電源の電流を検出する抵抗、
２６は抵抗Ｒ２の端子電圧が入力する差動アンプ、２７
は差動アンプ２６の出力を制御電源＋１５Ｖを抵抗Ｒ３
とＲ４で分圧した基準電圧と比較しゲート回路２５のゲ
ートエナブル信号を出力するコンパレータである。

しかして、コネクタ２１の接触状態が良い場合は、ＨＣ
Ｔ２０の電源＋１５Ｖ回路に所定の電流が流れ、抵抗Ｒ
２の両端子間型圧は所定電圧となるので、コンパレータ
２７にゲートエナブル信号が有効に出力され、ゲート回
路２５は導通し、インバータのスイッチング素子は駆動
される。

コネクタ２１の接触状態が不良の場合は、ＨＣＴ２０の
電源＋１５Ｖ回路に所定の電流が流れず、抵抗Ｒ２の両
端子間型圧は所定電圧とならないので、コンパレータ２
７にゲートエナブル信号が有効に出力されない。このた
めゲート回路２５はＯＮしないので、インバータのスイ
ッチング素子がコネクタの接触不良によるフィードバッ
ク不良に基づく過電流による破損から保護される。

実施例１及び２におけるエナブル信号をＣＰＵ（図示省
略）に取り込むことによりＨＣＴ用コネクタ乃至ＨＣＴ
回路の不良表示を行うことができる。

Ｈ１発明の効果 本発明は、上述のとおり構成されているので、次に記載
する効果を奏する。

■　ＨＣＴ用コネクタの接続不良のままインバータを運
転してもゲート回路につながっているエナブル信号が有
効とならず、ゲート回路はＯＮＬない。そのためスイッ
チング素子をコネクタの接続不良時の過電流による破壊
から保護することができる。

■　請求項（２）の方法によれば、コネクタのピン数を
増やす必要がなく、従来コネクタを使用したものに適用
でき実用性が高い。

また、コネクタの接触状態をピン数を増やすことなくＨ
ＣＴの電源電流でみているので、ＨＣＴ回路の接続不良
を確実に検出することができる。

■　請求項（３）の方法によれば、不良個所をすぼやく
認識することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は夫々本発明の実施例１及び２の方法
に使用するスイッチング素子保護回路を示すブロック回
路図、第３図はインバータの電流制御ループ説明図であ
る。 １．１６．２５・・・ゲート回路、２・・・スイッチン
グ素子、３・・・モータ、１１．２１・・・コネクタ、
１２・・・ピン、１３・・・ハウジング、１５・・・Ｎ
ＡＮＤ回路、４，２０・・・ＨＣＴ、２２・・・電流検
出回路、２３・・・電流指令回路、２４・・・ゲートパ
ルス発生回路、２６・・・差動アンプ、２７・・・コン
パレータ。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）ＨＣＴの検出電流をコネクタを介して制御回路に
   フィードバックし閉ループで電流制御を行うＣＰＵを用
   いたインバータ装置において、前記コネクタにＨＣＴケ
   ーブル側ハウジングで接続された一対のピンを設け、そ
   のピン回路に抵抗を介して電圧を印加し、一対のピン回
   路に流れる電流を検出し、検出した電流値からコネクタ
   の接触状態の良否を判定し、その判定結果を用いてイン
   バータのスイッチング素子のゲートを遮断することを特
   徴とするＨＣＴ接続不良時のスイッチング素子の保護方
   法。
2. （２）ＨＣＴの検出出力電流をコネクタを介して制御回
   路にフィードバックし閉ループで電流制御を行うＣＰＵ
   を用いたインバータ装置において、前記ＨＣＴに供給す
   る電流に流れる電流を検出し、検出した電流値がＨＣＴ
   の正常動作時の範囲にあるか否かを判定し、その判定結
   果を用いてインバータのスイッチング素子のゲートを遮
   断することを特徴とするＨＣＴ接続不良時のスイッチン
   グ素子の保護方法。
3. （３）前記判定結果を前記ＣＰＵに取り込みＨＣＴ回路
   の配線不良を表示することを特徴としたＨＣＴ接続不良
   時のスイッチング素子の保護方法。