JPH04199107A - 放電電極棒の劣化診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、通信用光ファイバ等の融着接続装置において
、該装置に備えている光ファイバ側方観察系を用いて、
放電電極棒の劣化を診断する方法に関するものである。

（従来の技術） 光ファイバの融着接続装置では、先端を鋭く加工した１
対の放電電極棒に高電圧を印加し、放電により生した熱
によって光ファイバを溶融し、接続する。この際、溶融
した光ファイバの主成分であるＳｉＯ３は気化し、電極
棒の先端に付着する。同一の電極棒で放電を繰り返した
場合、電極棒の先端に堆積した５１０２によって放電状
態が乱れ、もはや安定した融着接続か不可能となる。

このため、従来の融着接続装置では、放電回数計数用の
カウンタを組込むか、あるいは、放電回数を不揮発性メ
モリに記憶させ、モニタに数値を表示する等の方法によ
り、オペレータは、経験的に得た規定回数に達したら放
電電極棒を新しいものに交換していた。

（解決しようとする課題） 上述のように従来の融着接続装置では、単純に放電回数
のみ計数し、その回数を放電電極棒交換の目安としてい
た。しかし、接続可能な光ファイバの構造及び心線数が
多種多様な融着接続装置では、その被接続光ファイバの
種類によって、たとえ同一の放電回数でも、電極棒に堆
積する５１ｏ２の量、即ち電極棒の劣化の度合が異なる
ので、放電回数を放電電極棒劣化の判断基準として用い
るのには問題があった。

（課題を解決するための手段） 本発明は上述の問題点を解消した光ファイノく融着接続
装置における放電電極棒の劣化診断方法を提供するもの
で、その特徴は、被接続光ファイバを側方から照射する
光源、上記光ファイバを透過した光を撮像するカメラ及
びその透過像を画像処理する機構を備えた光ファイバ融
着接続装置の前記光ファイバ側方観察系を用いて放電電
極棒の側方形状を撮像し、その透過像を画像処理し、放
電電極棒に堆積した５１０２の堆積量から劣化を判断す
ることにある。

（作用） 第１図は本発明の劣化診断方法を実現するためのハード
ウェア構成図の一例である。図面において、（１）は被
接続光ファイバ、（２）は放電電極棒であって、光源（
３）からの照射光による光ファイバ（１）及び放電電極
棒（２）の側方透過像は、顕微鏡（４）で拡大され、カ
メラ（５）で撮像される。この画像は画像処理袋！　（
ＩＰＵ）（８）に送られ画像処理が行なわれる。なお、
図面において（６）は放電制御装置、（７）はＣＰＵ（
中央処理装置）を搭載したンステム制御装置（Ｓｃｕｌ
ｌ、（９）はＴＶモニタである。

上述したように、光ファイバ融着接続装置では、接続回
数が増えるに従い白濁した５１０２が放電電極棒の先端
に堆積されていく。本発明の方法では、第１図に示した
ハードウェア構成により、放電電極棒（２）の側方透過
像を光ファイバ（１）観ＩＰＵ（８）のメモリに取り込
まれる。放電電極棒（２）は金属であり、又そこに堆積
した５１０２も白濁しているので、側方から照射した光
は透過しない。第２図（イ）は新品状態の放電電極棒、
同図（ロ）は数百回接続を行ない５１０２が堆積した状
態の放電電極棒の側方透過像である。

８　ｂｉｔのＡ／Ｄコンバータを用いて画面内の輝度レ
ベルを測定した場合、仮に画面内に放電電極棒あるいは
光ファイバ等の遮光物がない、いわゆるバックグランド
のレベルを２００以上に調整した時、放電電極棒及び堆
積した５１０２の部分の透過映像レベルは１０以下であ
った。従って、ＳＣυ（７）、ＩＰＵ（８）を用いて、
例えばスレソ／ヨルドレベルを１２５程度に設定して２
値化処理した場合、０（Ｌｏｗ）の数をカウントするこ
とで、放電電極棒及び５１０２部の面積（体積）が測定
できる。あらかじめ、新品の放電電極棒に交換した時点
の面積（２１）をメモリにインブッｌ−しておき、接続
を繰り返した後、５ｈｏ２の付着した放電電極棒の面積
（Ｓ２□）を測定し、Ｓ２１との差５２２−５２１が規
定値以上になった場合、放電電極棒の劣化と判定し、ア
ラーム又はモニタを用いてオペレータに放電電極棒の交
換を促すようにする。

（実施例） 上述のように、第１図のハードウェア構成で放電電極棒
の劣化、即ちＳｉＯ□の堆積量を画像処理できる。この
画像処理ソフトウェアのアルゴリズム、画像計測の例を
示す。

第２図は、第１図のハードウェアで撮られた放電電極棒
の使用前（同図イ）及び使用後（同図口）の側方透過像
に、劣化の判定結果をモニタ上にスーパーインポーズし
た例である。使用前の放電電極棒の透過像を画像処理し
、その投影面積Ｓ２＋を計測する。この値はＳＣＵ内不
内苑揮発性メモリ憶させておく。その後、融着接続装置
を使用し、放電を繰り返し行なった後、オペレータが必
要に応し又は任意の放電回数毎に、自動的に放電電極棒
の投影面積Ｓ２２を計θりする。そして、Ｓ２＋との差
、即ちＳ２２　５２＋が８１０２の堆積量を示し、この
堆積量が増加すると光ファイバの接続損失が増加する傾
向にある。第３図はＳｉＯ□の堆積量と接続損失の関係
を示す一例であるが、低損失を保証するためには、Ｓｉ
Ｏ３の堆積量を規定値以下に保つ必要がある。第２図の
画面上部のバーに斜線でＳＩＯ□の堆積量（面積）を示
し、上記規定値以下であればＯＫｌそれ以上になった場
合はＮＧとして電極棒の交換を促す。

第４図は他の５１０□堆積量測定方法である。同一フレ
ーム内に放電電極棒先端と、これに最も近い光ファイバ
心線を捕らえる。５Ｉ０２が堆積するに従い、光ファイ
バエツジと電極棒先端との距離りが短かくなるので、こ
の距ＭＬより５ＩＯ２の堆積量を推定できる。あらかし
め、使用前の放電電極棒で距離Ｌａｌを測定しておき、
使用後の電極棒での距離Ｌ２□との差Ｌ９！２　　Ｌ２
１を判定基準とするのは、面積測定の場合と似ている。

距離測定の場合、計測精度は下がるが、画像処理プログ
ラムは簡便となり、処理時間も短かくなる。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明の放電電極棒の劣化診断方
法によれば、従来の放電回数のみで判断していたのに比
し、定量的に知ることが出来るので、交換時期をより適
切に判定することが可能となる。

特に、１台の融着接続装置で構造、心線数の異なる多種
多様な光ファイバの接続が可能である万能型の融着接続
装置では、同一の放電回数でも選択した被接続光ファイ
バの種類によって放電電極棒の劣化、即ち５１０２の堆
積の進行速度が異なるので、実際にその度合を画像計測
する本発明の劣化診断方法を利用するとき、極めて効果
的である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の劣化診断方法を実現するためのハード
ウェアの構成図である。 第２図（イ）及び（ロ）はいずれも第１図のハードウェ
ア構成で得られた放電電極棒の側方透過像図であって、
同図（イ）は使用前、同図（ロ）は使用後の画像である
。 第３図は５１０２堆積量と光ファイバの接続損失の関係
図である。 第４図は光ファイバと放電電極棒を１フレーム内で撮ら
れた透過画像である。 １・・・被接続光ファイバ、２・・・放電電極棒、３・
・・光源、４・・・顕微鏡、５・・・カメラ、６・・・
放電制御装置、７・・・システム制御装置（ＳＣＵ）、
８・・・画像処理装置（ＩＰＵ）、９・・・ＴＶモニタ
。 算　１　図 算　２　目 （イ）　　　　　　　　　　　　　　　　　　（Ｕ）洟
　３　図 ５ｈｏＱ堆穆：Ｈａｉｆｌす 序　４　図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）被接続光ファイバを側方から照射する光源、上記
   光ファイバを透過した光を撮像するカメラ及びその透過
   像を画像処理する機構を備えた光ファイバ融着接続装置
   の前記光ファイバ側方観察系を用いて放電電極棒の側方
   形状を撮像し、その透過像を画像処理し、放電電極棒に
   堆積したＳｉＯ＿２の堆積量から劣化を判断することを
   特徴とする放電電極棒の劣化診断方法。