JPH04204045A - 電解質分析装置 - Google Patents
電解質分析装置Info
- Publication number
- JPH04204045A JPH04204045A JP32913690A JP32913690A JPH04204045A JP H04204045 A JPH04204045 A JP H04204045A JP 32913690 A JP32913690 A JP 32913690A JP 32913690 A JP32913690 A JP 32913690A JP H04204045 A JPH04204045 A JP H04204045A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- sample
- temperature
- preheating
- flow path
- Prior art date
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- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は電解質分析装置の流路接続部品であるプレヒー
トでのサンプルと電極との温度変動に関する。
トでのサンプルと電極との温度変動に関する。
〔従来の技術１
従来は、プレヒート管内の流路も外側と同様樹脂で出来
ており、プレヒートからチューブにっなぐ流路の接続部
だけが金属で出来ていた。
ており、プレヒートからチューブにっなぐ流路の接続部
だけが金属で出来ていた。
そのことにより、流れてくるサンプルの温度も不安定で
あったため、温度差による影響が電極感度の低下として
生じていた。
あったため、温度差による影響が電極感度の低下として
生じていた。
［発明が解決しようとする課題］
上記従来の技術は、サンプルが流路を流れる上での温度
変動について配慮がされておらず、電極との温度差が大
きく電極感度が悪くなる要因となっていた。
変動について配慮がされておらず、電極との温度差が大
きく電極感度が悪くなる要因となっていた。
本発明はその電極の感度を安定させることを目的とし、
流れてくるサンプルを電極の温度により近い温度に保つ
ことにある。
流れてくるサンプルを電極の温度により近い温度に保つ
ことにある。
〔課題を解決するための手段］
上記目的を達成するために、プレヒート管内をすべて熱
伝導体（ステンレス又は銅パイプ他）にし、サンプルの
温度変動を少なくさせ、流路の温度による測定値への影
響をなくすようにした。
伝導体（ステンレス又は銅パイプ他）にし、サンプルの
温度変動を少なくさせ、流路の温度による測定値への影
響をなくすようにした。
従来のプレヒート管内の材質であった出口の方だけパイ
プで他は樹脂といった物は、サンプルの温度変動が大き
く電極感度の安定性に欠けていた。
プで他は樹脂といった物は、サンプルの温度変動が大き
く電極感度の安定性に欠けていた。
サンプルカップ４に入れられたサンプル３は、サンプリ
ングプローブ６により吸い取られ希釈液と共に希釈槽７
の中へサンプル３が吐き出される。
ングプローブ６により吸い取られ希釈液と共に希釈槽７
の中へサンプル３が吐き出される。
吐き出されたサンプル３はノズルを通りピンチバルブ２
１により、一定量吸われてチューブを通りプレヒート管
ｌＯ７電極９．電極ホルダー１１（ＧＮＤ電極１２．Ｒ
ＥＦ電極１３）から廃液される。
１により、一定量吸われてチューブを通りプレヒート管
ｌＯ７電極９．電極ホルダー１１（ＧＮＤ電極１２．Ｒ
ＥＦ電極１３）から廃液される。
その連続流れ方式のフロー流路としての役目にプレヒー
ト管が用いられているが、そのプレヒートと電極との間
に、温度差が生じており、その温度差により電極への影
響は大きかった。
ト管が用いられているが、そのプレヒートと電極との間
に、温度差が生じており、その温度差により電極への影
響は大きかった。
（温度によるレスポンス特性図第１図参照）そこで、本
発明のプレヒート流路を熱伝導体（ステンレス、又は銅
パイプ他）にすることにより、サンプルが管内で暖めら
れ、電極との温度差を少なく出来、電極感度の安定性が
保てる。
発明のプレヒート流路を熱伝導体（ステンレス、又は銅
パイプ他）にすることにより、サンプルが管内で暖めら
れ、電極との温度差を少なく出来、電極感度の安定性が
保てる。
以下、本発明の一実施例を１図に示し流路図を２図に示
す。
す。
サンプルカップ４内のサンプル３をサンプリング機構５
のサンプリングプローブ６により吸い上げられ、希釈槽
７の中へ吐出される。
のサンプリングプローブ６により吸い上げられ、希釈槽
７の中へ吐出される。
吐出されたサンプルは、ピンチバルブ２１によリ一定量
吸い上げられチューブを通りプレヒート１０へと入り電
極へ通じている。
吸い上げられチューブを通りプレヒート１０へと入り電
極へ通じている。
その流路構造の上で、サンプルと恒温槽内の電極との温
度差には大きな差があり、電極に対する影響が生じた。
度差には大きな差があり、電極に対する影響が生じた。
■図には、本発明のプレヒートと従来のプレヒートの温
度によるレスポンス特性を示す。
度によるレスポンス特性を示す。
その結果、電極感度はサンプルの温度に影響されること
がわかった。
がわかった。
この対策として熱伝導体の金属パイプをプレヒートとし
て用いると、電極の内部とサンプルとの間の温度差を少
なくすることが出来、従来、この温度差により生じてい
た電極感度の見かけ上の低下を防止することが出来るこ
とがわかった。
て用いると、電極の内部とサンプルとの間の温度差を少
なくすることが出来、従来、この温度差により生じてい
た電極感度の見かけ上の低下を防止することが出来るこ
とがわかった。
また、この熱伝導体のパイプは、その周囲を設定温度に
温められた空気層により、常時加温することにより、そ
の効果を更に大きくすることが出来ることもわかった。
温められた空気層により、常時加温することにより、そ
の効果を更に大きくすることが出来ることもわかった。
これらの対策の結果、長期間電極を安定して使用するこ
とが可能となった。
とが可能となった。
［発明の効果］
本発明によれば、プレヒート管を樹脂から（熱伝導体材
料又は銅他）パイプに変えることにより、サンプルの温
度変動を少なくすることが出来る様になり、電極に対し
感度の低下も少なく、安定した測定が出来る様になった
。
料又は銅他）パイプに変えることにより、サンプルの温
度変動を少なくすることが出来る様になり、電極に対し
感度の低下も少なく、安定した測定が出来る様になった
。
第１図は電極の温度によるレスポンス特性図、第２図は
流路図、第３図は従来のプレヒートと本発明によるプレ
ヒートとの形状図、第４図は本発明によるプレヒートの
構造図である。 １・・・従来の特性、２・・・本発明の特性、３・・・
サンプル、４・・・サンプルカップ、５・・・サンプリ
ング機構、６・・・サンプリングプローブ、７・・・希
釈槽、８・・・恒温槽、９・・・電極、１０・・・プレ
ヒート、１１・・・電極ホルダー、１２・・・ＧＮＤ電
極、１３・・・ＲＥ、 Ｆ電極、１４・・・脱気タンク
、１５・・・比較電極液、１６・・・廃液タンク、１７
・・・従来のプレヒート、１８・・・本発明プレヒート
、１９・・・樹脂、２０・・・金属パイプ（ステンレス
）、２１・・・ピンチバルブ。
流路図、第３図は従来のプレヒートと本発明によるプレ
ヒートとの形状図、第４図は本発明によるプレヒートの
構造図である。 １・・・従来の特性、２・・・本発明の特性、３・・・
サンプル、４・・・サンプルカップ、５・・・サンプリ
ング機構、６・・・サンプリングプローブ、７・・・希
釈槽、８・・・恒温槽、９・・・電極、１０・・・プレ
ヒート、１１・・・電極ホルダー、１２・・・ＧＮＤ電
極、１３・・・ＲＥ、 Ｆ電極、１４・・・脱気タンク
、１５・・・比較電極液、１６・・・廃液タンク、１７
・・・従来のプレヒート、１８・・・本発明プレヒート
、１９・・・樹脂、２０・・・金属パイプ（ステンレス
）、２１・・・ピンチバルブ。
Claims (1)
- １、イオン電極を使用して成る電解質分析装置において
希釈液で希釈されたサンプルが通過する流路の継続部を
熱伝導体の部品で構成したことを特徴とする電解質分析
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32913690A JPH04204045A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 電解質分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32913690A JPH04204045A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 電解質分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04204045A true JPH04204045A (ja) | 1992-07-24 |
Family
ID=18218035
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32913690A Pending JPH04204045A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 電解質分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04204045A (ja) |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP32913690A patent/JPH04204045A/ja active Pending
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