JPH04204068A - 開閉器試験装置 - Google Patents
開閉器試験装置Info
- Publication number
- JPH04204068A JPH04204068A JP2329222A JP32922290A JPH04204068A JP H04204068 A JPH04204068 A JP H04204068A JP 2329222 A JP2329222 A JP 2329222A JP 32922290 A JP32922290 A JP 32922290A JP H04204068 A JPH04204068 A JP H04204068A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch
- test
- power supply
- detection circuit
- load state
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、一般遮断器に所定の負荷責務を与える開閉器
試験装置に関する。
試験装置に関する。
従来の装置は(Hitachi Reviet+ Vo
l19 Na 2のp67のFig 17 New 5
ynthetic test circuitswit
hACrecovery voltage 5ourc
e、)に示す構成となっている。すなわち、本公知例は
電流源及び電圧源をもち試験用開閉器に電流源及び電圧
源より試験用開閉器に所定の負荷責務を与え開閉器の遮
断能力を測定する試験設備となっている。
l19 Na 2のp67のFig 17 New 5
ynthetic test circuitswit
hACrecovery voltage 5ourc
e、)に示す構成となっている。すなわち、本公知例は
電流源及び電圧源をもち試験用開閉器に電流源及び電圧
源より試験用開閉器に所定の負荷責務を与え開閉器の遮
断能力を測定する試験設備となっている。
上記従来技術は、開閉器における所定の負荷責務を与え
るための調整が難しく、ノイズに対して弱いという欠点
があった。
るための調整が難しく、ノイズに対して弱いという欠点
があった。
本発明の目的は、一般遮断器の所定負荷責務を効率的に
与え、更に、試験用負荷の開閉時に発生するノイズに対
し誤動作を生じない試験装置を提供することにある。
与え、更に、試験用負荷の開閉時に発生するノイズに対
し誤動作を生じない試験装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明は電源検出回路、遅
延回路、負荷状態検出回路を個別ユニットと構成とし、
試験開始装置の信号で共通の試験開始信号検出回路を用
いて個別ユニットを動作させることにより試験用開閉器
に所定の負荷責務を効率良く与える′ことが出来るよう
にしたものである。
延回路、負荷状態検出回路を個別ユニットと構成とし、
試験開始装置の信号で共通の試験開始信号検出回路を用
いて個別ユニットを動作させることにより試験用開閉器
に所定の負荷責務を効率良く与える′ことが出来るよう
にしたものである。
電源検出回路は、主電源の印加条件を検出、遅延回路は
、試験開始時刻を設定、負荷状態検出回路は、試験用開
閉器の負荷状態を検出する。
、試験開始時刻を設定、負荷状態検出回路は、試験用開
閉器の負荷状態を検出する。
この個別ユニットが連動することにより該当する開閉器
の負荷責務を最適に、かつ、効率的に与えることが可能
である。
の負荷責務を最適に、かつ、効率的に与えることが可能
である。
又、各ユニット間を光接続で絶縁することにより開閉器
の開閉動作時に発生するノイズから開閉器試験装置を分
離することが出来る。
の開閉動作時に発生するノイズから開閉器試験装置を分
離することが出来る。
以下、本発明の一実施例を第1図を用いて説明する。
1は主電源、2は制御用開閉器、3は試験用開閉器、4
は検出器を示す。
は検出器を示す。
試験開始装置7より与えられた開始信号は試験開始信号
検出回路8で検出され電源状態を検出する電源検出回路
9に与えられる。
検出回路8で検出され電源状態を検出する電源検出回路
9に与えられる。
この電源検出回路9は、試験用開閉器3に規定される印
加条件に主電源1がなっていることを判断し、印加条件
に達した時刻に制御用開閉器2を閉じる。
加条件に主電源1がなっていることを判断し、印加条件
に達した時刻に制御用開閉器2を閉じる。
続いて、試験開始装置7より与えられた別の開始信号は
試験開始信号検出回路10で検出され。
試験開始信号検出回路10で検出され。
遅延回路11に与えられる。試験開始信号よりの所定の
時刻で試験開閉器3を閉じる。これにより試験用開閉器
3に印加条件で設定された責務が与えられることになる
。続いて試験開始装置7より与えられた別の開始信号に
より試験開始信号検出回路12が動作し所定の時刻で試
験用開閉器3に与えられた責務状態を検出する検出器4
を経由して負荷状態検出回路13で負荷の状態を検出す
る。
時刻で試験開閉器3を閉じる。これにより試験用開閉器
3に印加条件で設定された責務が与えられることになる
。続いて試験開始装置7より与えられた別の開始信号に
より試験開始信号検出回路12が動作し所定の時刻で試
験用開閉器3に与えられた責務状態を検出する検出器4
を経由して負荷状態検出回路13で負荷の状態を検出す
る。
この負荷状態により、更に、負荷状態の重畳を補助電源
5により行うため、負荷状態検出回路13より印加開閉
器6を閉じ試験用開閉器3に負荷を重畳させて、特定さ
れた負荷状態を生み出すことが出来る。
5により行うため、負荷状態検出回路13より印加開閉
器6を閉じ試験用開閉器3に負荷を重畳させて、特定さ
れた負荷状態を生み出すことが出来る。
本実施例では、試験用開閉器3の閉じることに着目して
記載したが各試験開始信号検出回路と電源検出回路9.
遅延回路11.負荷状態検出回路13の各ペアの組合せ
により希望する主電源状態。
記載したが各試験開始信号検出回路と電源検出回路9.
遅延回路11.負荷状態検出回路13の各ペアの組合せ
により希望する主電源状態。
タイミング、負荷の責務状態で任意に制御用開閉器2.
試験用開閉器3及び印加開閉器6を開閉することが可能
である。
試験用開閉器3及び印加開閉器6を開閉することが可能
である。
本発明の別の実施例を第2図に示す。
1は主電源として交流電源を用い、2は制御用開閉器、
3は試験用開閉器、4は検出器として交流器を使用して
いる。
3は試験用開閉器、4は検出器として交流器を使用して
いる。
試験開始装置7としてスイッチ7a〜7Cを用いている
。15は直流電源を示し、7a〜7Cを閉じることによ
り直流電源15の電圧が試験開始信号として、試験開始
信号検出回路8,10゜12に伝達される。
。15は直流電源を示し、7a〜7Cを閉じることによ
り直流電源15の電圧が試験開始信号として、試験開始
信号検出回路8,10゜12に伝達される。
7aを閉じると、試験開始信号検出回路8より電源検出
回路9に開始信号は与えられる。ここで電源検出回路9
は主電源1と同期して交流信号を発生する信号用交流電
源14の位相状態を検出し、特定の位相で制御用開閉器
2を閉じる。
回路9に開始信号は与えられる。ここで電源検出回路9
は主電源1と同期して交流信号を発生する信号用交流電
源14の位相状態を検出し、特定の位相で制御用開閉器
2を閉じる。
又、スイッチ7bを閉じることにより試験開始信号を与
えられた試験開始信号検出回路10は、遅延回路11に
信号を伝達し、遅延回路11で遅れ時間を調整し、試験
用開閉器3を閉じる。
えられた試験開始信号検出回路10は、遅延回路11に
信号を伝達し、遅延回路11で遅れ時間を調整し、試験
用開閉器3を閉じる。
これにより試験用開閉器3に電流が与えられる。
この電流状態を検出器4で検出し、負荷状態検出回路1
3を経由して所定の時刻に印加開閉器6を閉じて、コン
デンサで構成された補助電源Sより試験用開閉器3に重
畳された電流を与える。
3を経由して所定の時刻に印加開閉器6を閉じて、コン
デンサで構成された補助電源Sより試験用開閉器3に重
畳された電流を与える。
このことにより試験用開閉器3に応じた所定の負荷責務
を与えることが出来る。
を与えることが出来る。
又、組合せにより所定の負荷状態での試験用開閉器の遮
断試験も可能である。
断試験も可能である。
本実施例では、開閉器試験装置全体の開閉器の開閉時に
発生するノイズ耐量を向上させるため。
発生するノイズ耐量を向上させるため。
直流電源15の負極側16の点と、主電源l、制御用開
閉器2.試験用開閉器3.検出器4にて構成される回路
及び補助電源5.印加開閉器6で構成される回路の接地
点17は絶縁された状態で使用している。
閉器2.試験用開閉器3.検出器4にて構成される回路
及び補助電源5.印加開閉器6で構成される回路の接地
点17は絶縁された状態で使用している。
また、試験開始信号検出回路8,10.12と電源検出
回路9.遅延回路11.負荷状態検出回路13の各接続
は光接続で実施することによりノイズ耐量を向上させて
いる。
回路9.遅延回路11.負荷状態検出回路13の各接続
は光接続で実施することによりノイズ耐量を向上させて
いる。
本発明によれば、電源検出回路、遅延回路、負荷状態検
出回路の個別ユニットを組合せ連動して制御出来るので
、複雑な負荷責務を与える必要がある場合に、効率的に
開閉器の試験を実施出来る
出回路の個別ユニットを組合せ連動して制御出来るので
、複雑な負荷責務を与える必要がある場合に、効率的に
開閉器の試験を実施出来る
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は本発
明の他の実施例のブロック図を示す。 8.10.12・・・試験開始信号検出回路、9・・・
電源検出回路、11・・・遅延回路、13・・・負荷状
態検出回路。
明の他の実施例のブロック図を示す。 8.10.12・・・試験開始信号検出回路、9・・・
電源検出回路、11・・・遅延回路、13・・・負荷状
態検出回路。
Claims (1)
- 1、主電源とそれに接続された制御用開閉器と、試験用
開閉器とを含む負荷状態検出装置において、試験開始装
置とそれに接続された複数の試験開始信号検出回路とそ
れぞれの前記試験開始信号検出回路と組合わされた電源
検出回路、遅延回路及び検出器に接続された負荷状態検
出回路を有し、負荷状態に応じて負荷状態検出回路より
印加開閉器を閉じて補助電源より試験用開閉器に所定の
責務を与えることを特徴とする開閉器試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2329222A JPH04204068A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 開閉器試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2329222A JPH04204068A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 開閉器試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04204068A true JPH04204068A (ja) | 1992-07-24 |
Family
ID=18219017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2329222A Pending JPH04204068A (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 開閉器試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04204068A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100504419C (zh) | 2005-06-20 | 2009-06-24 | 中国科学院半导体研究所 | 一种热光开关阵列光电特性测试装置及方法 |
| CN102323543A (zh) * | 2011-06-13 | 2012-01-18 | 重庆斯凯力科技有限公司 | 基于虚拟仪器的温控开关测试系统和方法 |
| CN104142471A (zh) * | 2013-09-05 | 2014-11-12 | 国家电网公司 | 一种电子设备干接点动作延时测量装置 |
| CN106990352A (zh) * | 2017-03-06 | 2017-07-28 | 新华三技术有限公司 | 开关检测装置及通信设备 |
| CN109444732A (zh) * | 2018-11-21 | 2019-03-08 | 格力电器(武汉)有限公司 | 一种微动开关测试装置及方法 |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2329222A patent/JPH04204068A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100504419C (zh) | 2005-06-20 | 2009-06-24 | 中国科学院半导体研究所 | 一种热光开关阵列光电特性测试装置及方法 |
| CN102323543A (zh) * | 2011-06-13 | 2012-01-18 | 重庆斯凯力科技有限公司 | 基于虚拟仪器的温控开关测试系统和方法 |
| CN104142471A (zh) * | 2013-09-05 | 2014-11-12 | 国家电网公司 | 一种电子设备干接点动作延时测量装置 |
| CN106990352A (zh) * | 2017-03-06 | 2017-07-28 | 新华三技术有限公司 | 开关检测装置及通信设备 |
| CN109444732A (zh) * | 2018-11-21 | 2019-03-08 | 格力电器(武汉)有限公司 | 一种微动开关测试装置及方法 |
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