JPH04204148A - Surface-defect inspecting apparatus - Google Patents
Surface-defect inspecting apparatusInfo
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- JPH04204148A JPH04204148A JP2335462A JP33546290A JPH04204148A JP H04204148 A JPH04204148 A JP H04204148A JP 2335462 A JP2335462 A JP 2335462A JP 33546290 A JP33546290 A JP 33546290A JP H04204148 A JPH04204148 A JP H04204148A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば、工作機械等により加工された後のワ
ーク表面の欠陥を検査する表面欠陥検査装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a surface defect inspection device for inspecting defects on the surface of a workpiece after it has been processed by, for example, a machine tool.
(従来の技術)
一般的に、生産工場等における製造加工ラインには、加
工後の製品の品質検査を行なう検査行程が設けられてい
るか、自動化の進んだ今日では、作業者による目視検査
に代わってカメラ等の工学機器を用いて製品の品質検査
を行なうようになっている。(Prior art) Generally, manufacturing and processing lines in production plants, etc. are equipped with an inspection process to inspect the quality of processed products, or in today's highly automated world, visual inspection by workers is replaced by an inspection process. The quality of products is now being inspected using engineering equipment such as cameras.
この品質検査の内、加工後の製品の表面にキズ等の欠陥
が存在しているか否かの検査をする表面欠陥検査がある
が、例えば、自動車のカムシャフトの表面欠陥検査は、
カムシャフトの被検査面に常に特定の方向から光を照射
し、この被検査面からの光をカメラによって入力し、こ
の入力した光をカメラ内部に設けられているラインセン
サによって受光し、ラインセンサにより光電変換された
電圧値をビデオ信号処理回路によって処理することによ
り、被検査面に欠陥があるかどうかの検査をしている。Among these quality inspections, there is surface defect inspection that checks whether there are defects such as scratches on the surface of the processed product.For example, surface defect inspection of automobile camshafts
The surface to be inspected of the camshaft is always irradiated with light from a specific direction, the light from this surface to be inspected is input by a camera, this input light is received by a line sensor installed inside the camera, and the line sensor By processing the photoelectrically converted voltage value by a video signal processing circuit, the surface to be inspected is inspected for defects.
この検査において、例えば被検査面に欠陥がある場合に
は、その、欠陥部分で光が乱反射するので、ラインセン
サを構成する素子各部の受光量が不均一になり、このラ
インセンサから出力される電圧値も不均一になることか
ら、この電圧値をビデオ信号処理回路によって処理し、
この電圧値の不均一を検出すれば、欠陥の有無を検出で
きることになる。In this inspection, for example, if there is a defect on the surface to be inspected, light will be diffusely reflected at the defective part, so the amount of light received by each part of the line sensor will be uneven, and the output from this line sensor will be uneven. Since the voltage value is also non-uniform, this voltage value is processed by a video signal processing circuit,
By detecting this non-uniformity of voltage values, it is possible to detect the presence or absence of defects.
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、このような従来の表面欠陥検査装置にあ
っては、被検査面に光を照射する照明が固定となってお
り、被検査面に対して常に特定の方向から光を照射する
ようになっていた。換言すれば、被検査面に対するカメ
ラ及び光の照射位置相互の相対位置が常に一定となって
いたために、被検査面に、カメラ及び照明によって形成
される同一の照明条件下では検査不能な複数の欠陥を有
する場合には、それぞれの欠陥に対して最適な照明条件
で検査することができないという問題がある。(Problem to be solved by the invention) However, in such conventional surface defect inspection equipment, the illumination that irradiates the inspected surface with light is fixed, and a specific It was designed to emit light from all directions. In other words, because the relative positions of the camera and the light irradiation positions with respect to the surface to be inspected are always constant, there are multiple spots on the surface to be inspected that cannot be inspected under the same lighting conditions formed by the camera and lighting. When there are defects, there is a problem in that each defect cannot be inspected under optimal illumination conditions.
すなわち、被検査面に対するカメラ及び光の照射位置相
互の相対位置が常に一定であると、例えば、スクラッチ
のような幅の狭いキズは乱反射の程度が大きくなるので
検出しやすいが、手研のような幅の比較的広いキズは乱
反射の程度が小さいので検出しにくなる場合も起こり得
るし、また照明条件によってはこの逆の場合゛も起こり
得ることになり、このように表面欠陥の種類によっては
検出不能な要素を内在している従来のものにあっては、
表面欠陥検査としての信頼性が欠けることになる。In other words, if the relative position of the camera and the light irradiation position with respect to the surface to be inspected is always constant, narrow flaws such as scratches, for example, are easy to detect because the degree of diffuse reflection increases, but Relatively wide scratches may be difficult to detect because the degree of diffuse reflection is small, and the opposite may occur depending on the lighting conditions.As shown above, depending on the type of surface defect, In the conventional method, which has undetectable elements,
This results in a lack of reliability as a surface defect inspection.
本発明は、このような従来の問題点に鑑みて成されたも
のであり、ワークが有する多種類の表面欠陥の種類に応
じて、それぞれの種類の表面欠陥検出に最適な照明条件
が設定された照明と複数台のカメラを当該ワークの周囲
に配置し、表面欠陥の種類の如何に拘らず、確実にその
欠陥を検出できるようにした表面欠陥検査装置を提供す
ることを目的とする。The present invention has been made in view of these conventional problems, and it is possible to set the optimal illumination conditions for detecting each type of surface defect depending on the various types of surface defects that the workpiece has. To provide a surface defect inspection device in which a defect is reliably detected regardless of the type of surface defect by arranging a plurality of cameras and illumination around the workpiece.
(課題を解決するための手段)
前記目的を達成するための本発明は、ワークが有する被
検査面に対して任意方向から光を照射する照明と、前記
被検査面の画像を前記照明により照射されて前記被検査
面から正反射する光の方向から入力する第1画像入力手
段と、前記の被検査面の画像を前記照明により照射され
て前記被検査面から乱反射する光の方向から入力する第
2画像入力手段と、当該画像入力手段に前記被検査面の
画像が入力されるように前記ワークを移動させる駆動手
段と、前記画像入力手段からの画像を入力し、ワークの
被検査面中の異常の有無を判断する判断手段とを有する
ことを特徴とするものである。(Means for Solving the Problems) The present invention for achieving the above object includes: an illumination device that irradiates light from an arbitrary direction onto a surface to be inspected of a work; and an image of the surface to be inspected that is irradiated with the illumination device. a first image input means for inputting an image of the inspected surface from the direction of the light reflected specularly from the inspected surface; and a first image input means inputting an image of the inspected surface from the direction of the light irradiated by the illumination and diffusely reflected from the inspected surface a second image input means; a drive means for moving the workpiece so that the image of the surface to be inspected is input to the image input means; a drive means for inputting the image from the image input means; The device is characterized by having a determining means for determining whether or not there is an abnormality in the device.
(作用)
このように構成すると、ワークの被検査面には照明によ
って任意方向から光が照射され、第1画像手段はこの光
がワークの被検査面で正反射する方向からワークの被検
査面の画像を入力し、第2画像手段はこの光がワークの
被検査面で乱反射する方向からワークの被検査面の画像
を入力することになるので、それぞれ異なる照明条件下
でワークの被検査面の表面欠陥検査が行なわれることに
なる。そして、駆動手段によってワークを一回転させる
と、このそれぞれ異なった照明条件下での複数の被検査
面画像が判断手段に入力される。このように、各カメラ
は被検査面を異なる照明条件の下で検査できるので、ど
のような種類の欠陥であってもその検出が可能となり、
表面欠陥検出の信頼性が向上する。(Function) With this configuration, the surface to be inspected of the workpiece is illuminated with light from an arbitrary direction, and the first image means detects the surface to be inspected of the workpiece from the direction in which this light is specularly reflected by the surface to be inspected of the workpiece. The second image means inputs an image of the surface to be inspected of the workpiece from the direction in which this light is diffusely reflected on the surface to be inspected of the workpiece. surface defect inspection will be performed. Then, when the workpiece is rotated once by the drive means, a plurality of images of the inspected surface under different lighting conditions are inputted to the determination means. In this way, each camera can inspect the inspected surface under different lighting conditions, making it possible to detect any type of defect.
Improved reliability of surface defect detection.
(実施例)
以下に、本発明に係る表面欠陥検査装置を図面に基づい
て詳細に説明する。(Example) Below, a surface defect inspection apparatus according to the present invention will be explained in detail based on the drawings.
第1図は、本発明の表面欠陥検査装置を加工ラインに適
用した場合の一例を示している。FIG. 1 shows an example in which the surface defect inspection device of the present invention is applied to a processing line.
ワークであるピストン1は、洗浄機2によって表面の洗
浄が行なわれた後、搬送装置3の所定位置で待機し、ロ
ーダ4によって検査台5の駆動手段としての回転台6に
載置される。そして、回転台6によってワークが一回転
する間に、この回転台6の周囲に備えられている複数台
のカメラ7によってこのピストン1の被検査面の表面欠
陥検査が行なわれ、この検査結果がOKであればピスト
ン1は振分はプッシャー8によって防錆油槽9に送られ
、NGであればピストン1は振分はプッシャー8によっ
てワークスドックエリア10に送られる。After the surface of the piston 1, which is a workpiece, is cleaned by a washer 2, it waits at a predetermined position in a transport device 3, and is placed by a loader 4 on a rotary table 6 serving as a driving means for an inspection table 5. Then, while the workpiece is rotated once by the rotary table 6, a surface defect inspection of the surface to be inspected of the piston 1 is performed by a plurality of cameras 7 provided around the rotary table 6, and the inspection results are If OK, the piston 1 is distributed to the antirust oil tank 9 by the pusher 8, and if not, the piston 1 is distributed to the works dock area 10 by the pusher 8.
そして、OKのものはパレタイズロボット11によって
パレット12に収納され、NGのものは作業者によって
作業台13で目視検査の後、防錆油槽14に入れられて
、パレット15に収納される。Then, the OK items are stored on a pallet 12 by the palletizing robot 11, and the NG items are visually inspected by an operator on the workbench 13, then placed in a rust preventive oil tank 14, and stored on a pallet 15.
第2図は、本発明に係る表面欠陥検査装置を備えた検査
ステージの概略構成図を示す。FIG. 2 shows a schematic configuration diagram of an inspection stage equipped with a surface defect inspection apparatus according to the present invention.
この検査ステージは、同図に示すように、ピストン1を
支持すると共に回転させる回転台6が備えられており、
この回転台6は、モータ20によって回転するようにな
っている。また、この回転台6には、エアーチャック2
1が設けられており、このエアーチャック21によって
ピストン1が支持される。As shown in the figure, this inspection stage is equipped with a rotating table 6 that supports and rotates the piston 1.
This rotary table 6 is adapted to be rotated by a motor 20. In addition, this rotary table 6 also includes an air chuck 2.
1 is provided, and the piston 1 is supported by this air chuck 21.
この回転台6の周囲には、図示するように、照明として
のランプ22によってたとえば水平に光が照射されたピ
ストン1の被検査面Sの画像を入力する2台のカメラ7
aと7bとがそれぞれ配置され、このランプ22とそれ
ぞれのカメラ7a。As shown in the figure, around this rotary table 6, there are two cameras 7 that input an image of the surface S to be inspected of the piston 1 illuminated horizontally by a lamp 22 as an illumination.
a and 7b are respectively arranged, and this lamp 22 and each camera 7a.
7bの被検査面Sに対する照明条件は、被検査面Sの有
する種々の表面欠陥を検出するのに最適となるように設
定されている。The illumination conditions for the surface S to be inspected 7b are set to be optimal for detecting various surface defects that the surface S to be inspected has.
この設定の詳細は第3図(A)に示すように、ランプ2
2は、ピストン1の被検査面Sに対して水平方向から光
を照射する位置に設けられ、正反射センサと称されるカ
メラ7aは、このランプ22から照射されて被検査面S
から正反射してきた光を受は得る位置に配置され、乱反
射センサと称されるカメラ7bは、このランプ22から
照射されて被検査面Sから反射してきた乱反射光を受は
得る位置に配置されている。なお、このランプ22から
の光はスポット光である。The details of this setting are as shown in Figure 3 (A).
2 is provided at a position to irradiate light from the horizontal direction to the surface S to be inspected of the piston 1, and a camera 7a called a specular reflection sensor is irradiated from this lamp 22 to the surface S to be inspected.
The camera 7b, which is called a diffused reflection sensor, is placed in a position to receive the diffusely reflected light emitted from the lamp 22 and reflected from the surface S to be inspected. ing. Note that the light from this lamp 22 is spot light.
このような位置にランプ22及びカメラ7a。The lamp 22 and camera 7a are placed in such a position.
7bを配置すると、被検査面Sにスクラッチなどの深く
小さい欠陥aが存在する場合には、図にも示すようにこ
れらの欠陥aの部分に光が照射されると、この部分で乱
反射を起すことから、正反射センサであるカメラ7aに
入力される部分的な光量が減ることになる。この場合に
おけるカメラ7aが1スキヤンする間に受光する部分的
な光量を二次元展開すると、第3図(B)に概略的に示
すことができ、乱反射を起した欠陥aの部分に相当する
位置での光量が減じている。したがってこのような照明
条件の下ではスクラッチのような深く小さな欠陥aを容
易に検出することが可能となる。7b, if there are deep and small defects a such as scratches on the inspection surface S, as shown in the figure, when light is irradiated onto the parts of these defects a, diffuse reflection will occur at these parts. Therefore, the partial amount of light input to the camera 7a, which is a specular reflection sensor, is reduced. In this case, when the partial amount of light received during one scan by the camera 7a is developed in two dimensions, it can be schematically shown in FIG. The amount of light is decreasing. Therefore, under such illumination conditions, it becomes possible to easily detect deep and small defects a such as scratches.
また、被検査面Sに平研などの浅く広範囲の欠陥すが存
在する場合には、図にも示すようにこれらの欠陥すの部
分に光が照射されると、この部分で乱反射を起すことか
ら、乱反射センサであるカメラ7bに入力される部分的
な光量が欠陥のない場合に比較して増える三とになる。In addition, if there are shallow and wide-ranging defects such as surface grinding on the surface S to be inspected, as shown in the figure, when light is irradiated onto these defective areas, diffuse reflection may occur at these areas. Therefore, the partial amount of light input to the camera 7b, which is a diffuse reflection sensor, increases compared to the case where there is no defect.
この場合におけるカメラ7bが1スキヤンする間に受光
する部分的な光量は第3図(C)に反転させて概略的に
示すことができ、乱反射を起した欠陥すの部分に相当す
る位置での光量が増加している。したがってこのような
照明条件の下では平研などの浅く広範囲の欠陥すを容易
に検出することが可能となる。In this case, the partial amount of light received by the camera 7b during one scan can be schematically shown by inverting it in FIG. 3(C). The amount of light is increasing. Therefore, under such illumination conditions, shallow and wide-ranging defects such as flat spots can be easily detected.
第4図は、−本発明に係る表面欠陥検査装置における制
御系のブロック図を示す。FIG. 4 shows a block diagram of a control system in a surface defect inspection apparatus according to the present invention.
同図に示すように、判断手段としての制御装置40内に
設けられている入出力装置3oには、第1画像入力手段
としてのカメラ7a、第2画像入力手段としてのカメラ
7b、ワークであるピストン1を回転させるモータ20
.このモータ2oの回転角度及び回転速度を検出するエ
ンコーダ31、ピストン1の被検査面に光を照射するラ
ンプ22及び検査結果を表示する表示装置32が外部か
ら接続され、これらの機器にあるいはこれらの機器から
の信号は、この入出力装置3oを介して授受される。As shown in the figure, the input/output device 3o provided in the control device 40 as a judgment means includes a camera 7a as a first image input means, a camera 7b as a second image input means, and a workpiece. Motor 20 that rotates piston 1
.. An encoder 31 that detects the rotation angle and rotation speed of this motor 2o, a lamp 22 that irradiates light onto the surface to be inspected of the piston 1, and a display device 32 that displays the inspection results are connected from the outside to these devices or to these devices. Signals from the equipment are sent and received via this input/output device 3o.
また、この入出力装置3oには、カメラ7a。The input/output device 3o also includes a camera 7a.
7bの画像信号を処理する画像処理部33と、モータ2
0.ランプ22及び表示装置32の動作を制御する機器
制御部34とが接続されており、画像処理部33及び機
器制御部34には、画像処理部33からの信号によって
ピストン1の被検査面のキズの有無を検出するキズ検出
部35が接続されている。そして、機器制御部34は、
画像処理部33及びキズ検出部35からの信号に基づい
てモータ20の回転速度や表示装置32等の動作を制御
する。An image processing unit 33 that processes the image signal of 7b, and a motor 2
0. A device control section 34 that controls the operation of the lamp 22 and the display device 32 is connected, and the image processing section 33 and the device control section 34 detect scratches on the surface to be inspected of the piston 1 based on signals from the image processing section 33. A scratch detection section 35 is connected to detect the presence or absence of scratches. Then, the device control section 34
The rotational speed of the motor 20, the operation of the display device 32, etc. are controlled based on signals from the image processing section 33 and the flaw detection section 35.
以上のように構成された本発明の表面欠陥検査装置は、
第5図に示す動作フローチャートのように動作して被検
査面の表面欠陥検査を行なう。以下に、この動作を第2
図から第4図を参照しつつ説明する。The surface defect inspection device of the present invention configured as described above has the following features:
The surface defect inspection of the surface to be inspected is performed by operating as shown in the operation flowchart shown in FIG. Below, we will explain this behavior in the second example.
This will be explained with reference to FIGS.
ステップ1
まず、作業の開始が指令され、プログラムがスタートす
ると、第4図に示す制御装置40及びこの制御装置40
に接続される全ての機器の動作状態を初期化し、検査処
理の準備を行なう。そして、ピストン1が第2図に示す
ようにエアーチャック21によって回転台6に支持され
ると、機器制御部34は入出力装置30を介してランプ
22を点灯させると共にモータ20を駆動してピストン
1を回転させる。Step 1 First, when the start of work is commanded and the program starts, the control device 40 shown in FIG.
Initializes the operating status of all equipment connected to the system and prepares for inspection processing. Then, when the piston 1 is supported on the rotary table 6 by the air chuck 21 as shown in FIG. Rotate 1.
ステップ2
カメラ7a、7bのそれぞれは、第3図に示したように
、ランプ22による被検査面Sにおける所定範囲からの
正反射光及び乱反射光を受光し、これをカメラの内部に
設けられているCCD等の素子によって光電変換し、こ
の変換後の信可を入出力部30に出力する。Step 2 As shown in FIG. 3, each of the cameras 7a and 7b receives specularly reflected light and diffusely reflected light from a predetermined range on the surface S to be inspected by the lamp 22, and receives the specularly reflected light and diffusely reflected light from a predetermined range on the surface S to be inspected. Photoelectric conversion is performed by an element such as a CCD, and the converted signal is output to the input/output section 30.
ステップ3
画像処理部33は、ステップ2において出力された各カ
メラ7a、7bからのそれぞれの信号を画像データとし
て記憶する。そして、この記憶処理が終了すると、画像
処理部33は機器制御部34に信号を出力し、機器制御
部34は入出力装置30を介してモータ20を回転させ
る。これにより、各カメラ7 a s 7 bは異なる
領域における正反射光及び乱反射光を入力することにな
る。Step 3 The image processing unit 33 stores the respective signals from the cameras 7a and 7b output in Step 2 as image data. When this storage process is completed, the image processing section 33 outputs a signal to the device control section 34, and the device control section 34 rotates the motor 20 via the input/output device 30. As a result, each camera 7a s 7b receives specularly reflected light and diffusely reflected light in different areas.
ステップ4
機器制御部34は、エンコーダ31からの信号に基づい
て、カメラ7a、7bによってピストン1の被検査面S
の全ての部分の画像データが取られたかどうかを判断す
る。換言すれば、ピストン1が原位置から一回転したか
どうかの判断をする。Step 4 Based on the signal from the encoder 31, the device control unit 34 uses the cameras 7a and 7b to detect the inspection surface S of the piston 1.
Determine whether image data for all parts of the image have been captured. In other words, it is determined whether the piston 1 has made one revolution from its original position.
この判断の結果、被検査面Sの全ての部分の画像データ
が取られていなければステップ2からステップ4までの
処理を繰返し、被検査面Sの全ての部分の画像データが
取られたら、機器制御部34は画像処理部33に終了信
号を出力するとともに入出力装置30を介してモータ2
0の回転を停止し、次のステップに進む。As a result of this judgment, if the image data of all parts of the surface to be inspected S has not been taken, the processes from step 2 to step 4 are repeated, and when the image data of all parts of the surface to be inspected S has been taken, the device The control unit 34 outputs a termination signal to the image processing unit 33 and also outputs a termination signal to the motor 2 via the input/output device 30.
Stop the rotation of 0 and proceed to the next step.
ステップ5
画像処理部33は、ステップ2及びステップ3の処理に
おいて記憶した全画像データを処理し、そのデータをキ
ズ検出部35に出力する。Step 5 The image processing section 33 processes all the image data stored in the processing of steps 2 and 3, and outputs the data to the flaw detection section 35.
この画像処理部33における画像データの処理は第6図
の画像処理アルゴリズムに示すように、カメラ7aから
の信号を記憶した画像データは、その電圧値が所定のし
きい値より大きい(明るい)場合に論理1を、または、
所定のしきい値より小さい(暗い)場合に論理Oを割当
てる正論理動作によって二値化処理が行なわれる。一方
、カメラ7bからの信号を記憶した画像データは、その
電圧値が所定のしきい値より大きい(明るい)場合に論
理0を、また、所定のしきい値より小さい(llSい)
場合に論理1を割当てる負論理動作によって2値化処理
が行われる。さらに、これらの2値化信号は画像処理部
33において論理積処理が行われ、そのデータがキス検
出部35に出力されることになる。The processing of the image data in the image processing unit 33 is as shown in the image processing algorithm in FIG. logic 1 to, or
Binarization processing is performed by a positive logic operation that assigns a logical O when the value is smaller (darker) than a predetermined threshold. On the other hand, the image data in which the signal from the camera 7b is stored is a logic 0 when the voltage value is larger (brighter) than a predetermined threshold value, and a logic 0 when the voltage value is smaller than a predetermined threshold value (ILS).
The binarization process is performed by a negative logic operation that assigns a logic 1 in the case. Further, these binary signals are subjected to AND processing in the image processing section 33, and the data is outputted to the kiss detection section 35.
ステップ6
キズ検出部35は、このデータに基づいてキズの有無を
判定し、その結果を機器制御部34に出力する。そして
、機器制御部34は、入出力装置30を介して表示装置
32を作動させ、表示装置32に検査結果を表示させる
。Step 6 The scratch detection unit 35 determines the presence or absence of scratches based on this data, and outputs the result to the device control unit 34. Then, the device control unit 34 operates the display device 32 via the input/output device 30, and causes the display device 32 to display the test results.
このように、1台のランプに対応する正反射センサと乱
反射センサを配置することにより被検査面Sに対して複
数の照明条件を設定し、この設定されたそれぞれの照明
条件の下においてこの被検査面Sの画像をカメラによっ
て入力し、この画像を制御装置40によって処理して種
々の表面欠陥を検査すると、カメラは、同一の被検査面
Sを複数の照明条件下で見ることになり、種々の欠陥を
検出することが容易となるので、表面欠陥検査の信頼性
が向上することになる。In this way, by arranging a specular reflection sensor and a diffuse reflection sensor corresponding to one lamp, a plurality of illumination conditions can be set for the surface to be inspected S, and the surface to be inspected can be inspected under each of the set illumination conditions. When an image of the inspection surface S is inputted by a camera and this image is processed by the control device 40 to inspect various surface defects, the camera views the same inspection surface S under a plurality of illumination conditions. Since it becomes easier to detect various defects, the reliability of surface defect inspection is improved.
なお、本実施例中ワークの一例としてピストンを例示し
たか、これに限らず、二次元及び三次元平面を有する形
状のものであればどのようなものであっても本発明の表
面欠陥検査装置の適用は可能である。Although a piston is illustrated as an example of the workpiece in this embodiment, the surface defect inspection apparatus of the present invention is not limited to this, but any workpiece having a two-dimensional or three-dimensional plane can be used. It is possible to apply
また、本実施例においては、被検査面に対して水平方向
から照射するランプに対応する2台のカメラを配置する
照明条件を例示したが、これに限らず、斜上方向又は斜
下方向から照射する位置にランプを配置することも可能
であり、2台以上のカメラを配置してもよい。しかも、
被検査面に対して水平方向から照射するランプに対応す
るカメラを配置するとともに、他の位置でたとえば斜上
方向から照射するランプに対応するカメラを配置するこ
とも可能である。In addition, in this example, the illumination condition is illustrated in which two cameras are arranged corresponding to the lamps that illuminate the surface to be inspected from the horizontal direction, but the illumination condition is not limited to this, It is also possible to arrange a lamp at the irradiation position, and two or more cameras may be arranged. Moreover,
It is also possible to arrange a camera corresponding to a lamp that irradiates the surface to be inspected from the horizontal direction, and to arrange a camera corresponding to a lamp that irradiates the surface to be inspected from, for example, an obliquely upward direction.
さらには、画像処理は、ワークの被検査面における全画
像データを記憶の後行なうような処理を例示したが、カ
メラによって得られる画像データをリアルタイムで処理
するようにしても良いのはもちろんである。Furthermore, although the image processing is performed after storing all the image data on the surface to be inspected of the workpiece, it is of course possible to process the image data obtained by a camera in real time. .
(発明の効果)
以上の説明により明らかなように、本発明によれば、ワ
ークが有する多種類の表面欠陥の種類に応じてそれぞれ
の種類の表面欠陥検圧に最適な照明条件が設定された照
明と複数台の画像入力手段とを当該ワークの周囲に配置
し、駆動手段によってワークを移動させ、判断手段によ
って表面欠陥検出を行なうようにしたので、画像入力手
段は同一の被検査面Sを複数の照明条件下で見ることか
できることから、表面欠陥の種類の如何に拘らず確実に
その欠陥を検出できることになる。(Effects of the Invention) As is clear from the above explanation, according to the present invention, the optimal illumination conditions are set for each type of surface defect detection according to the various types of surface defects that the workpiece has. Lighting and a plurality of image input means are arranged around the workpiece, the workpiece is moved by the drive means, and surface defects are detected by the judgment means, so that the image input means can detect the same surface S to be inspected. Since it can be viewed under multiple lighting conditions, it is possible to reliably detect surface defects regardless of their type.
第1図は、本発明に係る表面欠陥検査装置を加工ライン
に適用した場合の一例を示す図、第2図は、本発明に係
る表面欠陥検査装置を備えた検査ステージの概略構成図
、
第3図(A)は、第2図に示した検査ステージにおける
ランプとカメラとの設定状況を示す図、第3図(B)は
正反射光を受光するカメラが受光した光量を示す概略図
、
第3図(C)は乱反射光を受光するカメラが受光した光
量を示す概略図、
第4図は、本発明に係る表面欠陥検査装置における制御
系のブロック図、
第5図は、第4図に示した制御系の動作フローチャート
、
第6図は、第5図に示したステップ5の画像処理のアル
ゴリズム。
1・・・ピストン(ワーク)、
6・・・回転台(駆動手段)、
7a・・・カメラ(第1画像入力手段)、7b・・・カ
メラ(第2画像入力手段)、22・・・ランプ(照明)
、
40・・・制御装置(判断手段)、
S・・・被検査面。
第2図
第4図
第6図
がう7bの21811す
手続補正書
平成3年2月7日
平成2年 特許願 第335.462号表面欠陥検査装
置
傷賭 入来 豊
自発補正FIG. 1 is a diagram showing an example of a case where the surface defect inspection device according to the present invention is applied to a processing line, and FIG. 2 is a schematic configuration diagram of an inspection stage equipped with the surface defect inspection device according to the present invention. 3(A) is a diagram showing the setting status of the lamp and camera on the inspection stage shown in FIG. 2, FIG. 3(B) is a schematic diagram showing the amount of light received by the camera that receives specularly reflected light, FIG. 3(C) is a schematic diagram showing the amount of light received by a camera that receives diffusely reflected light; FIG. 4 is a block diagram of the control system in the surface defect inspection apparatus according to the present invention; FIG. The operation flowchart of the control system shown in FIG. 6 is the image processing algorithm of step 5 shown in FIG. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Piston (workpiece), 6... Turntable (driving means), 7a... Camera (first image input means), 7b... Camera (second image input means), 22... lamp (lighting)
, 40...control device (determination means), S...surface to be inspected. Figure 2 Figure 4 Figure 6 7b 21811 Procedural Amendment February 7, 1991 1990 Patent Application No. 335.462 Surface Defect Inspection Device Yutaka Iriki Spontaneous Amendment
Claims (1)
する照明と、 前記被検査面の画像を前記照明により照射されて前記被
検査面から正反射する光の方向から入力する第1画像入
力手段と、 前記の被検査面の画像を前記照明により照射されて前記
被検査面から乱反射する光の方向から入力する第2画像
入力手段と、 当該画像入力手段に前記被検査面の画像が入力されるよ
うに前記ワークを移動させる駆動手段と、前記画像入力
手段からの画像を入力し、ワークの被検査面中の異常の
有無を判断する判断手段とを有することを特徴とする表
面欠陥検査装置。[Claims] An illumination device that irradiates light from any direction onto a surface to be inspected of a workpiece, and an image of the surface to be inspected from the direction of light irradiated by the illumination and specularly reflected from the surface to be inspected. a first image input means for inputting an image of the surface to be inspected; a second image input means for inputting an image of the surface to be inspected from a direction of light irradiated by the illumination and diffusely reflected from the surface to be inspected; The method further includes: a drive means for moving the workpiece so that an image of the inspection surface is input; and a determination means for inputting the image from the image input means and determining the presence or absence of an abnormality in the surface to be inspected of the workpiece. Features of surface defect inspection equipment.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2335462A JP2855851B2 (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Surface defect inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2335462A JP2855851B2 (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Surface defect inspection equipment |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04204148A true JPH04204148A (en) | 1992-07-24 |
| JP2855851B2 JP2855851B2 (en) | 1999-02-10 |
Family
ID=18288832
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2335462A Expired - Lifetime JP2855851B2 (en) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | Surface defect inspection equipment |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2855851B2 (en) |
Cited By (8)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2855851B2 (en) | 1999-02-10 |
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